针座结构及采用该针座结构的测试治具的制作方法

文档序号:23629568发布日期:2021-01-12 11:01
针座结构及采用该针座结构的测试治具的制作方法

本发明涉及一种针座结构及采用该针座结构的测试治具。



背景技术:

在一些产品的制程中,如摄像模块的制程中,需要利用测试治具对组装完毕的模块或产品进行功能性的测试。测试时治具针座内的探针、转接板及模块连接器要呈一个导通的状态。原有的针座由于探针下方的穴位为通孔设计,无任何止挡设计,而使得探针容易从针座上掉落,且探针体积小,掉落后难以找回,安装也不易,进而影响了对被测品的测试效率。目前为了避免出现探针从针座上掉落的问题,采取的方法是在针座的下方铁胶带,将探针粘在针座上,安装转接板时,再将胶带去掉,但是在这一过程中仍然会出现探针从针座中掉落。



技术实现要素:

有鉴于此,有必要提供一种针座结构及采用该针座结构的测试治具,旨在将探针固定在针座上,避免出现探针掉落的情况。

一种针座结构,用于固定探针,包括底座,所述底座上设有第一收容腔,所述第一收容腔内设有贯穿所述底座的第一通孔,所述探针设于所述第一通孔中且两端凸伸出所述第一通孔,所述针座结构还包括限位块,所述限位块设于所述底座上且与所述第一收容腔相对设置,所述限位块上设有与所述第一通孔对应的第二通孔,所述探针的一端凸伸入所述第二通孔并抵持于所述限位块上,所述探针的另一端抵持于所述底座上。

在至少一个实施方式中,所述第二通孔包括连通的第一圆柱孔和第二圆柱孔,所述第二圆柱孔的直径小于所述第一圆柱孔的直径,所述第一圆柱孔和所述第二圆柱孔的连通位置处形成用于抵持所述探针的第一抵持部。

在至少一个实施方式中,所述限位块上设有引导斜面,所述引导斜面用于引导所述探针进入所述第二通孔。

在至少一个实施方式中,所述底座设有与所述限位块相适配的第二收容腔,所述限位块设于所述第二收容腔中。

在至少一个实施方式中,所述限位块和所述底座之间的对应位置设有相互配合的弹片和卡槽。

在至少一个实施方式中,所述限位块和所述底座之间的对应位置设有相互配合的锁紧部和固定孔。

在至少一个实施方式中,所述第一通孔包连通的第三圆柱孔和第四圆柱孔,所述第四圆柱孔的直径小于所述第三圆柱孔的直径,所述第三圆柱孔和所述第四圆柱孔的连通位置处形成用于抵持所述探针的第二抵持部。

一种测试治具,包括固定板及设于所述固定板上的针座结构,所述针座结构为上述中所述的针座结构。

在至少一个实施方式中,所述固定板设有第三通孔,所述针座结构设于所述第三通孔位置处,所述探针靠近所述限位块的一端凸伸出所述第三通孔。

在至少一个实施方式中,所述测试治具还包括转接板,当所述转接板设于所述固定板上时,所述探针与所述转接板连接。

上述提供的针座结构及测试治具通过在底座设有第一收容腔,所述第一收容腔内设有贯穿的第一通孔,在所述第一收容腔相对一侧设有限位块,所述限位块设有与所述第一通孔对应的第二通孔,所述探针置于所述第一通孔中且两端分别凸伸出所述第一通孔,所述探针的一端进一步凸伸入所述第二通孔中并抵持于所述限位块上,所述探针的另一端抵持于所述底座上。还涉及采用上述针座结构的测试治具。使用上述的针座结构能够将所述探针有效固定在所述底座上,结构简单,也能够避免出现探针掉落出底座的情况。

附图说明

图1为针座结构的立体图。

图2为图1所示的针座结构的另一视角立体图。

图3为针座结构的分解图。

图4为图3所示的针座结构的另一视角的分解图。

图5为探针固定于针座结构中沿v-v方向的剖视图。

图6为针座结构设于固定板中示意图。

图7为图6中固定板设有转接板的示意图。

图8为另一实施方式中的限位块。

主要元件符号说明

针座结构100

底座10

第一收容腔11

第一通孔12

第三圆柱孔121

第四圆柱孔122

第二抵持部123

第二收容腔13

固定孔14

限位块20

第二通孔21

第一圆柱孔211

第二圆柱孔212

第一抵持部213

引导斜面22

锁紧件23

探针300

第一针体31

第二针体32

固定板40

转接板50

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

需要说明的是,当一个组件被认为是“连接”另一个组件,它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设于”另一个组件,它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“顶”、“底”、“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本发明。

