温控式电导率测试装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开的是实验设备领域的一种温控式电导率测试装置，该装置包括四探针电阻率测试仪、温控器和接触式测温计，还包括一个温控箱，所述温控器位于温控箱的底部，温控箱顶部设有两个开口，四探针电阻率测试仪的探针和接触式测温计的探头分别从两个开口内穿入到温控箱中。本实用新型的有益效果是：通过设置一个温控箱，将温控器放置在温控箱底部，在温控箱顶部开两个开口用于放入四探针电阻率测试仪和接触式测温计的探针，当需要对测试件进行加热测量时，温控箱能隔绝外界因素对测试件的温度影响，从而保证了测量的准确性，同时，整个装置结构紧凑，占用空间小，特别适合实验室应用。
【专利说明】
温控式电导率测试装置
技术领域
[0001]本实用新型涉及实验设备领域，尤其涉及一种用于测量温度与电阻率关系的温控式电导率测试装置。
【背景技术】
[0002]现在实验室对于样品检测面临着一个重要的问题就是无法实现温度和电阻率的同时测试，这就使得一些实验样品，需要测定其电阻率和温度关系时，没有有效的办法得到需要的实验数据，因此对于现在的实验研究造成了一定的限制。同时对于加热到一定温度的样品的电阻率测试，也面临着一个急需解决的问题，也就是对于检测样品在加热时检测，无法消除外界温度以及流动空气对其的影响。所以有必要研究一种能专用于测试温度与电阻率关系的测试装置。
【实用新型内容】
[0003]为克服现有电导率测试仪无法准确测量温度与电阻率的关系或温度控制不稳定等不足，本实用新型所要解决的技术问题是:提供一种能够稳定控制加热温度，便于测量温度与电阻率关系的测试装置。
[0004]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:温控式电导率测试装置，包括四探针电阻率测试仪、温控器和接触式测温计，还包括一个温控箱，所述温控器位于温控箱的底部，温控箱顶部设有两个开口，四探针电阻率测试仪的探针和接触式测温计的探头分别从两个开口内穿入到温控箱中。
[0005]进一步的是，所述温控箱的内壁上设有玻璃纤维棉。
[0006]进一步的是，所述温控箱的侧面设有箱门。
[0007]本实用新型的有益效果是:通过设置一个温控箱，将温控器放置在温控箱底部，在温控箱顶部开两个开口用于放入四探针电阻率测试仪和接触式测温计的探针，当需要对测试件进行加热测量时，温控箱能隔绝外界因素对测试件的温度影响，从而保证了测量的准确性，同时，整个装置结构紧凑，占用空间小，特别适合实验室应用。
【附图说明】
[0008]图1是本实用新型结构不意图。
[0009]图中标记为，1-四探针电阻率测试仪，2-温控器，3-接触式测温计，4-温控箱，5-玻璃纤维棉，6-箱门，11 -探针，21 -加热面，31 -探头，41 -开口。
【具体实施方式】
[0010]下面结合附图对本实用新型进一步说明。
[0011]如图1所示，本实用新型包四探针电阻率测试仪1、温控器2和接触式测温计3，还包括一个温控箱4，所述温控器2位于温控箱4的底部，温控箱4顶部设有两个开口41，四探针电阻率测试仪I的探针11和接触式测温计3的探头31分别从两个开口 41内穿入到温控箱4中。本实用新型的使用方法是，首先将需要测试电导率的测试件放入到温控箱4内，放置在温控器2顶部的加热面21上，然后连接好四探针电阻率测试仪I的探针11以及接触式测温计3的探头31，最后打开温控器2对测试件进行加热，通过四探针电阻率测试仪I和接触式测温计3的数据显示得出想要的实验结果。本实用新型相对于传统的敞开式的测试方法，由于有了温控箱4对外界因素的隔绝，可以有效提高测量精度，得出更加准确的结论。
[0012]在采用温控器2对测试件进行加热时，为了尽量与外界隔绝，避免温控箱4内部与外界形成热交换，在所述温控箱4的内壁上设有玻璃纤维棉5。玻璃纤维棉5具有很好的隔热效果，一方面可保证温控箱4内部温度的稳定性，另一方面也可以防止温控箱4外壁温度升高影响操作或造成烫伤等安全事故。
[0013]为了便于实验操作，在所述温控箱4的侧面设有箱门6。箱门6便于放入和连接测试件，箱门6与温控箱4的连接处应设置多余的玻璃纤维棉5，避免在缝隙处形成空气流动。
[0014]本实用新型结构简单，制作使用方便快捷，只通过简单的组合便能消除外界影响，从而准确测量出温度与电阻率的关系，对于实验用具来说具有很好的实用性和应用前景。
【主权项】
1.温控式电导率测试装置，包括四探针电阻率测试仪(I)、温控器(2)和接触式测温计(3)，其特征是:还包括一个温控箱(4)，所述温控器(2)位于温控箱(4)的底部，温控箱(4)顶部设有两个开口(41)，四探针电阻率测试仪(I)的探针(11)和接触式测温计(3)的探头(31)分别从两个开口(41)内穿入到温控箱(4)中。2.如权利要求1所述的温控式电导率测试装置，其特征是:所述温控箱(4)的内壁上设有玻璃纤维棉(5)。3.如权利要求1所述的温控式电导率测试装置，其特征是:所述温控箱(4)的侧面设有箱门(6)。
【文档编号】G01R27/02GK205720442SQ201620660290
【公开日】2016年11月23日
【申请日】2016年6月29日
【发明人】蒋发有, 赖奇
【申请人】攀枝花学院