一种光电二极管监控保护装置的制作方法

本实用新型实施例涉及激光技术领域，尤其涉及一种光电二极管监控保护装置。

背景技术：

随着激光行业的飞速发展，激光器功率的不断提升，采用光电二极管对漏光点进行监控的难度也随之提升。

在应用光电二极管对激光器漏光点进行监控时，若将光电二极管放置于漏光弱的位置，经过放大电路，波动性较大，容易存在误保护或者不保护情况。若将光电二极管放置于漏光强的位置，则光电二极管容易饱和，无法跟随激光器功率的提升而产生变化。

针对上述问题，通常采用陶瓷片遮光等方式控制光电二极管接收光信号的强弱。但是上述方式存在较大问题：一方面，在光强较强时，通过陶瓷片遮光容易导致陶瓷片烧坏；另一方面，随时间推移，长时间在强光状态下，陶瓷片容易变黄，进而导致光电二极管探测到的光信号强弱发生变化。

因此，如何保护进行漏光监控的光电二极管，仍然是激光技术领域亟待解决的问题。

技术实现要素：

本实用新型实施例提供一种光电二极管监控保护装置，用以解决现有技术存在的问题。

本实用新型实施例提供一种光电二极管监控保护装置，包括保护壳体、光电二极管和可调插件；其中，所述保护壳体上设置有凸起；

所述凸起顶端设置有第一通孔，所述光电二极管安装在所述凸起顶端，通过所述第一通孔接收信号光；

所述凸起侧面设置有第二通孔，所述第二通孔与所述第一通孔连通，所述可调插件插装在所述第二通孔中，通过调节所述可调插件在所述第二通孔中的位置，调节所述光电二极管通过所述第一通孔接收所述信号光的光强。

优选地，所述第二通孔为螺纹通孔，所述可调插件上设置有与所述第二通孔相匹配的螺纹。

优选地，还包括定位销；

所述可调插件上设置有若干个定位通孔，所述定位销插装在任一所述定位通孔中，以实现所述可调插件与所述第二通孔相对位置的固定。

优选地，还包括激光器件；

所述保护壳体包括底板和盖板，所述底板用于承载所述激光器件，所述盖板覆盖在所述激光器件上；所述凸起设置在所述盖板上。

优选地，所述底板和所述盖板通过螺钉连接。

优选地，所述底板与所述盖板之间的接触部分覆盖有导热硅脂。

优选地，所述底板和所述盖板为金属。

优选地，所述底板承载所述激光器件的包层光剥除器。

优选地，还包括处理单元；所述处理单元与所述光电二极管电连接；

所述处理单元通过读取所述光电二极管产生的光电流获取所述信号光的光强。

优选地，还包括执行单元，所述执行单元与所述处理单元电连接，所述执行单元与所述可调插件连接；

所述处理单元根据所述信号光的光强向所述执行单元发送调节信号；

所述执行单元根据所述调节信号调节所述可调插件在所述第二通孔中的位置。

本实用新型实施例提供的一种光电二极管监控保护装置，通过在第二通孔中插装可调插件，调节光电二极管通过第一通孔接收的信号光光强，有效避免了光电二极管在进行漏光监控时由于光强过弱导致的误保护问题和由于光强过强导致饱和的问题，实现了光强可调，调节效率高且稳定可靠，能够满足高功率激光器件的光学监控保护需求。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的光电二极管监控保护装置的结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的保护壳体的剖视图；

图3为本实用新型实施例提供的光电二极管监控保护装置的爆炸示意图；附图标记说明：

110-保护壳体； 120-凸起； 130-第一通孔；

140-第二通孔； 150-光电二极管； 160-可调插件；

111-底板； 112-盖板。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

图1为本实用新型实施例提供的光电二极管监控保护装置的结构示意图，如图1所示，一种光电二极管150监控保护装置，包括保护壳体110、光电二极管150和可调插件160；其中，保护壳体110上设置有凸起120；凸起120顶端设置有第一通孔130，光电二极管150安装在凸起120顶端，通过第一通孔130接收信号光；凸起120侧面设置有第二通孔140，第二通孔140与第一通孔130连通，可调插件160插装在第二通孔140中，通过调节可调插件160在第二通孔140中的位置，调节光电二极管150通过第一通孔130接收信号光的光强。

具体地，保护壳体110用于容置需要进行漏光点光强监控的激光器件。保护壳体110将激光器件的漏光点包裹在壳体中，避免漏光点发出的信号光从壳体外围漏出，影响光电二极管150的实际检测效果。

