测试功耗箱散热结构的制作方法
【专利摘要】本实用新型提出一种测试功耗箱散热结构，包括箱体、电阻堆、电感堆、配电柜，其特征在于：所述箱体的下部四周有多个进气口，所述箱体的顶部有散热口；所述电阻堆和配电柜位于所述箱体的上部，中间留有通风通道；所述电阻堆的下部有风扇；所述电感堆位于所述箱体的下部，与所述电阻堆和配电柜之间留有通道；所述配电柜的柜体下部设置有进气口，上部设置有风扇。本实用新型提出的测试功耗箱散热结构，通过改进箱体结构及排放方式，采用强迫排风加自然通风相结合原理进行散热，使箱体内温度保持在一定温度下，维护设备正常运行。
【专利说明】测试功耗箱散热结构
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测试功耗箱，特别地，涉及一种测试功耗箱的散热结构。
【背景技术】
[0002]测试功耗箱内部有电阻堆、电感堆、配电柜等电器设备，这些电器设备在使用过程中都会产生热量，如果热量无法全部排出，会使功耗箱内温度过高，对设备测试系统会产生影响，温度升高时间一长，设备将无法正常工作。为把热量有效排出测试功耗箱体外，在箱体内合理布置风扇，结合通风装置让测试功耗箱在测试条件下，箱内温度保持在规定使用温度之下，保证测试功耗箱正常运行使用。
实用新型内容
[0003]本实用新型的目的在于提出一种测试功耗箱的散热结构，通过改进箱体结构及排放方式，使热量定向排出箱体。
[0004]本实用新型提出一种测试功耗箱散热结构，包括箱体、电阻堆、电感堆、配电柜，其特征在于:所述箱体的下部四周有多个进气口，所述箱体的顶部有散热口 ；所述电阻堆和配电柜位于所述箱体的上部，中间留有通风通道；所述电阻堆的下部有风扇；所述电感堆位于所述箱体的下部，与所述电阻堆和配电柜之间留有通道；所述配电柜的柜体下部设置有进气口，上部设置有风扇。
[0005]其中，所述进气口为百叶窗。
[0006]其中，所述百叶窗外设有防水结构。
[0007]其中，所述电阻堆周围的箱体为双层结构，两层之间为通风通道。
[0008]本实用新型提出的测试功耗箱散热结构，通过改进箱体结构及排放方式，采用强迫排风加自然通风相结合原理进行散热，使箱体内温度保持在一定温度下，维护设备正常运行。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]关于本实用新型的优点与精神可以通过以下的实用新型详述及所附图式得到进一步的了解。
[0010]图1为本实用新型测试功耗箱散热结构示意图。
【具体实施方式】
[0011]下面结合附图详细说明本实用新型的具体实施例。
[0012]如图1所示，本实用新型的测试功耗箱散热结构包括箱体1、电阻堆2、电感堆3和配电柜4。箱体I的下部四周有多个进气口 5，进气口 5为百叶窗或通风网。百叶窗或通风网外设有防水结构。箱体I的顶部开有散热口 6，散热口 6为网状结构。电阻堆2和配电柜4位于箱体I内的上部，中间留有通风通道。电阻堆2的下部有风扇9，电阻堆周围的箱体为双层结构，两层之间为通风通道。，配电柜4的柜体下部设置有进气口 7，上部设置有风扇8。电感堆3位于箱体3的下部，与电阻堆2和配电柜4之间留有通道。
[0013]本实用新型提出的测试功耗箱散热结构，通过改进箱体结构及排放方式，采用强迫排风加自然通风相结合原理进行散热，使箱体内温度保持在一定温度下，维护设备正常运行。
[0014]本说明书中所述的只是本实用新型的较佳具体实施例，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非对本实用新型的限制。凡本领域技术人员依本实用新型的构思通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案，皆应在本实用新型的范围之内。
【权利要求】
1.一种测试功耗箱散热结构，包括箱体、电阻堆、电感堆、配电柜，其特征在于:所述箱体的下部四周有多个进气口，所述箱体的顶部有散热口 ；所述电阻堆和配电柜位于所述箱体的上部，中间留有通风通道；所述电阻堆的下部有风扇；所述电感堆位于所述箱体的下部，与所述电阻堆和配电柜之间留有通道；所述配电柜的柜体下部设置有进气口，上部设置有风扇。
2.如权利要求1所述的测试功耗箱散热结构，其特征在于:所述进气口为百叶窗。
3.如权利要求2所述的测试功耗箱散热结构，其特征在于:所述百叶窗外设有防水结构。
4.如权利要求1所述的测试功耗箱散热结构，其特征在于:所述电阻堆周围的箱体为双层结构，两层之间为通风通道。
【文档编号】G01D11/24GK203748180SQ201420117025
【公开日】2014年7月30日 申请日期:2014年3月14日 优先权日:2014年3月14日
【发明者】韩玥, 肖强, 罗勇林 申请人:上海栋巡时自控技术有限公司