具备过采样功能的天线测试系统的制作方法

本实用新型涉及天线测试系统技术领域，更具体的说是涉及具备过采样功能的天线测试系统。

背景技术：

在天线测量的过程中，主要对天线的辐射性能进行测试，随着天线通讯技术的发展，对天线测量的速度、精度以及可测被测物类型覆盖面等要求越来越高，伴随着测试技术的不断更新，近场天线测试系统应运而生。

公告号CN205643543U的实用新型专利公开了一种多探头近场天线测试系统，在被测物外围设360度包围被测物的拱环，拱环上设置有双极化超宽带探头阵列，通过快速电子扫描对被测物进行快速的辐射性能测试。这种天线测试系统，采集到的是三维空间中球面上的多个点，采集到的点越均匀越密集，就越接近天线真实辐射性能。

现有的多探头天线测量系统用增加探头数量来提高测试效率，但是由于探头间距固定采样方式不够灵活，只能通过增加探头数量来提高测量精度，成本高。后续出现了通过让被测物相对于拱环转动，以增加采样点的测试方法，我们称之为过采样，但是由于拱环的体积大、重量重，要使拱环稳定地相对于被测物发生转动存在技术困难。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种具备过采样功能的天线测试系统，具备在过采样中拱环转动稳定的优点。

本实用新型的上述目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种具备过采样功能的天线测试系统，包括拱环以及底座，所述底座包括于拱环径向两侧的底部的两个托举组件，托举组件包括用于与拱环的外环面滚动连接并托举以使拱环悬空的滚动机构，以及用于驱动拱环转动的驱动机构。

通过采用上述技术方案，托举组件于拱环底径向两侧的底部位置处，通过滚动组件与拱环的外环面滚动连接并进行托举支撑，使拱环悬空，由于采用了滚动连接的方式，拱环可以在托举组件的托举支撑下，自由且平稳地转动，通过驱动机构驱动控制其转动角度，拱环转动稳定，能较快且较稳定地实现过采样。

进一步，所述滚动机构包括设置在拱环外环面上的弧形导轨，以及与弧形导轨滚动配合的滚动件。

通过采用上述技术方案，滚动件与弧形导轨滚动配合实现滚动机构与拱环的滚动连接以及托举。

进一步，所述滚动件为V型轴承，所述弧形导轨具有与V型轴承的外圈轮廓配合的外弧面。

通过采用上述技术方案，V型轴承的外圈轮廓配合弧形导轨的外弧面，传动更加稳定。

进一步，所述驱动机构包括设置在拱环外环面上的弧形齿条、与弧形齿条啮合的齿轮以及驱动齿轮转动的驱动电机。

通过采用上述技术方案，驱动电机转动，通过齿轮和弧形齿条的啮合传动，驱动拱环转动。

进一步，驱动电机通过减速机连接并驱动所述齿轮。

通过采用上述技术方案，通过减速机，为齿轮提供更大的力矩。

综上所述，本实用新型具有以下有益效果：拱环由两个托举组件托举并滚动连接，能够较平稳地转动，由驱动电机提供驱动力，通过齿轮与设于拱环外环面的弧形齿条啮合传动驱动拱环转动，实现过采样。

附图说明

图1是实施例装配完成状态结构示意图；

图2是实施例局部爆炸状态结构示意图。

图中，1、底座；11、托举组件；111、弧形导轨；112、V型轴承；113、弧形齿条；114、齿轮；115、驱动电机；116、减速机；12、支撑板；121、连接孔；2、拱环。

具体实施方式

一种具备过采样功能的天线测试系统，参考图1，包括底座1，底座1的上方设置有拱环2，过采样的过程需要拱环2绕被测物旋转一定角度，图1中可见，底座1于拱环2的径向两侧的底部设置有托举组件11，两个托举组件11将拱环2托举悬空，以便于驱动拱环2转动。

托举组件11包括用于与拱环2的外环面滚动连接并托举以使拱环2悬空的滚动机构，参照图2，滚动机构包括设置在拱环2外环面上的弧形导轨111，以及用以构成滚动件并与弧形导轨111滚动配合的V型轴承112，弧形导轨111具有与V型轴承112的外圈轮廓配合的外弧面。一个托举组件11中包含两组弧形导轨111与V型轴承112，两组弧形导轨111与V型轴承112分别设置于拱环2的轴线方向两侧， V型轴承112连接在支撑板12的连接孔121上，弧形导轨111接触V型轴承112的外圈，以实现滚动连接，并且滚动过程稳定。

托举组件11还包括用于驱动拱环2转动的驱动机构，驱动机构包括连接在拱环2外环面上的弧形齿条113、与弧形齿条113啮合的齿轮114以及驱动齿轮114转动的驱动电机115，驱动电机115通过蜗轮蜗杆减速机116垂直换向并连接齿轮114，驱动电机115输出驱动力，通过减速机116增加力矩，再通过齿轮114与弧形齿条113啮合传动，驱动拱环2的转动并控制转动角度。

本实施例公开的托举组件11适用于实现包括但不限于16及24探头的近场球面天线测试系统的过采样。