TR组件测试连接器的制作方法

本实用新型涉及TR组件测试设备领域，特别是涉及一种TR组件测试连接器。

背景技术：

相控阵雷达的天线阵面由大量的微波元器件组成，如TR组件、天线和馈线等，TR组件是相控阵天线实现信号发射和回波接收的核心部件。在相控阵天线的研制和生产过程中，TR组件数量大、测试指标多、待处理数据复杂，TR组件的测试方法和速度，直接决定相控阵雷达的研制周期、进度以及生产成本。采用自动TR组件测试系统，实现TR组件性能的快速测试和指标准确标定具有重大意义。

在TR组件的研发、生产过程中需要进行大量复杂且精密的参数测试。目前在TR组件测试过程中，TR组件与测试系统的连接复杂而繁琐，不同测试人员的操作会引入不同的误差，对测试结果的准确性存在重大影响。测试TR组件即需要连接一次测试系统，且每次测试只能对一种TR组件进行测试，测试效率低，测量精度低。

因此亟需提供一种新型的TR组件测试连接器来解决上述问题。

技术实现要素：

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种TR组件测试连接器，能够有效提升TR组件的测试效率和测量精度。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是：提供一种TR组件测试连接器，包括前面板、后面板、内部电路板，前面板上设有若干个输出端口，每个输出端口都安装在一个可移动模块上；后面板上设有电源开关、公共端口、通信端口；

内部电路板包括若干个单刀四掷开关、单刀双掷开关、匹配负载、固定衰减器，单刀四掷开关包括第一级单刀四掷开关、第二级单刀四掷开关，固定衰减器包括第一级固定衰减器、第二级固定衰减器，公共端口依次连接第一级固定衰减器、第一级单刀四掷开关，第一级单刀四掷开关的输出端连接有四个第二级单刀四掷开关，第二级单刀四掷开关的输出端分别连接有一个单刀双掷开关的一个选通端、单刀双掷开关的另一个选通端连接匹配负载，与单刀双掷开关公共端相接的为第二级固定衰减器的一端、其另一端连接输出端口。

在本实用新型一个较佳实施例中，所述TR组件测试连接器的前面板上设有16个输出端口，每个输出端口都安装在一个可移动模块上；后面板上设有电源开关、公共端口、通信端口；

内部电路板包括5个单刀四掷开关、16个单刀双掷开关、16个50Ω匹配负载、17个固定衰减器，单刀四掷开关包括一个第一级单刀四掷开关、四个第二级单刀四掷开关，固定衰减器包括一个第一级固定衰减器、16个第二级固定衰减器，公共端口依次连接第一级固定衰减器、第一级单刀四掷开关，第一级单刀四掷开关的输出端连接有四个第二级单刀四掷开关，第二级单刀四掷开关的输出端分别连接有一个单刀双掷开关的一个选通端、单刀双掷开关的另一个选通端连接匹配负载，与单刀双掷开关公共端相接的为第二级固定衰减器的一端、其另一端连接输出端口。

进一步的，可移动模块的移动范围为左右间距1cm、上下间距0.5cm，从而能够实现多种TR组件的兼容测试。

进一步的，输出端口分为上下两排连接接口，连接接口为SMP接口，用于实现与TR组件的连接。

进一步的，公共端口为SMA接口，SMA接口与测试仪器如网络分析仪、信号源和信号分析仪等相连。

进一步的，单刀四掷开关、单刀双掷开关为程控开关，通过单片机控制，用以实现通路的选通与断开。

进一步的，通信端口包括LAN输入端口、RS232输入端口，外部输入的指令通过所述通信端口输入，用户可根据实际的接口情况进行选择。

本实用新型的有益效果是：本实用新型结构简单，通过一次连接实现最高16个TR组件多种参数的一次性测试，在提高测试效率的同时可以减少多次连接引入的人为误差，将操作人员的影响降低最低，提高了测试的精度，优化了测试的重复性；同时，可以通过可移动模块微调连接TR组件的SMP端口位置，实现不同TR组件的兼容测试。

