一种用于电子元件测试设备的传动装置的制作方法

文档序号:11591191阅读:554来源:国知局

本实用新型涉及一种传动装置,尤其涉及一种用于电子元件测试设备的传动装置。



背景技术:

随着电子技术的飞速发展,电子产品的使用也越来越广泛,因而为了提高生产效率,在电子产品的生产过程中也越来越多的采用机械化、自动化的生产方式。电子元件生产出来以后,要经过一个检验的过程,对电子元件的各种性能进行测试,例如:物理性能,电气性能,环境性能等。

市场上通常采用单一测试头系统对电子元件进行检测,但是该单一测试头系统工作时,经常会遇到电子元件跑偏,定位不准确,测试不精确、不到位的现象;此外还存在检测电子元件的效率不高,检测不稳定,分档不准确,易损被测元件和测试针的严重问题。



技术实现要素:

为了克服现有技术的不足,本实用新型的目的在于提供一种用于电子元件测试设备的传动装置,联动传动更加精确,使得上测针和下测针的定位更加准确。

本实用新型的目的采用以下技术方案实现:

一种用于电子元件测试设备的传动装置,包括安装有下测针的第一传动机构、安装有上测针的第二传动机构、联动键、基板、固定板、动力设备和第三转轴,固定板固接于基板,固定板所在平面垂直于基板所在平面;第一传动机构和第二传动机构平行设置,均与固定板滑动连接;动力设备固接于第一传动机构底部,第三转轴固接于固定板,第三转轴位于第一传动机构和第二传动机构之间;联动键中部枢接于第三转轴,第一传动机构通过联动键与第二传动机构传动连接。

优选地,第一传动机构包括第一安装板、第一连接板、第一滑块、第一滑轨和第一底座,第一滑轨固接于固定板,第一滑块与第一滑轨滑动连接,第一连接板固接于第一滑块,第一安装板固接于第一连接板端部,第一底座固接于第一安装板端部,第一底座用于安装下测针;

第二传动机构包括第二安装板、第二连接块、第二滑块、第二滑轨和第二底座,第二滑轨固接于固定板,第二滑块与第二滑轨滑动连接,第二连接块固接于第二滑块,第二安装板固接于第二连接块端部,第二底座固接于第二安装板端部,第二底座用于安装上测针。

优选地,联动键端部开设有凹槽,第一连接板上设有第一转轴,第二连接板上设有第二转轴,所述一凹槽与所述第一转轴滑动连接,所述另一凹槽与所述第二转轴滑动连接。

优选地,动力设备包括电机、凸轮、轴承座和从动轮,轴承座固接于第一传动机构底部,从动轮枢接于轴承座,电机输出端与凸轮传动连接,所述凸轮与从动轮滚动连接。

相比现有技术,本实用新型的有益效果在于:

本实用新型设置安装有下测针的第一传动机构和安装有上测针的第二传动机构,第一传动机构通过联动键与第二传动机构传动连接,并在第一传动机构底部设置从动轮,通过动力设备向从动轮提供动力,从而驱动第一传动机构和第二传动机构沿固定板相互靠近滑动或相互远离滑动,即带动上测针和下测针实现结合和分离。本实用新型通过联动传动使第一传动机构和第二传动机构的运动同步性更强,使得上测针和下测针的定位更加准确,保证测试设备精确的测试结果,提高测试设备的测试效率和工作的稳定性。本装置用于测试电子元件,性能稳定可靠,测量精度高,速度快,易于操作和维护,是电子元件生产厂家理想的测试装置。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图之一。

图2为本实用新型的结构示意图之二。

图3为本实用新型从动轮与凸轮滑动连接的结构示意图。

图中:1、从动轮;2、轴承座;3、第一安装板;4、基板;5、第一连接板;6、第一转轴;7、第一滑块;8、第一滑轨;9、联动键;10、第二滑块;11、第二滑轨;12、第二连接板;13、第二安装板;14、第二底座;15、上测针;16、第二转轴;17、下测针;18、第一底座;19、固定板;20、第三转轴;21、凹槽;22、凸轮;23、第一传动机构;24、第二传动机构;25、动力设备。

