技术特征：
技术总结
本发明公开了一种导电结构缺陷稀疏电涡流快速成像检测方法及系统，该成像检测方法包括初始化处理步骤、获取稀疏缺陷信号步骤和重建信号并成像识别步骤。本发明利用导电结构中缺陷空间分布的稀疏特性，结合压缩感知原理，以远小于常规奈奎斯特采样定理所需信号采样数量的采样次数来进行稀疏采样，然后利用优化算法从少量稀疏采样信号中准确重构出导电结构的缺陷成像信息同时无需额外增加现有缺陷信号采集设备的硬件设计，提高了导电结构缺陷电涡流快速成像检测的效率。
技术研发人员：邓为权;叶波;吴建德;王晓东;黄国勇;范玉刚;冯早;邹金慧
受保护的技术使用者：昆明理工大学
技术研发日：2019.02.14
技术公布日：2019.06.14