电子元件检测系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供了一种电子元件检测系统，其包括转盘模块、进料模块及检测模块。转盘模块包括旋转底盘、设置于旋转底盘上的透明环形转盘及多个调整螺栓。旋转底盘具有中心部及环绕中心部的环形部，其中旋转底盘具有多个环绕中心部排列，且贯穿环形部而形成的螺孔。透明环形转盘可区分为内环部与围绕内环部的外环部，其中内环部与环形部重叠，并遮盖多个螺孔。外环部悬置于旋转底盘之外，以承载多个电子元件。每一个调整螺栓由旋转底盘的下表面锁入相对应的螺孔内，并向上顶抵透明环形转盘的内环部，以校正透明环形转盘的水平度。进料模块与检测模块相邻透明环形转盘设置，分别用以将多个电子元件依序传送至外环部，及对这些电子元件进行检测。
【专利说明】电子元件检测系统
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种检测系统，特别涉及一种用于检测多个电子元件外观的电子元件检测系统。
【背景技术】
[0002]近年来，便携式信息电子产品与移动通信产品皆朝着轻薄短小、多功能、高可靠度与低价化的趋势发展。顺应这个趋势，在电子产品的电路设计中，各式各样的电子元件也必须面对着集成整合化的问题。电子元件小型化一直是产业界的发展主流，例如随着传统仅具纯语音通信功能的移动电话陆续消失，消费者对移动电话的需求更趋向于多元化方向发展，其中包括记事功能、短信传输及多媒体影音传输等附加的应用直接带动了移动电话在产品设计上的变革，也正因为产品设计趋于复杂，其所使用到的电子元件数目也愈来愈多。
[0003]电子元件的可靠度及产品的良率会影响到各种产品在使用上的品质及性能表现。一般而言，电子元件在制造完成后均会进行目视检测的流程，以确保电子元件具有一定的品质。在现有技术中，电子元件会承载在一大型转盘上，以供多组摄影机提取电子元件的表面图像，但为了得到电子元件底面的图像，大型转盘则必须是透光材质，以利摄影机捕捉电子元件的底面图像。
实用新型内容
[0004]本实用新型实施例在于提供一种电子元件检测系统，其可用于检测多个电子元件的外观。
[0005]本实用新型其中一实施例提供一种电子元件检测系统，其包括一转盘模块、一进料模块及一检测模块。转盘模块包括旋转底盘、透明环形转盘及多个调整螺栓。旋转底盘具有一中心部及环绕所述中心部的一环形部，其中所述旋转底盘具有多个贯穿所述环形部而形成的螺孔，多个所述螺孔环绕所述中心部排列。透明环形转盘固定设置于所述旋转底盘上，其中所述透明环形转盘区分为一内环部与围绕所述内环部的一外环部，所述内环部与所述环形部重叠，并遮盖多个所述螺孔，所述外环部悬置于所述旋转底盘之外，以承载多个电子元件。每一个所述调整螺栓由所述旋转底盘的下表面锁入相对应的所述螺孔内，并向上顶抵所述透明环形转盘的所述内环部，以校正所述透明环形转盘的水平度。所述进料模块包括相邻于所述透明环形转盘设置的一进料单元，用以将多个所述电子元件依序传送至所述透明环形转盘的所述外环部上。所述检测模块包括围绕所述透明环形转盘设置的多个检测单元。
[0006]本实用新型的有益效果可以在于，本实用新型实施例所提供电子元件检测系统通过多个调整螺栓，由旋转底盘下表面穿过相对应的螺孔向上顶抵透明环形转盘。通过微调这些调整螺栓顶出旋转底盘上表面的高度，可进一步调整透明环形转盘的水平度。
[0007]为使能更进一步了解本实用新型的特征及技术内容，请参阅以下有关本实用新型的详细说明与附图，然而说明书附图仅提供参考与说明用，并非用来对本实用新型加以限制。
【专利附图】
【附图说明】
[0008]图1为本实用新型一实施例的电子元件检测系统的俯视示意图。
[0009]图2为图1沿A-A割面线的剖面示意图。
[0010]图3为本实用新型实施例的进料模块配合图像放大单元的侧视示意图。
[0011]图4为本实用新型实施例的检测单元的侧视示意图。
[0012]图5为本实用新型实施例的另一检测单元的侧视示意图。
[0013]图6A为本实用新型实施例的分类模块的侧视示意图。
