本申请涉及电子设备技术领域，特别涉及一种电子设备及接近检测方法。
背景技术：
随着网络技术的发展和电子设备智能化程度的提高，用户可以通过电子设备实现越来越多的功能，比如通话、聊天、玩游戏等。
目前，电子设备，例如手机，通常采用专用的距离传感器，通过发出光线、接收反射光线的方法实现接近检测功能的，此时，需要在电子设备的显示屏的一侧专门设立透光区域来放置距离传感器，因此，导致屏占比小。
技术实现要素：
本申请实施例提供一种电子设备及接近检测方法，以避免使用距离传感器，提高屏占比。
本申请实施例提供一种电子设备，其包括第一天线，第二天线，射频模块，接近模块以及控制电路，所述控制电路分别与所述第一天线、第二天线、射频模块及接近模块耦合；
所述射频模块连接所述第一天线，所述第一天线作为射频天线，所述射频天线用于收发射频信号；
所述接近模块连接所述第二天线，所述第二天线作为接近天线，所述接近天线用于收发检测信号，其中所述射频信号与所述检测信号的信号频段不同；
所述控制电路用于控制所述接近模块检测所述第二天线的驻波比，且根据所述第二天线的驻波比确定障碍物与电子设备之间的接近距离，以根据所述接近距离控制所述电子设备。
本申请实施例还提供了一种接近检测方法，应用于电子设备中，所述电子设备包括第一天线，第二天线，射频模块以及接近模块，所述射频模块连接所述第一天线，所述第一天线作为射频天线，所述射频天线用于收发射频信号，所述接近模块连接所述第二天线，所述第二天线作为接近天线，所述接近天线用于收发检测信号，其中所述射频信号与所述检测信号的信号频段不同，所述方法包括：
检测所述第二天线的驻波比；
根据所述第二天线的驻波比确定障碍物与电子设备之间的接近距离；
根据所述接近距离控制所述电子设备。
本申请实施例提供的电子设备，其包括第一天线，第二天线，射频模块，接近模块以及控制电路，控制电路分别与第一天线、第二天线、射频模块及接近模块耦合；射频模块连接第一天线，第一天线作为射频天线，射频天线用于收发射频信号；接近模块连接第二天线，第二天线作为接近天线，接近天线用于收发检测信号，其中射频信号与检测信号的信号频段不同；控制电路用于控制接近模块检测第二天线的驻波比，且根据第二天线的驻波比确定障碍物与电子设备之间的接近距离，以根据接近距离控制电子设备。本申请实施例通过在电子设备中独立设置一个天线用以实现接近功能，可以在省去接近传感器的情况下通过检测独立天线的驻波比代替接近传感器的接近功能，能提高结构紧凑性，提高屏占比。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。
图2为本申请实施例提供的电子设备的另一结构示意图。
图3为本申请实施例提供的电子设备的另一结构示意图。
图4为本申请实施例提供的电子设备的另一结构示意图。
图5为本申请实施例提供的电子设备的另一结构示意图。
图6为本申请实施例提供的电子设备的另一结构示意图。
图7为本申请实施例提供的电子设备的另一结构示意图。
图8为本申请实施例提供的接近检测方法的流程示意图。
图9为本申请实施例提供的电子设备的另一结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本申请提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。
本申请实施例提供一种电子设备及接近检测方法。以下将分别进行详细说明。该电子设备可以是手环、智能手机、基于苹果系统或安卓系统的平板电脑、或基于Windows或Linux系统的笔记本电脑等智能移动电子设备100。
请参考图1，图1为本申请实施例提供的电子设备的应用场景示意图。电子设备100包括第一天线111，第二天线112，射频模块104，接近模块105以及控制电路101，控制电路101分别与第一天线111、第二天线112、射频模块104及接近模块105耦合。
其中，射频模块104连接第一天线111，第一天线111作为射频天线，射频天线用于收发射频信号。
接近模块105连接第二天线112，第二天线112作为接近天线，接近天线用于收发检测信号，其中射频信号与检测信号的信号频段不同。其中，该检测信号可以选择对对人体敏感度较高的无线信号。
控制电路101用于，控制接近模块105检测第二天线112的驻波比，且根据第二天线112的驻波比确定障碍物与电子设备之间的接近距离，以根据接近距离控制电子设备100。