请参阅图1和图2,在一实施方式中,提供一种测试治具(图未标示)用于检测产品,为了使得所述测试治具内的各结构连通,需要通过探针300进行连通,进一步地,为了固定所述探针300,采用一种针座结构100对所述探针300进行固定。在一实施方式中,被检测的产品为摄像模块。

请参阅图3和图4,所述针座结构100,用于固定探针300,包括底座10,所述底座10上设有第一收容腔11,所述第一收容腔11内设有贯穿所述底座10的第一通孔12,所述探针300设于所述第一通孔12中且两端凸伸出所述第一通孔12,所述针座结构100还包括限位块20,所述限位块20设于所述底座10上且与所述第一收容腔11相对设置,所述限位块20上设有与所述第一通孔12对应的第二通孔21,所述探针300的一端凸伸入所述第二通孔21并抵持于所述限位块20上,所述探针300的另一端抵持于所述底座10上。

请参阅图3、图4和图5,所述底座10大致为一方形块,且中间设有一收容空间(图未标示),所述收容空间用于收容被测的摄像模块。进一步地,在所述收容空间内设有第一收容腔11,所述第一收容腔11的底部位置处设有多个从其底部端面贯穿所述底座10的第一通孔12。在一实施方式中,所述第一通孔12围成一长方形。所述第一通孔12包括连通的第三圆柱孔121和第四圆柱孔122,所述第四圆柱孔122的直径小于所述第三圆柱孔121的直径,在所述第三圆柱孔121和所述第四圆柱孔122的连通位置处形成用于抵持所述探针300的第二抵持部123。所述第四圆柱孔122靠近所述第一收容腔11,所述第三圆柱孔121从与所述第四圆柱孔122的连通处延伸至所述底座10的底部端面。当所述第一通孔12中设有所述探针300时,所述探针300的一端凸伸出所述第一收容腔11的底面,以能够和被检测的产品连接。

所述底座10设有与所述限位块20相适配的第二收容腔13,所述限位块20设于所述第二收容腔13中。具体地,所述第二收容腔13和所述第一收容腔11设于所述底座10的相对两侧。可以理解的是,所述底座10的形状不限于此,具体可根据需要检测的产品进行设计。所述第一通孔12的数量和排列方式也可根据需要检测的产品进行替换,如检测另一款摄像模块时,可将所述探针300设为互相平行的三列结构。

请参阅图3、图4和图5,所述限位块20大致呈一长方体形,所述限位块20上设有与所述第一通孔12一一对应的第二通孔21,即所述第二通孔21围成的形状和所述第一通孔12围成的形状相一致。所述第二通孔21包括连通的第一圆柱孔211和第二圆柱孔212,所述第二圆柱孔212的直径小于所述第一圆柱孔211的直径,所述第一圆柱孔211和所述第二圆柱孔212的连通位置处形成用于抵持所述探针300的第一抵持部213。所述第一圆柱孔211的一端与所述第三圆柱孔121相对应,所述第一圆柱孔211的另一端与所述第二圆柱孔212连通,所述第二圆柱孔212延伸至所述限位块20的底面,以使得所述探针300能凸伸所述限位块20和其他结构连接。

请参阅图3,所述探针300包括第一针体31和与所述第一针体31连接的的第二针体32。所述第一针体31的直径大于所述第二针体32的直径,且所述第一针体31的两端分别连接有所述第二针体32。所述第一针体31的直径和所述第一圆柱孔211及所述第三圆柱孔121的直径大致相同,所述第一圆柱孔211和所述第三圆柱孔121与所述第一针体31采用间隙配合,使得所述第一针体31能顺利凸伸入其中。所述第二针体32的直径和所述第二圆柱孔212及所述第四圆柱孔122的直径大致相同,同样的,所述第二针体32和所述第二圆柱孔212及所述第四圆柱孔122采用间隙配合,以使得所述第二针体32能够伸入其中。可以理解是,在其他实施方式中,所述探针300可换为结构的探针,如在所述第一针体31的两端设置不同直径的第二针体32。相对应的,所述第一通孔12和所述第二通孔21的直径也随之变换。

