1.一种判定电气设备线圈材质的方法，其特征在于，包括：
通过X射线对待测电气设备线圈进行透照成像，得到所述待测电气设备线圈的透照影像；
对所述透照影像测量得到所述待测电气设备线圈的结构尺寸；
在所述透照影像上选取两个不同的测量点，测量所述测量点处的灰度值，并根据所述结构尺寸，计算所述测量点处的透照厚度；
根据所述测量点处的透照厚度和灰度值，计算所述待测电气设备线圈的吸收系数；
将所述待测电气设备线圈的吸收系数与相同能量等级的X射线下不同金属的吸收系数对照，判定所述待测电气设备线圈的材质。
2.根据权利要求1所述的判定电气设备线圈材质的方法，其特征在于，所述通过X射线对待测电气设备线圈进行透照成像，得到所述待测电气设备线圈的透照影像，包括：
分别沿线圈轴线和线圈径向方向，对待测电气设备线圈通过X射线进行透照成像，分别得到所述待测电气设备线圈的沿线圈轴线方向的透照影像和沿线圈径向方向的透照影像。
3.根据权利要求2所述的判定电气设备线圈材质的方法，其特征在于，所述对所述透照影像测量得到所述待测电气设备线圈的结构尺寸，包括：
通过所述沿线圈轴线方向的透照影像，测量得到所述待测电气设备线圈的外径尺寸；
通过所述沿线圈径向方向的透照影像，测量得到所述待测电气设备线圈的厚度。
4.根据权利要求3所述的判定电气设备线圈材质的方法，其特征在于，所述在所述透照影像上选取两个不同的测量点，测量所述测量点处的灰度值，并根据所述结构尺寸计算所述测量点处的透照厚度，包括：
在所述沿线圈轴线方向的透照影像上，选取与同一侧线圈外径距离不同的两个测量点；
分别测量所述测量点处的灰度值；
分别测量所述测量点到同一侧线圈外径的距离；
根据所述待测电气设备线圈的外径尺寸、厚度和所述测量点到同一侧线圈外径的距离，分别计算所述测量点处的透照厚度。
5.根据权利要求4所述的判定电气设备线圈材质的方法，其特征在于，所述根据所述待测电气设备线圈的外径尺寸、厚度和所述测量点到同一侧线圈外径的距离，分别计算所述测量点处的透照厚度，包括：
分别判断所述测量点处的所述待测电气设备线圈的厚度与所述测量点到同一侧线圈外径的距离两者之间的大小，并计算所述测量点处的透照厚度；
如果S＜T，所述测量点处的透照厚度为或者，
如果S≥T，所述测量点处的透照厚度为
6.根据权利要求5所述的判定电气设备线圈材质的方法，其特征在于，所述根据所述测量点处的透照厚度和灰度值，计算所述待测电气设备线圈的吸收系数，包括：
获取所述待测电气设备线圈的吸收系数的计算模型其中，u为所述待测电气设备线圈的吸收系数，G1和G2分别为所述测量点处的灰度值，t1和t2分别为所述测量点处的透照厚度；
根据所述测量点处的透照厚度、灰度值以及所述计算模型，计算得出所述待测电气设备线圈的吸收系数。