一种孔系内高精度槽宽及槽深测量方法
【专利摘要】本发明公开了一种孔系内高精度槽宽及槽深测量方法，采用对比测量方法，用块规精确校准测量系统的A、H值，用指示千分尺精确测量出测量系统的宽度B值后，通过与零件孔系中的A1、H1及B1对比测量，将差值反馈至测量系统中的千分表上，从而得出零件实测值。本方法测量精度高，测量过程中可根据需要被测零件的精度要求选择使用千分表或者是百分表，不同精度的量表可测量不同精度零件槽宽和槽深，使用范围广，对于较小孔系内尺寸也可以测量，测量过程中通过改变T型测针头端的T型台的直径d，可以适应不同尺寸的孔系；测量系统制造方便，测量系统中量表选用现有的百分表或千分表即可，可直接从量具生产厂家采购，只需要加工测座和T型测针即可。
【专利说明】一种孔系内高精度槽宽及槽深测量方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种孔系内高精度槽宽及槽深测量方法，属于机械加工测量领域。
【背景技术】
[0002]在机械加工领域，壳体、异形件等复杂零件如附图1所示，其结构孔系十分常见。该型零件内部并不仅仅包含有I个固定尺寸的孔，其整个内部结构可能有很多个不同直径、不同槽宽的孔组成。以附图1所示孔系尺寸A1、B1、H1为例，其测量方法通常采用带钩深度尺进行测量。随着产品的不断更新，部分零件设计精度越来越高，而带钩深度尺这类通用量具使用过程中暴露出了精度严重不足的问题，并且部分直径D较小孔系使用带钩深度尺的话，带钩深度尺无法放入到被测孔系中去，导致尺寸无法测量。
【发明内容】
[0003]本发明的目的在于:提供一种孔系内高精度槽宽及槽深测量方法，解决使用带钩深度尺进行测量的话，测量精度不高，而且部分直径较小的孔系中带钩深度尺无法伸入到孔中进行测量的问题。
[0004]本发明的技术方案:一种孔系内高精度槽宽及槽深测量方法，采用对比测量方法，用块规精确校准测量系统的A、H值，用指示千分尺精确测量出测量系统的宽度B值后，通过与零件孔系中的Al、Hl及BI对比测量，将差值反馈至测量系统中的千分表上，从而得出零件实测值；其中所述测量系统包括有千分表，千分表下底部设有T型测针代替，T型测针下端头部设置有I个T型台，T型测针的杆身穿过卡在千分表下底部上的测座内部；其中所述:
A值为:测量系统中测座下底面P2至T型测针头端T型台上端面M2的距离；
H值为:测量系统中测座下底面P2至T型测针头端T型台下底面N2的距离:
B值为:测量系统中T型测针头端T型台的厚度；
Al值为:被测零件外端面Pl至被测零件内槽上端面Ml之间的距离；
Hl值为:被测零件外端面Pl至被测零件内槽下端面NI之间的距离；
BI值为:被测零件内槽上端面Ml至被测零件内槽下端面NI之间的距离，即为被测零件槽宽。
[0005]前述的孔系内高精度槽宽及槽深测量方法中，该测量方法的具体步骤为:
a、用块规精确校准测量系统的A、H值，用指示千分尺精确测量出测量系统的B值；
b、槽深Al的测量:将测量系统中T型测针伸进被测量孔系中，使测座下底面P2与被测零件外端面Pl重合，通过按压千分表上按钮，使T型台上端面M2与被测零件内槽上端面Ml贴合，得出槽深Al实测尺寸为:A1=A+表读数；
C、槽宽BI的测量:将测量系统中T型测针伸进测量孔系中，使测座下底面P2与被测零件外端面Pl重合，通过按压千分表上按钮，使T型台上端面M2与被测零件内槽上端面Ml贴合，贴合后将表归零，然后按压千分表上按钮使T型台下底面N2与被测零件内槽下端面NI贴合，得出槽宽BI实测尺寸为:B1= B+表读数；或将测量系统中T型测针伸进测量孔系中，使测座下底面P2与被测零件外端面Pl重合，通过按压千分表上按钮，使T型台下底面N2与被测零件内槽下端面NI贴合，贴合后将表归零，通过按压千分表上按钮，使T型台上端面M2与被测零件内槽上端面Ml贴合，得出槽宽BI的实测尺寸为:B1= B+表读数；
d、槽深Hl的测量:将测量系统中T型测针伸进测量孔系中，使测座下底面P2与被测零件外端面Pl重合，通过按压千分表上按钮，使T型台下底面N2与被测零件内槽下端面NI贴合，得出槽深Hl的实测尺寸为:H1=H-表读数。
[0006]前述的孔系内高精度槽宽及槽深测量方法中，所述步骤a完成后，任意完成步骤b、C、d中的一项后，再完成剩余两项。
[0007]前述的孔系内高精度槽宽及槽深测量方法，所述测量系统的A、H、B值测量确定之前，先根据被测零件图纸中A1、H1、B1的标定值，对测量系统的T型测针进行机加工，使得测量系统的A、H、B值与被测零件的Al、H1、BI值相近，而T型测针头端的T型台的直径d应小于被测零件孔系直径D的下差值。
