一种适用于塑料颗粒的分析天平的制作方法

文档序号:6070596阅读:255来源:国知局
一种适用于塑料颗粒的分析天平的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供一种测量精度高的适用于塑料颗粒的分析天平,包括挡风壳体、显示装置、支架、横梁、左称体等,所述挡风壳体的上端开设有进气口,所述挡风壳体的内部设有支架,所述支架的内部开设有气路通道,所述气路通道与进气口连通,所述喷气头、显示装置安装在支架上,所述横梁安装在支架上,所述横梁的下端设有左称体、右称体,所述压感元件安装在左称体的上端,所述称重盘通过了连接转轴安装在右称体的下端。本实用新型将称重盘通过连接转轴安装在右称体的下端,还在称重盘的下端增加了接料箱,使得塑料颗粒依靠自身重力落入接料箱中,避免了人为取料时将杂物带入的情况,从而增强了测量的精确性。
【专利说明】一种适用于塑料颗粒的分析天平

【技术领域】
[0001]本实用新型涉及塑料颗粒生产【技术领域】,尤其涉及一种适用于塑料颗粒的分析天平。

【背景技术】
[0002]分析天平一般是指能精确称量到0.0001克的天平,它是定量分析工作中不可缺少的重要仪器,在塑料颗粒的生产中,通常需要使用分析天平对生产出来的塑料颗粒进行定量分析,但是现有分析天平在使用时都是通过人工将塑料颗粒、砝码放置在托盘上,在对塑料颗粒和砝码取出的过程中,极易使外界的杂质落在托盘上,严重影响测量分析的结果;而且如果由于人为原因使得塑料颗粒掉落在分析天平内部,给分析天平的清扫工作带来很大的困难。


【发明内容】

[0003]根据以上技术问题,本实用新型提供一种测量精度高的适用于塑料颗粒的分析天平,包括挡风壳体、显示装置、支架、横梁、左称体、压感元件、右称体、称重盘,其特征在于:还包括进气口、气路通道、喷气头、连接转轴、接料箱,所述挡风壳体的上端开设有进气口,所述挡风壳体的内部设有支架,所述支架的内部开设有气路通道,所述气路通道与进气口连通,所述喷气头、显示装置安装在支架上,所述横梁安装在支架上,所述横梁的下端设有左称体、右称体,所述压感元件安装在左称体的上端,所述称重盘通过了连接转轴安装在右称体的下端,所述称重盘的下端设有接料箱。
[0004]所述左称体、右称体对称设置在横梁的两侧。
[0005]所述左称体、右称体的体积、质量相同。
[0006]所述喷气头与气路管道连通。
[0007]本实用新型的有益效果为:本实用新型在原有的分析天平上进行了改进,即将称重盘通过连接转轴安装在右称体的下端,还在称重盘的下端增加了接料箱,测量完毕后连接转轴带动称重盘旋转,使得塑料颗粒依靠自身重力落入接料箱中,避免了人为取料时将杂物带入挡风壳体的内部的情况,大大减小了称重盘受到污染的可能性,从而增强了测量的精确性;还在支架的内部增加了气路通道,在支架上增加了喷气头,当称重盘上存有不能掉落的杂质时,从进气口输入气体,气体沿着气路通道流动从喷气头喷出,将称重盘上的杂质吹落到接料箱中,方便称重盘和挡风壳体内部环境的清理。

【专利附图】

【附图说明】
[0008]图1为本实用新型结构示意图。

【具体实施方式】
[0009]根据图1所示,对本实用新型进行进一步说明:
[0010]如图1,挡风壳体-1、显示装置-2、支架-3、横梁-4、左称体-5、压感元件-6、右称体_7、称重盘-8、进气口 -9、气路通道-10、喷气头-11、连接转轴-12、接料箱-13。
[0011]实施例1
[0012]本实用新型包括挡风壳体1、显示装置2、支架3、横梁4、左称体6、压感元件6、右称体7、称重盘8、进气口 9、气路通道10、喷气头11、连接转轴12、接料箱13,安装时首先在挡风壳体I的上端开设进气口 9,在支架3的内部开设气路通道10,然后将喷气头11安装在支架3上,使的喷气头11与气路管道连通,再将显示装置2安装在支架3上,将支架3安装在挡风壳体I的内部,使得气路通道10与进气口 9连通,然后将称重盘8通过了连接转轴12安装在右称体7的下端,将左称体6、右称体7安装在横梁4的下端,再将压感元件6安装在左称体6的上端,将接料箱13安装在称重盘8的下端,最后将横梁4安装在支架3上。
[0013]实施例2
[0014]使用时,将待测塑料颗粒从挡风壳体I的进料口放在称重盘8上,使得原本平衡的左称体6、右称体7发生偏重,此时左称体6上端的压感元件6检测到的压力即为右称体7上的塑料颗粒的重力,将检测到的数据通过显示装置2显示,测量完毕后连接转轴12带动称重盘8旋转,使得塑料颗粒依靠自身重力落入接料箱13中,当称重盘8上存有不能掉落的杂质时,从进气口 9输入气体,气体沿着气路通道10流动从喷气头11喷出,将称重盘8上的杂质吹落到接料箱13中,方便称重盘8的清理。
[0015]以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,应当指出的是,对于本【技术领域】的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型原理的前提下,还可以做出若干改进,这些改进也应视为本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种适用于塑料颗粒的分析天平,包括挡风壳体、显示装置、支架、横梁、左称体、压感元件、右称体、称重盘,其特征在于:还包括进气口、气路通道、喷气头、连接转轴、接料箱,所述挡风壳体的上端开设有进气口,所述挡风壳体的内部设有支架,所述支架的内部开设有气路通道,所述气路通道与进气口连通,所述喷气头、显示装置安装在支架上,所述横梁安装在支架上,所述横梁的下端设有左称体、右称体,所述压感元件安装在左称体的上端,所述称重盘通过了连接转轴安装在右称体的下端,所述称重盘的下端设有接料箱。
2.按照权利要求1所述的一种适用于塑料颗粒的分析天平,其特征在于:所述左称体、右称体对称设置在横梁的两侧。
3.按照权利要求1所述的一种适用于塑料颗粒的分析天平,其特征在于:所述左称体、右称体的体积、质量相同。
4.按照权利要求1所述的一种适用于塑料颗粒的分析天平,其特征在于:所述喷气头与气路管道连通。
【文档编号】G01G23/00GK204188252SQ201420546317
【公开日】2015年3月4日 申请日期:2014年9月23日 优先权日:2014年9月23日
【发明者】纪洪绪 申请人:天津思迈德高分子科技有限公司
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