本实用新型涉及电气检验领域，特别涉及一种PIN针测试设备。
背景技术：
短路测试及导通测试，主要是用于测试电子器件的连接情况，就是测试短路与导通，具体点说就是测试一个电子元件应该连接的地方是否连接，如果没有连接上就是开路，如果不应该连接的地方连接了就是短路；
目前通常利用开短路测试仪对电子元件进行检测，然而由于电子元件以及PIN针的体积较小，因此通过人工依次对电子元件上的PIN针进行短路测试及导通测试，往往测试效率低并且检测成本高，使得企业的负担较大。
技术实现要素：
为了解决上述问题，本实用新型提供一种PIN针测试设备。本技术方案通过利用进料机构接收具有PIN针的电子元件，并通过送料机构将该电子元件传送至测试设备，控制器通过测试设备对该电子元件的PIN针进行短路测试和导通测试后，确定该电子元件的PIN针为合格PIN针或不合格PIN针，送料机构将经由测试机构测试后的电子元件传送至选择机构；控制器控制选择机构和送料机构将位于内的不合格的PIN针去除出选择机构，进而实现自动对电子元件的PIN针进行短路测试和导通测试，以及自动去除具有不合格PIN针的电子元件的技术效果，提高了电子元件的测试效率，减少了人工投入，降低了企业生产及检测成本。
本实用新型中的一种PIN针测试设备，用于测试电子元件的PIN针，包括机台、控制器、进料机构、送料机构、选择机构和测试机构；所述控制器、进料机构、送料机构、选择机构和测试机构分别固定在所述机台上，所述控制器分别与所述进料机构、送料机构、选择机构和测试机构连接；所述进料机构位于所述测试机构的一侧，所述选择机构位于所述测试机构背向所述进料机构的一侧，所述进料机构用于接收所述电子元件，所述送料机构用于将所述电子元件从所述进料机构依次传送至所述测试机构和所述选择机构，所述控制器控制所述测试机构对所述电子元件的PIN针进行短路测试或导通测试，并确定所述PIN针为合格PIN针或不合格PIN针；所述控制器控制所述选择机构去除经由所述测试机构测试为不合格的PIN针。
上述方案中，所述进料机构包括进料滑道、准备台、进料气缸，所述进料滑道和进料气缸分别固定在所述机台上；所述进料气缸与所述控制器连接；
所述进料滑道的一端接收所述电子元件，所述进料滑道的另一端朝向所述准备台并与所述准备台相对应，所述准备台与所述进料气缸的活塞杆连接，所述进料气缸的活塞杆与所述进料滑道相互垂直；所述进料气缸的活塞杆可使所述准备台沿垂直于所述进料滑道的径向移动，使所述准备台与所述进料滑道错位；
所述控制器控制所述进料气缸使所述准备台移动，将位于所述准备台内的电子元件转送至所述送料机构。
上述方案中，所述送料机构包括送料气缸、送料固定条、送料隔板、送料限位条，所述送料气缸通过固定板固定在所述机台上，所述送料限位条固定在所述机台上；
所述送料固定条的一端与所述送料气缸的活塞杆连接，所述送料固定条与所述送料限位条相互平行，所述送料隔板位于所述送料固定条和送料限位条之间，所述送料隔板与所述送料固定条固定连接，所述送料隔板朝向所述送料限位条的一侧具有限位槽，所述送料限位条插入所述限位槽内并与所述送料隔板滑动连接；
所述送料隔板的一端伸出所述送料固定条，用于与所述电子元件接触；所述送料气缸与所述控制器连接，所述控制器控制所述送料气缸的活塞杆使所述送料固定条沿所述送料固定条的轴向往复移动，所述送料隔板伸出所述送料固定条的部分将推移所述电子元件。
上述方案中，所述送料固定条位于所述进料机构、测试机构和选择机构的一侧，所述送料隔板包括沿所述送料固定条的轴向依次分布第一隔板、第二隔板、第三隔板；
