技术总结
描述了用于光谱仪暗校正的方法和系统，其实现更稳定的基线，尤其是靠近边缘的位置，这里强度校正会放大暗减法的任何非零结果，并且由于照相机窗框的温度变化导致的暗电流的变化通常更加明显。由此产生的基线的诱导曲率使得在这些区域中的定量十分困难。使用本发明可以提供用于识别例如照相机真空密封的损失、温度稳定性的漂移以及漏光之类的系统故障状态的指标。在本发明的系统方面，处理器接收来自光谱仪中的光检测器的信号，并执行软件程序以计算光谱响应、对结果求和或求平均，并执行实现所公开方法所必需的其它操作。在最优选实施例中，从样本接收的光信号被用于拉曼分析。
技术研发人员：帕特里克·维甘德;詹姆士·M·特德斯科;约瑟夫·B·斯莱特;弗朗西斯·艾斯蒙德-怀特;达伦·席佩尔
受保护的技术使用者：凯塞光学系统股份有限公司
文档号码：201680031806
技术研发日：2016.06.02
技术公布日：2018.03.20