图2为本实用新型实施例提供的保护壳体的剖视图，如图2所示，保护壳体110上设置有凸起120，凸起120顶部开设有第一通孔130。此外，在凸起120侧面还设置有第二通孔140，第二通孔140与第一通孔130连通。第一通孔130和第二通孔140可以垂直于凸起120表面开设，也可以倾斜于凸起120表面开设，本实用新型实施例不对第一通孔130和第二通孔140的开设方向作具体限定。

此外，保护壳体110的凸起120顶部设置有光电二极管150，且光电二极管150正对凸起120顶部开设的第一通孔130，第一通孔130用于为光电二极管150检测漏光点发出的信号光提供光线传播路径，即漏光点发出的信号光可以通过凸起120内开设的第一通孔130传播至光电二极管150，使得光电二极管150能够接收信号光，并将信号光转换为光电流，用于表征信号光的光强。将可调插件160插入第二通孔140后，能够通过调节可调插件160在第二通孔140中的位置，调节可调插件160在第一通孔130中遮挡信号光的截面面积大小，从而调节光电二极管150通过第一通孔130接收信号光的光强。此处，可调插件160为能够与第二通孔140相匹配的插件，可调插件160的插入同时能够避免信号光通过第二通孔140漏出。可调插件160可以是螺钉、螺柱等带有螺纹的插件，也可以是栓钉等不带有螺纹的插件，本实用新型实施例对此不作具体限定。

本实用新型实施例提供的装置，通过在第二通孔140中插装可调插件160，调节光电二极管150通过第一通孔130接收的信号光光强，有效避免了光电二极管150在进行漏光监控时由于光强过弱导致的误保护问题和由于光强过强导致饱和的问题，实现了光强可调，调节效率高且稳定可靠，能够满足高功率激光器件的光学监控保护需求。

基于上述实施例，第二通孔140为螺纹通孔，可调插件160上设置有与第二通孔140相匹配的螺纹。

具体地，可调插件160为螺钉或螺柱等带有外螺纹的插件，其螺纹与第二通孔140的内螺纹相匹配。通过旋转带有外螺纹的可调插件160，可以实现可调插件160的位置调节。且在内外螺纹的相互作用下，可以通过确定旋转可调插件160的圈数，实现可调插件160位置的精确调整。

本实用新型实施例提供的装置，通过在第二通孔140内和可调插件160上设置相匹配的螺纹，有助于实现可调插件160位置的精确调整，从而实现光电二极管150接收光强的精确调整。

基于上述任一实施例，还包括定位销；可调插件160上设置有若干个定位通孔，定位销插装在任一定位通孔中，以实现可调插件160与第二通孔140相对位置的固定。

具体地，将定位销插装在可调插件160上的任一定位通孔后，定位销能够贴紧凸起120侧面，避免可调插件160由于受到外力作用继续向第二通孔140内部深入，更大面积地遮挡通过第一通孔130传播向光电二极管150的信号光。此外，在可调插件160上设置定位通孔，使得操作人员能够通过在不同定位通孔内插装定位销，更加快速地实现可调插件160的精确定位，继而快速实现光电二极管150接收光强的精确调整。需要说明的是，可调插件160上定位通孔的数量和每一定位通孔的具体位置可根据实际需要检测的激光器件的需求确定，本实用新型实施例对此不作具体限定。

本实用新型实施例提供的装置，通过在可调插件160上定位通孔并插装定位销，有助于快速实现可调插件160位置的精确调整，从而快速实现光电二极管150接收光强的精确调整。

基于上述任一实施例，图3为本实用新型实施例提供的光电二极管监控保护装置的爆炸示意图，如图3所示，保护壳体110包括底板111和盖板112，底板111用于承载激光器件，盖板112覆盖在激光器件上；凸起120设置在盖板112上。

此处，激光器件即需要容置在保护壳体110内进行漏光点光强监测的器件。保护壳体110包括底板111和盖板112两部分，其中底板111用于承载激光器件，盖板112覆盖在激光器件和底板111上，底板111和盖板112配合作用，将激光器件的漏光点包裹在底板111和盖板112中，避免漏光点发出的信号光从底板111和盖板112外围漏出，影响光电二极管150的实际检测效果。凸起120设置在盖板112上靠近激光器件漏光点的位置，以便于光电二极管150监测漏光光强。

图3所示的爆炸示意图中，光电二极管150下方的箭头用于指示光电二极管150应安装于盖板112上方凸起120的顶端，对应第一通孔130的位置，以保证光电二极管150能够接收到激光器件漏光点通过第一通孔130传播的信号光。可调插件160左侧的箭头用于指示可调插件160应插装在盖板112上方凸起120侧面的第二通孔140内，从而实现信号光强度的调节。

