一种简易的电子元件表面缺陷检测装置的制作方法

文档序号:13108994阅读:来源:国知局
技术特征:
1.一种简易的电子元件表面缺陷检测装置,其特征在于:包括支座(1)和放大镜(2),所述放大镜(2)可拆卸安装于支座(1);在放大镜(2)下方设有电子元件成像装置,所述电子元件成像装置包括与支座(1)可拆卸连接的本体(3),在本体(3)上设有垂直贯穿本体(3)的方形通孔(4),所述方形通孔(4)的四个内壁上均安装有平面镜(5),所述平面镜(5)的镜面由下至上向外延伸;在通孔(4)正下方设有安装于支座(1)的平台(6)。2.如权利要求1所述的一种简易的电子元件表面缺陷检测装置,其特征在于:所述通孔(4)的上端大于通孔(4)的下端。3.如权利要求1所述的一种简易的电子元件表面缺陷检测装置,其特征在于:所述支座(1)包括左立板(11)、右立板(12)和底座(13),所述左立板(11)和右立板(12)的一端与底座(13)固定连接;所述电子元件成像装置的本体(3)一侧与左立板(11)螺栓连接,另一侧与右立板(12)螺栓连接。
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