电子元件测试模组的启闭装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种电子元件测试模组的启闭装置，其测试模组设有测试座、盖体及定位框架，该具散热结构的盖体盖置于测试座上，并与定位框架相互扣合定位，该启闭装置包含移载机构及启闭单元，该移载机构系设有作至少一方向位移的移载具，以连结装配启闭单元，该启闭单元设有作至少一方向位移的勾具，以勾持开启定位框架，使盖体弹性外摆而开启，该启闭单元另设有多个作至少一方向位移的第一压抵件及第二压抵件，以分别压抵盖体及定位框架相互盖置定位于测试座上，而关闭测试模组的盖体；藉此，可自动化启闭测试模组，不仅节省人力成本，并缩短启闭作业时间，达到节省成本及提升测试产能的实用效益。
【专利说明】电子元件测试模组的启闭装置
【技术领域】
[0001]本实用新型提供一种可自动化启闭测试模组的启闭装置，不仅缩减人力，并缩短启闭作业时间，进而节省成本及提升测试产能。
【背景技术】
[0002]在现今，电子元件于后段封装完成后，为确保产品品质，会将电子元件置入测试模组的测试座而进行测试作业，以检测电子元件于制作过程中是否遭受损坏，以淘汰出不良品，由于电子元件于执行测试作业的过程中，其本身会因执行程式作业而产生自热，为避免电子元件的自热温度超出预设的测试温度，而影响测试品质，业者于测试模组的测试座上方装配有具散热结构的盖体，并利用散热结构与电子元件作冷热交换，使电子元件的温度保持于预设的测试温度范围内，进而确保电子元件的检测合格率。
[0003]请参阅图1、2，多个测试模组10装配于测试电路板20上，各测试模组10包含测试座11、定位框架12及盖体13，该测试座11设有容置电子元件的容置槽111，并于容置槽111内配置有多个电性连接测试电路板20的探针112，该定位框架12的一端以第一枢轴121枢设于测试座11的一端，并利用第一枢轴121带动一扣抵块122作角度摆动及第一方向(如Z方向)位移，扣抵块122与测试座11间则设有第一弹簧123，另于定位框架12的两侧设有扣孔124，该盖体13的一端以第二枢轴131枢设于测试座11的另一端，并与测试座11间设有第二弹簧132，盖体13的另一端则设有卡扣部133，并于两侧相对应定位框架12的扣孔124位置设有凸扣件134，另于盖体13的顶面设有散热结构，该散热结构设有一凸伸出于盖体13底面的传导件135，以接触传导电子元件的自热，并连结位于盖体13顶面的散热鳍片136，该盖体13压抵第二弹簧132，并盖置于测试座11上，该盖体13的卡扣部133则扣合于扣抵块122定位，该定位框架12盖置于测试座11上，并使扣抵块122压抵第一弹簧123，该定位框架12的扣孔124则扣合于盖体13的凸扣件134定位；请参阅图3，于使用时，工作人员以手部将定位框架12向外扳动，定位框架12即以第一枢轴121为旋转中心，而带动扣抵块122向外摆动，令扣抵块122释放盖体13的卡扣部133，以及使扣孔124脱离盖体13的凸扣件134，盖体13即利用第二弹簧132的弹力而向外摆动开启，接着工作人员以手动方式将待测的电子元件30置入于测试座11的容置槽111内；请参阅图4、5，于完成电子元件30上料作业后，工作人员以手动方式将盖体13盖置于测试座11上，令卡扣部133扣合于扣抵块122定位，并使传导件135接触电子元件30，该定位框架12再盖置于测试座11上，令扣孔124扣合盖体13的凸扣件134，进而将盖体13确实定位于测试座11上，使传导件135接触传导电子元件30于测试过程中所产生的自热，再利用盖体13顶面的散热鳍片136散热，使电子元件30的温度保持于预设测试温度范围内，进而确保电子元件30的检测合格率；然而，此一手动启闭测试模组10的使用方式，具有如下缺失:
[0004]1.业者以人工作业方式启闭测试模组10的定位框架12及盖体13，若测试模组10数量庞大时，势必需配置较多人力逐一启闭定位框架12及盖体13，造成增加作业成本的缺失。
[0005]2.于测试作业时，工作人员必须费力将多个测试模组10的定位框架12逐一向外扳启，方可开启盖体13，以供电子元件30置入于测试座11，之后，再费力将盖体13及定位框架12逐一重新盖置定位于测试座11上，以致人工启闭作业不仅耗时费力，亦降低测试产倉泛。
