一种应用于电子行业的射频识别功能测试工装的制作方法

文档序号:11073504阅读:519来源:国知局
一种应用于电子行业的射频识别功能测试工装的制造方法与工艺

本实用新型属于射频识别功能测试工装,具体为一种应用于电子行业的射频识别功能测试工装。



背景技术:

目前常用的射频识别功能测试方式,都是使用单个信号源进行测试,当两个或两个以上的信号源同时接触接收器时,无法自动准确排序进行逐一测试。在测试带有RF信号源的连板的半成品时,由于产品间隔较小,只能将半成品完全分割成单片进行测试,必要时还需要将测试的产品完全屏蔽以排除外界信号的干扰。因而增加了测试的繁琐程度,并且造成后制程无法连板操作,提高了生产成本。



技术实现要素:

本实用新型的目的在于提供一种应用于电子行业的射频识别功能测试工装,解决背景技术中的问题。

本实用新型采用以下技术方案实现:

一种应用于电子行业的射频识别功能测试工装,包括测试柜体、测试窗和屏蔽门,所述测试柜体侧面设置有测试窗,所述测试柜体侧面设置有屏蔽门,所述测试窗位于屏蔽门正中间,所述测试柜体内设置有射频识别信号接收模块,所述测试柜体内设置有射频识别信号反馈模块,所述射频识别信号接收模块与射频识别信号反馈模块连接在一起,所述射频识别信号接收模块与射频识别信号反馈模块分别与电脑连接在一起。

本实用新型中,所述屏蔽门为导电材料或者导磁材料中的一种。

本实用新型中,所述测试窗外部有且仅有一个射频识别信号产品。

有益效果:本实用新型降低了测试繁琐度,提高了测试效率,从而降低了生产成本,节约了人力资源;本实用新型实现了多信号源连板产品免分割测试,从而优化了生产环节,降低了生产成本;本实用新型的结构设计简单、合理,制造容易,易于操作,工作稳定,通用性强,应用面广。本实用新型结构设计新颖,通用性强,操作方便,节约成本,提高质量。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图;

图2为供本实用新型测试的电子产品结构示意图;

图3为本实用新型测试状态图;

图4本实用新型测试窗的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体图示,进一步阐述本实用新型。

参见图1、图2、图3、图4,一种应用于电子行业的射频识别功能测试工装的结构示意图、供一种应用于电子行业的射频识别功能测试工装测试的电子产品结构示意图、一种应用于电子行业的射频识别功能测试工装测试状态图、一种应用于电子行业的射频识别功能测试工装测试窗的结构示意图,一种应用于电子行业的射频识别功能测试工装,包括测试柜体1、测试窗2和屏蔽门3,所述测试柜体1侧面设置有测试窗2,所述测试柜体1侧面设置有屏蔽门3,所述测试窗2位于屏蔽门3正中间,所述测试柜体1内设置有射频识别信号接收模块,所述测试柜体1内设置有射频识别信号反馈模块,所述射频识别信号接收模块与射频识别信号反馈模块连接在一起,所述射频识别信号接收模块与射频识别信号反馈模块分别与电脑连接在一起,所述屏蔽门3为导电材料或者导磁材料中的一种,所述测试窗2外部有且仅有一个射频识别信号产品4。

使用时,电子产品5上设置有多个射频识别信号产品4时,通常需要将电子产品5内的射频识别信号产品4拆开单独测试,当使用本实用新型时,只需将电子产品5内的单个射频识别信号产品4放在测试窗2外侧时,电子产品5上其他的射频识别信号产品4处于屏蔽门3的外侧,当电子产品5内的多个射频识别信号产品4发出信号时,仅有处于测试窗2正前方的一个射频识别信号产品4发出的信号能通过测试窗2并被测试柜体1内的射频识别信号接收模块接收到,从而达到逐个测试的目的。

使用时,将所需测试的产品放置在信号屏蔽装置的非屏蔽区域,保持所需测试的单片产品在非屏蔽区域内,其它产品在非屏蔽区域外,由接收器获取测试结果反馈到电脑并显示测试结果;当前产品测试完成时,手动转移下一个产品到屏蔽装置的非屏蔽区域进行测试,以此类推。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征及本实用新型的优点,本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下,本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内,本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

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