[0014]图6B为本实用新型实施例的分类模块在另一状态的侧视示意图。
[0015]图7A为本实用新型实施例的清洁模块进行清洁时的侧视示意图。
[0016]图7B为本实用新型实施例的清洁模块完成清洁后的侧视示意图。
[0017]附图标记说明:
[0018]电子元件检测系统I
[0019]转盘模块10
[0020]旋转底盘100
[0021]中心部10a
[0022]环形部10b
[0023]螺孔10c
[0024]第二螺丝孔10d
[0025]透明环形转盘101
[0026]内环部1la
[0027]外环部1lb
[0028]第一螺丝孔1lc
[0029]调整螺栓102
[0030]固定件103
[0031]进料模块11
[0032]进料单元110
[0033]进料槽111
[0034]检测模块12
[0035]检测单元I2Oa?I2Of
[0036]支架121
[0037]遮光罩122
[0038]照明灯123
[0039]环形出光面123a
[0040]通孔123h
[0041]图像提取镜头124
[0042]分类模块13
[0043]收容单元130a?130c
[0044]吹料单元131
[0045]气流导引件132
[0046]进气口132a
[0047]排气口132b
[0048]第一通道132c
[0049]第二通道132d
[0050]箱体133
[0051]穿孔13?
[0052]抽屉134
[0053]卡孔134h
[0054]插栓135
[0055]清洁模块14
[0056]载架140
[0057]抗静电无尘刷141
[0058]图像放大单元15
[0059]电子元件2
[0060]良好电子元件2a
[0061]不良电子元件2b
[0062]再测试电子元件2c
【具体实施方式】
[0063]以下是通过特定的具体实例来说明本实用新型所公开“电子元件检测系统”的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所公开的内容轻易了解本实用新型的优点与功效。本实用新型亦可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用，本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用，在不悖离本实用新型的精神下进行各种修饰与变更。另外，本实用新型的附图仅为简单说明，并非依实际尺寸描绘，亦即未反应出相关构成的实际尺寸，先予叙明。以下的实施方式将进一步详细说明本实用新型的相关技术内容，但所公开的内容并非用以限制本实用新型的技术范畴。
[0064]请参阅图1至图2所示，图1为本实用新型一实施例的电子元件检测系统的俯视示意图。图2为图1沿A-A割面线的剖面示意图。由上述图中可知，本实用新型实施例提供一种电子元件检测系统，可用以检测电子元件的外观。在本实施例中，电子元件2例如是LED电子元件。本实施例的电子元件检测系统包括:一转盘模块10、一进料模块11、一检测模块12、一分类模块13及一清洁模块14。
[0065]转盘模块10用以运送多个电子元件2，且包括一旋转底盘100、一透明环形转盘101及多个调整螺栓102。举例来说，旋转底盘100可为非中空的金属盘，且透明环形转盘101可为环形透明玻璃转盘。由于透明环形转盘101为具有中空结构，因此可节省制作成本。在一实施例中，旋转底盘100可直接锁固在一旋转轴(未标号)上，所以当转盘模块10需要进行拆卸以进行维修或者是进行机台保养时，只需要将旋转底盘100由旋转轴上拆卸即可，不需要进一步将透明环形转盘101由旋转底盘100上拆卸，可避免透明环形转盘101被经常性地拆卸与安装，从而提高破损的几率。
[0066]请配合参照图2，由图1与图2中可看出，旋转底盘100具有一中心部10a及环绕中心部10a的一环形部100b。另外，旋转底盘100具有多个贯穿环形部10b而形成的螺孔100c，且这些螺孔10c环绕中心部10a排列。在一实施例中，这些螺孔10c是环绕中心部10a呈对称性地排列。
