一种多光程腔、检测装置及检测方法与流程

本发明涉及雷达质量检测校对技术领域，尤其涉及一种多光程腔、检测装置及检测方法。

背景技术：

目前，量程较长的测距雷达(量程可达数十至上百米)的测试，主要是在室内或室外寻找相应的长距离测试场地，其主要缺点有二：1、每次需要寻找占地面积较大的空旷场地进行，增加了测试所需的时间、精力；2、对于不同的产品批次，较大面积的测试空间的测试条件很难保证一致，不便于对测距雷达进行标准化的测试与评价；3、很难控制日照、气温、水雾等环境条件，非常不利于工业化生产；4、无法模拟与室外环境相差较大的测试条件。

技术实现要素：

本发明的目的在于提出一种多光程腔，通过环形球面镜和入射孔以及入射角度的配合，使得入射光线在多光程腔内呈正多角星形且沿原入射孔射出，在减小占用测试场地的前提下，模拟出待测光学测距装置发出发射光线射向测试目标且接收反射后的发射光线的测试环境。

本发明的目的在于提出一种检测装置，其通过多光程腔及驱动装置实现在较小测试空间内，对待测光学测距装置进行长距离的检测，操作方便，测试准确。

本发明的目的在于提出一种检测方法，通过驱动装置调整待测光学测距装置的测试光线入射角度，实现测试光线在多光程腔内进行的不同长距测量，既减小了测试的空间又降低了测试的难度。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种多光程腔，包括：将入射的光线经多次反射后自入射孔射出的环形镜组，所述环形镜组包括一个或两个环形球面镜，所述入射孔开设在环形镜组的其中一个环形球面镜上，所述环形球面镜的反射面位于其内侧壁上。

作为本技术方案的优选方案之一，所述多光程腔包括一个环形球面镜，所述环形球面镜沿入射孔所在的水平面上下对称，入射孔与其所在环形球面镜的球心的连线为入射半径r，则入射光线与入射半径的夹角为入射角θ，入射光线在多光程腔内的光线轨迹为正p角星形时，入射光线在多光程腔内的光程长l1＝(4k+3)*2rcosθ，其中p＝4k+3，p为入射光线在多光程腔内所呈正多角星形光线轨迹的边数，θ＝π/(8k+6)。

作为本技术方案的优选方案之一，所述多光程腔包括两个上下叠加对称设置的环形球面镜，所述入射孔位于其中任意一个环形球面镜上，光线自入射孔射入后在两个所述环形球面镜内及两个所述环形球面镜之间分别形成俯视图为正p角星形的光线轨迹；

入射孔与其所在环形球面镜的球心的连线为入射半径，则入射光线与入射半径的夹角为入射角θ，且θ＝π/(8k+6)，入射光线在多光程腔内的光程长l2＝3*(4k+3)*2rcosθ，p＝4k+3，其中k为大于等于1的正整数。

作为本技术方案的优选方案之一，两个所述环形球面镜的球心对称分布在入射光线于两个所述环形球面镜内所形成的两个反射光斑层之间。

作为本技术方案的优选方案之一，所述环形球面镜的高度为h，所述环形球面镜的球心的高度h2＝3h/4，所述入射孔的高度h1＝h/2，两个所述环形球面镜的球心的距离c为h/2。

作为本技术方案的优选方案之一，入射光线自入射孔射入对应的环形球面镜后，在多光程腔内的每一条反射线的中点为所述环形球面镜的焦点，所述环形球面镜的焦距为f＝r*cosθ。

作为本技术方案的优选方案之一，入射光线自入射孔入射后在两个所述环形球面镜内所形成的两个反射光斑层之间的间距为c，0＜c/r≤1/60。

作为本技术方案的优选方案之一，所述入射孔的前方设置有用于会聚入射光线的聚焦光学元件，入射光线经所述聚焦光学元件自入射孔射入对应的环形球面镜，入射光线在前述环形球面镜内的切线的中点为所述聚焦光学元件的焦点。

