一种带螺牙的测试针的制作方法

本发明涉及电子测试针技术领域，尤其涉及一种带螺牙的测试针。

背景技术：

测试针，业内也称探针，用于PCB板测试时又分为弹簧针(专用针)和通用针，弹簧针在使用时，需要根据所测试的PCB板的布线情况制作测试模具，且一般情况下，一个模具只能测试一种PCB板；通用针在使用时，只需有足够的点数即可，故现在很多厂家都在使用通用针；弹簧针根据使用情况又分为PCB板探针、ICT探针、BGA探针，PCB板探针主要用于PCB板测试，ICT探针主要用于插件后的在线测试，BGA探针主要用于BGA封装测试及芯片测试。

为了应对各种的测试产品，需要用到带螺牙的测试针对产品进行测试，但是目前带螺牙的测试针需要在开口端预留收口空间，增加了该测试针的生产难度及成本。

因此，寻找一种不用在开口端处预留收口空间的带螺牙测试针成为本技术领域人员所研究的重要课题。

技术实现要素：

本发明实施例公开了一种带螺牙的测试针，用于解决现有技术中的带螺牙测试针在针管开口处需要做收口工艺，增加生产难度的问题。

本发明实施例提供了一种带螺牙的测试针，包括：针轴、针管、弹簧和卡环；

所述卡环设置于所述针管开口端的内壁；

所述针轴包括测试头部和尾端部；所述尾端部通过所述卡环卡紧在所述针管内，所述测试头部伸出所述针管的开口端；

所述弹簧设置于所述针管内，并且与所述尾端部进行连接。

可选地，所述针管的表面设置有螺牙。

可选地，所述针管的底端设置有一字型凹槽。

可选地，所述针管的底端设置有十字型凹槽。

可选地，还包括连接部，用于连接所述针轴的尾端部与所述弹簧。

可选地，所述连接部为凹槽结构；

所述凹槽结构设置于所述尾端部，用于卡紧所述弹簧。

可选地，所述针管为黄铜针管。

可选地，所述弹簧为琴钢线弹簧。

可选地，所述针轴为黄铜针轴。

可选地，所述弹簧表面上镀有一层绝缘层。

从以上技术方案可以看出，本发明实施例具有以下优点：

本发明实施例提供了一种带螺牙的测试针，包括：针轴、针管、弹簧和卡环；所述卡环设置于所述针管开口端的内壁；所述针轴包括测试头部和尾端部；所述尾端部通过所述卡环卡紧在所述针管内，所述测试头部伸出所述针管的开口端；所述弹簧设置于所述针管内，并且与所述尾端部进行连接。本实施例中的带螺牙测试针，增设卡环代替现有技术中的收口工艺，简化了组装的过程，大大降低了生产的难度，提高了生产的效率，减少了生产的成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本发明实施例中提供的一种带螺牙的测试针的一个实施例的结构示意图；

图2为本发明实施例中提供的一种带螺牙的测试针的一个实施例的底端凹槽示意图；

图示说明：针轴1；卡环2；针管3；弹簧4。

具体实施方式

本发明实施例公开了一种带螺牙的测试针，用于解决现有技术中的带螺牙测试针在针管开口处需要做收口工艺，增加生产难度的问题。

请参阅图1和图2，本发明实施例中提供的一种带螺牙的测试针的一个实施例包括：

针轴1、针管3、弹簧4和卡环2；

卡环2设置于针管3开口端的内壁；

针轴1包括测试头部和尾端部；尾端部通过卡环2卡紧在针管3内，测试头部伸出针管3的开口端；

弹簧4设置于针管3内，并且与尾端部进行连接；

本实施例中，增设卡环代替现有技术中的收口工艺，简化了组装的过程，大大降低了生产的难度，提高了生产的效率，减少了生产的成本。

进一步地，针管3的表面设置有螺牙；

本实施例中针管3的表面上设置有螺牙，可以对设置有螺纹的产品进行测试。

进一步地，针管3的底端设置有一字型凹槽；

进一步地，针管3的底端设置有十字型凹槽；

本实施例中的针管3底端设置有一字型凹槽或十字型凹槽，可以利用螺丝刀帮助该测试针对带有螺纹的产品进行检测。

进一步地，还包括连接部，用于连接针轴的尾端部与弹簧4。

进一步地，连接部为凹槽结构；

凹槽结构设置于尾端部，用于卡紧弹簧4；

本实施例中，除了在尾端部设置凹槽结构外，还可以在弹簧4与尾端部间设置套管，同样可以用于卡紧弹簧4。

进一步地，针管3为黄铜针管。

进一步地，弹簧4为琴钢线弹簧。

进一步地，针轴1为黄铜针轴。

进一步地，弹簧4表面上镀有一层绝缘层。

本实施例中，在弹簧4表面上加多一层绝缘层，更好地防止电流流过弹 簧4。通常情况下，弹簧4没有设置有绝缘层，因为镀上一层绝缘层后有可能会使得弹簧4变脆，但是目前很多研发商已经找到弹簧4电镀的临界值，在确保弹簧4的韧性之余，同时也增强弹簧4的绝缘性能。

上述是对本发明实施例提供的一种带螺牙的测试针的具体结构进行详细的描述，下面将以一个应用的方法对本测试针进行进一步的描述，本发明实施例提供的一种带螺牙的测试针的一个应用例包括：

电流或者电压信号通过测试针的传输来测试线路板的开路或者短路，其中带螺牙的测试针的应用方法：

参数测试系统将电流或者电压输入被测器件，然后测量该器件对于输入信号的影响。

信号的传输路径：从测试仪通过电缆束至测试针管，然后通过测试针针轴至待测的焊点，到达被测器件，并最后沿原路返回至测试仪器。

测试针分析：测试针针轴尾端部压缩弹簧，测试时弹簧整体受力，确保压力垂直作用于弹簧，测试时电流通过针轴到针管，有少量电流流过弹簧。

由于本测试针采用螺纹结构，可针对带有螺纹的测试产品进行测试，但其工作的原理与一般结构的测试针相似；本测试针增设卡环代替现有技术中的收口工艺，简化了组装的过程，大大降低了生产的难度，提高了生产的效率，减少了生产的成本；解决现有技术中的带螺牙测试针在针管开口处需要做收口工艺，增加生产难度的问题。

以上对本发明所提供的一种带螺牙的测试针进行了详细介绍，对于本领域的一般技术人员，依据本发明实施例的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。