本实用新型涉及飞针测试装置，特别涉及一种微型飞针测试头。
背景技术：
飞针测试机是针对元件布置高密度、层数多、布线密度大、测点距离小的 PCB 板 （印刷电路板）进行测试的一种仪器，主要测试线路板的绝缘和导通值。测试仪一般采用“真 值比较定位法”，能对测试过程和故障点进行实时监控，保证测试的准确性。飞针测试机具 有精细节距，不受网格限制，测试灵活，速度快等特点。现有测试针上连接线容易被勾断，测试针的弹性不足易损伤。
技术实现要素：
针对现有技术的不足，本实用新型的目的是提供一种微型飞针测试头。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种微型飞针测试头，包括主体、设置在所述主体上的后接板块、设置在所述主体上的探头组件，所述探头组件包括设置在所述主体头部两侧的挡块、设置在所述挡块上且向上延伸的支架、设置在所述支架顶部且向前延伸的探针本体，所述支架包括底座、设置在所述底座前后两侧且向上延伸的立柱、连接立柱顶端的针座，所述针座与立柱连接处的前后设有弧形缺口，所述立柱与所述底座连接处前后设有弧形缺口，所述挡块上设有延伸至立柱之间的限位爪，两个所述支架组成开口向下的“八”字状，即所述支架顶部之间距离小于所述支架底部之间距离，所述主体俯视图为T形，所述主体两侧为斜面，所述挡块与所述斜面贴合。
上述设计中仅通过T形的主体有效减小测试头的体积及重量，结构简单，支架组成开口向下的“八”字状防止探针本体相互干涉，提高测试精度。
作为本设计的进一步改进，所述限位爪位于所述立柱高度的1/2处，有效对立柱限位，保证探针本体测试的准确性。
作为本设计的进一步改进，所述后接板块一端与所述主体顶面连接，进一步缩小所述主体的体积。
作为本设计的进一步改进，所述针座设有放置所述探针本体的放置槽，所述针座上设有连通所述放置槽的连接孔，便于安装探针本体且探针本体电连接的稳定性。
作为本设计的进一步改进，前方所述立柱长度较后方所述立柱长，便于支架以确定路径变形，防止探针本体划伤PCB板。
作为本设计的进一步改进，所述支架之间的夹角为45°，进一步防止探针本体之间干涉。
本实用新型的有益效果是：本实用新型通过T形的主体有效减小测试头的体积及重量，结构简单，支架组成开口向下的“八”字状防止探针本体相互干涉，提高测试精度。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型的立体结构示意图。
在图中1.主体，2.后接板块，3.挡块，4.支架，5.底座，6.弧形缺口，7.立柱，8.限位爪，9.探针本体，10.连接孔，11.针座，12.斜面，13.放置槽。
具体实施方式
下面将结合附图以及具体实施例来详细说明本实用新型，其中的示意性实施例以及说明仅用来解释本实用新型，但并不作为对本实用新型的限定。
实施例：一种微型飞针测试头，包括主体1、设置在所述主体1上的后接板块2、设置在所述主体1上的探头组件，所述探头组件包括设置在所述主体1头部两侧的挡块3、设置在所述挡块3上且向上延伸的支架4、设置在所述支架4顶部且向前延伸的探针本体9，所述支架4包括底座5、设置在所述底座5前后两侧且向上延伸的立柱7、连接立柱7顶端的针座11，所述针座11与立柱7连接处的前后设有弧形缺口6，所述立柱7与所述底座5连接处前后设有弧形缺口6，所述挡块3上设有延伸至立柱7之间的限位爪8，两个所述支架4组成开口向下的“八”字状，即所述支架4顶部之间距离小于所述支架4底部之间距离，所述主体1俯视图为T形，所述主体1两侧为斜面12，所述挡块3与所述斜面12贴合。
上述设计中仅通过T形的主体1有效减小测试头的体积及重量，结构简单，支架4组成开口向下的“八”字状防止探针本体9相互干涉，提高测试精度。
作为本设计的进一步改进，所述限位爪8位于所述立柱7高度的1/2处，有效对立柱7限位，保证探针本体9测试的准确性。
作为本设计的进一步改进，所述后接板块2一端与所述主体1顶面连接，进一步缩小所述主体1的体积。
作为本设计的进一步改进，所述针座11设有放置所述探针本体9的放置槽13，所述针座11上设有连通所述放置槽13的连接孔10，便于安装探针本体9且探针本体9电连接的稳定性。
作为本设计的进一步改进，前方所述立柱7长度较后方所述立柱7长，便于支架4以确定路径变形，防止探针本体9划伤PCB板。
作为本设计的进一步改进，所述支架4之间的夹角为45°，进一步防止探针本体9之间干涉。
以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。