作为本技术方案的优选方案之一，所述聚焦光学元件为聚焦透镜或聚焦反射镜，所述聚焦透镜的光轴与入射光线重合。

作为本技术方案的优选方案之一，所述环形球面镜的内半径为r，外半径为r’,入射光线的光束半径为r，则入射孔的直径a＞2r+(r’-r)*sinθ。

一种光学检测装置，包括所述多光程腔，以及与多光程腔或待测光学测距装置相连接的驱动装置，所述驱动装置驱动多光程腔或待测光学测距装置转动以改变入射角，所述待测光学测距装置以每一个设定的入射角作为检测点位，对应每个检测点位记录待测光学测距装置所发出的入射光线经过多光程腔后的测量距离并与入射光线的真实距离比对。

作为本技术方案的优选方案之一，所述待测光学测距装置的入射光路上和/或接收光路上设置有衰减片。

作为本技术方案的优选方案之一，所述待测光学测距装置包括用于发射测量光线的发射光源和用于接收从多光程腔出射的出射光线的接收探测器，所述发射光源和接收探测器的距离为d，所述入射光线与发射光源和接收探测器的连线垂直，所述聚焦透镜的中心与待测测距装置的发射光源的距离为s1，所述聚焦透镜的中心与入射孔的距离为s2，所述出射光线从入射孔射出到探测器的距离为s3，所述s2＝f-rcosθ，所述s1＝(rcosθcos(2θ)+s2)*m/(rcosθsin(2θ))，s3＝d/arctan(d/(s1+s2)),当多光程腔包括一个环形球面镜时，则入射光线的真实距离a＝s1+s2+s3+l1。

作为本技术方案的优选方案之一，所述待测光学测距装置包括用于发射入射光线的发射光源和用于接收从多光程腔出射的出射光线的接收探测器，所述入射光线与发射光源和接收探测器的连线垂直，所述发射光源和接收探测器的距离为d，所述待测测距装置的发射光源与聚焦反射镜的反射点的距离为s1，所述聚焦反射镜的反射点与入射孔的距离为s2，所述出射光线从入射孔射出到探测器的距离为s3，所述s2＝f-rcosθ，所述s1＝(rcosθcos(2θ)+s2)*m/(rcosθsin(2θ))，s3＝d/arctan(d/(s1+s2)),当光程腔包括两个环形球面镜时，则入射光线的真实距离a＝s1+s2+s3+l2。

一种检测方法，采用所述的检测装置对待测光学测距装置进行检测，具体步骤如下：

步骤一、通过驱动装置调整待测光学测距装置或多光程腔的位置，以设定不同角度的入射角作为检测点位；

步骤二、待测光学测距装置在每一个设定的检测点位发出入射光线进行测距，并输出与每一个检测点位相对应的测量距离或测量光强；

步骤三、对每一个检测点位的测量距离和真实距离或者测量光强和真实距离进行比对，以判定待测光学测距装置是否合格。

作为本技术方案的优选方案之一，还包括步骤四：根据每一个检测点位的测量距离和真实距离或者测量光强和真实距离进行比对的结果对待测光学测距装置进行修正和补偿。

有益效果：通过环形镜组和入射孔以及入射角的配合，使得入射光线在多光程腔内呈正多角星形且沿原入射孔射出，在减小占用测试场地的前提下，模拟出待测光学测距装置发出发射光线射向测试目标且接收反射后的发射光线的测试环境，进一步的控制测试的光线、温度等参数，使得测试数据更为准确可靠。

附图说明

图1是本发明具体实施方式1提供的多光程腔的俯视图；

图2是本发明具体实施方式1提供的多光程腔的正视图；

图3是本发明具体实施方式2提供的多光程腔的结构图；

图4是本发明具体实施方式2提供的多光程腔的环形球面镜的俯视图：

图5是本发明具体实施方式2提供的多光程腔的环形球面镜的正视图：

图6是本发明具体实施方式2提供的入射光线在多光程腔内的光线轨迹的示意图；

图7是本发明具体实施方式1提供的以聚焦透镜作为聚焦光学元件检测装置的结构图；

图8是本发明具体实施方式1提供的以聚焦反射镜作为聚焦光学元件检测装置的结构图；

图9是本发明具体实施方式2提供的以聚焦透镜作为聚焦光学元件检测装置的结构图；

图10是本发明具体实施方式2提供的以聚焦反射镜作为聚焦光学元件检测装置的结构图。

1、环形球面镜；2、入射孔；4、衰减片；11、入射孔；12、球心；21、发射光源；22、探测器；31、聚焦透镜；32、聚焦反射镜。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。

