机械键盘开关寿命测试仪的制作方法

文档序号:11195538阅读:457来源:国知局
机械键盘开关寿命测试仪的制造方法与工艺

本实用新型属于电脑配件技术领域,特别涉及机械键盘寿命测试机。



背景技术:

机械键盘通过机械开关的关合进行工作,机械键盘的使用取决于键盘开关的性能及寿命,现有技术的机械键盘开关寿命测试仪,测试速度慢,一秒钟测试3-4次,耗时较长,测试成本高。



技术实现要素:

基于此,针对现有技术,本实用新型的所要解决的技术问题就是提供一种测试速度快、成本低的机械键盘开关寿命测试仪。

本实用新型的技术方案为:

一种机械键盘开关寿命测试仪,包括底座、支架、连接机构、击打测试机构和工作台,所述底座为长轴截面为直角梯形的长框座,所述支架竖直地安装固定在所述底座的后部中间,所述连接机构固定在所述支架上,所述击打测试机构安装在所述连接机构上,所述工作台为待测机械键盘开关测试台,所述击打测试机构对所述待测机械键盘开关的按键进行连续击打测试其寿命。

在其中一个实施例中,所述支架后面设有方向垂直的三角形的支架稳固块。

在其中一个实施例中,所述连接机构包括连接座和连接板,所述连接座固定在所述支架的铅直面上,连接板固定在两所述连接座上。

在其中一个实施例中,所述击打测试机构包括电机、支撑架和蜗杆传动打击头,所述支撑架为架设在所述连接板两侧的竖直支撑板,所述蜗杆传动打击头设在两所述支撑架之间,所述支撑架上设有蜗杆转动轴孔,所述电机安装在一所述支撑架的外侧,并与所述蜗杆传动打击头的蜗杆传动连接,所述电机带动所述蜗杆传动打击头的上下运动。

相对现有技术,本实用新型的机械键盘开关寿命测试仪,通过电机带动蜗杆传动打击头对键盘开关进行连续快速击打测试其寿命,一分钟能击打50-60次左右,相对现有技术,提高了15倍左右的效率,测试仪结构简约,测试成本低。

附图说明

图1为本实用新型的机械键盘开关寿命测试仪结构爆炸图。

图中,10--底座;20--支架;21--支架稳固块;30--连接机构;31--连接座;32--连接板;40--击打测试机构;41--电机;42--支撑架;43--蜗杆传动打击头;50--工作台。

具体实施方式

下面参考附图并结合实施例对本实用新型进行详细说明。需要说明的是,在不冲突的情况下,以下各实施例及实施例中的特征可以相互组合。

图1给出了本实用新型的机械键盘开关寿命测试仪结构爆炸图,由图可知,该机械键盘开关寿命测试仪,包括底座10、支架20、连接机构30、击打测试机构40和工作台50,底座10为长轴截面为直角梯形的长框座,支架20竖直地安装固定在底座10的后部中间,连接机构30固定在支架20上,击打测试机构40安装在连接机构30上,工作台50为待测机械键盘开关测试台,击打测试机构40对待测机械键盘开关的按键进行连续击打测试其寿命。支架20后面设有方向垂直的三角形的支架稳固块21。连接机构30包括连接座31和连接板32,连接座31固定在支架20的铅直面上,连接板32固定在两连接座31上。击打测试机构40包括电机41、支撑架42和蜗杆传动打击头43,支撑架42为架设在连接板32两侧的竖直支撑板,蜗杆传动打击头43设在两支撑架42之间,支撑架42上设有蜗杆转动轴孔,电机41安装在一支撑架42的外侧,并与蜗杆传动打击头43的蜗杆传动连接,电机41带动蜗杆传动打击头43的上下运动。

从上面可知,本实用新型的机械键盘开关寿命测试仪,通过电机带动蜗杆传动打击头对键盘开关进行连续快速击打测试其寿命,一分钟能击打50-60次左右,相对现有技术,提高了15倍左右的效率,测试仪结构简约,测试成本低。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

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