[0008]本发明的有益效果:和现阶段壳体、异形件等孔系中槽深和槽宽的测量方法相比，本发明的测量方法具有以下优点:
1、测量精度高，测量过程中可根据需要被测零件的精度要求选择使用千分表或者是百分表，不同精度的量表可测量不同精度零件槽宽和槽深；
2、使用范围广，对于较小孔系内尺寸也可以测量，测量过程中通过改变T型测针头端的T型台的直径d，可以适应不同尺寸的孔系；
3、测量系统制造方便，测量系统中量表选用现有的百分表或千分表即可，可直接从量具生产厂家采购，只需要加工测座和T型测针即可；
4、操作简单，测量使用过程中，会使用量表的人员均可以实施测量，操作人员按说明书或经过简单培训后即可完全掌握操作方法；
5、使用环境要求不高，可在生产现场使用，适应性强；
6、测量系统成本低廉，个人或小型企业均有能力采购、使用，零部件更换简单、方便。
[0009]综上所述，该测量系统在加工技术方面无任何技术难点，利用了现有成熟加工技术和设备即可完成，具有很好的工艺性，很容易实现，该测量方法原理简单，操作方便，测量精度高，使用范围广，推广难度很小。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]附图1为本发明的测量系统结构示意图；
附图2为本发明的测量系统中T型测针结构示意图；
附图3为被测零件结构示意图；
附图标记:1-千分表，2-测座，3-T型测针，4-T型台。
【具体实施方式】
[0011]本发明的实施例:一种孔系内高精度槽宽及槽深测量方法,该发方法总体思路为采用对比测量的方法，首先用块规精确校准测量系统的A、H值，用指示千分尺精确测量出测量系统的宽度B值后，通过与零件孔系中的Al、Hl及BI进行对比测量，将他们之间的差值反馈至测量系统中的千分表I上，从而得出零件实测值。而整个测量系统如附图1-2所示，包括有I个千分表1，该千分表I下底部的量表测头用T型测针3进行代替，在T型测针3下端头部设置有I个T型台4，该T型台4的直径较之T型测针3的杆径稍大一些，该T型测针3上端头部螺纹拧入至千分表I的下底部中去，拧入过程中T型测针3的杆身穿过测座2内部，测座2卡接在千分表I的下端，并通过螺钉紧固。
[0012]如附图1-3所示，图示中的标示分别为:
A值为:测量系统中测座2下底面P2至T型测针3头端T型台4上端面M2的距离；
H值为:测量系统中测座2下底面P2至T型测针3头端T型台4下底面N2的距离:
B值为:测量系统中T型测针3头端T型台4的厚度；
Al值为:被测零件外端面Pl至被测零件内槽上端面Ml之间的距离；
Hl值为:被测零件外端面Pl至被测零件内槽下端面NI之间的距离；
BI值为:被测零件内槽上端面Ml至被测零件内槽下端面NI之间的距离，即为被测零件槽宽。
[0013]该测量方法的具体步骤为:
a、首先用块规精确校准测量系统的A、H值，用指示千分尺精确测量出测量系统的B
值；
b、槽深Al的测量:将测量系统中T型测针3伸进被测量孔系中，使测座2下底面P2与被测零件外端面Pl重合，通过按压千分表I上的按钮，使T型台4的上端面M2与被测零件内槽上端面Ml贴合，从而得出槽深Al实测尺寸为:A1=A+表读数；
C、槽宽BI的测量:将测量系统中T型测针3伸进测量孔系中，使测座2下底面P2与被测零件外端面Pl重合，通过按压千分表I上的按钮，使T型台4上端面M2与被测零件内槽上端面Ml贴合，贴合后将表归零，然后按压千分表I上按钮使T型台4下底面N2与被测零件内槽下端面NI贴合，从而得出槽宽BI实测尺寸为:B1= B+表读数；步骤c中槽宽BI的测量方法可分为两种，另外一种测量方法为:将测量系统中T型测针3伸进测量孔系中，使得测座2下底面P2与被测零件外端面Pl重合，通过按压千分表I上的按钮，使T型台4下底面N2与被测零件内槽下端面NI贴合，贴合后将表归零，通过按压千分表I上的按钮，使T型台4上端面M2与被测零件内槽上端面Ml贴合，从而得出槽宽BI的实测尺寸为:B1= B+表读数；
d、槽深Hl的测量:将测量系统中T型测针3伸进测量孔系中，使测座2下底面P2与被测零件外端面Pl重合，通过按压千分表I上的按钮，使T型台4下底面N2与被测零件内槽下端面NI贴合，得出槽深Hl的实测尺寸为:H1=H-表读数。
[0014]步骤a完成后，步骤b、C、d可不按照顺序完成，先完成步骤b、或者先完成步骤C、或者先完成步骤d均可，完成I个步骤后，再完成其它步骤。
