散装式反应杯自动排序装置的测试方法与流程

文档序号:12447842阅读:660来源:国知局
散装式反应杯自动排序装置的测试方法与流程

本发明涉及散装式反应杯自动排序装置,尤其是涉及散装式反应杯自动排序装置的测试方法。



背景技术:

散装式反应杯自动排序装置是全自动化学发光测定仪自动上料机构,随着全自动化学发光测定仪自动化水平的提高,全自动化学发光测定仪的测定检验速度大大提升,因此对反应杯自动上料机构的要求也越来越高。散装式反应杯自动排序装置工作时,其滑槽内必须始终保证有设定数量(例如N个)的反应杯,当滑槽内反应杯排列到设定数量时,散装式反应杯自动排序装置的提升电机停止转动。

散装式反应杯自动排序装置产品性能的重要参数,是自动排序、提升300个反应杯所需时间的长短。目前,对散装式反应杯自动排序装置性能参数的测试,全部通过人工一对一进行计时、计数;当滑槽内反应杯排列到设定数量时,人工将滑槽内第一个反应杯清除并开始计数,然后提升电机转动向滑槽内补入一个反应杯,人工再将滑槽内第二个反应杯清除,提升电机再向滑槽内补入一个反应杯,如此反复,直至人工再将滑槽内第300个反应杯清除后,计算所用时间来衡量散装式反应杯自动排序装置的性能是否满足要求。上述方法存在的不足主要表现为:1、对人的依赖性太强,整个测试过程需要人工全程跟踪操控;2、散装式反应杯自动排序装置滑道内的反应杯需要通过人工手动进行清除,操作不便;3、整个测试过程中计时与计数均通过人工完成,易发生操作失误而导致记录结果偏差或错误,可靠性低。4、需通过人工与散装式反应杯自动排序装置一对一进行测量,测试检测效率低;5、受外界因素影响大,测试过程中检测人员需暂时离开时(如上厕所)必须立即中断测试。



技术实现要素:

本发明目的在于提供一种散装式反应杯自动排序装置的测试方法。

为实现上述目的,本发明采取下述技术方案:

本发明所述散装式反应杯自动排序装置的测试方法,按照下述步骤进行:

第一步、构建测试系统:首先在散装式反应杯自动排序装置滑槽出口处安装用于清除反应杯的击打电磁铁,将所述击打电磁铁的输入控制端与可编程逻辑控制器的输出控制端连接;然后将所述可编程逻辑控制器的信号输入端与设置在所述滑槽侧壁上的报警光电传感器、计数光电传感器信号输出端连接,并将可编程逻辑控制器输出控制端与散装式反应杯自动排序装置的提升电机输入控制端连接,最后将可编程逻辑控制器通过RS232接口与触控屏通信连接;

第二步、所述测试系统供电后,点击触控屏开始测试,被检散装式反应杯自动排序装置的提升电机带动反应杯提升输送模块开始运动,所述可编程逻辑控制器内部计时器开始计时,反应杯容器内的反应杯被所述反应杯提升输送模块输送至所述滑槽内,第一个反应杯顺着滑槽滑落至出口位置后被反应杯挡块阻挡,后续被反应杯提升输送模块输送的反应杯沿着滑槽依次排列;

第三步、所述报警光电传感器和计数光电传感器对所述滑槽内的反应杯状态进行实时监测;当报警光电传感器被滑槽内的反应杯遮挡时间≥1s时证明滑槽中已经出现堵塞,向所述可编程逻辑控制器发出信号,触控屏的蜂鸣器与界面上的红灯报警;计数光电传感器对滑槽内的反应杯计数并向可编程逻辑控制器发送反应杯计数信号,当计数光电传感器持续触发时间T<0.1s时,说明反应杯只是通过计数光电传感器,可编程逻辑控制器的计数器指令加1;当计数光电传感器持续触发时间T≥0.1s时,证明滑槽内已经排列了设定数量的反应杯,此时可编程逻辑控制器不执行计数,同时,可编程逻辑控制器指挥击打电磁铁启动0.05s击打一次反应杯,将滑槽内所述第一个反应杯打掉;当滑槽内第二个反应杯补入后,可编程逻辑控制器指挥击打电磁铁再次启动0.05s击打一次反应杯,依次重复此过程;当击打反应杯的次数达到设定的击打次数时停止运行,可编程逻辑控制器输出所述设定的击打次数所对应的运行时间,即得到被检散装式反应杯自动排序装置的性能参数。

