一种经纬仪外场无穷远距离校正方法

文档序号:6246033阅读:697来源:国知局
一种经纬仪外场无穷远距离校正方法
【专利摘要】本发明一种经纬仪外场无穷远距离校正方法,解决现有技术对大中型经纬仪外场调焦存在较大误差的技术问题;本发明包括以下步骤:步骤一:采用高精度平面镜对自准直平行光管进行自校准:平面镜沿着自准直平行光管光轴方向放置,镜面与自准直平行光管的光轴垂直,调整自准直平行光管上分划板的位置,直到分划板上平面镜的返回像最清晰;步骤二:将被校准后的自准直平行光管作为无穷远距离基准,对经纬仪调焦系统进行无穷远距离校正:经纬仪的光轴与自准直平行光管光轴的方向平行,且经纬仪的通光口径与自准直平行光管的通光口径相互对应,通过经纬仪的光学系统观察分划板图像,并调节经纬仪上的调焦组件的位置,直到分划板图像最清晰。
【专利说明】一种经纬仪外场无穷远距离校正方法

【技术领域】
[0001]本发明属于光电测控领域,具体涉及一种经纬仪外场无穷远距离校正方法。

【背景技术】
[0002]目前,对大中型经纬仪调焦,多采用距离调焦与温度调焦的组合方式。其中影响温度调焦准确性的因素很多,包括由于组合结构材料多样性导致的线膨胀系数不统一、不同层面温度影响不均匀、温度传感器位置不好确定等。进而通过理论计算得到的温度调焦零点存在较大误差。


【发明内容】

[0003]本发明的目的提供一种经纬仪外场无穷远距离校正方法,解决了现有技术对大中型经纬仪外场调焦存在较大误差的技术问题。
[0004]本发明一种经纬仪外场无穷远距离校正方法:
[0005]步骤一:采用高精度平面镜对自准直平行光管进行自校准:
[0006]高精度平面镜沿着自准直平行光管光轴方向放置,高精度平面镜镜面与自准直平行光管的光轴平行,调整自准直平行光管上分划板的位置,直到分划板上高精度平面镜的返回像达到最清晰;
[0007]步骤二:采用步骤一中被校准后的自准直平行光管作为无穷远距离基准,对经纬仪调焦系统进行无穷远距离校正:
[0008]经纬仪的光轴与自准直平行光管光轴的方向平行,且经纬仪的通光口径与自准直平行光管的通光口径相互对应,通过经纬仪的光学系统观察分划板图像,并调节经纬仪上的调焦组件的位置,直到分划板图像最清晰。
[0009]本发明的有益技术效果:本发明首先通过高精度的平面镜对自准直平行光管自校准,后以被校准的自准直平行光管对经纬仪进行外场无穷远距离校正,最大限度降低温度变化对调焦系统的影响,保证了经纬仪调焦准确性。

【专利附图】

【附图说明】
[0010]图1为本发明一种经纬仪外场无穷远距离校正方法的流程图;
[0011]图2为本发明一种经纬仪外场无穷远距离校正方法的自准平行光管自校准示意图;
[0012]图3为本发明一种经纬仪外场无穷远距离校正方法的经纬仪的外场无穷远距离校正示意图;
[0013]其中,1、经纬仪,2、高精度平面镜,3、自准直平行光管。

【具体实施方式】
[0014]下面结合附图对本发明作进一步阐述。
[0015]参见附图1和附图2,本发明一种经纬仪外场无穷远距离校正方法:
[0016]步骤一:采用高精度平面镜2对自准直平行光管3进行自校准;
[0017]高精度平面镜2沿着自准直平行光管3光轴方向放置,高精度平面镜2镜面与自准直平行光管3的光轴平行,自准直平行光管3上的分划板能够沿着自准直平行光管3的光轴方向移动,调整分划板的位置,直到分划板上高精度平面镜2的返回像达到最清晰,即完成了自准直平行光管3的自校准;
[0018]所述分划板上平面镜的返回像在调节分划板的位置过程中图像由模糊到清晰,再由清晰到模糊。
[0019]步骤二:采用被校准后的自准直平行光管3作为无穷远距离基准,对经纬仪I调焦系统进行无穷远距离校正;
[0020]参见附图3,经纬仪I的光轴与自准直平行光管3光轴的方向平行,且经纬仪I的通光口径与自准直平行光管3的通光口径相互对应,通过经纬仪I的光学系统观察自准直平行光管3的分划板上的图像,并调节经纬仪I上的调焦组件的位置,直到分划板图像最清晰时,即完成了对经纬仪I无穷远距离的校正。
[0021]所述分划板图像在调节经纬仪调焦组件的位置的过程中图像是由模糊到清晰,再由清晰到模糊。
【权利要求】
1.一种经纬仪外场无穷远距离校正方法,其特征在于, 步骤一:采用高精度平面镜(2)对自准直平行光管(3)进行自校准: 高精度平面镜(2)沿着自准直平行光管光轴方向放置,高精度平面镜(2)镜面与自准直平行光管(3)的光轴平行,调整自准直平行光管(3)上分划板的位置,直到分划板上高精度平面镜(2)的返回像达到最清晰; 步骤二:采用步骤一中被校准后的自准直平行光管(3)作为无穷远距离基准,对经纬仪调(1)焦系统进行无穷远距离校正: 经纬仪(1)的光轴与自准直平行光管(3)光轴的方向平行,且经纬仪(1)的通光口径与自准直平行光管(3)的通光口径相互对应,通过经纬仪(1)的光学系统观察分划板图像,并调节经纬仪(1)上的调焦组件的位置,直到分划板图像最清晰。
【文档编号】G01C25/00GK104316082SQ201410593371
【公开日】2015年1月28日 申请日期:2014年10月28日 优先权日:2014年10月28日
【发明者】唐杰, 蔡盛 申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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