Led测试方法
【专利摘要】本发明公开了一种LED测试方法，属于LED照明领域。在常温下将LED样品放置在照度为46-50lux的环境中点亮LED，记录参数数据；分别在常温下、-15℃-0℃环境下、55℃-60℃环境下、在8℃-16℃环境下对LED样品分别进行静电放电并记录参数数据；对比测试前LED样品参数数据和测试后LED样品参数数据，判断LED样品在所述不同的温度环境下的抗静电性能。本发明通过模拟在不同的温度环境和静电等级下对LED抗静电性能进行测试，尤其是通过低、高、低温度的循环测试，准确地评估不同环境下LED抗静电能力，为技术的改进和创新提供了重要数据。
【专利说明】LED测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种LED测试方法，具体讲是一种检测LED抗静电性能的测试方法，属于LED照明领域。
【背景技术】
[0002]LED被公认为21世纪“绿色照明”，具有“高节能”“寿命长”“多变幻”“利环保”“高新尖”等特点，从而成为最具市场潜力的行业热点。但是在LED整个产业链中，由于技术上的差异，导致不同厂家所生产的LED质量参差不齐。LED抗静电性能是LED重要的性能指标。
[0003]目前LED抗静电性能一般常采用批量试用的方法来判定LED的抗静电能力，但是这种方法周期长、成本高、误差大；还有一些测试方法将LED扔进塑料袋吹气、揉搓或测LED的反向电阻等方法来判定LED的抗静电能力，但这些方法都没有标准依据，只能依靠经验来判断，不规范。上述这些方法都无法为准确测试LED抗静电性能、，严重制约了 LED产业的发展。此外，也有部分制造企业采用相关设备进行LED抗静电测试，但其测试过程复杂，测试结果无法达到预期。
【发明内容】
[0004]本发明所要解决的技术问题在于克服现有技术缺陷，提供一种能全面准确测试LED抗静电性能的方法。
[0005]为了解决上述技术问题，本发明提供的LED测试方法，包括如下步骤:
1)、在常温下将LED样品放置在照度为46-501uX的环境中点亮LED，检查所述LED样品发光是否异常，通过积分球测试并记录所述LED的参数数据；
2)、在常温下LED样品通电点亮Ih后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电、1500-3000V静电放电和4500-7000V静电放电并记录测试后LED样品参数数据；
3)、在-15°C-0°C环境下将LED样品通电点亮3h后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电、1500-3000V静电放电和4500-7000V静电放电并记录测试后LED样品参数数据；
4)、在55°C-60°C环境下将LED样品通电点亮20min后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电、1500-3000V静电放电和4500-7000V静电放电并记录测试后LED样品参数数据；
5)、在8°C_16°C环境下将LED样品通电点亮2h后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电、1500-3000V静电放电和4500-7000V静电放电并记录测试后LED样品参数数据；
6)、对比所述测试前LED样品参数数据和所述测试后LED样品参数数据，判断所述LED样品在所述不同的温度环境下的抗静电性能。
[0006]本发明中，所述250-500V静电放电次数为40-50次，1500-3000V静电放电次数为30-40次，4500-7000V静电放电次数为20-30次。
[0007]本发明的有益效果在于:本发明通过模拟在不同的温度环境和静电等级下对LED抗静电性能进行测试，尤其是通过低、高、低温度的循环测试，准确地评估不同环境下LED抗静电能力，为技术的改进和创新提供了重要数据，其可大大提高LED产品质量，促进LED产业的发展。
【具体实施方式】
[0008]下面结合具体实施例对本发明作进一步详细说明。
[0009]本发明各实施例均采用远方LED静电分析测试系统进行LED抗静电性能测试，LED静电分析测试系统由EMS61000-2系列静电放电发生器、ETP-2静电测试平台和可编程LED专用精密测试电源组成，是针对LED静电敏感等级判定要求及特点而专门设计的自动分析测试系统。
[0010]实施例1
1)、在常温下将2-3组LED样品放置在照度为46-501UX的环境中点亮LED，检查所述LED样品发光是否异常，通过积分球测试并记录所述LED的参数数据；
2)、在常温下LED样品通电点亮Ih后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电45次、1500-3000V静电放电35次和4500-7000V静电放电20次并记录测试后LED样品参数数据；
3)、在_15°C环境下将LED样品通电点亮3h后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电40次、1500-3000V静电放电30次和4500-7000V静电放电30次并记录测试后LED样品参数数据；
4)、在57°C环境下将LED样品通电点亮20min后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电50次、1500-3000V静电放电40次和4500-7000V静电放电25次并记录测试后LED样品参数数据；
5)、在8°C环境下将LED样品通电点亮2h后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电43次、1500-3000V静电放电30次和4500-7000V静电放电24次并记录测试后LED样品参数数据；
6)、对比所述测试前LED样品参数数据和所述测试后LED样品参数数据，判断所述LED样品在所述不同的温度环境下的抗静电性能。
[0011]实施例2
1)、在常温下将2-3组LED样品放置在照度为46-501UX的环境中点亮LED，检查所述LED样品发光是否异常，通过积分球测试并记录所述LED的参数数据；
2)、在常温下LED样品通电点亮Ih后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电50次、1500-3000V静电放电30次和4500-7000V静电放电30次并记录测试后LED样品参数数据；
