具有id识别ccd自动对位无针痕的电板测试治具的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种具有ID识别CCD自动对位无针痕的电板测试治具，包括针盘、线盘、治具连接底座、ID识别器及CCD感应板，其中，上述治具连接底座的上部为安装平面，CCD感应板设置在该安装平面上；上述线盘设置在治具连接底座的上部，线盘上设有针盘；上述ID识别器设置在治具连接底座的侧部，ID识别器连接CCD感应板，CCD感应板感应线盘的移动信息，并将信息传递至ID识别器内储存。本实用新型解决了传统测试治具因测试的产品偏移造成无法测试的缺陷，达到单颗自动光学对位，提高测试精准度，大大降低了误测率，可控制误测率在2%以内。
【专利说明】具有ID识别CCD自动对位无针痕的电板测试治具
【技术领域】
[0001]本实用新型电路板检测领域，特别指一种具有ID识别CCD自动对位无针痕的电板测试治具。
【背景技术】
[0002]随着电子产品趋向于[短/小/轻/溥]，加上表面黏著技术的高度成长，使得印刷电路板(PCB)快速朝向高密度，细微线路的方向发展，但如今已出现量产后无法完成测试的预期效果，再加上高阶PCB表面的处理方式多为:金面处理、PCB表面抗氧化保护膜处理，如果使用传统测试治具会对PCB的表面造成损坏导致贴片工序无法很好的对位造成不易贴片或者贴片不良，有进行OSP表面处理的PCB如果针痕太深对保护膜造成的破坏，导致PCB表面氧化。
[0003]目前对无针痕测试治具有需求的PCB主要是软板、软金板，软硬结合板面对测试针印的要求不断提高，测试后用20-40倍放大镜看测点，不允许有测试针印，主要应用领域是:柔性线路板、软硬结合板、CSP产品等，使用普通测试治具无法满足此要求。现有传统测试治具的缺憾:传统测试治具不具备CCD对位功能，印制偏移的产品无法通过治具进行测试；传统测试治具不具备ID识别设备，不自动记载测试的具体数据信息及测试治具的测试寿命管控；传统测试治具使用是弹簧针结构，一般使用20倍放大镜可以看到明显针痕，而该产品则使用线针结构，通过测试治具的调节板来调节探针的高度，再加上搭配设备使用伺服螺杆，可以精准对位及保证40倍放大镜，看不到测试痕迹，便于后续SMT的贴装工作；传统测试治具只适合于单个小片成品测试，不适合大片测试；传统治具由于使用定位PIN来定位待测试的产品，精度度有差且部分料号不适合做单颗测试，该产品无需定位PIN固定产品测试，通过脱料板搭配设备进行单颗测试，节约了治具的成本。
实用新型内容
[0004]本实用新型要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，提供一种具有ID识别CCD自动对位无针痕的电板测试治具。
[0005]本实用新型采取的技术方案如下:一种具有ID识别CCD自动对位无针痕的电板测试治具，包括针盘、线盘、治具连接底座、ID识别器及CCD感应板，其中，上述治具连接底座的上部为安装平面，CCD感应板设置在该安装平面上；上述线盘设置在治具连接底座的上部，线盘上设有针盘；上述ID识别器设置在治具连接底座的侧部，ID识别器连接CCD感应板，CCD感应板感应线盘的移动信息，并将信息传递至ID识别器内储存。
[0006]优选地，所述的CXD感应板上设有至少二个CXD感应点，以便感应线盘移动信息。
[0007]优选地，所述的针盘为双层板体结构，针盘的两个板体间隔设置，两板体之间设有支柱，以便支撑。
[0008]优选地，所述的针盘内设有至少二个探针，探针穿插设置在针盘的两板体之间，探针的头部向外伸出，以便检测电板。
[0009]优选地，所述的探针的下部连接有导电线，导电线连接在导电电极上，导电电极设置在线盘上，导电电极连接外设的电检测装置，以便将探针检测的数据发送至电检测装置，进行电路检测。