实施例1

本发明提供了一种多光程腔，如图1-2所示，包括：将入射光线经多次反射后自入射孔11射出的环形镜组，所述环形镜组包括一个环形球面镜1，所述入射孔11开设在环形球面镜1上，所述环形球面镜1沿入射孔11所在的水平面上下对称，所述环形球面镜1的反射面位于其内侧壁上，所述入射孔11与其所在环形球面镜1的球心12的连线为入射半径r，则入射光线与入射半径的夹角为入射角θ，入射光线在多光程腔内的光线轨迹为正p角星形，入射光线在多光程腔内的光程长l1＝(4k+3)*2rcosθ，其中p＝4k+3，p为入射光线在多光程腔内所呈正多角星形光线轨迹的边数，θ＝π/(8k+6)，其中k为大于等于1的正整数。通过环形球面镜1和入射孔11以及入射角度的配合，使得入射光线在多光程腔内光线轨迹呈正多角星形且沿原入射孔11射出，在减小占用测试场地的前提下，模拟出待测测距装置发出发射光线射向测试目标且接收反射后的发射光线的测试环境，进一步的控制测试环境的光照、温度等参数，使得测试数据更为准确可靠。

为了保证入射光线在射入环形球面镜1后每一次的反射都重新聚焦后再反射，保证反射光线的光强，所述环形球面镜1的焦距为f＝r*cosθ，这就使得入射光线在多光程腔内的每一条反射线的中点为所述环形球面镜1的焦点，达到了入射光线在多光程腔内每一次反射都重新聚焦，入射光线在环形球面镜1内循环发生反射、聚焦、反射，直至从入射孔11射出。

具体实施时，可以根据对多光程腔所设定的光程取值范围确定入射角θ的取值范围，并根据入射角θ的取值范围取中值以确定所述环形球面镜1的焦距为f＝r*cosθ的数值；或者也可根据入射角θ的取值范围中指定某一个或几个最常用的数值或均值带入环形球面镜1的焦距为f＝r*cosθ的计算公式，得出环形球面镜1的取值。

以入射角θ的取值范围小于等于π/14、大于0为例，cosθ的取值范围是大于等于0.97437，小于1；也就是随着θ的角度不断的变小，cosθ的取值无限趋近于1，也就是环形球面镜1的焦距无限趋近于r，而在测试时，为了得到较长的光程，θ的取值就要取值越小越好，因此在制作时，将环形球面镜1的焦距设定为r，以使得入射光线在环形球面镜1内的每一次反射线的中点无限趋近于环形球面镜1的焦点。

为了将每一次入射的入射光线会聚起来，防止其在环形球面镜1内经多次反射后发散，所述入射孔11的前方设置有用于会聚入射光线并改变出射光线角度的聚焦光学元件，入射光线经所述聚焦光学元件自入射孔11射入对应的环形球面镜1，入射光线在前述环形球面镜1内的切线的中点为所述聚焦光学元件的焦点。所述聚焦光学元件为聚焦透镜31或聚焦反射镜32，所述聚焦透镜31的光轴与入射光线重合。

所述环形球面镜1具有一定的厚度，为了保证入射光线顺利自入射孔11射入环形球面镜1，所述环形球面镜1的内半径为r，所述环形球面镜1的外半径为r’,入射光线的光束半径为r，则入射孔11的直径a＞2r+(r’-r)*sinθ，根据入射角的范围和环形球面镜1的内半径和外半径的尺寸确定入射孔11的孔径，使得在设定或理论上的入射角范围内的入射光线均可射入多光程腔中，保证了测试数据的准确性。

本发明还提供了一种光学检测装置，如图7-8所示，包括所述多光程腔，以及与多光程腔或待测光学测距装置2相连接的驱动装置，所述驱动装置驱动多光程腔或待测光学测距装置2转动以改变入射角，所述待测光学测距装置2以每一个设定的入射角作为检测点位，对应每个检测点位记录待测光学测距装置2所发出的入射光线经过多光程腔后的测量距离并与入射光线的真实距离比对。

