一种微带连接器高频性能的测试结构的制作方法

本实用新型属于微带连接器高频性能测试领域，涉及一种微带连接器高频性能的测试结构。

背景技术：

由于目前技术设备与测试水平的限制，尾部适配插针的微带连接器的高频能只能靠设计来保证，而无法对其高频性能进行测试以及验证。对于整机厂商来说，在方案制定过程中无形增加了不确定的因素，同时，随着整机厂家对元器件的要求越来越严格，尾部适配插针的微带连接器的高频性能测试也成为了急需解决的问题，因为一旦结构无法测试，即无法验证设计阶段产品高频性能是否与设计理念相一致，以及无法确定是否能够满足整机厂家的使用要求。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种微带连接器高频性能的测试结构。该结构能够测试两个微带连接器的高频性能，从而提供测试数据来验证产品的高频性能是否与设计理念相一致。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来解决的：

这种微带连接器高频性能的测试结构，包括两个微带连接器主体，微带连接器主体的中部设置有楔形孔，楔形孔内插有插针，两个微带连接器主体通过连接法兰紧固连接起来。

更进一步的，本实用新型的特点还在于：

其中楔形孔位于微带连接器主体内侧的一端开口大于楔形孔位于微带连接器主体边缘的一端开口。

其中插针的两端均为球面状的。

其中两个微带连接器主体相接触的一面设置有防水层。

其中连接法兰设置在两个微带连接器主体的上部和下部。

本实用新型的有益效果是：该结构能够对两个微带连接器进行高频性能的测试，从而得到测试数据，根据测试数据判断该产品是否与设计理念相一致，以及该产品能否满足整机厂家的使用要求。

更进一步的，楔形孔的设置能够使插针稳固的插在其中，并且插针与连接法兰结合将两个微带连接器主体连接起来。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型固定之后的结构示意图。

其中：1为微带连接器主体；2为楔形孔；3为插针；4为连接法兰。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步详细描述：

本实用新型提供了一种微带连接器高频性能的测试结构。如图1所示，包括两个微带连接器主体1，微带连接器主体1的上面设置有楔形孔2，楔形孔2位于微带连接器主体1内部的一端开口大于楔形孔2位于微带连接器主体1边缘一端的开口；两个微带连接器主体1的楔形孔2内部还插有插针3，插针3的两端为球面状的；且两个微带连接器主体1互相接触连接的一面设置有防水层；两个微带连接器主体1通过连接法兰4连接起来。

本实用新型的使用方法是，将插针3插入到其中一个微带连接器主体上的楔形孔2内，然后将另一个微带连接器主体的楔形孔2对准插针3，并且将插针3插入；然后使用连接法兰将两个微带连接器主体1连接起来。