[0010]优选地，所述的线盘为板体结构，线盘的板体下部设有支柱，以便支撑，支柱固定设置在治具连接底座上。
[0011]本实用新型的有益效果在于:
[0012]本实用新型用于确认各种型式的电路板导通是否良好，该产品的特点是利用治具ID记忆所测试测信息，包括测试的寿命\测试过程的良品及不良品记录。突破了传统测试治具因测试的产品偏移造成无法测试，该产品测试面装置了光学感应点，可以通过设备CCD进行自动单PCS对位，精准的完成测试，由于该产品是透过线性探针治具结构进行设计，可以突破40倍放大镜看不到测试针痕，达到寿命100万次的精准测试。本实用新型具有ID识别CCD自动对位无针痕通电测试治具的设计；治具的钻孔技术，设备能力需要达到机械钻孔最小直径0.03mm ;精度在5um以内；治具检测设备，需要孔位检查，精度要求达到0.1um以内；具板材要求O公差，需使用高精度的加工中心进行；需支持测试设备CCD对位功能，更精准的进行测试；治具对清洁度的要求很高，需在无尘车间完成制作；治具脱料板测外观尺寸的控制。本实用新型具备了治具ID，通过参数刻录自动识别，减少了治具调试的时间，能够自动读取坐标值及治具的基本信息，如ID参数有误时，设备不会动作，避免因手工输入设备参数有误导致的治具和设备损坏；具有CCD自动对功能，通过治具测试面板感应点，在调试参数设置感应点坐标，达到单颗自动光学对位，提高测试精准度，大大降低了误测率，可控制误测率在2%以内；该产品采取了线性针测试，提高了测试的稳定性，再加上使用私服马达精准控制压力，确保40倍放大镜看不到针痕。而且最小探针直径可达到40um;该产品测试方法采取脱料板及设备夹子固定产品测试，取消了传统测试使用的定位PIN，提高了测试的精准度；该产品与设备连接方式非排线，而是特殊自制的BLOCK，点数可以根据实际制作型号的点数决定。
【专利附图】
【附图说明】
[0013]图1为本实用新型针盘的原理结构示意图。
[0014]图2为图1中治具连接底座的结构示意图。
[0015]图3为图1的侧视图。
[0016]图4为图3的装配结构示意图。
【具体实施方式】
[0017]下面将结合附图对本实用新型作进一步描述:
[0018]如图1至图4所示，本实用新型采取的技术方案如下:一种具有ID识别CXD自动对位无针痕的电板测试治具，包括针盘1、线盘2、治具连接底座3、ID识别器4及CCD感应板5，其中，上述治具连接底座3的上部为安装平面，CCD感应板5设置在该安装平面上；上述线盘2设置在治具连接底座3的上部，线盘2上设有针盘I ;上述ID识别器4设置在治具连接底座3的侧部，ID识别器4连接CXD感应板5，CXD感应板5感应线盘2的移动信息，并将信息传递至ID识别器4内储存。
[0019]CXD感应板4上设有至少二个CXD感应点，以便感应线盘2移动信息。
[0020]针盘I为双层板体结构，针盘I的两个板体间隔设置，两板体之间设有支柱，以便支撑。
[0021]针盘I内设有至少二个探针6，探针6穿插设置在针盘I的两板体之间，探针6的头部向外伸出，以便检测电板。
[0022]探针6的下部连接有导电线7，导电线7连接在导电电极8上，导电电极8设置在线盘2上，导电电极8连接外设的电检测装置，以便将探针6检测的数据发送至电检测装置，进行电路检测。
[0023]线盘2为板体结构，线盘2的板体下部设有支柱，以便支撑，支柱固定设置在治具连接底座3上。
