一种737大气数据计算机测试台的制作方法

本实用新型属于大气数据计算机测试领域，具体涉及一种737大气数据计算机测试台。

背景技术：

目前，国内外测试737大气数据计算机（737 Air Data Computer）的维修设备主要是HONEYWELL公司的air data system，P/N ADT-222，此设备虽能够满足测试737大气数据计算机（737 Air Data Computer），但由于其价格高，不便于人们购买和使用。

技术实现要素：

本实用新型所要解决的技术问题便是针对上述现有技术的不足，提供一种737大气数据计算机测试台，完全模拟737大气数据计算机的实际工作状态，结构简单，实用性高。

本实用新型所采用的技术方案是：一种737大气数据计算机测试台，包括测试台本体，所述测试台本体上设有测试面板，所述测试面板上分别设有离散量信号测试孔、模拟信号测试孔、单刀双掷钮子开关、双刀双掷钮子开关、波段开关、船型开关、指示灯、信号输出耳机插座、航空插座和可调电阻旋帽，所述测试台本体背面设有电源输入插孔，所述测试台内部设有固定电阻、电容器、可调电阻和变压器。

作为优选，所述离散量信号测试孔为18个，所述模拟信号测试孔为35个。

作为优选，所述单刀双掷钮子开关为19只，所述双刀双掷钮子开关为6只，所述波段开关为4只，所述船型开关为4只。

作为优选，所述指示灯为11只。

作为优选，所述航空插头为1只。

作为优选，所述可调电阻旋帽和可调电阻均为1个。

作为优选，所述电源输入插孔为10个。

作为优选，所述固定电阻为52只，所述电容器为12只，所述变压器为1只。

本实用新型的有益效果在于：

（1）本实用新型整体结构简单，成本低廉，所涉及到的电子器件均为普通的电子元器件，其制作成本及维护成本非常低廉，较现有技术相比有很大幅度的降低；

（2）本实用新型完全替代国外737空气数据计算机专用测试设备，且本实用新型的所有测试控制开关均采用手动控制，更增设了大量测试孔，使维修、测试、调整更方便快捷。

附图说明

图1为本实用新型第一电路结构示意图；

图2为本实用新型第二电路结构示意图；

图3为本实用新型第三电路结构示意图。

具体实施方式

下面将结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。

如图1、图2和图3所示，一种737大气数据计算机测试台，包括测试台本体，所述测试台本体上设有测试面板，所述测试面板上分别设有离散量信号测试孔、模拟信号测试孔、单刀双掷钮子开关、双刀双掷钮子开关、波段开关、船型开关、指示灯、信号输出耳机插座、航空插座和可调电阻旋帽，所述测试台本体背面设有电源输入插孔，所述测试台内部设有固定电阻、电容器、可调电阻和变压器。