请参阅图2，图2为本申请实施例提供的电子设备的另一结构示意图。图2与图1的差别在于：电子设备100还包括控制开关108，控制开关108可以为双刀双掷开关。其中控制开关108包括第一端口k1，第二端口k2，第三端口k3和第四端口k4，第一端口k1与射频模块104耦合，第二端口k2与接近模块105耦合，第三端口k3与第一天线111耦合，第四端口k4与第二天线112耦合，第一端口k1与第三端口k3连通，第二端口k2与第四端口k4连通。
在一些实施例中，控制电路101用于检测第一天线111与第二天线112的信号强度，若第一天线111的信号强度小于第二天线112的信号强度，则控制电路101控制控制开关108将第一天线111切换为接近天线，而将第二天线112切换为射频天线。
如图3所示，图3为本申请实施例提供的电子设备的另一结构示意图。射频模块104包括依次连接的第一双向耦合器1041，第一放大器1042及射频收发机1043，其中第一双向耦合器1041连接第一天线111，射频收发机1043连接控制电路101，控制电路101用于根据射频收发机1043反馈的射频信号控制电子设备100进行通讯。
接近模块105包括依次连接的第二双向耦合器1051，第二放大器1052及信号发生器1053，其中第二双向耦合器1051分别与第二放大器1052、控制电路101及第二天线112耦合，第二双向耦合器1051用于检测第二天线112的驻波比，101控制电路用于根据第二双向耦合器1051反馈的第二天线112的驻波比确定障碍物与电子设备100之间的接近距离，以根据接近距离控制电子设备100。
其中，第二双向耦合器1501包括正向耦合器与反向耦合器，其中正向耦合器用于采集信号发生器1053发射的检测信号，反向耦合器用于采集检测信号经障碍物反射回来的反射信号。
具体的，信号发生器1053产生检测信号，经过第二放大器1052处理之后的检测信号通过第二双向耦合器1501中的正向耦合器传输到第二天线112，以通过第二天线112发射到外界。当传输到外界的检测信号遇到人体等障碍物时形成反射信号返回至第二天线112。其中，第二双向耦合器1501中的正向耦合器用于采集信号发生器1053发射至第二天线112的检测信号，反向耦合器用于采集检测信号经障碍物反射至第二天线112的反射信号，然后该第二双向耦合器1501将采集到的检测信号及反射信号的参数传输到控制电路101，以确定得出第二天线112的驻波比，然后根据驻波比与预存参数中驻波比与接近距离之间的对应关系确定当前的电子设备100与人体等障碍物之间的接近距离，然后控制电路101根据该接近距离对电子设备100进行相应的控制。
具体的，天线的驻波比表示天线的反射功率对入射功率的开平方。一般情况下，若天线的驻波比为1，则表示天线的信号没有反射；若天线的驻波比在1.1～1.5之间，则认为天线的信号反射较小；若天线的驻波比大于1.5，则表明天线的信号反射较大。
例如，当检测信号小于1GHz时，在所述驻波比处于为1-1.5之间时，所述接近距离为大于1厘米；在所述驻波比处于为1.5-2.5之间时，所述接近距离为0-1厘米；在所述驻波比为大于2.5时，所述接近距离为0厘米。
再例如，当检测信号大于1GHz时，在所述驻波比处于为1-1.5之间时，所述接近距离为大于1厘米；在所述驻波比处于为1.5-3.5之间时，所述接近距离为0-1厘米；在所述驻波比为大于3.5时，所述接近距离为0厘米。
需要说明的时，所述驻波比和所述接近距离之间的对应关系并不局限于以上几种，可以通过实际天线功率、元件性能灵活调整。
在一些实施例中，射频模块104与接近模块105可以共用同一个双向耦合器，该被共用的双向耦合器在射频模块104工作间隙配合接近模块105进行工作。例如，如图4所示，图4为本申请实施例提供的电子设备的另一结构示意图。电子设备100包括第三双向耦合器109，第三双向耦合器109分别与射频模块104、接近模块105、第一天线111及第二天线112耦合，控制电路101用于检测到第一天线111处于空闲时段时，控制第三双向耦合器109检测第二天线112的驻波比。
