技术总结
本发明提供了一种利用热敏电阻测量温度的方法，其包括以下步骤：测量热敏测量热敏电阻两端的电压Vt，以获得热敏电阻阻值Rt；计算热敏电阻的功耗W；计算热敏电阻因发热导致的热敏电阻变化的温度Tb；以及基于常温温度T0、热敏电阻在常温下电阻R、热敏电阻在T1下的热敏电阻阻值Rt、热敏电阻有关参数B值以及热敏电阻因发热导致的热敏电阻变化的温度Tb来计算热敏电阻所处的环境的温度T1。本发明还提供了一种利用热敏电阻测量温度的装置，基于利用热敏电阻测量温度的方法来计算热敏电阻所处的环境的温度T1。由于考虑了热敏电阻因发热导致的热敏电阻变化的温度Tb，提高了热敏电阻所处的环境的温度T1的精度。
技术研发人员：侯广琦;张弢;杜涵
受保护的技术使用者：康铂创想（北京）科技有限公司
文档号码：201510977921
技术研发日：2015.12.23
技术公布日：2017.06.30