技术特征：
技术总结
一种涡流C扫描成像检测方法，首先，通过采集缺陷对比试块的阻抗变化波形；对阻抗变化波形的实部和虚部分别进行高通滤波，并对滤波后的实部和虚部分别进行噪声统计，提取出缺陷信号区域；从缺陷信号区域中分离出提离信号；之后，计算滤波后的阻抗变化波形在缺陷信号区域内的阻抗幅度、相位角和阻抗增量，提取出区域融合后在同一缺陷内的阻抗幅度谱的包络图，从而得到校正后的缺陷幅值谱；通过校正后的缺陷幅值谱进行阈值分割，提取初步的涡流C扫描成像图中的缺陷走向，建立不同偏角与缺陷最大幅值的关系曲线；并使用该关系曲线对缺陷走向和初步的涡流C扫描成像图进行幅度校正。能精确判断缺陷位置、长度、方向信息，且缺陷尺寸定量准确率高。
技术研发人员：齐子诚;倪培君;郭智敏;郑颖;唐盛明;左欣;李红伟;付康;张荣繁;乔日东;张维国;王晓艳;路英豪
受保护的技术使用者：中国兵器科学研究院宁波分院
技术研发日：2019.04.04
技术公布日：2019.06.14