优选的,在一实施方式中,所述底座10和所述限位块20之间的对应位置处设有相互配合的固定孔14和锁紧件23。具体地,所述底座10上设有固定孔14,所述限位块20上设有锁紧件23。当将所述限位块20固定在所述底座10上时,所述限位块20通过所述锁紧件23与所述固定孔14之间的配合固定在所述底座10上。进一步地,所述锁紧件23为一锁紧螺丝,所述固定孔14为一螺纹孔。在本实施方式中,所述限位块20通过两锁紧件23固定在所述底座10上。在其他实施方式中,所述锁紧件23可为换位其他数量,如4个。

在另一实施方式中,可在所述限位块20上的相对两端设置弹片(图未标示),所述底座10在对应位置处设有卡槽(图为标示)。当将所述限位块20固定在所述底座10上时,将所述弹片向相互靠近的方向施力,使得所述弹片变形,再将所述弹片移至所述底座10的对应卡槽处,释放所述弹片,使得所述弹片卡固于所述卡槽上,从而将所述限位块20固定在所述底座10上。可以理解的是,在其他实施方式中,所述限位块20和所述底座10之间的连接还可替换为其他方式。

请参阅图5,当将所述探针300从所述第二收容腔13的一端置于所述底座10中时,所述第二针体32部分置于所述第四圆柱孔122中,部分显露于所述第一收容腔11中,所述第一针体31部分置于所述第三圆柱孔121中,且所述第一针体31的一端抵持于所述第二抵持部123上,部分显露于所述第二收容腔13中。进一步地,将所述限位块20固定在所述底座10上时,部分显露于所述第二收容腔13中的第一针体31置于所述第一圆柱孔211中,且所述第一针体31的另一端抵持于所述第一抵持部213上,另一所述第二针体32部分置于所述第二圆柱孔212中,部分凸伸处所述第二圆柱孔212外。所述探针300固定于所述针座结构100中。

请参阅图6和图7,所述测试治具包括固定板40,所述固定板40上设有第三通孔(图未标示),所述针座结构100设于所述第三通孔位置处。所述测试治具还可包括转接板50,当将所述转接板50设于所述固定板40上时,从所述限位块20一端凸伸出所述探针300与所述转接板50连接。而当将被测产品放置于所述底座10的收容空间中时,所述探针300将所述被测产品与所述转接板50连接,进一步地结合其他构件对所述被测产品进行检测。

请参阅图8,优选的,在一实施方式中,所述限位块20上设有引导斜面22,所述引导斜面22用于引导所述探针300进入所述第二通孔21中。具体地,所述第二通孔21靠近所述探针300的一端与所述限位块20的端面间形成所述引导斜面22,在使得所述探针300的一端凸伸入所述第二通孔21中时,若所述探针300未准确进入所述第二通孔21中,在移动所述限位块20或所述底座10时,可使得所述探针300沿所述引导斜面22进入所述第二通孔21中。

综上所述,本发明实施方式中提供针座结构100及采用该针座结构100的测试治具,通过在所述底座10上设置第一通孔12,在所述限位块20上设置与所述第一通孔12对应的第二通孔21,且在所述第一通孔12和所述第二通孔21中形成用于抵持所述探针300的第一抵持部213和第二抵持部123,将所述探针300固定在所述针座结构100上。进一步地,通过测试治具对被测产品进行测试。上述的针座结构100结构简单、方便操作,在所述底座10上直接设置于其相适配的限位块20,在安装所述转接板50时,也无需要将所述限位块20拆卸下来,有效避免出现所述探针300从所述底座10上掉落的情况。当要更换所述探针300时,所述针座结构100也便于拆卸。

另外,本技术领域的普通技术人员应当认识到,以上的实施方式仅是用来说明本发明,而并非用作为对本发明的限定,只要在本发明的实质精神范围之内,对以上实施例所作的适当改变和变化都落在本发明要求保护的范围之内。

再多了解一些
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