本发明涉及一种测试方法，特别是一种用于测试手机按键的方法。
背景技术：
随着社会的进步，手机作为人们生活比不可少的通讯工具之一，被越来越广泛的进行使用，手机按键作为手机上必不可少的零部件之一，具有至关重要的作用，但是现有出厂的手机都没有对手机按键进行测试，从而导致很多不合格的产品流入市场，购买的用户在使用一段时间后，手机按键失灵，给用户造成极大不便。
技术实现要素：
有鉴于现有技术的上述缺陷，本发明的目的就是提供一种用于测试手机按键的方法，有效的避免了不合格的产品流入市场。
本发明的目的是通过这样的技术方案实现的，一种用于测试手机按键的方法，包括以下步骤：
步骤1)首先将待测试手机放置在待测试板上的凹槽中，该凹槽的深度为待测试手机厚度的三分之一；
步骤2)在待测试板上安装两个气缸，确认两个位于同一水平面上的气缸分别位于待测试手机的左右两侧；
步骤3)在两个气缸的活塞杆上套设橡胶垫，随后启动气缸，通过两个活塞杆将待测试手机进行限位，确认待测试手机上部通过两个活塞杆限位，待测试手机下部通过凹槽限位，并扳动待测试手机，确认待测试手机无晃动；
步骤4)将具有测试杆的测试装置移动至待测试手机的正上方；在测试杆与待测试手机按键的接触面套设橡胶垫；
步骤5)通过上下移动的测试杆来对待测试手机按键进行测试；
步骤6)在测试的同时对测试杆进行计数，测试杆作出一个往返运动为一次，当测试次数为一万次时，停止测试；
步骤7)对待测试手机的按键性能进行测试，确认按键性能无失灵和反应过慢等问题出现；
步骤8)如待测试手机按键性能位于正常状态，在重复步骤1)至步骤5)，对待测试手机按键进行第二次测试，测试次数为一万五千次；
步骤9)当测试次数到达一万五千次后，停止测试，对待测试手机的按键性能进行测试，确认按键性能无失灵和反应过慢等问题出现，确认按键测试为正常状态后，将手机放置到转筒中，启动转筒，该转筒的转速为每分钟40转，动时间为15分钟；
步骤10)停止转筒的转动，将待测试手机取出进行按键性能测试，确认检测结果正常后，进行步骤11)；
步骤11)重复步骤1)至步骤5)，对待测试手机按键进行第三次测试，测试次数为二万次；
步骤12)将待测试手机取出进行按键性能测试，完成整个测试步骤。
进一步，所述步骤1)中，在凹槽的内壁和底部均设置橡胶垫。
进一步，所述步骤2)中，两个气缸可拆卸的设置在测试板上。
进一步，所述步骤4)中，测试杆的个数与案件个数相同，各测试杆与案件一一对应。
进一步，所述步骤6)中，通过计数器来记录检测次数。
进一步，所述步骤8)中，第一次测试时，测试杆的测试速度均匀相同，步骤8)中，第二次测试次数三个为一组，每组第一次测试杆的往返运动时间为一秒，第二次和第三次的测试时间合为一秒；步骤11)中，第三次测试次数两个个为一组，每组第一组测试杆的往返运动时间为一秒，每相邻的两组间隔时间为一秒。
由于采用了上述技术方案，本发明具有如下的优点：在手机出厂之前，通过本发明的方法对手机按键进行检测，有效的避免了不合格的手机流入市场中。
本发明的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本发明的实践中得到教导。本发明的目标和其他优点可以通过下面的说明书和权利要求书来实现和获得。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明作进一步说明。
实施例1：
一种用于测试手机按键的方法，包括以下步骤：
步骤1)首先将待测试手机放置在待测试板上的凹槽中，该凹槽的深度为待测试手机厚度的三分之一；
步骤2)在待测试板上安装两个气缸，确认两个位于同一水平面上的气缸分别位于待测试手机的左右两侧；
步骤3)在两个气缸的活塞杆上套设橡胶垫，随后启动气缸，通过两个活塞杆将待测试手机进行限位，确认待测试手机上部通过两个活塞杆限位，待测试手机下部通过凹槽限位，并扳动待测试手机，确认待测试手机无晃动；
步骤4)将具有测试杆的测试装置移动至待测试手机的正上方；在测试杆与待测试手机按键的接触面套设橡胶垫；
步骤5)通过上下移动的测试杆来对待测试手机按键进行测试；
步骤6)在测试的同时对测试杆进行计数，测试杆作出一个往返运动为一次，当测试次数为一万次时，停止测试；
步骤7)对待测试手机的按键性能进行测试，确认按键性能无失灵和反应过慢等问题出现；
步骤8)如待测试手机按键性能位于正常状态，在重复步骤1)至步骤5)，对待测试手机按键进行第二次测试，测试次数为一万五千次；
步骤9)当测试次数到达一万五千次后，停止测试，对待测试手机的按键性能进行测试，确认按键性能无失灵和反应过慢等问题出现，确认按键测试为正常状态后，将手机放置到转筒中，启动转筒，该转筒的转速为每分钟40转，动时间为15分钟；