[0006]3.当工作人员以手动方式开启测试模组10的盖体13后，又需以手动方式逐一于测试座11取放电子元件30，更增加上下料作业时间，进而降低测试产能。
【发明内容】
[0007]本实用新型的目的一，是提供一种电子元件测试模组的启闭装置，其测试模组设有测试座、盖体及定位框架，该具散热结构的盖体系置于该测试座上，并与该定位框架相互扣合定位，该启闭装置包含移载机构及启闭单元，该移载机构设有作至少一方向位移的移载具，以连结装配该启闭单元，该启闭单元设有作至少一方向位移的勾具，以勾持开启该定位框架，使该盖体弹性外摆而开启，该启闭单元另设有多个作至少一方向位移的第一压抵件及第二压抵件，以分别压抵该盖体及该定位框架相互盖置定位于该测试座上，而关闭该测试模组的盖体；藉此，可自动化启闭测试模组，而大幅缩减人力配置，达到节省成本的实用效益。
[0008]本实用新型的目的二，是提供一种电子元件测试模组的启闭装置，其中，该移载机构的移载具带动该启闭单元的勾具及第一、二压抵件位移至该测试模组上方，使该启闭单元自动化一次启闭一批次测试模组的盖体及定位框架，而大幅缩减启闭盖体作业时间，达到提升测试产能的实用效益。
[0009]本实用新型的目的三，是提供一种电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭单元以架板装配勾具及该第一、二压抵件，并于该架板与该移载机构的移载具间设有连接结构，该连接结构于该架板与该移载具间设有相互配合的具卡掣部的第一连结座及具嵌扣件的第二连结座，于更换整个启闭单元时，可采气动方式驱动嵌扣件自动化脱离或卡合卡掣部，即可便利装拆整个启闭单元，达到提升使用效能的实用效益。
[0010]本实用新型的目的四，是提供一种电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭装置设有具至少一拾取器的拾取机构，于该启闭单元自动化开启测试模组的盖体后，该拾取机构即可以拾取器自动化于该测试座取放电子元件，毋需以人工取放，以大幅缩减上下料作业时间，达到提升测试产能的实用效益。
【专利附图】
【附图说明】
[0011]图1为现有测试模组与测试电路板的示意图；
[0012]图2为现有测试模组的示意图；
[0013]图3为现有手动开启测试模组的使用示意图；
[0014]图4为现有手动关闭测试模组的使用示意图(一)；
[0015]图5为现有手动关闭测试模组的使用示意图(二)；
[0016]图6为本实用新型启闭装置的示意图；
[0017]图7为本实用新型启闭装置的启闭单元的示意图；
[0018]图8为本实用新型启闭装置与测试模组的示意图；
[0019]图9为本实用新型启闭装置开启测试模组的使用示意图(一)；
[0020]图10为本实用新型启闭装置开启测试模组的使用示意图(二)；
[0021]图11为本实用新型启闭装置开启测试模组的使用示意图(三)；
[0022]图12为本实用新型启闭装置开启测试模组的使用示意图(四)；
[0023]图13为本实用新型启闭装置关闭测试模组的使用示意图(一)；
[0024]图14为本实用新型启闭装置关闭测试模组的使用示意图(二)；
[0025]图15为本实用新型启闭装置关闭测试模组的使用示意图(三)；
[0026]图16为本实用新型启闭装置关闭测试模组的使用示意图(四)；
[0027]图17为本实用新型启闭装置的移载机构与启闭单元的分离示意图。
[0028]附图标记说明:测试模组-10 ;测试座-11 ;容置槽-111 ;探针-112 ;定位框架-12 ;第一枢轴-121 ;扣抵块-122 ;第一弹簧-123 ;扣孔-124 ;盖体-13 ;第二枢轴-131 ；第二弹簧-132 ;卡扣部-133 ;凸扣件-134 ;传导件-135 ;散热鳍片-136 ;测试电路板-20 ；启闭装置-40 ;移载机构-41 ;第一移送器-411 ;第二移送器-412 ;马达-4121 ;传动组-4122 ;机架-413 ;移载具-414 ;第二连结座-415 ;嵌扣件-4151 ;启闭单元-42 ;架板-421 ;承置件-4211 ;第一连结座-422 ;卡掣部-4221 ;第一驱动源-423 ;勾具-424 ;第一压抵件-425 ;第二驱动源-426 ;第二压抵件-427 ;感测器-428 ;拾取机构-43 ;第三移送器-431 ;拾取器-432 ;测试模组-50 ;测试座-51 ;容置槽-511 ;探针-512 ;定位框架_52 ；扳动部-521 ;第三枢轴-522 ;扣抵块-523 ;第一弹簧-524 ;扣孔-525 ;盖体-53 ;第四枢轴-531 ;第二弹簧-532 ;卡扣部-533 ;凸扣件-534 ;传导件-535 ;散热鳍片-536 ;电子元件-60。
【具体实施方式】
[0029]为对本实用新型作更进一步清楚的阐述，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后:
[0030]请参阅图6、7，本实用新型启闭装置40包含移载机构41及启闭单元42，该移载机构41设有至少一移送器，以移送至少一移载具作至少一方向位移，于本实施例中，该移载机构41设有第一移送器411及第二移送器412，该第一移送器411带动一装配有第二移送器412的机架413作较大行程的第一、二方向(如Z — X方向)位移,该第二移送器412设有马达4121，以驱动传动组4122位移，该传动组4122包含皮带轮组及螺杆螺座组，并以螺杆螺座组之螺座经连结架连结一移载具414，以带动移载具414作Z方向位移；该启闭单元42设有作至少一方向位移的勾具，以勾启测试模组的定位框架，而开启测试模组的盖体，启闭单元42并设有多个作至少一方向位移的第一压抵件及第二压抵件，以分别压抵测试模组的盖体及定位框架盖置定位于测试座上，而关闭测试模组的盖体，更进一步，该启闭单元42的勾具及第一、二压抵件可直接装配于移载具414上，或者装配于一架板上，再以架板连结移载具414,于本实施例中，启闭单兀42设有一架板421,并于架板421的顶面与移载机构41的移载具414间设有连接结构，该连接结构于架板421与移载具414间设有相互配合的具卡掣部的第一连结座及具嵌扣件的第二连结座，以供装拆启闭单元42，于本实施例中，该连接结构于架板421的顶面设有具卡掣部4221的第一连结座422，该卡掣部4221可为环槽，该移载具414于底面相对应第一连结座422的位置设有第二连结座415，该第二连结座415设有多个可为珠体的嵌扣件4151，并以气动方式驱动多个嵌扣件4151卡掣或脱离第一连结座422的卡掣部4221，另于架板421底部的承置件4211 —侧装配有可为压缸的第一驱动源423，该第一驱动源423驱动勾具424作Z方向位移，该承置件4211的底部则装配有可为滚轮的第一压抵件425，又该架板421的底部系装配有呈X方向配置且为压缸的第二驱动源426，该第二驱动源426驱动可为滚轮的第二压抵件427作X方向位移，另该启闭装置40设有至少一感测器，用以感测测试模组的盖体是否开启，于本实施例中，于启闭单元42的第一驱动源423 —侧设有感测器428。
[0031]请参阅图8、9，为本实用新型启闭装置40应用的测试模组50，多个测试模组50配置于测试电路板上，该测试模组50包含测试座51、定位框架52及盖体53，该测试座51设有容置电子元件的容置槽511，并于容置槽511内配置有多个电性连接测试电路板的探针512,该定位框架52的一端设有可为横杆的扳动部521,另一端则以第三枢轴522枢设于测试座51的一端，并以第三枢轴522带动一扣抵块523作角度摆动及Z方向位移，扣抵块523与测试座51间设有第三弹簧524，该定位框架52的两侧设有扣孔525，该盖体53的一端以第四枢轴531枢设于测试座51的另一端,并与测试座51间设有第四弹簧532,盖体53的另一端则为卡扣部533，并于两侧相对应定位框架52的扣孔525位置设有凸扣件534，另于盖体53的顶面设有散热结构，该散热结构设有一凸伸出于盖体53底面的传导件535，以接触传导电子元件的自热，并连结位于盖体53顶面的散热鳍片536，该盖体53压抵第四弹簧532，并盖置于测试座51上，令卡扣部533扣合于扣抵块523定位，该定位框架52盖置于测试座51上，且位于盖体53