所述第一隔板位于所述进料机构，用于随所述送料固定条的移动将位于所述进料机构的电子元件推送至所述测试机构；所述第二隔板位于所述测试机构，用于随所述送料固定条的移动将位于所述测试机构的电子元件推送至所述选择机构；所述第三隔板位于所述选择机构，用于随所述送料固定条的移动将位于所述选择机构的电子元件推出所述选择机构。
上述方案中，所述选择机构包括选择气缸和选择滑道，所述选择滑道的一端对应所述测试机构，以接收由所述测试机构输出的电子元件，所述选择气缸与所述控制器连接，控制器通过所述测试机构确定所述电子元件的PIN针为合格PIN针或不合格PIN针；所述控制器控制所述送料机构使位于所述选择滑道的具有合格PIN针的电子元件由所述选择滑道输出；
所述控制器控制所述选择气缸使所述选择气缸的活塞杆移动，所述选择滑道将与所述测试机构错位，所述控制器还控制所述送料机构将位于所述选择滑道的具有不合格PIN针的电子元件推出至所述机台上。
上述方案中，所述测试机构包括短路工位和导通工位，所述短路工位与所述控制器连接，所述控制器通过所述短路工位对所述电子元件的PIN针进行短路测试，并确定所述PIN针为合格PIN针或不合格PIN针；所述导通工位与所述控制器连接，所述控制器通过所述导通工位对所述电子元件的PIN针进行导通测试，并确定所述PIN针为合格PIN针或不合格PIN针。
上述方案中，所述短路工位包括具有多个短路顶针的短路测试块，以及短路气缸；所述短路气缸固定在所述机台上，所述短路气缸和所述短路顶针分别与所述控制器连接，所述短路气缸的活塞杆与所述短路测试块连接，所述控制器控制所述短路气缸使所述短路测试块沿所述短路气缸的活塞杆的轴向往复移动；所述短路顶针的一端朝向所述电子元件侧面的PIN针，所述控制器控制所述短路气缸使所述短路测试块背向所述短路气缸移动，并使所述短路顶针与所述PIN针接触，所述控制器通过所述短路顶针向所述PIN针输出测试电压或测试电流，并根据所述PIN针的反馈确定所述PIN针为合格PIN针或不合格PIN针。
上述方案中，所述导通工位包括具有多个导通顶针的导通测试块，以及导通气缸；所述导通气缸和所述导通顶针分别与所述控制器连接，所述导通气缸的活塞杆与所述导通测试快连接，所述控制器控制所述导通气缸使所述导通测试块沿所述导通气缸的活塞杆的轴向往复移动；所述导通顶针的一端朝向所述电子元件侧面的PIN针，所述导通气缸固定在所述机台上，所述控制器控制所述导通气缸使所述导通测试块背向所述导通气缸移动，并使所述导通顶针与所述PIN针接触，所述控制器通过所述导通顶针向所述PIN针输出测试电压或测试电流，并根据所述PIN针的反馈确定所述PIN针为合格PIN针或不合格PIN针。
上述方案中，所述测试机构包括顶部工位，所述顶部工位包括顶部气缸和具有顶部顶针的顶部测试块，所述顶部气缸与所述控制器连接，所述顶部气缸的活塞杆与所述顶部测试块连接，使所述顶部测试块沿所述顶部气缸的活塞杆的轴向往复移动；所述顶部顶针的一端朝向所述电子元件顶部的PIN针，所述控制器控制所述顶部测试块背向所述顶部气缸移动，使所述顶部顶针与位于所述电子元件顶部的PIN针接触；所述控制器通过所述顶部顶针向位于所述电子元件顶部的PIN针输出测试电压或测试电流，并根据所述PIN针的反馈确定所述PIN针为合格PIN针或不合格PIN针。
上述方案中，所述PIN针测试设备还包括输出机构和用于固定管子的卡座，所述输出机构包括输出滑道，所述输出滑道的一端与所述选择机构对应，用于接收由所述选择机构输出的PIN针；所述卡座固定在所述机台上，所述卡座的一侧对应所述输出滑道背向所述选择机构的一端，所述管子固定在所述卡座上以接收由所述输出滑道所输出的PIN针；
所述控制器还连接有人机界面，所述人机界面用于人工控制所述控制器，所述人机界面还用于显示所述控制器对所述PIN针的测试结果。