本发明优点在于实现对散装式反应杯自动排序装置性能参数的自动化测试。具体体现在以下方面:

1、通过可编程逻辑控制器(PLC)进行数据计算处理,可靠性高、响应速度快;

2、一台可编程逻辑控制器(PLC)可同时检测多台散装式反应杯自动排序装置,检测效率高;

3、通过可编程逻辑控制器(PLC)设置堵杯自动告警功能,更好地对检测过程进行监测提醒;

4、通过电磁铁自动击打清除反应杯,无需人工手动一个一个清除反应杯,操作简便;

5、测试系统自动计时与自动计数,不存在操作失误与操作误差问题。

附图说明

图1是本发明所述散装式反应杯自动排序装置的结构示意图。

图2是本发明所述测试系统的电路原理框图。

图3是本发明所述可编程逻辑控制器的程序流程框图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的实施例作详细说明,本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施,给出了详细的实施方式和具体的操作过程,但本发明的保护范围不限于下述实施例。

如图1-3所示,本发明所述散装式反应杯自动排序装置的测试方法,按照下述步骤进行:

第一步、构建测试系统:首先在散装式反应杯自动排序装置1的滑槽2出口处安装用于清除反应杯的击打电磁铁3,可编程逻辑控制器输出控制接口经继电器电流转换并通过端子台进行信号分配后与击打电磁铁3和提升电机4的输入控制端相连接;设置在滑槽2侧壁上的报警光电传感器5和计数光电传感器6的信号输出端通过端子台进行信号分配后与可编程逻辑控制器的信号输入接口相连接,可编程逻辑控制器通过RS232接口与触控屏通信连接。整个测试系统由电源适配器将220V电压转化为24V电压后通过电源分配器向各个用电部件供电;

第二步、测试系统供电后,点击触控屏开始测试,被检散装式反应杯自动排序装置的提升电机4带动反应杯提升输送模块7开始运动,可编程逻辑控制器内部计时器开始计时,反应杯容器8内的反应杯被反应杯提升输送模块7输送至滑槽2内,第一个反应杯顺着滑槽2滑落至出口位置后被反应杯挡块9阻挡,后续被反应杯提升输送模块7输送的反应杯沿着滑槽2依次排列;

第三步、报警光电传感器5和计数光电传感器6对滑槽2内的反应杯状态进行实时监测;当报警光电传感器5被滑槽2内的反应杯遮挡时间≥1s时证明滑槽2中已经出现堵塞,报警光电传感器5向所述可编程逻辑控制器发出信号,触控屏的蜂鸣器与界面上的红灯报警;计数光电传感器6对滑槽2内的反应杯计数并向可编程逻辑控制器发送反应杯计数信号当计数光电传感器6持续触发时间T<0.1s时,说明反应杯只是通过计数光电传感器6,可编程逻辑控制器的计数器指令加1;当计数光电传感器6持续触发时间T≥0.1s时,证明滑槽2内已经排列了设定数量的反应杯,此时可编程逻辑控制器不执行计数,同时,可编程逻辑控制器指挥击打电磁铁3启动0.05s击打一次反应杯,将滑槽2内第一个(最前面)反应杯打掉;当滑槽2内第二个反应杯补入后,可编程逻辑控制器指挥击打电磁铁3再次启动0.05s击打一次反应杯,依次重复此过程。

当击打反应杯的次数达到设定的击打次数(本实施例为300次)时停止运行,可编程逻辑控制器输出设定的击打次数所对应的运行时间,即得到被检散装式反应杯自动排序装置1的性能参数。。

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