的外部，定位框架52带动扣抵块523作Z方向位移压抵第三弹簧524，并令扣孔525扣合于盖体53的凸扣件534，进而将盖体53确实定位于测试座51上；于使用启闭装置40开启测试模组50时，该启闭装置40的移载机构41的第一移送器411载送第二移送器412及启闭单元42作X方向位移至测试模组50的上方，第二移送器412的马达4121驱动传动组4122,并经由传动组4122带动移载具414及启闭单元42作Z方向下降位移，该启闭单元42的第一驱动源423则驱动勾具424作Z方向位移，令勾具424对应于测试模组50的定位框架52的扳动部521,接着该移载机构41的第一移送器411及第二移送器412带动启闭单元42作X — Z方向位移，使启闭单元42的勾具424勾持该定位框架52的扳动部521向外摆动，并令定位框架52的扣孔525脱离盖体53的凸扣件534。
[0032]请参阅图8、9、10，由于定位框架52已无下压扣抵块523，该扣抵块523可利用第三弹簧524的复位弹力而带动定位框架52向外弹性摆动，使定位框架52脱离启闭单元42的勾具424，并释放盖体53的卡扣部533，该盖体53则利用第四弹簧532的复位弹力，并以第四枢轴531为旋转中心而向外弹性摆动开启。
[0033]请参阅图8、11，然为确认测试模组50的盖体53是否正常开启，于启闭单元42的第一驱动源423驱动勾具424作Z方向向上位移复位后,该移载机构41的第一移送器411及第二移送器412带动启闭单元42作X — Z方向位移，使启闭单元42的感测器428位于感测作业高度，使感测器428感测盖体53是否正常开启，若无感测到盖体53，则为异常状态，工作人员即需排除异常，以避免影响后续电子元件上料作业，若感测到盖体53，则为正常状态，而可继续进行电子元件上料作业。
[0034]请参阅图8、12，该电子元件上料作业可采人工上料或自动化上料，由于本实用新型可自动化开启测试模组50的盖体53，为使启闭装置40—贯自动化作业，而大幅缩减上下料作业时间，本实用新型启闭装置40更包含设有拾取机构43，该拾取机构43设有至少一取放电子元件的拾取器，以及设有至少一移送器带动拾取器作至少一方向位移，于本实施例中，该拾取机构43设有第三移送器431带动具有待测电子元件60的拾取器432作X方向位移至测试模组50的测试座51上方，第三移送器431再带动拾取器432作Z方向位移将待测电子元件60置入于测试座51的容置槽511，使待测电子元件60电性接触测试座51的探针512，于完成上料作业后，该拾取机构43的第三移送器431再带动拾取器432作X — Z方向位移离开测试模组50的上方。
[0035]请参阅图8、13、14，于完成电子元件上料作业后，该启闭单元42的第二驱动源426驱动第二压抵件427作X方向向外位移，该移载机构41的第一移送器411及第二移送器412带动启闭单元42作X — Z方向位移，令启闭单元42的第二压抵件427位于盖体53的外侧方；接着启闭单元42的第二驱动源426驱动第二压抵件427作X方向向内位移，令第二压抵件427压抵盖体53作动，该盖体53即以第四枢轴531为旋转中心而向下摆动，且压缩第四弹簧532,以盖置于测试座51上,并令卡扣部533扣合于扣抵块523而定位。
[0036]请参阅图8、15，该移载机构41的第一移送器411及第二移送器412带动启闭单元42作X — Z方向位移，使启闭单元42的第一压抵件425压抵定位框架52作动，定位框架52即以第三枢轴522为旋转中心而向下摆动，并利用第三枢轴522带动扣抵块523作Z方向位移，扣抵块523即下压弹簧524及盖体53的卡扣部533，于定位框架52的扣孔525扣合于盖体53的凸扣件534后，即可确实将盖体53定位于测试座51上，以关闭测试座51。
[0037]请参阅图8、16，该移载机构41的第一移送器411及第二移送器412带动启闭单元42作X — Z方向位移离开测试模组50,由于盖体53盖置于测试座51上时，令传导件535接触待测电子元件60，当待测电子元件60于测试座51内执行测试作业且产生自热时，待测电子元件60的自热可经由传导件535传导至散热鳍片536散热，使得待测电子元件60保持于预设的测试温度范围内，进而确保检测合格率，当测试完毕后，该启闭装置40可利用启闭单元42开启测试模组50的定位框架52及盖体53，进而开启测试座51以供上下料。