本实用新型的优点和有益效果在于：本实用新型提供一种PIN针测试设备，实现了自动对电子元件的PIN针进行短路测试和导通测试，以及自动去除具有不合格PIN针的电子元件的技术效果，提高了电子元件的测试效率，减少了人工投入，降低了企业生产及检测成本。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型一种PIN针测试设备的机构示意图。
图中：1、机台 2、控制器 3、进料机构 4、送料机构
5、选择机构 6、测试机构 7、输出机构 8、卡座
9、电子元件
21、人机界面 31、进料滑道 32、准备台 33、进料气缸
41、送料气缸 42、送料固定条 43、送料隔板
44、送料限位条 45、固定板 46、限位槽
431、第一隔板 432、第二隔板 433、第三隔板
434、第四隔板 51、选择气缸 52、选择滑道
61、短路工位 62、导通工位 63、顶部工位
611、短路顶针 612、短路测试块 613、短路气缸
621、导通顶针 622、导通测试块 623、导通气缸
631、顶部顶针 632、顶部测试块 633、顶部气缸
71、输出滑道 81、管子
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案，而不能以此来限制本实用新型的保护范围。
如图1所示，本实用新型是一种PIN针测试设备，用于测试电子元件9的PIN针，包括机台1、控制器2、进料机构3、送料机构4、选择机构5和测试机构6；控制器2、进料机构3、送料机构4、选择机构5和测试机构6分别固定在机台1上，控制器2分别与进料机构3、送料机构4、选择机构5和测试机构6连接；进料机构3位于测试机构6的一侧，选择机构5位于测试机构6背向进料机构3的一侧，进料机构3用于接收电子元件9，送料机构4用于将电子元件9从进料机构3依次传送至测试机构6和选择机构5，控制器2控制测试机构6对电子元件9的PIN针进行短路测试或导通测试，并确定PIN针为合格PIN针或不合格PIN针；控制器2控制选择机构5去除经由测试机构6测试为不合格的PIN针。
上述技术方案的工作原理是：利用进料机构3接收具有PIN针的电子元件9，并通过送料机构4将该电子元件9传送至测试设备，控制器2通过测试设备对该电子元件9的PIN针进行短路测试和导通测试后，确定该电子元件9的PIN针为合格PIN针或不合格PIN针，送料机构4将经由测试机构6测试后的电子元件9传送至选择机构5；控制器2控制选择机构5和送料机构4将位于内的不合格的PIN针去除出选择机构5。
具体的，进料机构3包括进料滑道31、准备台32、进料气缸33，进料滑道31和进料气缸33分别固定在机台1上；进料气缸33与控制器2连接；
进料滑道31的一端接收电子元件9，进料滑道31的另一端朝向准备台32并与准备台32相对应，准备台32与进料气缸33的活塞杆连接，进料气缸33的活塞杆与进料滑道31相互垂直；进料气缸33的活塞杆可使准备台32沿垂直于进料滑道31的径向移动，使准备台32与进料滑道31错位；
控制器2控制进料气缸33使准备台32移动，将位于准备台32内的电子元件9转送至送料机构4。
具体的，送料机构4包括送料气缸41、送料固定条42、送料隔板43、送料限位条44，送料气缸41通过固定板45固定在机台1上，送料限位条44固定在机台1上；
送料固定条42的一端与送料气缸41的活塞杆连接，送料固定条42与送料限位条44相互平行，送料隔板43位于送料固定条42和送料限位条44之间，送料隔板43与送料固定条42固定连接，送料隔板43朝向送料限位条44的一侧具有限位槽46，送料限位条44插入限位槽46内并与送料隔板43滑动连接；