[0067]透明环形转盘101区分为一内环部1la与一围绕内环部1la的外环部101b。在本实施例中，透明环形转盘101以内环部1la重叠并固定于旋转底盘100的环形部10b上。并且，当透明环形转盘101设置于旋转底盘100上时，会遮盖旋转底盘100的环形部10b上所设置的多个螺孔100c。外环部1lb悬置于旋转底盘100之外,用以承载多个电子元件2。
[0068]请参照图2，在本实施例中，透明环形转盘101是通过多个固定件103固定于旋转底盘100上。详细而言，这些固定件103穿设固定于旋转底盘100的环形部10b与透明环形转盘的内环部101a。另外，这些固定件103是环绕旋转底盘100的中心部10a排列。在一实施例中，每一个上述的螺孔10c是位于两个相邻的固定件103之间。本实用新型实施例的固定件103例如是螺丝或插销，使透明环形转盘101与旋转底盘100可通过螺合或是卡合的方式相互结合，但本实用新型实施例并不以此为限。
[0069]在本实施例中，固定件103为螺丝，而透明环形转盘101具有贯穿内环部1la而形成的多个第一螺丝孔101C。另外，在旋转底盘100的外环部1lb上，对准第一螺丝孔1lC的位置开设多个第二螺丝孔100d。第二螺丝孔10d可以是盲孔或者是贯通于外环部1lb而形成的贯孔。上述的固定件103由透明环形转盘101上表面向下螺入第一螺丝孔1lC及第二螺丝孔100d，以使透明环形转盘101与旋转底盘100结合。
[0070]另外，图2中还显示调整螺栓102由旋转底盘100的下表面锁入相对应的螺孔10c内，并向上顶抵透明环形转盘101的内环部101a，以校正透明环形转盘101的水平度。
[0071]要特别说明的是，由于这些第一螺丝孔101c、第二螺丝孔10d和固定件103可能产生公差，导致当透明环形转盘101通过固定件103被锁固在旋转底盘100上时，透明环形转盘101的水平度无法达到要求。在利用透明环形转盘101承载电子元件2进行检测时，若是透明环形转盘101的水平度误差过大，将有可能影响电子元件2的检测结果。
[0072]在本实用新型实施例中，利用调整螺栓102来提供和透明环形转盘101的重力方向相反的支撑力，可通过改变调整螺栓102凸出于旋转底盘100上表面的长度，来微调透明环形转盘101在不同位置的高度，从而校正透明环形转盘101的水平度。
[0073]请配合图1与图3，其中图3显示本实用新型实施例的进料模块配合图像放大单元的侧视示意图。进料模块11包括相邻于透明环形转盘101设置的一进料单元110，用以将多个电子元件2依序传送至透明环形转盘101的外环部1lb上。进料单元110具有导引上述多个电子元件2的进料槽111，且进料槽111例如是V形进料槽111。并且，在一实施例中，进料单元I1可以靠持续振动的方式，以使得上述多个电子元件2可在进料槽111内持续的向前移动，而不致使电子元件2卡料。
[0074]另外，在本实用新型实施例中，电子元件检测系统I更进一步包括一图像放大单元15，以依序检查被进料模块11传送至透明环形转盘101上的多个电子元件2。在图3的实施例中，图像放大单元15和透明环形转盘101保持一定高度悬设于透明环形转盘101的外环部1lb上方，并对准电子元件2 —开始被传送到外环部1lb上的位置。图像放大单元15可外接一显示装置，以显示图像放大单元15所提取到的电子元件2的图像。操作者通过图像放大单元15，可以检查进料单元110是否传送两个相连的电子元件2到外环部1lb上。
[0075]接着，检测模块12将依序检查已被传送到透明环形转盘101上的电子元件2的外观。请再参照图1，在图1的实施例中，检测模块12包括围绕透明环形转盘101设置的多个检测单元120a?120f。这些检测单元120a?120f可分别检查电子元件2在不同侧的外观，例如:从电子元件2的前、后、左、右、上、下来进行检查。