[0038]请参阅图17，本实用新型的启闭装置40可更换启闭单元42而因应不同测试模组，由于移载机构41的移载具414与启闭单元42的架板421利用连接结构的第一连结座422及第二连结座415连结组装，于更换启闭单元42时，可采气动方式驱动第二连结座415的嵌扣件4151内缩退位而脱离第一连结座422的卡掣部4221，使移载具414与架板421分离，即可便利更换启闭单元42，达到提升使用便利性的实用效益。
[0039]以上所述的实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新型的范围进行限定，在不脱离本实用新型设计精神的前提下，本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案作出的各种变形和改进，均应落入本实用新型权利要求书确定的保护范围内。
【权利要求】
1.一种电子元件测试模组的启闭装置，其特征在于其包含: 移载机构:设有至少一移送器，以驱动至少一移载具作至少一方向位移； 启闭单元:装配于该移载机构的移载具，并设有作至少一方向位移的勾具，以勾持该测试模组的定位框架外摆，而开启该测试模组的盖体，该启闭单元另设有多个作至少一方向位移的第一压抵件及第二压抵件，以分别压抵该定位框架及该盖体盖置定位于该测试模组的测试座上，而关闭该测试模组的盖体。
2.根据权利要求1所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭装置的移载机构设有第一移送器及第二移送器，该第一移送器带动至少一装配该第二移送器的机架作第一、二方向位移，该第二移送器带动该移载具及该启闭单兀作第一方向位移。
3.根据权利要求2所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该移载机构的第二移送器设有马达，以驱动至少一传动组位移，该传动组连结驱动该移载具位移。
4.根据权利要求1所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭单元的第一压抵件及第二压抵件为滚轮。
5.根据权利要求1所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭单元设有第一驱动源，该第一驱动源驱动该勾具作至少一方向位移。
6.根据权利要求5所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭单元设有第二驱动源，该第二驱动源驱动该第二压抵件作至少一方向位移。
7.根据权利要求6所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭单元设有至少一架板，并于该架板上装配有该第一、二驱动源及该第一压抵件。
8.根据权利要求7所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭单元的架板与该移载机构的移载具间设有连接结构，该连接结构于该架板与该移载具间设有相互配合的具卡掣部的第一连结座及具嵌扣件的第二连结座。
9.根据权利要求1所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭装置设有至少一感测器，用以感测该测试模组的盖体是否开启。
10.根据权利要求1所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭装置设有拾取机构，该拾取机构设有至少一取放电子元件的拾取器，以及设有至少一移送器带动该拾取器作至少一方向位移。
【文档编号】G01R1/02GK204142761SQ201420531693
【公开日】2015年2月4日 申请日期:2014年9月16日 优先权日:2014年9月16日
【发明者】郑炜彦, 赖正鑫, 陈奂维, 陈彦玮, 李政勋 申请人:台湾暹劲股份有限公司