送料隔板43的一端伸出送料固定条42，用于与电子元件9接触；送料气缸41与控制器2连接，控制器2控制送料气缸41的活塞杆使送料固定条42沿送料固定条42的轴向往复移动，送料隔板43伸出送料固定条42的部分将推移电子元件9。
进一步的，送料固定条42位于进料机构3、测试机构6和选择机构5的一侧，送料隔板43包括沿送料固定条42的轴向依次分布第一隔板431、第二隔板432、第三隔板433；
第一隔板431位于进料机构3，用于随送料固定条42的移动将位于进料机构3的电子元件9推送至测试机构6；第二隔板432位于测试机构6，用于随送料固定条42的移动将位于测试机构6的电子元件9推送至选择机构5；第三隔板433位于选择机构5，用于随送料固定条42的移动将位于选择机构5的电子元件9推出选择机构5；
其中，第一隔板431位于准备台32朝向进料滑道31的一侧，第三隔板433位于选择滑道52朝向测试工位的一侧。
具体的，选择机构5包括选择气缸51和选择滑道52，选择滑道52的一端对应测试机构6，以接收由测试机构6输出的电子元件9，选择气缸51与控制器2连接，控制器2通过测试机构6确定电子元件9的PIN针为合格PIN针或不合格PIN针；控制器2控制送料机构4使位于选择滑道52的具有合格PIN针的电子元件9由选择滑道52输出；
控制器2控制选择气缸51使选择气缸51的活塞杆移动，选择滑道52将与测试机构6错位，控制器2还控制送料机构4将位于选择滑道52的具有不合格PIN针的电子元件9推出至机台1上。
具体的，测试机构6包括短路工位61和导通工位62，短路工位61与控制器2连接，控制器2通过短路工位61对电子元件9的PIN针进行短路测试，并确定PIN针为合格PIN针或不合格PIN针；导通工位62与控制器2连接，控制器2通过导通工位62对电子元件9的PIN针进行导通测试，并确定PIN针为合格PIN针或不合格PIN针。
进一步的，短路工位61包括具有多个短路顶针611的短路测试块612，以及短路气缸613；短路气缸613固定在机台1上，短路气缸613和短路顶针611分别与控制器2连接，短路气缸613的活塞杆与短路测试块612连接，控制器2控制短路气缸613使短路测试块612沿短路气缸613的活塞杆的轴向往复移动；短路顶针611的一端朝向电子元件9侧面的PIN针，控制器2控制短路气缸613使短路测试块612背向短路气缸613移动，并使短路顶针611与PIN针接触，控制器2通过短路顶针611向PIN针输出测试电压或测试电流，并根据PIN针的反馈确定PIN针为合格PIN针或不合格PIN针。
进一步的，导通工位62包括具有多个导通顶针621的导通测试块622，以及导通气缸623；导通气缸623和导通顶针621分别与控制器2连接，导通气缸623的活塞杆与导通测试快连接，控制器2控制导通气缸623使导通测试块622沿导通气缸623的活塞杆的轴向往复移动；导通顶针621的一端朝向电子元件9侧面的PIN针，导通气缸623固定在机台1上，控制器2控制导通气缸623使导通测试块622背向导通气缸623移动，并使导通顶针621与PIN针接触，控制器2通过导通顶针621向PIN针输出测试电压或测试电流，并根据PIN针的反馈确定PIN针为合格PIN针或不合格PIN针。
可选的，送料隔板43还包括第四隔板434，第四隔板434位于短路工位61朝向进料机构3的一侧，第二隔板432位于导通工位62朝向短路工位61的一侧。
