一种组合式微型冷热冲击试验装置壳体的制作方法

本发明涉及电子产品测试领域，具体来讲是一种组合式微型冷热冲击试验装置壳体。

背景技术：

冷热试验箱又名“冷热冲击试验箱”，是一种可以瞬间从高温到低温转换的检测设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

现有冷热试验箱的体积庞大，需要较大的占地空间，而且搬移不方便；价格昂贵，动辄数万元，一般小型企业难以承受；试验时，需要大量的制冷剂，对环境的污染大；对微型电子元件进行试验时，由于冷热试验箱的体积庞大，往往需要对电子元件数倍数十倍甚至数百倍的空间进行降温升温，浪费能源。

本发明人就以上缺陷提供了一种微型冷热冲击试验装置，包括上下活动连接的试验本体和试验样品安装底座，试验本体内隔成左右独立的冷试验室和热试验室，并在冷试验室和热试验室之间设置半导体制冷装置，由于装置的保温效果好且为密封结构，故而采用较小的半导体制冷装置即可满足试验温度要求，整个装置体积大大减小，使用过程中无需额外增加制冷剂，对环境无负担。

但微型冷热冲击试验装置的外部壳体的设计存在以下难点：(1)要具备相互独立且相互之间互不传热的冷试验室和热试验室；(2)半导体制冷装置的冷端面和热端面分别位于冷试验室和热试验室内。

技术实现要素：

本发明提供了一种组合式微型冷热冲击试验装置壳体，以解决现有技术中微型冷热冲击试验装置的外部壳体的设计存在的难点。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案概述如下：

一种组合式微型冷热冲击试验装置壳体，安装有半导体制冷装置，包括外壳体，所述外壳体内设置两个独立的内壳体，所述内壳体内从上到下依次设有限位板、活动封板以及密封环板，两个内壳体的相对面上限位板的上方均设有安装缺口，所述半导体制冷装置的冷端面和热端面分别安装在两个内壳体的安装缺口处，外壳体与内壳体之间以及两个内壳体与半导体制冷装置之间的空隙处填有保温层；由于外壳体内设置有两个独立的内壳体，而且外壳体与内壳体之间以及两个内壳体与半导体制冷装置之间的空隙处填有保温层，避免两个内壳体之间进行热交换，即实现了具备相互独立且相互之间互不传热的冷试验室和热试验室；由于半导体制冷装置的冷端面和热端面分别安装在两个内壳体的安装缺口处，又解决了半导体制冷装置的冷端面和热端面分别位于冷试验室和热试验室内的问题，故而本方案解决了现有技术中微型冷热冲击试验装置的外部壳体的设计存在的难点。

更优的，所述外壳体的上端设有支耳。

更优的，所述密封环板的两面均设有密封圈。

更优的，所述外壳体下部靠近开口的位置沿周向均布若干外连接孔，两个内壳体与外连接孔相应的位置设有相应的内连接孔，外连接孔与内连接孔之间设有连接外连接孔与内连接孔的连接钉。

更优的，所述连接钉中间沿轴向设置螺纹通孔，连接钉与连接孔、内连接孔之间相互固定。

更优的，所述保温层为聚氨酯保温层。

与现有技术相比，本发明所产生的有益效果：本发明中，由于外壳体内设置有两个独立的内壳体，而且外壳体与内壳体之间以及两个内壳体与半导体制冷装置之间的空隙处填有保温层，避免两个内壳体之间进行热交换，即实现了具备相互独立且相互之间互不传热的冷试验室和热试验室；由于半导体制冷装置的冷端面和热端面分别安装在两个内壳体的安装缺口处，又解决了半导体制冷装置的冷端面和热端面分别位于冷试验室和热试验室内的问题，从而解决了现有技术中微型冷热冲击试验装置的外部壳体的设计存在的难点。

附图说明

下面结合附图对本发明作进一步说明。

图1是本发明的结构示意图；

图2是内外壳体的结构示意图；

图中标号分别为：1、外壳体；11、支耳；12、外连接孔；2、内壳体；21、安装缺口；22、内连接孔；3、保温层；4、活动封板；5、限位板；6、密封环板；7、连接钉；8、半导体制冷装置。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细说明。本发明的实施方式包括但不限于下列实施例。

实施例1

如图1-图2所示，一种组合式微型冷热冲击试验装置壳体，安装有半导体制冷装置8，包括外壳体1，所述外壳体1内设置两个独立的内壳体2，所述内壳体2内从上到下依次设有限位板5、活动封板4以及密封环板6，两个内壳体2的相对面上限位板5的上方均设有安装缺口21，所述半导体制冷装置8的冷端面和热端面分别安装在两个内壳体2的安装缺口21处，外壳体1与内壳体2之间以及两个内壳体2与半导体制冷装置8之间的空隙处填有保温层3。

本实施例中，由于外壳体1内设置有两个独立的内壳体2，而且外壳体1与内壳体2之间以及两个内壳体2与半导体制冷装置8之间的空隙处填有保温层3，避免两个内壳体2之间进行热交换，即实现了具备相互独立且相互之间互不传热的冷试验室和热试验室；再由于半导体制冷装置8的冷端面和热端面分别安装在两个内壳体2的安装缺口21处，又解决了半导体制冷装置8的冷端面和热端面分别位于冷试验室和热试验室内的问题，故而本发明解决了现有技术中微型冷热冲击试验装置的外部壳体的设计存在的难点。

实施例2

在实施例1所述的一种组合式微型冷热冲击试验装置壳体的基础上作进一步优化，所述外壳体1的上端设有支耳11，方便外壳体1挂在支架上。

实施例3

在实施例1所述的一种组合式微型冷热冲击试验装置壳体的基础上作进一步优化，所述密封环板6的两面均设有密封圈；本实施例的设置使得试验时，底座与密封环板6密封设置，确保冷试验室和热试验室密封，外界与冷试验室和热试验室之间无热量交换，试验装置的能耗低；更换待试验电子元件时，活动封板4与密封环板6密封设置，减少了在更换过程中外界与冷试验室和热试验室之间的热量交换，确保温度波动低。

实施例4

在实施例1所述的一种组合式微型冷热冲击试验装置壳体的基础上作进一步优化，所述外壳体1下部靠近开口的位置沿周向均布若干外连接孔12，两个内壳体2与外连接孔12相应的位置设有相应的内连接孔22，外连接孔12与内连接孔22之间设有连接外连接孔12与内连接孔22的连接钉7，所述连接钉7中间沿轴向设置螺纹通孔，连接钉7与连接孔12、内连接孔22之间相互固定。

本实施例的设置不仅能将外壳体1与内壳体2之间相互固定，而且连接钉7中间沿轴向设置螺纹通孔的设置，便于旋入螺钉，起到固定底座的作用。

实施例5

在实施例1所述的一种组合式微型冷热冲击试验装置壳体的基础上作进一步优化，所述保温层3为聚氨酯保温层，保温效果好，成本低。

如上所述即为本发明的实施例。本发明不局限于上述实施方式，任何人应该得知在本发明的启示下做出的结构变化，凡是与本发明具有相同或相近的技术方案，均落入本发明的保护范围之内。