一种改进的微型构件测厚仪的制作方法

本实用新型涉及构件测量技术领域，具体地说是一种改进的微型构件测厚仪。

背景技术：

随着我国国民经济、国防科技的快速发展，航空航天领域在广泛运用新材料的背景下，要求制造技术与工艺手段不断提高。

为了适应市场的需求及加工需要，国内多家企业从国外进口微型构件测厚仪，引进国外先进技术，自主研发测厚仪。但由于研发时间较短，微型构件测厚仪在国内的使用和研发还处在较低的水准。国内大部分微型构件测厚仪采用的是物理数据直接测量的方式来完成，其测量精度较低。由于以上原因，改进的微型构件测厚仪对构件的测量精度提高有限，达不到高精度加工应有的水平。

技术实现要素：

本实用新型为提供一种成本低廉、使用方便、能够进行有效的测量工作的改进的微型构件测厚仪。

本实用新型是通过下述技术方案实现的：

一种改进的微型构件测厚仪，用于测量细小构件的厚度，包括置物板、立柱、竖板和光源发生器，所述细小构件放于所述置物板上部，所述细小构件的左侧与所述置物板的左侧齐平，所述竖板竖直设置于平台之上，所述立柱竖直设置于所述平台之上，所述置物板设于所述立柱之上，所述光源发生器的下部设有支撑杆，所述光源发生器与所述置物板的上表面位于同一水平面内，所述立柱的底部设有滚轮，所述平台上设有滑槽，所述滚轮在所述滑槽内部滑动，所述平台上设有横向刻度线，所述置物板的左侧设有竖向指针，所述竖向指针横跨所述横向刻度线，所述竖板的右侧面上粘附有感光膜，所述感光膜上设有竖向刻度线。

所述竖向零刻度线位于下端，所述竖向零刻度线与所述光源发生器和置物板的上表面位于同一水平面内。

所述横向零刻度线位于左端，所述横向零刻度线与所述光能源发生器位于同一竖直平面内。

本实用新型所带来的有益效果是：

本实用新型中，利用光学原理，并且运用物理学公式进行等比例的测量和换算，使得微小构件的测厚工作更加简便；且与市场现有的测厚仪相比，体积小、测量准确、可靠性高，在有效完成测量要求的前提下，能够最大程度的提高测量的精度，具有广阔的应用前景。

附图说明

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

图1为本实用新型所述改进的微型构件测厚仪的结构示意图。

图2为本实用新型所述改进的微型构件测厚仪的右视图。

图中部件名称对应的标号如下：

1、细小构件；2、置物板；3、立柱；4、竖板；5、光源发生器；6、平台；7、支撑杆；8、滚轮；9、横向刻度线；10、竖向指针；11、感光膜；12、竖向刻度线；13、竖向零刻度线；14、横向零刻度线。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步的详述：

作为本实用新型所述改进的微型构件测厚仪的实施例，如图1和图2所示，用于测量细小构件1的厚度，包括置物板2、立柱3、竖板4和光源发生器5，所述细小构件1放于所述置物板2上部，所述细小构件1的左侧与所述置物板2的左侧齐平，所述竖板4竖直设置于平台6之上，所述立柱3竖直设置于所述平台6之上，所述置物板2设于所述立柱3之上，所述光源发生器5的下部设有支撑杆7，所述光源发生器5与所述置物板2的上表面位于同一水平面内，所述立柱3的底部设有滚轮8，所述平台上设有滑槽（图中未示出），所述滚轮8在所述滑槽（图中未示出）内部滑动，所述平台6上设有横向刻度线9，所述置物板2的左侧设有竖向指针10，所述竖向指针10横跨所述横向刻度线9，所述竖板4的右侧面上粘附有感光膜11，所述感光膜11上设有竖向刻度线12。

本实施例中，所述竖向零刻度线13位于下端，所述竖向零刻度线13与所述光源发生器5和置物板2的上表面位于同一水平面内，此处的设计，将所述竖向零刻度线13设置在所述光源发生器5的左侧，方便于读数。

本实施例中，所述横向零刻度线14位于左端，所述横向零刻度线14与所述光源发生器5位于同一竖直平面内，此处的设计，将所述横向零刻度线14设置在所述光源发生器5的下方，方便于读数。

工作原理：当光线经过构件边缘的时候，由于遮光的原理，只能经过部分没有遮挡的光线，当光线到达感光膜上的时候，会形成一条明显的分界线，这是就能在竖向刻度线上读出读数，同时能够在横向刻度线读出相应的读数，更具三角形的等比例缩放原理，就能计算得出构件的厚度了。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等同物界。