在一些实施例中，如图5所示，图5为本申请实施例提供的电子设备的另一结构示意图。第一天线111与第二天线112设置于电子设备100的相对两侧，控制电路101用于检测到第一天线111处于空闲时段时，控制第一天线111及第二天线112发射检测信号，并控制第三双向耦合器109检测第一天线111的驻波比与第二天线112的驻波比，控制电路101用于根据第一天线111的驻波比与第二天线112的驻波比判断电子设备100的横屏模式。例如，第一天线111与第二天线112分别设置于电子设备100的顶端和低端，当两个天线同时产生驻波变化时，可以判断为人手横握手机的横屏模式。可以利用第一天线111与第二天线112实现的接近功能进行横屏模式的判断，以替代原有的横屏传感器的检测功能。
在一些实施例中，电子设备100包括显示屏103，控制电路101用于根据接近距离调节显示屏103的显示状态。例如，如图6所示，当电子设备100与人体的距离较大时，控制电路101控制电子设备100的显示屏103为亮屏状态，当电子设备100与人体的距离较小时，控制电路101控制电子设备100的显示屏103为熄屏状态，从而避免人体无意识的接触到显示屏103时造成的错误操作。例如，如图7所示，第一天线111与第二天线112可以设置于电子设备100的同一侧，如同时设置于电子设备100的顶端，当电子设备100与人体的距离较大时，控制电路101控制电子设备100的显示屏103为亮屏状态，当电子设备100与人体的距离较小时，控制电路101控制电子设备100的显示屏103为熄屏状态。
其中，电子设备100的控制电路101可以是电子设备100的处理器，也可以是单独用于射频开关108的处理器或处理芯片。该控制电路101可以直接集成在印制电路板上。
其中，该控制电路101可以包括检测处理单元及应用处理器AP端，其中射频模块104反馈的第一天线111的射频信号直接通过该应用处理器AP端进行处理，以控制电子设备100进行通讯。接近模块105反馈的第二天线112的检测信号及反射信号传输到检测处理单元，检测处理单元根据第二天线112的检测信号及反射信号得出的驻波比与预存的驻波比和所述接近距离之间的对应关系得出对应的接近控制指令，然后应用处理器AP端根据该接近控制指令控制电子设备100实现接近功能。
本申请实施例提供的电子设备100，其包括第一天线111，第二天线112，射频模块104，接近模块105以及控制电路101，控制电路101分别与第一天线111、第二天线112、射频模块104及接近模块105耦合；射频模块104连接第一天线111，第一天线111作为射频天线，射频天线用于收发射频信号；接近模块105连接第二天线112，第二天线112作为接近天线，接近天线用于收发检测信号，其中射频信号与检测信号的信号频段不同；控制电路101用于控制接近模块105检测第二天线112的驻波比，且根据第二天线112的驻波比确定障碍物与电子设备100之间的接近距离，以根据接近距离控制电子设备100。本申请实施例通过在电子设备中独立设置一个天线用以实现接近功能，可以在省去接近传感器的情况下通过检测独立天线的驻波比代替接近传感器的接近功能，能提高结构紧凑性，提高屏占比。
需要说明的是，天线的个数并不限于三个，电子设备100也可以包括四个、五个或更多个的天线。下面以两个天线为例进行详细说明。
请参阅图8，图8为本申请实施例提供的接近检测方法的流程示意图。所述方法应用于电子设备中，所述电子设备包括第一天线，第二天线，射频模块以及接近模块，所述射频模块连接所述第一天线，所述第一天线作为射频天线，所述射频天线用于收发射频信号，所述接近模块连接所述第二天线，所述第二天线作为接近天线，所述接近天线用于收发检测信号，其中所述射频信号与所述检测信号的信号频段不同，所述方法包括：
步骤101，检测第二天线的驻波比。
其中，检测接近模块105发射至第二天线112的检测信号以及该检测信号经障碍物反射回来的反射信号，以得出第二天线112的驻波比。
步骤102，根据第二天线的驻波比确定障碍物与电子设备之间的接近距离。
其中，在所述驻波比处于为1-1.5之间时，所述接近距离为大于1厘米；在所述驻波比大于1.5时，所述接近距离为小于1厘米。
例如，当接近检测信号小于1GHz时，在所述驻波比处于为1-1.5之间时，所述接近距离为大于1厘米；在所述驻波比处于为1.5-2.5之间时，所述接近距离为0-1厘米；在所述驻波比为大于2.5时，所述接近距离为0厘米。