附图说明

图1是本实用新型TR组件测试连接器一较佳实施例的前面板结构示意图；

图2是所述TR组件测试连接器一较佳实施例的后面板结构示意图；

图3是所述TR组件测试连接器的电路原理图；

图4是所述TR组件测试连接器的使用状态图；

附图中各部件的标记如下：1、SMP接口，2、可移动模块，3、SMA接口，4、LAN 输入端口，5、RS232输入端口，6、射频电缆。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。

请参阅图1和图2，本实用新型实施例包括：

一种TR组件测试连接器，包括前面板、后面板、内部电路板。结合图1，前面板上设有16个输出端口，优选的，输出端口采用SMP接口1，用于实现与TR组件的连接，SMP连接端口分为两组，呈上下两排排列，第一排为端口P1至端口P8，后一排为端口P9至端口P16，每个输出端口都安装在一个可移动模块2上，该模块可以在左右1cm以及上下0.5cm的范围内移动位置，当被测试的TR组件，空间间距不相同时，可以通过可移动模块2微调连接器的端口距离，实现多种TR组件的兼容测试。结合图2，后面板上设有电源开关、公共端口、通信端口。公共端口为SMA接口3，SMA接口3与测试仪器如网络分析仪、信号源和信号分析仪等相接。通信端口包括LAN输入端口4、RS232输入端口5，外部输入的控制指令可以通过LAN输入端口4或RS232输入端口5输入，用户可根据实际的接口情况进行选择通信端口。

请参阅图3，内部电路板包括5个单刀四掷开关、16个单刀双掷开关、16个50Ω匹配负载、17个固定衰减器，固定衰减器用于优化信号驻波比。公共端口依次连接一个第一级固定衰减器、第一级单刀四掷开关，第一级单刀四掷开关的输出端连接有四个第二级单刀四掷开关，第二级单刀四掷开关的输出端分别连接有一个单刀双掷开关的一个选通端、单刀双掷开关的另一个选通端连接50Ω匹配负载，当该通道不作为测试通道时，单刀双掷开关切换至50Ω匹配负载端，保证系统负载匹配。与单刀双掷开关公共端相接的为第二级固定衰减器的一端、其另一端连接输出端口。

所述TR组件测试连接器16个选通通路的内部连接方式相同，器件采用同一型号同一批次的产品，可以很好的保证通道的幅度一致性和相位一致性。其中，由测试连接器引起的误差可以通过参数校准来补偿。其中，单刀四掷开关、单刀双掷开关采用程控开关并通过单片机控制，用以实现通路的选通与断开，需要外部供电。

请参阅图4，在一次测试的过程中，需要使用两台测试连接器，其中测试连接器的端口1至端口16(P1～P16)分别与TR组件的射频输入和输出端口相接，根据测试TR 组件的数量可选择使用全部16个端口或其中一部分端口，测试连接器的公共端口通过射频电缆6与测试仪器相接，如采用网络分析仪提取TR组件S参数时，网络分析仪的两个端口分别连接两台测试连接器的公共端口即可。在一个TR组件的参数测试完成之后，只需通过控制程序，将两台测试连接器的选通通路切换到下一个需要测试的TR组件即可。

TR组件测试连接器的工作频段为K波段(19～25GHz)，通过开关切换的方式，仅需一次连接，即可精密地完成最多16个雷达收发单元的各项参数测试。在测试过程中，不需要重复连接TR组件与测试仪器，只需要一次连接，通过指令控制选通测试通路即可实现对多个TR组件的参数测试。当需要更改测试所需的仪器时，只需将测试连接器公共端口与仪器端口连接即可。通过一次连接，测量多个TR组件的方法，可以有效的提高TR组件的测试效率以及网络分析仪等测量仪器的利用率。在使用测试连接器对多个TR组件进行测试时，只需要一次连接并通过指令进行切换，这样可以把操作人员的影响降到最低，引入的误差也就更小，测试结果的重复性也更佳。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。