一种光纤干涉法测折射率的装置的制造方法

文档序号:11008783阅读:389来源:国知局
一种光纤干涉法测折射率的装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种光纤干涉测量折射率的装置,包括激光器光源,环形器,样品池,光电探测器,解调模块,准直器。样品池的一端装有准直仪,准直器中有10%反射90%透射式透镜,样品池的后端为法拉第旋镜。激光器发出的光经过准直器后变成平行光入射进样品池,并且在后端被法拉第旋镜反射回来。法拉第旋镜避免了样品池内入射光和反射光之间的干涉。准直器的反射光和法拉第旋镜的反射光两路光会发生干涉现象。本实用新型测量精度高,结构简单易于实现小型化,可以对气体、液体多种样本进行测量,测量折射率的范围广,可以实现数字化自动测量。
【专利说明】
-种光纤干溃法测折射率的装置
技术领域
[0001] 本实用新型设及一种光纤干设法测折射率的装置,通过光纤干设测量原理对于气 体、液体的折射率进行高精度数字化的测量。
【背景技术】
[0002] 目前,传统的测定折射率的方法主要是通过阿贝折射率测量仪,阿贝折射率测量 仪主要是通过光的全反射原理,在被测液体和棱镜的表面形成全发射现象,从而W临界角 的位置为轴线形成明暗分界的区域,通过探测明暗分界区域的位置来实现对样本的折射率 的测量。由于运用全反射的原理,测量折射率的范围受到一定的限制,对于折射率较高或者 较低的样品不能够测量。阿贝折射率测量仪由纯物理光学器件搭建,光路搭建和调校困难, 仪器整体操作复杂,体积大,不便于实现小型化和数字化测量。阿贝折射率测量仪多用于液 体的折射率的测量,对于气体折射率的测量有一定的局限性。
[0003] 辛督强等人(一种基于光纤干设的液体折射率测量装置,专利号: 201520180701.5)报道了一种光纤干设的液体折射率测量装置,光纤干设两臂之间没有补 偿,外界振动和溫度影响会带来附加的光程差,导致测量不准确,装置整体抗干扰能力差, 准确度和精确度下降。

【发明内容】

[0004] 为了克服传统折射率测量仪光路搭建困难,使用操作复杂,不能实现数字化自动 测量,测量的折射率范围较小等不足,本实用新型提供一种光纤干设测量折射率的仪器,通 过光纤干设测量技术对样本的折射率进行高精度测量,抗干扰能力强,折射率测量范围 宽,探测样本种类多样,仪器可W实现数字化实时测量功能。
[0005] 本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:环形器的=端分别与激光器, 样品池和光电探测器连接。激光器发出的激光经过环形器到达样品池,样品池是一个透明 的玻璃空仓,有进样口和出样口,不同的样品可W通过进样口进行注入,探测完成的样品可 W通过出样口进行排出。样品池的前端装有光纤准直器,准直器内装有10%反射90%透射 的透镜,透镜可W将一部分入射光反射回光纤内,一部分光经过准直器射入到样品池内。另 夕h准直器可W将光纤的入射光转换成平行光射出,在样品池的后端装有法拉第旋镜,镜面 上有防腐蚀的锻膜,可W防止样品对法拉第旋镜的腐蚀。由准直器出射的平行光经过样品 池后,在后端的法拉第旋镜上发生反射,样品池的反射光和准直器中的反射光会发生干设 现象。法拉第旋镜可W将入射光的偏振状态旋转90%运样在样品池中的入射光和法拉第旋 镜的反射光就不会发生干设,避免了由干设引起的附加条纹的变化。当样本池中为真空状 态的时候,前端准直器的反射光和后端法拉第旋镜的反射光之间光程差恒定,干设条纹稳 定。当充入样本时,样本池内折射率会发生相应的变化,两路反射光之间会产生相应的光程 差,干设条纹也会产生相应的变化。装置本身为全光纤结构,测量精度高,相应速度快,避免 了传统光路搭建的复杂程序。
[0006] 在使用时,对于气体和液体样本,可W先将样品池抽成真空,运时样本池中的折射 率为n = 1,再将被测气体或液体样本注入到样本池中,相应的折射率发生变化,光程差就会 发生相应的改变,同时干设条纹就会产生相应的变化,环形器的另一端接在光电探测器上 面,可W探测干设条纹相应的相位变化,之后解调模块进行解调可W得出相应的干设信息, 进一步得出待测样品的折射率。
[0007] 本实用新型包括激光器、环形器、光纤准直器、进样口、法拉第旋镜、出样口、样品 池、光电探测器和解调模块,激光器输出的激光经过环形器入射进样品池,样品池的前端有 准直器,准直器中有反射/透射式透镜,样品池的后端有法拉第旋镜,准直器的反射光和法 拉第旋镜的反射光会发生干设现象,环形器的另一端接有光电探测器,可W将光信号转换 为电信号再传到解调模块,进行解调后得到相应的折射率数值。
[0008] 所述的激光器用于单色性好的激光器,选择1550nm的半导体激光器。激光器的波 长可W选择1310皿、1064皿、780皿或650皿,还可W根据样品折射率的大小来选择合适波长 范围的激光器。
[0009] 所述的样品池是由透明玻璃制成,长度为250mm,内径为1 Omm,外径20mm。样品池可 W根据实际情况改为其他形状,如长方体。样品池前端装有准直器,准直仪中装有10%反射 90%透射的透镜,样品池后端装有全反射镜。
[0010] 准直器中的透镜可W选择20 %反射80 %透射的透镜、30 %反射70 %透射的透镜, 透光率可由不同的折射率样品来进行选择。
[0011] 样品池的后端装有法拉第旋镜,可W将入射光的偏振状态旋转90°。
[0012] 上位机应当采用相关的解调算法,来得出相应的折射率的值。
[0013] 解调模块可W连接PC机终端也可W连接嵌入式系统,作为便携式测量装置。
[0014] 与现有折射率测量装置相比,本实用新型具有如下优势:
[0015] (1)全光纤结构,代替了传统的光路的搭建,避免了复杂的光路搭建和调校过程, 并且可W抗电磁干扰,稳定性增加。
[0016] (2)运用光纤干设测量原理,测量精度高,动态响应范围大。
[0017] (3)该光路设计可W抵消外接环境溫度和振动的影响,提高了测量精度和抗干扰 能力。
[0018] (4)可W对液体和气体样本的折射率进行测量,测量样本种类多,折射率测量范围 大。
【附图说明】

