技术特征：
技术总结
本发明公开了裂纹扩展测量系统和方法及其检验方法与装置，裂纹扩展测量系统包括恒流源、直流翻转电路、运放模块、单片机控制器、上位机、隔离电路、电流连接线和电压连接线；检验装置包括固定片裂纹长度变化系统和单片机与继电器组控制模块；测量方法为直流电位降法，试样在裂纹扩展时其电位场发生变化，试样裂纹两端的电压降随着裂纹长度的增长逐渐增大，可通过测量试样上裂纹两端的电位差来获得测量试样的裂纹扩展数值；检验方法通过对比检验试样的测量值与已知值之间的关系来检验测量系统的准确度。本发明的测量系统具有结构简单、装置集成化、测量精度高、可方便携带、价格适中的优点，本发明的检验装置具有成本低且能够重复使用的优点。
技术研发人员：薛河;魏其深;倪陈强;张亮;徐鹏超
受保护的技术使用者：西安科技大学
技术研发日：2019.02.23
技术公布日：2019.06.14