[0076]在本实用新型实施例中，这些检测单元120a?120f的数量为六个，分别用以检查电子元件2的顶面、底面、内侧表面、外侧表面、前侧表面及后侧表面的外观，且依序围绕透明环形转盘101。本实用新型实施例中所指的底面是指电子元件2用以接触透明环形转盘101的表面,而顶面是和底面相对的表面。另外，前述的内侧表面是指电子元件2面向旋转底盘100的中心部10a的表面,而外侧表面是与内侧表面相对的表面。检测单兀120a?120f通常会投射出光束照射电子元件2的其中一侧表面，以便于提取电子元件2的侧表面的图像。
[0077]请参照图1与图4，其中图4显示本实用新型实施例中用来检测电子元件2底面的检测单元120b的侧视示意图。
[0078]图4中显示检测单元120b包括支架121、遮光罩122、照明灯123及图像提取镜头124，其中照明灯123、遮光罩122及图像提取镜头124皆设置于支架121上，且照明灯123是设置在遮光罩122和图像提取镜头124之间。
[0079]照明灯123具有一环形出光面123a，且环形出光面123a围绕一通孔123h。详细而言，照明灯123的环形出光面123a上设有多个点光源或者是多个同轴的环形线光源，用以发出光束至电子元件2的底面。另外，在本实施例中，环形出光面123a是一内凹的弧面，而有利于将光束聚集到电子兀件2上。在本实施例中,遮光罩122设于支架121上。并且，前述照明灯123的环形出光面123a是面对遮光罩122而设置。
[0080]图像提取镜头124与遮光罩122是分别设置于照明灯123的相反侧，用以通过通孔123h来提取图像。详细而言，图像提取镜头124的光轴通过照明灯123的通孔与电子元件2。当检测单元120b对电子元件2的底面进行检查时，透明环形转盘101是位于遮光罩122与照明灯123之间，且环形出光面123a与透明环形转盘101的下表面是面对面设置。照明灯123所发出的光束会穿透透明环形转盘101，照射到电子元件2的下表面，再被电子元件2的底面反射。被反射后的光束可经过通孔123h，而被图像提取镜头124所提取，使图像提取镜头124可利用这些反射光束来成像。
[0081]在本实施例中，设置遮光罩122可遮挡照明灯123所发出的光束，可避免检测单元120b在检测电子元件2的底面时，照明灯123所发出的光束对操作员造成影响。
[0082]另外，至少另一检测单元120d，是用来检测电子元件的外侧表面。请参照图5，图5显示用来检测电子元件2的外侧表面的检测单元120d的侧视示意图。图5所示的检测单元120d和图4所示的检测单元120b相似，具有支架121、遮光罩122、照明灯123以及图像提取镜头124，其中照明灯123也是设置于遮光罩122与图像提取镜头124之间。
[0083]当对电子元件2的外侧表面进行检测时，透明环形转盘101也位于遮光罩122与照明灯123之间，使遮光罩122的环形出光面123a可投射光束至电子元件2的外侧表面。和图4的检测单元120b不同的是，在图5所示的检测单元120d中，遮光罩122是相邻内环部1la设置，而照明灯123是相邻外环部1lb设置。图像提取镜头124和照明灯123皆是位于电子元件2的外侧，且通过通孔123h来提取电子元件2的外侧表面的图像。
[0084]请参照图1，在本实用新型实施例中，电子元件检测系统I更进一步包括一分类模块13，相邻于透明环形转盘101，并设置于进料模块11与多个检测单元120a?120f中的最后一个之间，使多个电子元件2经过所有检测单元120a?120f的检测之后，可被分类成多个良好电子元件2a、多个不良电子元件2b及多个再测试电子元件2c。
[0085]分类模块13包括多个收容单元130a?130c以及吹料单元131。多个收容单元130a?130c分别用于收集上述的良好电子元件2a、不良电子元件2b与再测试电子元件2c。吹料单元131则设置于透明环形转盘101上方，用以将多个良好电子元件2a、多个不良电子元件2b及多个再测试电子元件2c分别吹入多个收容单元130a?130c内。
[0086]详细而言，请参照图1、图6A与图6B。图6A与图6B显示本实用新型实施例的分类模块在不同状态的侧视示意图。