[0019] 图1是光纤干设测量折射率装置系统图。
[0020] 图2是样品池剖面图。
【具体实施方式】
[0021] 如图1和图2所示,一种光纤干设法测折射率的装置有激光器(1)、环形器(2)、光纤 准直器(3)、进样口(4)、法拉第旋镜(5)、出样口(6)、样品池(7)、光电探测器(8)和解调模块 (9)组成。
[0022] -种光纤干设折射率测量装置,其整体结构如图1所示。半导体激光器发出的激光 经过光纤入射到环形器中,环形器又通过光纤将激光照射到样品池里面。样品池的前端是 光纤准直器,准直器内有10 %反射90 %透射的透镜。透镜可W将一部分入射光反射回光纤 内,一部分光经过准直器射入到样品池内。另外,准直器可W将光纤的入射光转换成平行光 射出,在样品池的后端装有法拉第旋镜。由准直器出射的平行光经过样品池后,在后端的法 拉第旋镜上发生反射。法拉第旋镜将入射光的偏振状态旋转90°出射,避免了在样品池内入 射光和反射光之间的干设。使用时,首先将准直器调成水平,那么由准直器透射进入样品池 中的光经过后端的法拉第旋镜反射和又可W禪合到准直器中,样品池的反射光和准直器中 的反射光就会发生干设现象。
[0023] 运里令连接环形器光纤的长度为h,样品池的长度为12。光纤折射率为m,样品池 内样品的折射率为n2对于准直器反射光的光程为2-^喊对于样品池反射光的光程为
两路干设光的光程差关
干设的 光程差只是和样品的折射率样品池的长度有关,和入射光纤的长度无关。那么对于外界的 振动干扰,溫度变化都不会影响光程差的变化,使得装置整体稳定性提高,抗干扰能力强。
[0024] 使用时可W通过排样孔将样品池抽成真空,运时形成稳定的干设条纹。之后将样 品通过注样孔注入到样品池中,注入样品后样品池中的折射率发生相应的变化,折射率从 真空n=l变化到n = ri2,光程差也会有相应的变
f设条纹会出现移动。环形器 的另一端还接上了光电探测器,光电探测器可W将光信号转换为电信号传给解调模块,进 行解调算法运算,得出条纹变化的数量,通过公式
能可W得出相应 样本的折射率。
【主权项】
1. 一种光纤干涉法测折射率的装置,包括激光器(1)、环形器(2)、光纤准直器(3)、进样 口(4)、法拉第旋镜(5)、出样口(6)、样品池(7)、光电探测器(8)和解调模块(9),激光器输出 的激光经过环形器入射进样品池,样品池的前端有准直器,准直器中有反射/透射式透镜, 样品池的后端有法拉第旋镜,准直器的反射光和法拉第旋镜的反射光会发生干涉现象,环 形器的另一端接有光电探测器,可以将光信号转换为电信号再传到解调模块,进行解调后 得到相应的折射率数值。2. 根据权利要求1所述的一种光纤干涉法测折射率的装置,其特征在于:所述的样品池 (7)是由透明玻璃制成,长度为250mm,内径为10mm,外径20mm。3. 根据权利要求1所述的一种光纤干涉法测折射率的装置,其特征在于:样品池前端装 有准直器,准直仪中装有10%反射90%透射的透镜,样品池后端装有全反射镜。4. 根据权利要求3所述的一种光纤干涉法测折射率的装置,其特征在于:准直器中的透 镜可以选择20%反射80%透射的透镜、30%反射70%透射的透镜,透光率可由不同的折射 率样品来进行选择。5. 根据权利要求1所述的一种光纤干涉法测折射率的装置,其特征在于:样品池(7)的 后端装有法拉第旋镜,可以将入射光的偏振状态旋转90°。6. 根据权利要求1所述的一种光纤干涉法测折射率的装置,其特征在于:上位机应当采 用相关的解调算法,来得出相应的折射率的值。7. 根据权利要求1所述的一种光纤干涉法测折射率的装置,其特征在于:解调模块可以 连接PC机终端也可以连接嵌入式系统,作为便携式测量装置。
【文档编号】G01N21/45GK205719967SQ201620525863
【公开日】2016年11月23日
【申请日】2016年6月2日
【发明人】高文智, 陈建冬, 崔洪亮, 李亚
【申请人】吉林大学
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