本发明涉及一种远距离高精度检测位移系统,属于检测领域。
背景技术:
随着社会发展和建筑业的不断崛起,高楼、桥梁和铁路的建造变得越来越频繁,但是这些建筑物在建造过程中需要进行精密的测量,来防止其倾斜,从而影响使用寿命,然而传统的测量基本是由直尺或者量角器来进行,难以测量出高精度的位移量。
技术实现要素:
针对现有技术的不足,本发明提供了一种远距离高精度检测位移系统。
一种远距离高精度检测位移系统,包括主MCU、传感器、激光发射器和后台,其特征在于:所述主MCU电连有辅MCU,所述主MCU内设置有无线收发装置一,所述主MCU通过无线收发装置一对传感器进行控制,所述传感器内设置有无线收发装置二,所述传感器通过无线收发装置二为主MCU进行信息传输,所述激光发射器上设置有无线接收装置,所述后台通过无线收发装置一与主MCU进行通信。
优选的,所述传感器为CMOS图像传感器,用于接收激光信号且将光信号转换为电信号
通过上述技术方案,CMOS传感器的屏对于激光的感光监控,能够进行实时监测,即时性强。
优选的,所述CMOS图像传感器可接收微米级的位移距离。
通过上述技术方案,可以接收微米级别的光感移动,高精度的测量位移量。
优选的,所述无线接收装置一用于接收主MCU的控制信号,控制激光发射器的启停和与后台进行信息传输。
通过上述技术方案,主MCU可通过无线方式控制激光发射装置的启停,节省激光控制器的能耗。
优选的,所述辅MCU用于辅助主MCU进行数据处理和延时设置工作。
通过上述技术方案,辅助MCU帮助主MCU进行数据处理等运算,采用双MCU联动,能够大大提高运算速度和运算精度。
本发明结构简单,能够通过红外激光的定点射击,CMOS传感器对于激光的接收,若发生位移,则会将两个在COMS传感器上接收到的点间距发送至双MCU上,通过数据处理和判断,并可将数据通过无线收发装置一进行信息的发射,发送给后台,实现远距离测量。本发明能够监测到微米级别的细微变化,可以应用于地基位移变化、楼宇外形变化、车辆移动等场合。
附图说明
图1为本发明的原理图;
图2为本发明投入使用示意图一;
图3为本发明投入使用示意图二。
附图标记:1、主MCU;2、传感器;3、激光发射器;4、后台;5、辅MCU;6、无线收发装置一;7、无线收发装置二;8、无线接收装置;9、激光;10、楼宇。
具体实施方式
下面将参考附图对本发明一种远距离高精度检测位移系统进行详细说明。
如图1所示的一种远距离高精度检测位移系统,包括主MCU1、传感器2、激光发射器3和后台4,其特征在于:所述主MCU1电连有辅MCU5,所述主MCU1内设置有无线收发装置一6,所述主MCU1通过无线收发装置一6对传感器2进行控制,所述传感器2内设置有无线收发装置二7,所述传感器2通过无线收发装置二7为主MCU1进行信息传输,所述激光发射器3上设置有无线接收装置8,所述后台4通过无线收发装置一6与主MCU1进行通信。
进一步的,所述传感器2为CMOS图像传感器,用于接收激光信号且将光信号转换为电信号。
通过上述技术方案,CMOS传感器的屏对于激光的感光监控,能够进行实时监测,即时性强。
进一步的,所述CMOS图像传感器可接收微米级的位移距离。
通过上述技术方案,可以接收微米级别的光感移动,高精度的测量位移量。
进一步的,所述无线接收装置一6用于接收主MCU1的控制信号,控制激光发射器3的启停和与后台4进行信息传输。
通过上述技术方案,主MCU可通过无线方式控制激光发射装置的启停,节省激光控制器的能耗。
进一步的,所述辅MCU5用于辅助主MCU1进行数据处理和延时设置工作。
通过上述技术方案,辅助MCU帮助主MCU进行数据处理等运算,采用双MCU联动,能够大大提高运算速度和运算精度。
本发明结构简单,能够通过红外激光的定点射击,CMOS传感器对于激光的接收,若发生位移,则会将两个在COMS传感器上接收到的点间距发送至双MCU上,通过数据处理和判断,并可将数据通过无线收发装置一进行信息的发射,发送给后台,实现远距离测量。本发明能够监测到微米级别的细微变化,可以应用于地基位移变化、楼宇外形变化、车辆移动等场合。
本发明在工作时,如图2,将本发明的传感器2固定在楼宇10上,激光发射器3外置,使得激光发射器3的激光9发射点发射在传感器2的中心,这样一来无论是楼宇10左右移动或者沉降都能够全面进行检测;如图3,若楼宇10进行沉降,则激光9投射的点会位于初始激光9的上方,传感器2将这两点之间的间距发送主MCU1,由辅MCU5对主MCU1进行辅助,双MCU就可以进行数据分析,测得楼宇10的位移量,实时监测的数据可以通过无线收发装置一6传输至后台4。同样的,传感器2也可以安装在需要检测位移量的物体上,例如桥梁、汽车等。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例,凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。