一种轴外单键对称度测量装置的制作方法

技术特征：

1.一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，包括测量装置本体(2)和定位块(3)，所述定位块(3)采用螺纹连接设置在所述本体(2)的横杆下部，所述定位块(3)的一端用于测量时卡装在待测量工件(1)的单键槽内，所述本体(2)的竖杆中部连接有百分表(5)，所述百分表(5)的顶端螺纹连接有圆柱型结构的测头(4)，所述测头(4)与所述工件(1)接触用于进行对称度测量。

2.根据权利要求1所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3)为条形结构，两端设置有圆弧。

3.根据权利要求2所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3)的宽度小于所述工件(1)键槽宽度0.005～0.015mm。

4.根据权利要求2所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3)的长度小于所述工件(1)键槽有效长度的5～8mm。

5.根据权利要求2所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3)上顶面与宽度方向两侧面的垂直度为0.005。

6.根据权利要求2所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3)宽度方向两侧面的平行度为0.005。

7.根据权利要求1所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述测头(4)的一端为直径10mm的圆柱体，另一端设置为与所述百分表(5)连接的M2.5外螺纹。

8.根据权利要求1所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3)的压入深度大于所述待测量工件(1)键槽深度的四分之三。