3d高度检测机构的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种3D高度检测机构，其特征在于它包括机壳（1），机壳（1）内设置有左右对称布置的两个相机组件（2）和两个相机控制器（3），机壳（1）内还设置有调节固定座（4）、激光发射装置（5）以及激光功率启停控制器（6）。该3D高度检测机构具有能让高端封装外观检测机的产品的外观尺寸检测更稳定更准确的优点。
【专利说明】3D高度检测机构
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种高端封装外观检测机，尤其涉及一种高端封装外观检测机的 3D高度检测机构，适用于BGA、QFP、TSOP、QFN等高端封装形式产品的外观尺寸检测(包括锡 球或引脚的高度、长短尺寸、大小尺寸、安装高度、球(脚）间距、共面性、基板翘曲、印章、胶 体缺损等项目内容)。
【背景技术】
[0002]高端封装外观检测机主要是由许多的机械零件配合气动组件、伺服电机、步进电 机、各类传感器、高精度工业相机、激光发射器等组成的机电一体化设备，其程控由工业 PC+软件BCB 6_0编写而成。主要是由进料区（Load)、InputC⑶检测站、3D高度检测站、 补空盘站（Carrier )、搬运站（Transfer )、翻转站（FI ipper )、OutputCCD检测站、分料站 (Sorting)、补盘备用站（Buffer Bin)和废品站（Bin2, Bin3)组成。
[0003] 传统的外观检测机，需要将产品吸取出Tray盘，再送入检测站进行检测，而高端 封装外观检测机不需要将产品取出Tray盘就能够进行检测，避免了吸取和放置产品时引 起对产品的锡球或引脚损伤，能够更准确的对产品进行测量。
[0004] 高端封装外观检测机中3D高度检测站利用几何光学的四大基本定律：
[0005] 1、直线传播定律：在各向同性的均匀介质中，光沿直线传播(光线是直线）；
[0006] 2、独立传播定律：从不同光源发出的光束，以不同的方向通过空间某点时，彼此互 不影响，各光束独立传播；
[0007] 3、折射定律：入射光线、反射光线、通过投射点的法线三者位于同一平面，入射角 等于反射角且大小相等符号相反(分居法线两侧）；
【权利要求】
1. 一种3D高度检测机构，其特征在于它包括机壳（1 )，机壳（1)内设置有左右对称布置 的两个相机组件（2)和两个相机控制器（3)，机壳（1)内还设置有调节固定座（4)、激光发射 装置（5)以及激光功率启停控制器（6)。
2. 根据权利要求1所述的一种3D高度检测机构，其特征在于所述机壳（1)包括上罩壳 (1. 1)、下底板（1. 2)、左挡板（1. 3)、右挡板（1. 4)、前挡板（1. 5)以及后挡板（1. 6)，所述调 节固定座（4)设置于下底板（1.2)上的中央，所述激光发射装置（5)坚向设置于调节固定座 (4)上，所述激光功率启停控制器（6)设置于激光发射装置（5)正上方的上罩壳（1. 1)内，两 个相机组件（2 )左右对称布置于激光发射装置（5 )的左上方以及右上方，两个相机组件（2 ) 均指向激光发射装置（5)，两个相机控制器（3)位于两个相机组件（2)上方。
3. 根据权利要求1或2所述的一种3D高度检测机构，其特征在于所述相机组件（2)从 上至下依次包括C⑶高精度相机（2. 1)、光学接圈（2. 2)、光学镜头（2. 3)、偏振镜片（2. 4) 以及滤色片（2. 5)，所述相机控制器（3)内设置有时序及同步信号发生器、垂直驱动器以及 模拟/数字信号处理电路。
【文档编号】G01B11/02GK204085452SQ201420489844
【公开日】2015年1月7日 申请日期:2014年8月28日 优先权日:2014年8月28日
【发明者】马浩峰, 吴忠其 申请人:江阴新基电子设备有限公司