一种高精度功能测试工装结构的制作方法

本实用新型涉及电子产品测试领域，具体涉及一种高精度功能测试工装结构。

背景技术：

现有技术中，对于电子产品的功能测试结构，品类众多，因设计人员的不同各结构也是五花八门，给初入此行的工作人员带来了很大的选择困难，无形中降低了工作效率，最重要的是由于设计人员的经验差异以及各零件在加工中的误差，给后续测试带来了很大的隐患，有可能由于设计理念的错误而导致后续测试无法进行。

技术实现要素：

本实用新型针对现有技术中工作效率低、给后续测试带来隐患的缺陷，提供一种大大提高了测试的精度，减少设计时间、提高工作效率、提升测试通过率的高精度功能测试工装结构。

本实用新型是通过以下技术方案来实现的：一种高精度功能测试工装结构，包括第一探针固定块，第一探针固定块的上端平行于第一探针固定块设置有第二探针固定块，第一探针固定块与第二探针固定块之间通过至少四根支撑杆连接；

第二探针固定块上端面具有能够与外部机构连接的固定孔，第二探针固定块上端中间处安装一块可上下浮动用的针模浮动块，针模浮动块下端具有至少四根弹力PIN，至少四根弹力PIN穿过第二探针固定块至第二探针固定块的下端面，针模浮动块呈顶升状态。

作为优选的技术方案，所述第一探针固定块的上端中间处开设有一个探针孔，该探针孔为台阶孔，风琴探针安装于该探针孔内，探针压缩部分露出底面，第二探针固定块上正对探针孔具有对应的安装孔位，风琴探针的顶部装入于该安装孔位中。

作为优选的技术方案，所述针模浮动块的外部包裹一层金属保护块。

作为优选的技术方案，支撑杆的上下端均攻有螺牙。

本实用新型的有益效果是：本实用新型将实现原来由普通功能测试工装结构转化为标准化的高精度功能测试工装结构，大大提高了测试的精度，减少设计时间、提高工作效率、提升测试通过率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的立体结构示意图；

图2为本实用新型的俯视图；

图3为本实用新型的正视图；

图4为本实用新型的局部放大图。

具体实施方式

本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。

本说明书(包括任何附加权利要求、摘要和附图)中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。

如图1-图4所示，包括第一探针固定块1，第一探针固定块1的上端平行于第一探针固定块设置有第二探针固定块2，第一探针固定块1与第二探针固定块2之间通过至少四根支撑杆3连接；

第二探针固定块1上端面具有能够与外部机构连接的固定孔，第二探针固定块2上端中间处安装一块可上下浮动用的针模浮动块4，针模浮动块4下端具有至少四根弹力PIN5，至少四根弹力PIN5穿过第二探针固定块2至第二探针固定块2的下端面，针模浮动块4呈顶升状态。

第一探针固定块1的上端中间处开设有一个探针孔6，该探针孔6为台阶孔，风琴探针7安装于该探针孔6内，探针压缩部分露出底面，第二探针固定块上正对探针孔具有对应的安装孔位，风琴探针的顶部装入于该安装孔位中，针模浮动块4的外部包裹一层金属保护块8。

支撑杆3的上下端均攻有螺牙，支撑杆可通过螺牙完成与第一探针固定块和第二探针固定块的连接。

工作原理：

1、人工将风琴探针装入第一针模固定板中；

2、装配4个支撑杆；

3、支撑杆上装配第二探针固定块；

4、第二针模固定块套入风琴探针中；

5、第二探针固定块上装配4个弹力PIN；

6、弹力PIN上固定针模浮动块；

7、针模浮动块外面装配一金属保护块，通过针模浮动块定位待测产品，在上压头的作用下，压缩浮动块，使产品待测点与风琴探针头接触，从而通过风琴探针导通待测产品和转接板，把需要待测的参数引出在其他仪器上显示出来进行分析对比，达到测试的目的。

本实用新型的有益效果是：本实用新型将实现原来由普通功能测试工装结构转化为标准化的高精度功能测试工装结构，大大提高了测试的精度，减少设计时间、提高工作效率、提升测试通过率。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。