3)、在0°C环境下将LED样品通电点亮3h后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电44次、1500-3000V静电放电40次和4500-7000V静电放电23次并记录测试后LED样品参数数据； 4)、在58°C环境下将LED样品通电点亮20min后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电41次、1500-3000V静电放电33次和4500-7000V静电放电28次并记录测试后LED样品参数数据；
5)、在16°C环境下将LED样品通电点亮2h后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电50次、1500-3000V静电放电37次和4500-7000V静电放电30次并记录测试后LED样品参数数据；
6)、对比所述测试前LED样品参数数据和所述测试后LED样品参数数据，判断所述LED样品在所述不同的温度环境下的抗静电性能。
[0012]实施例3
1)、在常温下将2-3组LED样品放置在照度为46-501UX的环境中点亮LED，检查所述LED样品发光是否异常，通过积分球测试并记录所述LED的参数数据；
2)、在常温下LED样品通电点亮Ih后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电40次、1500-3000V静电放电32次和4500-7000V静电放电25次并记录测试后LED样品参数数据；
3)、在-10°C环境下将LED样品通电点亮3h后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电50次、1500-3000V静电放电32次和4500-7000V静电放电20次并记录测试后LED样品参数数据；
4)、在55°C环境下将LED样品通电点亮20min后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电40次、1500-3000V静电放电30次和4500-7000V静电放电20次并记录测试后LED样品参数数据；
5)、在12°C环境下将LED样品通电点亮2h后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电40次、1500-3000V静电放电33次和4500-7000V静电放电27次并记录测试后LED样品参数数据；
6)、对比所述测试前LED样品参数数据和所述测试后LED样品参数数据，判断所述LED样品在所述不同的温度环境下的抗静电性能。
[0013]实施例4
1)、在常温下将2-3组LED样品放置在照度为46-501UX的环境中点亮LED，检查所述LED样品发光是否异常，通过积分球测试并记录所述LED的参数数据；
2)、在常温下LED样品通电点亮Ih后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电48次、1500-3000V静电放电40次和4500-7000V静电放电27次并记录测试后LED样品参数数据；
3)、在_7°C环境下将LED样品通电点亮3h后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电47次、1500-3000V静电放电38次和4500-7000V静电放电26次并记录测试后LED样品参数数据；
4)、在60°C环境下将LED样品通电点亮20min后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电43次、1500-3000V静电放电36次和4500-7000V静电放电30次并记录测试后LED样品参数数据；
5)、在irC环境下将LED样品通电点亮2h后，利用LED静电分析测试系统对LED样品分别进行250-500V静电放电48次、1500-3000V静电放电40次和4500-7000V静电放电20次并记录测试后LED样品参数数据；
6)、对比所述测试前LED样品参数数据和所述测试后LED样品参数数据，判断所述LED样品在所述不同的温度环境下的抗静电性能。
[0014]以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本【技术领域】的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下还可以做出若干改进，这些改进也应视为本发明的保护范围。
【权利要求】
1.一种120测试方法，其特征在于包括如下步骤: 1)、在常温下将[￡0样品放置在照度为46-5011^的环境中点亮1^0，检查所述[￡0样品发光是否异常，通过积分球测试并记录所述120的参数数据； 2)、在常温下1^0样品通电点亮111后，利用[￡0静电分析测试系统对[￡0样品分别进行250-5007静电放电、1500-30007静电放电和4500-70007静电放电并记录测试后[￡0样品参数数据； 3)、在-151:-0X:环境下将[￡0样品通电点亮3卜后，利用1^0静电分析测试系统对120样品分别进行250-5007静电放电、1500-30007静电放电和4500-70007静电放电并记录测试后[￡0样品参数数据； 4)、在551:-601:环境下将[￡0样品通电点亮20-11后，利用[￡0静电分析测试系统对120样品分别进行250-5007静电放电、1500-30007静电放电和4500-70007静电放电并记录测试后[￡0样品参数数据； 5)、在81:-161:环境下将[￡0样品通电点亮2卜后，利用[￡0静电分析测试系统对[￡0样品分别进行250-5007静电放电、1500-30007静电放电和4500-70007静电放电并记录测试后[￡0样品参数数据； 6)、对比所述测试前[￡0样品参数数据和所述测试后[￡0样品参数数据，判断所述120样品在所述不同的温度环境下的抗静电性能。
2.根据权利要求1所述的[￡0抗静电测试方法，其特征在于:所述250-5007静电放电次数为40-50次，1500-30007静电放电次数为30-40次，4500-70007静电放电次数为20-30次。
【文档编号】G01R31/26GK104483613SQ201410775443
【公开日】2015年4月1日 申请日期:2014年12月16日 优先权日:2014年12月16日
【发明者】杨耀武 申请人:常熟卓辉光电科技股份有限公司