再例如，当接近检测信号大于1GHz时，在所述驻波比处于为1-1.5之间时，所述接近距离为大于1厘米；在所述驻波比处于为1.5-3.5之间时，所述接近距离为0-1厘米；在所述驻波比为大于3.5时，所述接近距离为0厘米。
需要说明的时，所述驻波比和所述接近距离之间的对应关系并不局限于以上几种，可以通过实际天线功率、元件性能灵活调整。
步骤103，根据接近距离控制所述电子设备。
例如，当电子设备100与人体的距离较大时，控制电路101控制电子设备100的显示屏103为亮屏状态，当电子设备100与人体的距离较小时，控制电路101控制电子设备100的显示屏103为熄屏状态。
本申请实施例提供的接近检测方法，应用于电子设备100中，其中电子设备100包括第一天线111，第二天线112，射频模块104以及接近模块105，射频模块104连接第一天线111，第一天线111作为射频天线，射频天线用于收发射频信号；接近模块105连接第二天线112，第二天线112作为接近天线，接近天线用于收发检测信号，其中射频信号与检测信号的信号频段不同，通过检测第二天线112的驻波比，且根据第二天线112的驻波比确定障碍物与电子设备100之间的接近距离，以根据接近距离控制电子设备100。本申请实施例通过在电子设备中独立设置一个天线用以实现接近功能，可以在省去接近传感器的情况下通过检测独立天线的驻波比代替接近传感器的接近功能，能提高结构紧凑性，提高屏占比。
本申请实施例还提供一种电子设备，如图9所示，电子设备100包括：处理器101、存储器102、显示屏103、射频模块104、接近模块105、输入单元106、电源107、第一天线111以及第二天线112。其中，处理器101分别与存储器102、显示屏103、射频模块104、接近模块105、输入单元106、电源107、第一天线111以及第二天线112电性连接。本领域技术人员可以理解，图9中示出的电子设备结构并不构成对电子设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
其中，处理器101是电子设备100的控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子设备的各个部分，通过运行或加载存储在存储器102内的应用程序，以及调用存储在存储器102内的数据，执行电子设备的各种功能和处理数据，从而对电子设备进行整体监控。
显示屏103可用于显示由用户输入的信息或提供给用户的信息以及电子设备的各种图形用户接口，这些图形用户接口可以由图形、文本、图标、视频和其任意组合来构成。显示屏103为触控显示屏时，也可以作为输入单元的一部分实现输入功能。
射频模块104可用于收发射频信号，以通过无线通信与网络设备或其他电子设备建立无线通讯，与网络设备或其他电子设备之间收发信号。
接近模块105可用于实现接近功能。
输入单元106可用于接收输入的数字、字符信息或用户特征信息(例如指纹)，以及产生与用户设置以及功能控制有关的键盘、鼠标、操作杆、光学或者轨迹球信号输入。其中，输入单元106可以包括指纹识别模组。
电源107用于给电子设备100的各个部件供电。在一些实施例中，电源107可以通过电源管理系统与处理器101逻辑相连，从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。
第一天线111，可作为射频天线，用于收发射频信号。
第二天线112，可作为接近天线，用于收发检测信号，其中该检测信号与该射频信号的信号频段不同。
尽管图9中未示出，电子设备100还可以包括摄像头、音频电路、蓝牙模块等，在此不再赘述。
在本申请实施例中，电子设备100中的处理器101会按照如下的步骤，将一个或一个以上的应用程序的进程对应的指令加载到存储器102中，并由处理器101来运行存储在存储器102中的应用程序，从而实现各种功能：
检测所述第二天线的驻波比；
根据所述第二天线的驻波比确定障碍物与电子设备之间的接近距离；
根据所述接近距离控制所述电子设备。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
以上对本申请实施例提供的电子设备及接近检测方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请。同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。