为了保证多光程腔的稳定性，防止驱动装置转动的微小误差影响入射光线的光程，所述驱动装置连接在所述待测光学测距装置2上，所述驱动装置根据设定的检测点位调整入射角θ的数值，由待测光学测距装置2在每个检测点位进行测量并输出每个检测点位的测量距离或测量光强，并与每个检测点位所对应的真实距离进行比对，以确定待测光学测距装置2的测量精准度并判断其是否合格。

为了进一步模拟实测环境中因为天气、环境等因素所造成的入射光线的光强衰减的场景，所述入射光线在入射光路和接收光路上通过衰减片4进行衰减。所述衰减片4设置在待测光学测距装置2和聚焦光学元件之间。优选的，所述衰减片4的衰减量可调。

所述待测光学测距装置2包括用于发射入射光线的发射光源21和用于接收从多光程腔出射的出射光线的接收探测器22，所述发射光源21和接收探测器22的距离为d，且所述入射光线与发射光源21和接收探测器22的连线垂直，当所述聚焦光学元件为聚焦透镜31时，如图7所示，所述聚焦透镜31的中心与待测光学测距装置2的发射光源21的距离为s1，所述聚焦透镜31的中心与入射孔11的距离为s2，所述出射光线从入射孔11射出到探测器22的距离为s3，所述聚焦透镜31的焦距为f；所述s2＝f-rcosθ，所述s1＝(rcosθcos(2θ)+s2)*m/(rcosθsin(2θ))，s3＝d/arctan(d/(s1+s2)),入射光线的真实距离a＝s1+s2+s3+l1。

如图8所示，当所述聚焦光学元件为聚焦反射镜32时，所述待测光学测距装置2的发射光源21与聚焦反射镜32的反射点的距离为s1，所述聚焦反射镜32的反射点与入射孔11的距离为s2，所述出射光线从入射孔11射出到探测器22的距离为s3，所述聚焦反射镜32的焦距为f；所述s2＝f-rcosθ，所述s1＝(rcosθcos(2θ)+s2)*d/(rcosθsin(2θ))，s3＝d/arctan(d/(s1+s2)),入射光线的真实距离a＝s1+s2+s3+l1。

本发明还提供了一种检测方法，采用所述的检测装置对待测光学测距装置2进行检测，具体步骤如下：

步骤一、通过驱动装置调整待测光学测距装置2的位置，以设定的不同角度的入射角作为检测点位；

步骤二、待测光学测距装置2在每一个设定的检测点位发出入射光线进行测距，并输出每一个检测点位的测量距离或测量光强；

步骤三、对每一个检测点位的测量距离和真实距离或者测量光强和真实距离进行比对，以判定待测光学测距装置2是否合格。

步骤四、根据每一个检测点位的测量距离和真实距离或者测量光强和真实距离进行比对的结果对待测光学测距装置2进行修正和补偿。

实施例2

与实施例1不同的是，如图3所示，所述环形镜组包括上下叠加对称设置的两个环形球面镜1，所述入射孔11位于其中任一个环形球面镜1上，入射光线自入射孔11射入后在两个所述环形球面镜1内及两个所述环形球面镜1之间反射形成俯视图为正p角星形的光线轨迹，入射孔11与其所在环形球面镜1的球心12的连线为入射半径r，则入射光线与入射半径的夹角为入射角θ，入射光线在多光程腔内的光程长l2＝3*(4k+3)*2rcosθ。其中p＝4k+3，p为入射光线在多光程腔内光线轨迹所呈俯视图为正多角星形的边数，k为大于等于1的正整数，θ＝π/(8k+6)。相对于实施例1中一个环形球面镜1的结构，两个环形球面镜1的结构进一步的增加了入射光线在环形球面镜1之间的反射次数，成倍提高了入射光线在多光程腔内的光程。