本实施例中，所述离散量信号测试孔为18个，所述模拟信号测试孔为35个。

本实施例中，所述单刀双掷钮子开关为19只，所述双刀双掷钮子开关为6只，所述波段开关为4只，所述船型开关为4只。

本实施例中，所述指示灯为11只。

本实施例中，所述航空插头为1只。

本实施例中，所述可调电阻旋帽和可调电阻均为1个。

本实施例中，所述电源输入插孔为10个。

本实施例中，所述固定电阻为52只，所述电容器为12只，所述变压器为1只。

其具体实现的功能如下：

1、开关说明：

电源开关：

a)POWER (S14)为115VAC电源总开关，向上为ON，向下为OFF；

b)28VDC PWR为28VDC电源总开关，向上为ON，向下为OFF；

c)26VAC PWR (S8) 为26VAC电源总开关，向上为ON，向下为OFF；

d)EXCIT (S18) 为解析器26VAC参考电压总开关，向上为ON，向下为OFF；

离散量输入开关：

e)PLL SYPASS离散信号，向上为接地，向下为悬空；

f)Q POT No.3 (S21)离散信号，向上为(+)REF，向下为(-)REF；

g)Q POT 3 (S22)离散信号，向上为接通，向下为悬空；

h)SAT/TAT (S20)离散信号，向上为ONLY，向下为NORMAL；

i)Function Test (S36)离散信号，向上为接地，向下为悬空；

j)NVM CLR (S37)离散信号，向上为接地，向下为悬空；

k)P1-50 SSEC-ENABLE (S26)离散信号，向上为接地，向下为悬空；

l)NVM ENABLE (S38)离散信号，向上为接地，向下为悬空；

m)OVER SPD TEST离散信号，向上为接地，向下为悬空；

n)ATC ENBL (S4)离散信号，向上为接地，向下为悬空；

o)CPT SDI (S24)离散信号，向上为接地，向下为悬空；

p)FO SDI (S23)离散信号，向上为接地，向下为悬空；

q)C/P(S9)离散信号，向上为接通，向下为悬空；

r)(REF) ARM (S15)离散信号，向上为+(REF)，向下为ARM；

s)P2-31 (S32) 离散信号，向上为短接，向下为悬空；

t)P2-32 (S33)离散信号，向上为短接，向下为悬空；

u)P2-33 (S34)离散信号，向上为短接，向下为悬空；

v)P2-34 (S35)离散信号，向上为短接，向下为悬空；

w)TEMP PROBE (S3)离散信号，向上为短接，向下为悬空；

x)P1-62 离散信号，向上为短接，向下为悬空；

y)P1-63 离散信号，向上为短接，向下为悬空；

z)P1-64 离散信号，向上为短接，向下为悬空；

aa)P1-65离散信号，向上为短接，向下为悬空；

bb)SPARE1为备用开关，内部未接；

cc)SPARE2为备用开关，内部未接；

波段开关：

dd)SYNTHESIZED POTS ALT RATE (S1)置CABIN PRESS，用于测试UUT J2-9、11；

ee)SYNTHESIZED POTS ALT RATE (S1)置No.2，用于测试UUT J2-60、61；

ff)SYNTHESIZED POTS ALT RATE (S1)置No.3，用于测试UUT J2-12、13；

gg)SYNTHESIZED POTS ALT RATE (S1)置Q POT NO.3，用于测试UUT J2-63、64；

hh)SYNCHROS (S2) S2-1置ALT F1，表示X、Y、Z接UUT J2-24、25、26；

ii)SYNCHROS (S2) S2-1置ALT F2，表示X、Y、Z接UUT J2-71、72、73；

jj)SYNCHROS (S2) S2-1置ALT F3，表示X、Y、Z接UUT J1-34、35、36；

kk)SYNCHROS (S2) S2-1置ALT C1，表示X、Y、Z接UUT J2-21、22、23；

ll)SYNCHROS (S2) S2-1置ALT C2，表示X、Y、Z接UUT J2-4、5、6；

mm)SYNCHROS (S2) S2-1置ALT C3，表示X、Y、Z接UUT J1-31、32、33；

nn)SYNCHROS (S2) S2-2置CAS 1，表示X、Y、Z接UUT J2-44、45、46；

oo)SYNCHROS (S2) S2-2置CAS 2，表示X、Y、Z接UUT J2-74、75、76；

pp)SYNCHROS (S2) S2-2置CAS 3，表示X、Y、Z接UUT J1-23、24、25；

qq)SYNCHROS (S2) S2-2置MACH 1，表示X、Y、Z接UUT J2-14、15、16；

rr)SYNCHROS (S2) S2-2置MACH 2，表示X、Y、Z接UUT J1-66、67、68；

ss)VARIABLE EXCITATION (S13)置M TRIM 1 & 2 +12 VDC，表示外接电源+12VDC被输入；

tt)VARIABLE EXCITATION (S13)置CAS PRESS -20 VDC，表示外接电源-20 VDC被输入；

uu)VARIABLE EXCITATION (S13)置Q POT 3 +3.7 VDC，表示外接电源+3.7 VDC被输入；

2、测试孔说明：