优选的，测试机构6包括顶部工位63，顶部工位63包括顶部气缸633和具有顶部顶针631的顶部测试块632，顶部气缸633与控制器2连接，顶部气缸633的活塞杆与顶部测试块632连接，使顶部测试块632沿顶部气缸633的活塞杆的轴向往复移动；顶部顶针631的一端朝向电子元件9顶部的PIN针，控制器2控制顶部测试块632背向顶部气缸633移动，使顶部顶针631与位于电子元件9顶部的PIN针接触；控制器2通过顶部顶针631向位于电子元件9顶部的PIN针输出测试电压或测试电流，并根据PIN针的反馈确定PIN针为合格PIN针或不合格PIN针。
可选的，顶部工位63位于短路工位61的上方。
优选的，PIN针测试设备还包括输出机构7和用于固定管子81的卡座8，输出机构7包括输出滑道71，输出滑道71的一端与选择机构5对应，用于接收由选择机构5输出的PIN针；卡座8固定在机台1上，卡座8的一侧对应输出滑道71背向选择机构5的一端，管子81固定在卡座8上以接收由输出滑道71所输出的PIN针；
控制器2还连接有人机界面21，人机界面21用于人工控制控制器2，人机界面21还用于显示控制器2对PIN针的测试结果。
上述技术方案的操作过程为：控制器2控制进料气缸33，使准备台32背向进料气缸33移动，进而使准备台32与进料滑道31错位；控制器2控制送料气缸41使送料固定条42移动，使第一隔板431将位于准备台32上的电子元件9推送至短路工位61，控制器2操作送料气缸41复位；
控制器2控制短路气缸613使短路测试块612背向短路气缸613移动，进而使短路顶针611与位于电子元件9侧面的PIN针接触，控制器2通过短路顶针611向该PIN针输出测试电压或测试电流进行短路测试，并根据该PIN针的反馈判定该PIN针为合格PIN针或不合格PIN针，短路测试完成后控制器2控制短路气缸613复位，短路测试块612朝向短路气缸613移动，使短路顶针611脱离该PIN针；
控制器2还控制顶部气缸633使顶部测试块632背向顶部气缸633移动，使顶部顶针631与位于电子元件9顶部的PIN针接触，控制器2通过顶部顶针631向该PIN针输出测试电压或测试电流进行短路测试或导通测试，并根据该PIN针的反馈判定该PIN针为合格PIN针或不合格PIN针，控制器2再控制顶部气缸633复位，顶部测试块632朝向顶部气缸633移动，使顶部顶针631脱离该PIN针；
控制器2控制送料气缸41使送料固定条42移动，第四隔板434将位于短路工位61上的电子元件9推送至导通工位62，控制器2操作送料气缸41复位；
控制器2控制导通气缸623使导通测试块622背向短路气缸613移动，进而使导通顶针621与位于电子元件9侧面的PIN针接触，控制器2通过导通顶针621向该PIN针输出测试电压或测试电流进行导通测试，并根据该PIN针的反馈判定该PIN针为合格PIN针或不合格PIN针，导通测试完成后控制器2控制导通气缸623复位，导通测试块622朝向导通气缸623移动，使导通顶针621脱离该PIN针；控制器2控制送料气缸41使送料固定条42移动，第二隔板432将位于导通工位62上的电子元件9推送至选择滑道52，控制器2操作送料气缸41复位；
若该电子元件9上的PIN针为合格PIN针，控制器2操作送料气缸41使送料固定条42移动，第三隔板433将位于选择滑道52上的电子元件9推送至输出滑道71，并通过输出滑道71将电子元件9传送至固定在卡座8上的管子81内；
若该电子元件9上的PIN针为不合格PIN针，控制器2操作选择气缸51使选择滑道52背向选择气缸51移动，控制器2再操作送料气缸41使送料固定条42移动，第三隔板433将位于选择滑道52上的电子元件9推出至机台1上，使工作人员便于分辨筛选不合格的电子元件9。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。