具体实施方式

下面,结合附图以及具体实施方式,对本实用新型做进一步描述:

如图1~2所示的用于电子元件测试设备的传动装置,包括安装有下测针17的第一传动机构23、安装有上测针15的第二传动机构24、联动键9、基板4、固定板19、动力设备25和第三转轴20,固定板19固接于基板4,固定板19所在平面垂直于基板4所在平面;第一传动机构23和第二传动机构24平行设置,均与固定板19滑动连接;动力设备25固接于第一传动机构23底部,第三转轴20固接于固定板19,第三转轴20位于第一传动机构23和第二传动机构24之间;联动键9中部枢接于第三转轴20,第一传动机构23通过联动键9与第二传动机构24传动连接。

动力设备25提供动力,驱动第一传动机构23沿固定板19上下滑动,从而带动联动键9绕第三转轴20转动,第一传动机构23通过联动键9带动第二传动机构24沿固定板19做与第一传动机构23运动方向相反的运动,即第一传动机构23沿固定板19向上滑动时,第二传动机构24沿固定板19向下滑动,第一传动机构23沿固定板19向下滑动时,第二传动机构24沿固定板19向上滑动,从而实现下测针17与上测针15的相互靠近或者相互远离。由于第一传动机构23和第二传动机构24的联动传动,所以上测针15和下测针17运动同步性更高,测试电子元件时,同时靠近电子元件,测试完成后同时远离电子元件,使得上测针15和下测针17的定位更加准确,从而保证测试装置精确的测试结果,提高测试装置的测试效率和工作的稳定性。

进一步,第一传动机构23包括第一安装板3、第一连接板5、第一滑块7、第一滑轨8和第一底座18,第一滑轨8固接于固定板19,第一滑块7与第一滑轨8滑动连接,第一连接板5固接于第一滑块7,第一安装板3固接于第一连接板5端部,第一底座18固接于第一安装板3端部,第一底座18用于安装下测针17;

第二传动机构24包括第二安装板13、第二连接块、第二滑块10、第二滑轨11和第二底座14,第二滑轨11固接于固定板19,第二滑块10与第二滑轨11滑动连接,第二连接块固接于第二滑块10,第二安装板13固接于第二连接块端部,第二底座14固接于第二安装板13端部,第二底座14用于安装上测针15。

动力设备25提供动力作用在第一安装板3上,驱动第一安装板3上下移动,从而驱动第一连接板5上的第一滑块7沿第一滑轨8上下滑动以及下测针17的上下运动;在联动键9的传动作用下,从而驱动第二连接板12上的第二滑块10沿第二滑轨11上下滑动以及上测针15的上下运动,因为联动键9传动的驱动力的方向是相反的,所以,上测针15的运动方向与下测针17的运动方向相反,如此便可以驱动上测针15和下测针17同时靠近电子元件或者同时远离电子元件。

进一步,联动键9端部开设有凹槽21,第一连接板5上设有第一转轴6,第二连接板12上设有第二转轴16,所述一凹槽21与所述第一转轴6滑动连接,所述另一凹槽21与所述第二转轴16滑动连接。由于第一转轴6与联动键9端部的一凹槽21滑动连接,第二转轴16与联动键9端部的另一凹槽21滑动连接,所以当第一连接板5向上移动时,带动联动键9绕第三转轴20转动,从而驱动第二连接板12向下移动,当第一连接板5向下移动时,带动联动键9绕第三转轴20转动,从而驱动第二连接板12向上移动。

进一步,如图3所示,动力设备25包括电机、凸轮22、轴承座2和从动轮1,轴承座2固接于第一传动机构23底部,从动轮1枢接于轴承座2,电机输出端与凸轮22传动连接,所述凸轮22与从动轮1滚动连接。电机输出端驱动凸轮22转动,从动轮1沿凸轮22的轮廓转动起到升降作用,从而带动第一传动机构23上下运动。凸轮22传动的设计便于拆卸,维护方便、可靠。

对本领域的技术人员来说,可根据以上描述的技术方案以及构思,做出其它各种相应的改变以及形变,而所有的这些改变以及形变都应该属于本实用新型权利要求的保护范围之内。

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