[0024]进一步，本实用新型利用治具ID记忆所测试测信息，包括测试的寿命\测试过程的良品及不良品记录。突破了传统测试治具因测试的产品偏移造成无法测试，该产品测试面装置了光学感应点，可以通过设备CCD进行自动单PCS对位，精准的完成测试，由于该产品是透过线性探针治具结构进行设计，可以突破40倍放大镜看不到测试针痕，达到寿命100万次的精准测试。本实用新型具有ID识别CCD自动对位无针痕通电测试治具的设计；治具的钻孔技术，设备能力需要达到机械钻孔最小直径0.03mm ;精度在5um以内；治具检测设备，需要孔位检查，精度要求达到0.1um以内；具板材要求O公差，需使用高精度的加工中心进行；需支持测试设备CCD对位功能，更精准的进行测试；治具对清洁度的要求很高，需在无尘车间完成制作；治具脱料板测外观尺寸的控制。本实用新型具备了治具ID，通过参数刻录自动识别，减少了治具调试的时间，能够自动读取坐标值及治具的基本信息，如ID参数有误时，设备不会动作，避免因手工输入设备参数有误导致的治具和设备损坏；具有CCD自动对功能,通过治具测试面板感应点,在调试参数设置感应点坐标,达到单颗自动光学对位，提高测试精准度，大大降低了误测率，可控制误测率在2%以内；该产品采取了线性针测试，提高了测试的稳定性，再加上使用私服马达精准控制压力，确保40倍放大镜看不到针痕。而且最小探针直径可达到40um ;该产品测试方法采取脱料板及设备夹子固定产品测试，取消了传统测试使用的定位PIN，提高了测试的精准度；该产品与设备连接方式非排线，而是特殊自制的BLOCK，点数可以根据实际制作型号的点数决定。
[0025]本实用新型的实施例只是介绍其【具体实施方式】，不在于限制其保护范围。本行业的技术人员在本实施例的启发下可以作出某些修改，故凡依照本实用新型专利范围所做的等效变化或修饰，均属于本实用新型专利权利要求范围内。
【权利要求】
1.一种具有ID识别CXD自动对位无针痕的电板测试治具，其特征在于:包括针盘(I)、线盘(2 )、治具连接底座(3 )、ID识别器(4)及CXD感应板(5 )，其中，上述治具连接底座(3 )的上部为安装平面，CCD感应板(5)设置在该安装平面上；上述线盘(2)设置在治具连接底座(3)的上部，线盘(2)上设有针盘(I);上述ID识别器(4)设置在治具连接底座(3)的侧部，ID识别器(4)连接CXD感应板(5)，CXD感应板(5)感应线盘(2)的移动信息，并将信息传递至ID识别器(4)内储存。
2.根据权利要求1所述的一种具有ID识别CCD自动对位无针痕的电板测试治具，其特征在于:所述的CXD感应板(4)上设有至少二个CXD感应点，以便感应线盘(2)移动信息。
3.根据权利要求2所述的一种具有ID识别CCD自动对位无针痕的电板测试治具，其特征在于:所述的针盘(I)为双层板体结构，针盘(I)的两个板体间隔设置，两板体之间设有支柱，以便支撑。
4.根据权利要求3所述的一种具有ID识别CCD自动对位无针痕的电板测试治具，其特征在于:所述的针盘(I)内设有至少二个探针(6)，探针(6)穿插设置在针盘(I)的两板体之间，探针(6)的头部向外伸出，以便检测电板。
5.根据权利要求4所述的一种具有ID识别CCD自动对位无针痕的电板测试治具，其特征在于:所述的探针(6)的下部连接有导电线(7)，导电线(7)连接在导电电极(8)上，导电电极(8)设置在线盘(2)上，导电电极(8)连接外设的电检测装置，以便将探针(6)检测的数据发送至电检测装置，进行电路检测。
6.根据权利要求5所述的一种具有ID识别CCD自动对位无针痕的电板测试治具，其特征在于:所述的线盘(2)为板体结构，线盘(2)的板体下部设有支柱，以便支撑，支柱固定设置在治具连接底座(3)上。
【文档编号】G01R31/02GK204256098SQ201420824917
【公开日】2015年4月8日 申请日期:2014年12月22日 优先权日:2014年12月22日
【发明者】苏军梅 申请人:深圳市芽庄电子有限公司