一种电路检测设备的制作方法

文档序号:11132110阅读:913来源:国知局
一种电路检测设备的制造方法与工艺

本发明涉及汽车检测技术领域,特别是涉及一种电路检测设备。



背景技术:

目前,汽车电路系统故障时经常需要检测不同接插件之间针脚的通断,在两个接插件之间的距离较远时,通常需要两个人分别在两个的接插件上同时进行检测,难以通过一个人来快速检测不同针脚之间的通断,存在浪费时间及浪费人力的弊端。



技术实现要素:

本发明的目的在于提供一种电路检测设备,用以解决在两个待测接插件的距离较远时,需要两个人分别在两个的接插件上同时进行检测,从而造成浪费时间及浪费人力的问题。

为了实现上述目的,本发明提供了一种电路检测设备,包括:

与第一待测插件连接的第一端子连接器,所述第一端子连接器包括多个输入针脚,所述第一端子连接器的多个输入针脚与所述第一待测插件的多个针脚对应连接;

与第二待测插件连接的第二端子连接器,所述第二端子连接器包括多个输入针脚,所述第二端子连接器的多个输入针脚与所述第二待测插件的多个针脚对应连接;

分别与所述第一端子连接器和所述第二端子连接器通过导线连接的控制器;

所述控制器在接收到所述第一待测插件的第一针脚的测试信号及所述第二待测插件的第二针脚的测试信号时,通过所述第一端子连接器和所述第二端子连接器连通所述第一针脚和所述第二针脚,并输出所述第一针脚和所述第二针脚的通断状态信息。

其中,所述控制器包括:

与所述第一待测插件的多个输出针脚通过导线一一对应连接的多个第一控制开关,其中,所述第一待测插件的多个输出针脚与所述第一待测插件的多个输入针脚一一对应连接;

与所述第二待测插件的多个输出针脚通过导线一一对应连接的多个第二控制开关,其中,所述第二待测插件的多个输出针脚与所述第二待测插件的多个输入针脚一一对应连接;

分别与多个所述第一控制开关和多个所述第二控制开关电连接的针脚选择器;

在所述针脚选择器接收到所述第一待测插件的第一针脚的测试信号时,与所述第一待测插件的第一针脚连接的第一控制开关进入导通状态,在所述针脚选择器接收到所述第二待测插件的第二针脚的测试信号时,与所述第二待测插件的第二针脚连接的第二控制开关进入导通状态。

其中,上述电路检测设备,还包括:

壳体结构,所述控制器设置于所述壳体结构内部。

其中,所述针脚选择器包括:

设置于所述壳体结构上、接收用户输入的待测插件中待测针脚的测试信号的输入按键结构。

其中,所述输入按键结构包括:

设置于所述壳体结构第一区域上、接收第一待测插件中待测针脚的测试信号的第一输入按键结构;

设置于所述壳体结构第二区域上、接收第一待测插件中待测针脚的测试信号的第二输入按键结构。

其中,所述针脚选择器还包括:

设置于所述壳体结构上、显示所述第一针脚和所述第二针脚的通断状态信息的显示屏。

本发明实施例具有以下有益效果:

本发明实施例的电路检测设备,控制器分别与第一端子连接器和第二端子连接器通过导线连接,在两个待测插件距离较远时,将第一端子连接器与第一待测插件连接,将第二端子连接器与第二待测插件连接,控制器在接收到第一待测插件的第一针脚的测试信号及第二待测插件的第二针脚的测试信号时,通过第一端子连接器和第二端子连接器连通第一针脚和第二针脚,并输出第一针脚和第二针脚的通断状态信息,实现快速检测出两个针脚之间的通断状态的目的,无需两个人分别在两个待测插件上同时进行检测,达到省时省力的效果。

附图说明

图1为本发明实施例的电路检测设备的结构示意图。

附图标记说明:

1-第一端子连接器,2-第二端子连接器,3-控制器,31-第一控制开关,32-第二控制开关,33-针脚选择器。

具体实施方式

为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚,下面将结合具体实施例及附图进行详细描述。

本发明实施例解决在两个待测接插件的距离较远时,需要两个人分别在两个的接插件上同时进行检测,从而造成浪费时间及浪费人力的问题。本发明实施例提供了一种电路检测设备,如图1所示,包括:

与第一待测插件连接的第一端子连接器1,所述第一端子连接器1包括多个输入针脚,所述第一端子连接器1的多个输入针脚与所述第一待测插件的多个针脚对应连接;

与第二待测插件连接的第二端子连接器2,所述第二端子连接器2包括多个输入针脚,所述第二端子连接器2的多个输入针脚与所述第二待测插件的多个针脚对应连接;

分别与所述第一端子连接器1和所述第二端子连接器2通过导线连接的控制器3;

所述控制器3在接收到所述第一待测插件的第一针脚的测试信号及所述第二待测插件的第二针脚的测试信号时,通过所述第一端子连接器1和所述第二端子连接器2连通所述第一针脚和所述第二针脚,并输出所述第一针脚和所述第二针脚的通断状态信息。