以入射光线在所述多光程腔内的光线轨迹所呈俯视图为正15角星形的示意图，如图6所示，在下层环形球面镜1内的反射编号为an，在上层环形球面镜1内的反射点的编号为bn，以入射孔11设置在下层环形球面镜1为例，入射光线自入射孔11入射后，在下层环形球面镜1上共有15个反射点，分别是a1-a15。在a1点发生第45次反射，在a2点发生第17次和第32次反射，在a3点发生第4次反射，在a4点发生第21次和第36次反射，在a5点发生第8次反射，在a6点发生第25次反射和第40次反射，在a7点发生第12次反射，在a8点发生第29次和第44次反射，在a9点发生第1次反射和第16次反射，在a10点发生第33次反射，在a11点发生第5次反射和第20次反射，在a12点发生第37次反射，在a13点发生第9次反射和第24次反射，在a14点发生第41次反射，在a15点发生第13次反射和第28次反射。

入射光线在上层的环形球面镜1上有15个反射点，分别是b1-b15。在b1点发生第15次反射和第30次反射，在b2点发生第2次反射，在b3点发生第19次和第34次反射，在b4点发生第6次反射，在b5点发生第23次和第38次反射，在b6点发生第10次反射，在b7点发生第27次和第42次反射，在b8点发生第14次反射，在b9点发生第31次反射，在b10点发生第3次和第18次反射，在b11点发生第35次反射，在b12点发生第7次和第22次反射，在b13点发生第39次反射，在b14点发生第11次和第26次反射，在b15点发生第43次反射。

为了保证入射光线在两个环形球面镜1之间反射，两个所述环形球面镜1的球心12对称分布在入射光线于两个所述环形球面镜1内所形成的两个反射光斑层之间。

为了保证入射光线在射入环形球面镜1后每一次的反射都重新聚焦后再反射，保证反射光线的光强，环形球面镜1的结构满足上述要求时，所述环形球面镜1的焦距f＝r*cosθ，当正多边星形的边数越多，则入射角θ的角度越小，r*cosθ越趋近于r，则入射光线在环形球面镜1内的每一次反射呈无限贴近环形球面镜1的球心12，保证了光线在环形球面镜1内的凝聚，使得入射光线在环形球面镜1内按照设定的光学路径反射，不散射不漫射，降低了测试中出现的杂散光噪音的几率。

具体实施时，可以根据对多光程腔所设定的光程取值范围确定入射角θ的取值范围，并根据入射角θ的取值范围取中值以确定所述环形球面镜1的焦距为f＝r*cosθ的数值；或者也可根据入射角θ的取值范围中指定某一个或几个最常用的数值或均值带入环形球面镜1的焦距为f＝r*cosθ的计算公式，得出环形球面镜1的取值。

以入射角θ的取值范围小于等于π/14、大于0为例，cosθ的取值范围是大于等于0.97437，小于1；也就是随着θ的角度不断的变小，cosθ的取值无限趋近于1，也就是环形球面镜1的焦距无限趋近于r，而在测试时，为了得到较长的光程，θ的取值就要取值越小越好，因此在制作时，将环形球面镜1的焦距设定为r，以使得入射光线在环形球面镜1内的每一次反射线的中点无限趋近于环形球面镜1的焦点。

优选的，如图4-5所示，所述环形球面镜1的高度为h，以设置在下层的环形球面镜1为例，所述环形球面镜1的球心12的高度为h2，所述h2等于3h/4，也就是所述球心12位于环形球面镜1高度的h/4处，两个所述环形球面镜1的球心12的距离c为h/2。入射孔11的高度为h1，所述h1等于h/2，也就是入射孔11位于环形球面镜1的1/2处。球心12处于环形球面镜1高度的h/4处，入射孔11位于环形球面镜1的h/2处，球心12和入射孔11之间的高度差，保证了入射光线在θ角的取值最大时，依然可以在两个环形球面镜1之间按照设定路径紧贴球心12多次反射。

入射光线自入射孔11入射后在两个所述环形球面镜1内所形成的两个反射光斑层之间的间距为c，理论上，c＜＜r时，完全满足了入射光线在环形球面镜1内的反射的聚焦点近似等于环形球面镜1的焦点的设置。在具体的测试过程中，0＜c/r≤1/60，当c满足上述条件时，入射光线在环形球面镜1内的反射的聚焦点贴近于环形球面镜1的焦点，保证了入射光线在环形球面镜1内的每一次反射都能于接近于球心12的位置聚焦。