基于上述任一实施例，底板111和盖板112通过螺钉连接，实现底板111与盖板112之间的固定连接，避免由于底板111或者盖板112移位导致的激光器件漏光点信号光漏出，影响光电二极管150测量的准确性。

基于上述任一实施例，底板111与盖板112之间的接触部分覆盖有导热硅脂。底板111和盖板112为金属。此处，导热硅脂是一种高导热绝缘有机硅材料，广泛应用于电器设备中的发热体与散热设施之间的接触面，利于发热体的导热、散热。采用金属制成的底板111和盖板112，导热性良好，并在底板111和盖板112的接触部分覆盖导热硅脂，有助于保护壳体110整体的导热和散热。

基于上述任一实施例，底板111承载激光器件的包层光剥除器。其中，包层光剥除器(CLS)是保证高功率全光纤激光器稳定性与光束质量的核心器件，能够实现激光器件光纤的内包层残余的泵浦光的高效均匀剥离。将包层光剥除器装设在保护外壳内部，使得光电二极管150能够通过第一通孔130检测到被剥除的泵浦光。

基于上述任一实施例，还包括处理单元；处理单元与光电二极管150电连接；处理单元通过读取光电二极管150产生的光电流获取信号光的光强。

具体地，光电二极管150将接收的信号光转换为光电流，与光电二极管150连接的处理单元能够读取上述光电流，并通过计算得到光电二极管150接收到的信号光的光强。处理单元得到信号光光强后，可以通过显示单元进行显示，以告知工作人员监测状况，还可以将计算得到的信号光光强与预先设置的光强基准进行比较，从而判断是否需要对可调插件160的位置进行调整，从而调整光电二极管150接收信号光的光强。

基于上述任一实施例，还包括执行单元，执行单元与处理单元电连接，执行单元与可调插件160连接；处理单元根据信号光的光强向执行单元发送调节信号；执行单元根据调节信号调节可调插件160在所述第二通孔140中的位置。

具体地，处理单元获知信号光光强后，可以通过工作人员手动调整可调插件160位置，也可以通过处理单元内置的光强基准与信号光光强进行比较，并根据两者的差距获取可调插件160的调整位置，并将包含有调整位置的调节信息发送给执行单元，由执行单元根据调节信息中的调整位置，对可调插件160的位置进行调整。

此处，执行单元可以是与可调插件160固连的移动装置，通过调节信息获知移动方向和移动距离后，带动可调插件160移动，从而调整可调插件160在第二通孔140中的位置，进而实现光电二极管150接收信号光光强的调节。

基于上述任一实施例，参考图3，一种光电二极管150监控保护装置，包括保护壳体110、光电二极管150和可调插件160。

其中，保护壳体110包括底板111和盖板112，底板111用于承载激光器件的包层光剥除器，盖板112覆盖在激光器件的包层光剥除器和底板111上，底板111和盖板112通过螺钉固定连接配合作用，将激光器件的漏光点包裹在底板111和盖板112中，避免漏光点发出的信号光从底板111和盖板112外围漏出，影响光电二极管150的实际检测效果。底板111和盖板112均为金属材质，且两者的接触区域覆盖有导热硅脂。

盖板112上设置有凸起120，凸起120顶部垂直开设有第一通孔130，凸起120侧面垂直开设有第二通孔140，第二通孔140与第一通孔130连通。凸起120顶部设置有光电二极管150，且光电二极管150正对凸起120顶部开设的第一通孔130，第一通孔130用于为光电二极管150检测漏光点发出的信号光提供光线传播路径，即漏光点发出的信号光可以通过凸起120内开设的第一通孔130传播至光电二极管150，使得光电二极管150能够接收信号光，并将信号光转换为光电流，用于表征信号光的光强。第二通孔140为螺纹通孔，可调插件160为表面设置有与第二通孔140相匹配的螺纹的螺钉，将可调插件160插入第二通孔140后，能够通过调节可调插件160在第二通孔140中的位置，调节可调插件160在第一通孔130中遮挡信号光的截面面积大小，从而调节光电二极管150通过第一通孔130接收信号光的光强。

本实用新型实施例提供的装置，通过在第二通孔140中插装可调插件160，调节光电二极管150通过第一通孔130接收的信号光光强，有效避免了光电二极管150在进行漏光监控时由于光强过弱导致的误保护问题和由于光强过强导致饱和的问题，实现了光强可调，调节效率高且稳定可靠，能够满足高功率激光器件的光学监控保护需求。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的实施例的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型的实施例进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型的实施例各实施例技术方案的范围。