本发明实施例中由于控制器与第一端子连接器和第二端子连接器通过导线连接,该导线的长度可根据用户需求进行设定,因此,在两个待测插件距离较远时,可将第一端子连接器和第二端子连接器分别与相应的待测插件进行连接,然后进行针脚通断状态的检测,无需两个人分别在两个待测插件上同时进行检测,大大提高了检测效率及维修效率。

进一步地,本发明实施例中,上述控制器3包括:

与所述第一待测插件的多个输出针脚通过导线一一对应连接的多个第一控制开关31,其中,所述第一待测插件的多个输出针脚与所述第一待测插件的多个输入针脚一一对应连接;

与所述第二待测插件的多个输出针脚通过导线一一对应连接的多个第二控制开关32,其中,所述第一待测插件的多个输出针脚与所述第一待测插件的多个输入针脚一一对应连接;

分别与多个所述第一控制开关31和多个所述第二控制开关32电连接的针脚选择器33;

在所述针脚选择器33接收到第一待测插件的第一针脚的测试信号时,与第一待测插件的第一针脚连接的第一控制开关进入导通状态,在所述针脚选择器33接收到第二待测插件的第二针脚的测试信号时,与第二待测插件的第二针脚连接的第二控制开关进入导通状态。

具体的,第一端子连接器1和第二端子连接器2可分别包括多个输入针脚及与多个输入针脚一一对应的多个输出针脚,第一端子连接器1的多个输入针脚与第一待测插件的多个针脚匹配连接,第一端子连接器1的多个输出针脚与控制器3的第一输出端通过多个第一控制开关31连接;第二端子连接器2的多个输入针脚与第二待测插件的多个针脚匹配连接,第二端子连接器2的多个输出针脚与控制器3的第二输出端通过多个第二控制开关32连接。该第一控制开关31和第二控制开关32可具体为金属氧化物半导体场效应晶体MOSFET管,针脚选择器33的输出端可与每个第一控制开关31和第二控制开关32的栅极连接。

在本发明的具体实施例中,每个针脚都对应有相应的编码值,如针脚1对应的编码值为0001、针脚2对应的编码值为0010、针脚3对应的编码值为0011、针脚4对应的编码值为0100、针脚5对应的编码值为0101、针脚6对应的编码值为0110等。假定针脚选择器接收到用户输入的第一待测插件的第一针脚的测试信号,针脚选择器根据第一针脚的编码值,向每个第一控制开关输出控制其导通或关断的控制信号,如该第一针脚为第一待测插件的针脚1,对应的编码值为0001,此时针脚选择器可向与第一待测插件的针脚1连接的第一控制开关输出高电平,使其进入导通状态,向剩余的第一控制开关输出低电平控制其处于关断状态。

同理,针脚选择器33接收到用户输入的第二待测插件的第二针脚的测试信号时,针脚选择器33根据第二针脚的编码值,向每个第二控制开关输出控制其导通或关断的控制信号,假定第二针脚为第二待测插件的针脚2,对应的编码值为0010,此时针脚选择器可向与第二待测插件的针脚2连接的第二控制开关输出高电平,使其进入导通状态,向剩余的第二控制开关输出低电平控制其处于关断状态,从而连通第一待测插件的针脚1和第二待测插件的针脚2,并进一步检测针脚1和针脚2的通断状态。本发明实施例中可具体检测针脚1和针脚2之间的阻抗值,若两个针脚之间的阻抗值为零,则表明两个针脚之间导通,否则,不导通。

进一步地,本发明实施例的电路检测设备,还包括:

壳体结构,所述控制器3设置于所述壳体结构内部。

进一步地,所述针脚选择器包括:

设置于所述壳体结构上、接收用户输入的待测插件中待测针脚的测试信号的输入按键结构。

具体的,上述输入按键结构包括:

设置于所述壳体结构第一区域上、接收第一待测插件中待测针脚的测试信号的第一输入按键结构。

设置于所述壳体结构第二区域上、接收第一待测插件中待测针脚的测试信号的第二输入按键结构。

本发明实施例中的按键结构在壳体的不同区域上设置,方便用于输入第一待测插件的第一针脚的测试信号及第二待测插件的第二针脚的测试信号。

进一步地,本发明实施例的电路检测设备,还包括:

设置于所述壳体结构上、显示所述第一针脚和所述第二针脚的通断状态信息的显示屏。

该通断状态信息可具体为第一针脚和第二针脚之间的阻抗值。这里的显示屏可具体为LED显示屏。

本发明实施例的电路检测设备,采用物理按键操作,耗电量低,无需外置电源,使用电池即可驱动,携带方便,具有很高的实用性。

本发明实施例的电路检测设备,控制器分别与第一端子连接器和第二端子连接器通过导线连接,在两个待测插件距离较远时,将第一端子连接器与第一待测插件连接,将第二端子连接器与第二待测插件连接,控制器在接收到第一待测插件的第一针脚的测试信号及第二待测插件的第二针脚的测试信号时,通过第一端子连接器和第二端子连接器连通第一针脚和第二针脚,并输出第一针脚和第二针脚的通断状态信息,实现快速检测出两个针脚之间的通断状态的目的,无需两个人分别在两个待测插件上同时进行检测,达到省时省力的效果。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

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