步骤10)停止转筒的转动，将待测试手机取出进行按键性能测试，确认检测结果正常后，进行步骤11)；
步骤11)重复步骤1)至步骤5)，对待测试手机按键进行第三次测试，测试次数为二万次；
步骤12)将待测试手机取出进行按键性能测试，完成整个测试步骤。
实施例2
一种用于测试手机按键的方法，包括以下步骤：
步骤1)首先将待测试手机放置在待测试板上的凹槽中，该凹槽的深度为待测试手机厚度的三分之一，在凹槽的内壁和底部均设置橡胶垫。
步骤2)在待测试板上安装两个气缸，确认两个位于同一水平面上的气缸分别位于待测试手机的左右两侧；两个气缸可拆卸的设置在测试板上。
步骤3)在两个气缸的活塞杆上套设橡胶垫，随后启动气缸，通过两个活塞杆将待测试手机进行限位，确认待测试手机上部通过两个活塞杆限位，待测试手机下部通过凹槽限位，并扳动待测试手机，确认待测试手机无晃动；
步骤4)将具有测试杆的测试装置移动至待测试手机的正上方；在测试杆与待测试手机按键的接触面套设橡胶垫；测试杆的个数与案件个数相同，各测试杆与案件一一对应。
步骤5)通过上下移动的测试杆来对待测试手机按键进行测试；
步骤6)在测试的同时对测试杆进行计数，测试杆作出一个往返运动为一次，当测试次数为一万次时，停止测试；通过计数器来记录检测次数。
步骤7)对待测试手机的按键性能进行测试，确认按键性能无失灵和反应过慢等问题出现；
步骤8)如待测试手机按键性能位于正常状态，在重复步骤1)至步骤5)，对待测试手机按键进行第二次测试，测试次数为一万五千次；
步骤9)当测试次数到达一万五千次后，停止测试，对待测试手机的按键性能进行测试，确认按键性能无失灵和反应过慢等问题出现，确认按键测试为正常状态后，将手机放置到转筒中，启动转筒，该转筒的转速为每分钟40转，动时间为15分钟；
步骤10)停止转筒的转动，将待测试手机取出进行按键性能测试，确认检测结果正常后，进行步骤11)；
步骤11)重复步骤1)至步骤5)，对待测试手机按键进行第三次测试，测试次数为二万次；
步骤12)将待测试手机取出进行按键性能测试，完成整个测试步骤。
实施例3
一种用于测试手机按键的方法，包括以下步骤：
步骤1)首先将待测试手机放置在待测试板上的凹槽中，该凹槽的深度为待测试手机厚度的三分之一，在凹槽的内壁和底部均设置橡胶垫。
步骤2)在待测试板上安装两个气缸，确认两个位于同一水平面上的气缸分别位于待测试手机的左右两侧；两个气缸可拆卸的设置在测试板上。
步骤3)在两个气缸的活塞杆上套设橡胶垫，随后启动气缸，通过两个活塞杆将待测试手机进行限位，确认待测试手机上部通过两个活塞杆限位，待测试手机下部通过凹槽限位，并扳动待测试手机，确认待测试手机无晃动；
步骤4)将具有测试杆的测试装置移动至待测试手机的正上方；在测试杆与待测试手机按键的接触面套设橡胶垫；测试杆的个数与案件个数相同，各测试杆与案件一一对应。
步骤5)通过上下移动的测试杆来对待测试手机按键进行测试；
步骤6)在测试的同时对测试杆进行计数，测试杆作出一个往返运动为一次，当测试次数为一万次时，停止测试；通过计数器来记录检测次数。
步骤7)对待测试手机的按键性能进行测试，确认按键性能无失灵和反应过慢等问题出现；
步骤8)如待测试手机按键性能位于正常状态，在重复步骤1)至步骤5)，对待测试手机按键进行第二次测试，测试次数为一万五千次；
步骤9)当测试次数到达一万五千次后，停止测试，对待测试手机的按键性能进行测试，确认按键性能无失灵和反应过慢等问题出现，确认按键测试为正常状态后，将手机放置到转筒中，启动转筒，该转筒的转速为每分钟40转，动时间为15分钟；
步骤10)停止转筒的转动，将待测试手机取出进行按键性能测试，确认检测结果正常后，进行步骤11)；
步骤11)重复步骤1)至步骤5)，对待测试手机按键进行第三次测试，测试次数为二万次；
步骤12)将待测试手机取出进行按键性能测试，完成整个测试步骤。
本实施例中，第一次测试时，测试杆的测试速度均匀相同，步骤8)中，第二次测试次数三个为一组，每组第一次测试杆的往返运动时间为一秒，第二次和第三次的测试时间合为一秒；步骤11)中，第三次测试次数两个个为一组，每组第一组测试杆的往返运动时间为一秒，每相邻的两组间隔时间为一秒。
本发明中，实施例3为最佳实施例。
最后说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本技术方案的宗旨和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。