[0087]由图6A可看出，吹料单元131具有设置于透明环形转盘101的内环部1la上方的气流导引件132。气流导引件包括一进气口 132a、一排气口 132b、连通于进气口 132a的第一通道132c及连通于排气口 132b及第一通道132c之间的第二通道132d。
[0088]气流导引件132的进气口 132a可连接一气体供应装置(未图示)，而排气口 132b可对准位于外环部1lb上的电子元件2。在本实施例中，第一通道132c的延伸方向与第二通道132d的延伸方向之间所形成的夹角Θ I为90至95度，而第二通道132d的延伸方向与一水平参考线所形成的锐角Θ2为3至5度。在一实施例中，气流导引件132可以是具有弯折部的吹管或者是喷嘴。
[0089]整体而言，当电子元件2经过所有检测单元120a?120f的检测，并进行判定后，会被透明环形转盘101传送到气流导引件132的排气口 132b前方。气体供应装置会将气流灌入进气口 132a，使气流经第一通道132c与第二通道132d之后由排气口 132b朝电子元件2的方向被吹出，以将电子元件2吹入收容单元130a?130c内。
[0090]由于第二通道132d的延伸方向并非和水平参考线平行，也就是不平行于透明环形转盘101的上表面，因此气流从排气口 132b吹到电子元件2时，较容易使电子元件2由透明环形转盘101上被吹起，而落到收容单元130a?130c其中一者之内。
[0091]在本实施例中，收容单元130a?130c中的每一个都包括一箱体133、一可滑入箱体133内的抽屉134及一插栓135。不同收容单元130a?130c的抽屉134分别用以收集被上述吹料单元131吹入的良好电子元件2a、不良电子元件2b与再测试电子元件2c。在完成整批电子元件2的测试与分类之后，操作员可将抽屉134由箱体133中抽出，以取出放置于抽屉134内的良好电子元件2a、不良电子元件2b与再测试电子元件2c。
[0092]在图6A与图6B中以收容单元130a为例进行说明。收容单元130a的箱体133设有穿孔133h，且抽屉134设有与穿孔133h相对应的一^^孔134h，而插栓135是可活动地插入所述穿孔133h及卡孔134h内，以将抽屉134卡固于箱体133内。在一般情况下，插栓135插入穿孔133h与卡孔134h中，以避免在机台还在运转的情况下，抽屉134由箱体133中被抽出。
[0093]请参照图6B，当插栓135向下移动而脱离卡孔134h时，对抽屉134不再有限位作用。此时,操作员可将抽屉134由箱体133中抽出，并取出放置于抽屉134内的电子元件2。在不同的实施方式中，可以手动或者机器控制插栓135是否卡入卡孔134h内。
[0094]本实用新型实施例的电子元件检测系统I更进一步包括一清洁模块14，相邻于透明环形转盘101设置，并位于分类模块13与进料模块11之间。请参照图7A与图7B，显示本实用新型实施例的清洁模块14对透明环形转盘101清洁前后的侧视示意图。
[0095]清洁模块14包括一载架140及枢设于载架140上的一抗静电无尘刷141。如图7A所示，当清洁模块14对透明环形转盘101进行清洁时，抗静电无尘刷141抵靠在透明环形转盘101的上表面，以清洁透明环形转盘101上的污染物。在一实施例中，当抗静电无尘刷141对透明环形转盘101进行清洁时，除了透明环形转盘101本身会转动之外，抗静电无尘刷141也可受一马达(无图示)控制而自转。
[0096]当清洁模块14完成对透明环形转盘101的清洁之后，抗静电无尘刷141可相对于载架140枢转，由透明环形转盘101上移开，如图7B所示。
[0097]综上所述，本实用新型的有益效果可以在于，本实用新型实施例所提供电子元件检测系统通过多个调整螺栓，由旋转底盘下表面穿过相对应的螺孔向上顶抵透明环形转盘。通过微调这些调整螺栓顶出旋转底盘上表面的高度，可进一步调整透明环形转盘的水平度。
[0098]以上所述仅为本实用新型的较佳可行实施例，非因此局限本实用新型的专利范围，故举凡运用本实用新型说明书及附图内容所做的等效技术变化，均包含于本实用新型的保护范围内。