[0015]测量系统的A、H、B值测量确定之前，先根据被测零件图纸中的Al、HU BI的标定值，对测量系统的T型测针3进行机加工，使得测量系统的A、H、B值与被测零件的Al、H1、BI值相近，这样的话测量过程中，测量系统中的千分表I的偏转幅度就比较小，测量出来的误差也就比较小，而T型测针3加工过程中，其头端的T型台4的直径d应小于被测零件孔系直径D的下差值，也就是其最小值。而测量系统中的尺寸的确定可根据下列原则进行确定: 1、长度A的确定:长度A确定原则为A=Al- (Al公差X I?5倍)；
2、长度B的确定:长度B确定原则为B< BI下差值-O?0.5 ;
3、长度H的确定:长度H确定原则为H=Hl+ (Hl公差X I?5倍)；
4、直径d的确定:直径d确定原则为d< D的下差值。
[0016]各尺寸根据测量位置不同单独确定，公差浮动倍数根据被测尺寸精度进行选择。
[0017]而根据被测零件的被测尺寸精度可以使用百分表替换千分表I。
【权利要求】
1.一种孔系内高精度槽宽及槽深测量方法，其特征在于:采用对比测量方法，用块规精确校准测量系统的A、H值，用指示千分尺精确测量出测量系统的宽度B值后，通过与零件孔系中的Al、Hl及BI对比测量，将差值反馈至测量系统中的千分表(I)上，从而得出零件实测值；其中所述测量系统包括有千分表(1)，千分表(I)下底部设有T型测针(3)代替，T型测针(3 )下端头部设置有I个T型台(4 )，T型测针(3 )的杆身穿过卡在千分表(I)下底部上的测座(2)内部；其中所述: A值为:测量系统中测座(2)下底面P2至T型测针(3)头端T型台(4)上端面M2的距离； H值为:测量系统中测座(2)下底面P2至T型测针(3)头端T型台(4)下底面N2的距离: B值为:测量系统中T型测针(3)头端T型台(4)的厚度； Al值为:被测零件外端面Pl至被测零件内槽上端面Ml之间的距离； Hl值为:被测零件外端面Pl至被测零件内槽下端面NI之间的距离； BI值为:被测零件内槽上端面Ml至被测零件内槽下端面NI之间的距离，即为被测零件槽宽。
2.根据权利要求1所述的孔系内高精度槽宽及槽深测量方法，其特征在于:该测量方法的具体步骤为: a、用块规精确校准测量系统的A、H值，用指示千分尺精确测量出测量系统的B值； b、槽深Al的测量:将测量系统中T型测针(3)伸进被测量孔系中，使测座(2)下底面P2与被测零件外端面Pl重合，通过按压千分表(I)上按钮，使T型台(4)上端面M2与被测零件内槽上端面Ml贴合，得出槽深Al实测尺寸为:A1=A+表读数； C、槽宽BI的测量:将测量系统中T型测针(3)伸进测量孔系中，使测座(2)下底面P2与被测零件外端面Pl重合，通过按压千分表(I)上按钮，使T型台(4)上端面M2与被测零件内槽上端面Ml贴合，贴合后将表归零，然后按压千分表(I)上按钮使T型台(4)下底面N2与被测零件内槽下端面NI贴合，得出槽宽BI实测尺寸为:B1= B+表读数；或将测量系统中T型测针(3)伸进测量孔系中，使测座(2)下底面P2与被测零件外端面Pl重合，通过按压千分表(I)上按钮，使T型台(4)下底面N2与被测零件内槽下端面NI贴合，贴合后将表归零，通过按压千分表(I)上按钮，使T型台(4)上端面M2与被测零件内槽上端面Ml贴合，得出槽宽BI的实测尺寸为:B1= B+表读数； d、槽深Hl的测量:将测量系统中T型测针(3)伸进测量孔系中，使测座(2)下底面P2与被测零件外端面Pl重合，通过按压千分表(I)上按钮，使T型台(4)下底面N2与被测零件内槽下端面NI贴合，得出槽深Hl的实测尺寸为:H1=H-表读数。
3.根据权利要求2所述的孔系内高精度槽宽及槽深测量方法，其特征在于:所述步骤a完成后，任意完成步骤b、C、d中的一项后，再完成剩余两项。
4.根据权利要求1或2所述的孔系内高精度槽宽及槽深测量方法，其特征在于:所述测量系统的A、H、B值测量确定之前，先根据被测零件图纸中A1、H1、B1的标定值，对测量系统的T型测针(3)进行机加工，使得测量系统的A、H、B值与被测零件的Al、H1、B1值相近，而T型测针(3)头端的T型台(4)的直径d应小于被测零件孔系直径D的下差值。
【文档编号】G01B5/02GK104482831SQ201410770105
【公开日】2015年4月1日 申请日期:2014年12月15日 优先权日:2014年12月15日
【发明者】金波, 文中波 申请人:贵州红林机械有限公司