为了保证入射光线的准直性，并保证入射光线在入射孔11处会聚，所述入射孔11的前方设置有用于会聚入射光线并改变出射光线角度的聚焦光学元件，入射光线经所述聚焦光学元件自入射孔11射入对应的环形球面镜，入射光线在前述环形球面镜内的切线的中点为所述聚焦光学元件的焦点。

优选的，所述聚焦光学元件为聚焦透镜31或聚焦反射镜32，所述聚焦透镜31的光轴与入射光线重合。

因为环形球面镜1具有一定的厚度，为了保证入射光线顺利自入射孔11射入环形球面镜1，所述环形球面镜1的内半径为r，所述环形球面镜1的外半径为r’,入射光线的光束半径为r，则入射孔11的直径a＞2r+(r’-r)*sinθ。

本发明还提供了一种光学检测装置，如图9-10所示，包括所述多光程腔，以及与多光程腔或待测光学测距装置2相连接的驱动装置，所述驱动装置驱动多光程腔或待测光学测距装置2转动以改变入射角，所述待测光学测距装置2以每一个设定的入射角作为检测点位，对应每个检测点位记录待测光学测距装置2所发出的入射光线经过多光程腔后的测量距离并与入射光线的真实距离比对。

为了保证多光程腔的稳定性，防止驱动装置转动的微小误差影响入射光线的光程，所述驱动装置连接在所述待测光学测距装置2上，所述驱动装置根据设定的检测点位调整入射角θ的数值，由待测光学测距装置2在每个检测点位进行测量并输出每个检测点位的测量距离或测量光强，并与每个检测点位所对应的真实距离进行比对，以确定待测光学测距装置2的测量精准度并判断其是否合格。

为了进一步模拟实测环境中因为天气、环境等因素所造成的入射光线的光强衰减的场景，所述入射光线在入射光路和接收光路上通过衰减片4进行衰减。所述衰减片4设置在待测光学测距装置2和聚焦光学元件之间。优选的，所述衰减片4的衰减量可调。

所述待测光学测距装置2包括用于发射入射光线的发射光源21和用于接收从多光程腔出射的出射光线的接收探测器22，所述发射光源21和接收探测器22的距离为d，当所述聚焦光学元件为聚焦透镜31时，如图9所示，所述聚焦透镜31的中心与待测光学测距装置2的发射光源21的距离为s1，所述聚焦透镜31的中心与入射孔11的距离为s2，所述出射光线从入射孔11射出到探测器22的距离为s3，所述聚焦透镜31的焦距为f；所述s2＝f-rcosθ，所述s1＝(rcosθcos(2θ)+s2)*m/(rcosθsin(2θ))，s3＝d/arctan(d/(s1+s2)),入射光线的真实距离a＝s1+s2+s3+l2。

当所述聚焦光学元件为聚焦反射镜32时，如图10所示，所述待测测距装置的发射光源21与聚焦反射镜32的反射点的距离为s1，所述聚焦反射镜32的反射点与入射孔11的距离为s2，所述出射光线从入射孔11射出到探测器22的距离为s3，所述聚焦反射镜32的焦距为f；所述s2＝f-rcosθ，所述s1＝(rcosθcos(2θ)+s2)*d/(rcosθsin(2θ))，s3＝d/arctan(d/(s1+s2))，入射光线的真实距离a＝s1+s2+s3+l2。

本发明还提供了一种检测方法，采用所述的检测装置对待测光学测距装置2进行检测，具体步骤如下：

步骤一、通过驱动装置调整待测光学测距装置2的位置，以设定的不同角度的入射角作为检测点位；

步骤二、待测光学测距装置2在每一个设定的检测点位发出入射光线进行测距，并输出每一个检测点位的测量距离或测量光强；

步骤三、对每一个检测点位的测量距离和真实距离或者测量光强和真实距离进行比对，以判定待测光学测距装置2是否合格。

步骤四、根据每一个检测点位的测量距离和真实距离或者测量光强和真实距离进行比对的结果对待测光学测距装置2进行修正和补偿。

最后应当说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其限制，尽管参照上述实施例对本发明进行了详细的说明，所属领域的普通技术人员依然可以对本发明的具体实施方式进行修改或者等同替换，这些未脱离本发明精神和范围的任何修改或者等同替换，均在申请待批的本发明的权利要求保护范围之内。