【权利要求】
1.一种电子元件检测系统，其特征在于，所述电子元件检测系统包括: 一转盘模块，其包括: 一旋转底盘，所述旋转底盘具有一中心部及环绕所述中心部的一环形部，其中所述旋转底盘具有多个贯穿所述环形部而形成的螺孔，多个所述螺孔环绕所述中心部排列； 一透明环形转盘，所述透明环形转盘固定设置于所述旋转底盘上，其中所述透明环形转盘区分为一内环部与围绕所述内环部的一外环部，所述内环部与所述环形部重叠，并遮盖多个所述螺孔，所述外环部悬置于所述旋转底盘之外，以承载多个电子元件；以及 多个调整螺栓，每一个所述调整螺栓由所述旋转底盘的下表面锁入相对应的所述螺孔内，并向上顶抵所述透明环形转盘的所述内环部，以校正所述透明环形转盘的水平度； 一进料模块，所述进料模块包括相邻于所述透明环形转盘设置的一进料单元，用以将多个所述电子元件依序传送至所述透明环形转盘的所述外环部上；以及 一检测模块，所述检测模块包括围绕所述透明环形转盘设置的多个检测单元。
2.如权利要求1所述的电子元件检测系统，其中所述旋转底盘与所述透明环形转盘通过多个固定件以相互结合，多个所述固定件穿设固定于所述环形部与所述内环部，并环绕所述中心部排列，其中每一个所述螺孔位于两个相邻的所述固定件之间。
3.如权利要求1所述的电子元件检测系统,其中多个所述检测单元之中的至少一个包括: 一支架； 一遮光罩，设置于所述支架上； 一照明灯，设置于所述支架上，具有一环形出光面，所述环形出光面围绕一通孔，且朝向所述遮光罩而设置；以及 一图像提取镜头，设置于所述支架上，其中所述图像提取镜头与所述遮光罩分别设于所述照明灯的相反侧，用以通过所述通孔提取图像。
4.如权利要求3所述的电子元件检测系统，其中所述透明环形转盘位于所述遮光罩与所述照明灯之间，且所述环形出光面与所述透明环形转盘的下表面是面对面设置，以检查所述电子元件的一底面。
5.如权利要求3所述的电子元件检测系统，其中所述透明环形转盘位于所述遮光罩与所述照明灯之间，且所述遮光罩相邻所述内环部设置，而所述照明灯相邻所述外环部设置，以检查所述电子元件的一外侧表面。
6.如权利要求1所述的电子元件检测系统，更进一步包括一分类模块，相邻于所述透明环形转盘，并设置于所述进料模块与多个上述检测单元中的最后一个之间，其中多个上述电子元件经过多个上述检测单元的检测而被分类成多个良好电子元件、多个不良电子元件、及多个再测试电子元件，且该分类模块包括多个收容单元，分别用于收集多个所述良好电子元件、多个所述不良电子元件及多个所述再测试电子元件。
7.如权利要求6所述的电子元件检测系统，所述分类模块更进一步包括一吹料单元，设置于所述透明环形转盘上方，用以将多个所述良好电子元件、多个所述不良电子元件及多个所述再测试电子元件分别吹入多个所述收容单元，其中所述吹料单元具有一气流导引件，所述气流导引件包括一进气口、一排气口、连通于所述进气口的一第一通道及连通于所述排气口及所述第一通道之间的一第二通道，且所述第一通道的延伸方向与所述第二通道的延伸方向之间所形成的角度为90至95度。
8.如权利要求6所述的电子元件检测系统，其中每一个所述收容单元包括一箱体、一可滑入所述箱体内的抽屉及一插栓，其中所述箱体设有一穿孔，且所述抽屉设有与所述穿孔相对应的一卡孔，所述插栓可活动地插入所述穿孔及卡孔内，以将所述抽屉卡固于所述箱体内。
9.如权利要求6所述的电子元件检测系统，更进一步包括一清洁模块，相邻于所述透明环形转盘设置，并位于所述分类模块与所述进料模块之间，其中所述清洁模块包括一载架及枢设于所述载架上的一抗静电无尘刷，以对所述透明环形转盘进行清洁。
10.如权利要求1所述的电子元件检测系统，更进一步包括一图像放大单元，以依序检查被所述进料模块传送至所述透明环形转盘上的多个所述电子元件。
【文档编号】G01B11/00GK204154657SQ201420569022
【公开日】2015年2月11日 申请日期:2014年9月29日 优先权日:2014年9月29日
【发明者】汪秉龙, 陈桂标, 陈信呈, 邱证家, 张烘杰 申请人:久元电子股份有限公司