vv)P1-34为UUT J1-34脚测试孔；

ww)P1-35为UUT J1-35脚测试孔；

xx)P1-36为UUT J1-36脚测试孔；

yy) P2-24为UUT J2-24脚测试孔；

zz)P2-25为UUT J2-25脚测试孔；

aaa) P2-26为UUT J2-26脚测试孔；

bbb) P2-71为UUT J2-71脚测试孔；

ccc) P2-72为UUT J2-72脚测试孔；

ddd) P2-73为UUT J2-73脚测试孔；

eee) SPARE3为备用测试孔，内部未接；

fff) SPARE4为备用测试孔，内部未接；

ggg) P1-31 为UUT J1-31脚测试孔；

hhh) P1-32为UUT J1-32脚测试孔；

iii) P1-33为UUT J1-33脚测试孔；

jjj) P2-4为UUT J2-4脚测试孔；

kkk) P2-5为UUT J2-5脚测试孔；

lll) P2-6为UUT J2-6脚测试孔；

mmm) P2-21 为UUT J2-21脚测试孔；

nnn) P2-22为UUT J2-22脚测试孔；

ooo) P2-23为UUT J2-23脚测试孔；

ppp) P2-12为UUT J2-12脚测试孔；

qqq) P2-13为UUT J2-13脚测试孔；

rrr) P2-60为UUT J2-60脚测试孔；

sss) P2-61为UUT J2-61脚测试孔；

ttt) P2-17 HI为UUT J2-17脚测试孔；

uuu) P2-18 LO 为UUT J2-18脚测试孔；

vvv) P1-55为UUT J1-55脚测试孔；

www) P1-57 为UUT J1-57脚测试孔；

xxx) P1-41为UUT J1-41脚测试孔；

yyy) P1-42为UUT J1-42脚测试孔；

zzz) P1-5为UUT J1-5脚测试孔；

aaaa) 为UUT J1-5脚测试孔；

bbbb) C1为UUT J1-3脚测试孔；

cccc) BAROSET SIN为解析信号SIN端口；

dddd) BAROSET SIN/COS为解析信号SIN/COS端口；

eeee) BAROSET COS为解析信号COS端口；

ffff) RATES HI为RATES信号高端；

gggg) RATES LO为RATES信号低端；

hhhh) HI为UUT J2-9脚测试孔；

iiii) LO为UUT J2-11脚测试孔；

jjjj) ARM为UUT J2-10脚测试孔；

kkkk) 115VAC HI为115VAC输入电源高端；

llll) 115VAC LO为115VAC输入电源低端；

mmmm) 26VAC HI为26VAC输入电源高端；

nnnn) 26VAC LO为26VAC输入电源低端；

oooo) 28VDC HI为28VDC输入电源正端；

pppp) 28VDC LO为28VDC输入电源负端；

qqqq) GND为地；

rrrr) PROBE H为模拟探头高端；

ssss) PROBE C为模拟探头低端；

tttt) Bus No.1为429输出信号端口1；

uuuu) Bus No.2为429输出信号端口2；

vvvv) Bus No.3为429输出信号端口3；

wwww) Bus No.4为429输出信号端口4；

3、指示灯说明：

xxxx) B2为低电平有效指示灯，当ADC输出ATC编码为低电平时，指示灯被点亮；

yyyy) B4为低电平有效指示灯，当ADC输出ATC编码为低电平时，指示灯被点亮；

zzzz) C1为低电平有效指示灯，当ADC输出ATC编码为低电平时，指示灯被点亮；

aaaaa) C2为低电平有效指示灯，当ADC输出ATC编码为低电平时，指示灯被点亮；

bbbbb) A1为低电平有效指示灯，当ADC输出ATC编码为低电平时，指示灯被点亮；

ccccc) A2为低电平有效指示灯，当ADC输出ATC编码为低电平时，指示灯被点亮；

ddddd) A4为低电平有效指示灯，当ADC输出ATC编码为低电平时，指示灯被点亮；

eeeee) B1为低电平有效指示灯，当ADC输出ATC编码为低电平时，指示灯被点亮；

fffff) C4为低电平有效指示灯，当ADC输出ATC编码为低电平时，指示灯被点亮；

ggggg) D4为低电平有效指示灯，当ADC输出ATC编码为低电平时，指示灯被点亮；

hhhhh) OVERSPEED WARNING为低电平有效指示灯，当UUT J2-17为低电平时，示灯被点亮。

模拟量输入：

a）TEMP PROBE为温度模拟电阻，阻值为1K欧。

测试时，将线缆HT-S-266-HG480E1-J1的一头连接到737 Air Data Computer Test Set 的P1连接头，另一头连接到UUT（737大气数据计算机）尾部接口J1上，将线缆HT-S-266-HG480E1-J2的一头连接到737 Air Data Computer Test Set 的P2连接头，另一头连接到UUT（737大气数据计算机）尾部接口J2上。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的具体实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。