技术总结
本发明公开一种对含有含氟表面处理剂的物品进行分析的方法，该分析方法中，通过使用傅里叶变换红外分光计(FT‑IR)的红外全反射衰减法(IR‑ATR法)求出含氟表面处理剂所具有的氟代烷基的碳原子数，其中，含氟表面处理剂含有含氟聚合物作为有效成分，含氟聚合物具有源自式：CH2＝C(－X)－C(＝O)－Y－Z－Rf[式中，X为氢原子、一价的有机基团或卤素原子，Y为－O－或－NH－，Z为直接键合或二价的有机基团，Rf为碳原子数1～20的氟代烷基。]所示的含氟单体的重复单元。提供一种简便地求出含有以含氟聚合物为有效成分的含氟表面处理剂的物品中的氟代烷基的碳原子数的分析方法。
技术研发人员：高桥可奈子;山本育男;长谷川健;下赤卓史
受保护的技术使用者：大金工业株式会社
技术研发日：2016.08.17
技术公布日：2018.07.13