MEMS惯组中陀螺相移测试装置的制作方法

文档序号:12647524

本实用新型属于MEMS惯组测试装置技术领域,具体涉及一种MEMS惯组中陀螺相移测试装置。



背景技术:

MEMS惯组主要用于弹体的姿态控制部分,包含3只MEMS陀螺仪和3只MEMS加速度计。其中MEMS陀螺仪相移是影响弹体控制精度的一个重要参数。传统的机械陀螺相移可以使用频谱分析仪进行测试,频谱分析仪在MEMS陀螺仪自平衡控制回路中加正弦激励,同时接收激励信号和输出信号,通过频谱分析仪自身功能可以计算出MEMS陀螺仪相移。MEMS陀螺仪的控制和信号处理电路全部在芯片中,对外接口只有电源和角速率输出,因而无法使用和传统的机械陀螺相同的方法进行测试。目前国内对于MEMS陀螺仪相移的测试,还没有一种规范的方法和设备。



技术实现要素:

本实用新型解决了现有技术的不足,提供一种MEMS惯组中陀螺相移测试装置,将MEMS惯组和动态电位计同时安装在同一电机的旋转轴上,保证在电机转动时MEMS惯组的被测MEMS陀螺仪敏感轴与电位计做同步运动,即运动相对差为零。

本实用新型所采用的技术方案是:MEMS惯组中陀螺相移测试装置,包括MEMS陀螺仪及电位计,所述MEMS陀螺仪与电位计间设有电机,所述电机通过旋转轴分别与MEMS陀螺仪及电位计连接。

相较于现有技术,本实用新型具有的有益效果:将MEMS惯组的MEMS陀螺仪和高动态电位计安装在同一电机的转动轴上,在电机的带动下MEMS惯组中被测MEMS陀螺仪与电位计做同步正弦运动,可以保证被测MEMS陀螺仪与电位计的输入信号相位差为零,利用高动态电位计在陀螺仪带宽内相移可以忽略的特点,通过仪器测量电位计信号和MEMS陀螺仪信号的相位差,从而推算出陀螺相移。解决了MEMS惯组中陀螺仪相移测试的技术问题,经过改进后可以用于各种MEMS陀螺仪相移的测试。

附图说明

图1是本实用新型功结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行详细说明。

一种MEMS惯组中陀螺相移测试装置,结构如图1所示,包括MEMS陀螺仪1及电位计3,所述MEMS陀螺仪1与电位计3间设有电机2,所述电机2通过旋转轴4分别与MEMS陀螺仪1及电位计3连接。

其工作原理为:电机3在正弦驱动信号的控制下,带动被测MEMS陀螺仪1和电位计3同时做同步正弦运动,通过双通道示波器测量MEMS陀螺仪1电位计3的输出信号。根据运动学原理,位置信号的极点是速率信号的零点,由于高动态电位计相移在陀螺带宽内可以认为是零,在示波器上测量电位计输出信号的极点和陀螺输出信号的零点的相位差,即为MEMS惯组中被测MEMS陀螺仪1的相移。改变电机2正弦驱动信号的频率,可以测量带宽内各频率点的相移。本陀螺相移测试装置,在100Hz内进行了充分的试验,可以满足MEMS陀螺相移测试的需要。

该装置将MEMS惯组的MEMS陀螺仪和高动态电位计安装在同一电机的转动轴上,在电机的带动下MEMS惯组中被测MEMS陀螺仪与电位计做同步正弦运动,通过测量电位计信号和MEMS陀螺仪信号的相位差,从而推算出陀螺相移。

上述实施例,只是本实用新型的较佳实施例,并非用来限制本实用新型的实施范围,故凡以本实用新型权利要求所述内容所做的等同变化,均应包括在本实用新型权利要求范围之内。

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