针对容差电路的机内测试方法、系统及计算机可读介质与流程

文档序号:19126254发布日期:2019-11-13 02:09阅读:346来源:国知局
针对容差电路的机内测试方法、系统及计算机可读介质与流程

本申请涉及但不限于测试技术领域,尤指一种针对容差电路的机内测试方法、系统及计算机可读介质。



背景技术:

目前,在航空、航天、军工领域,装备的集成度、复杂度越来越高,对装备的自测试、自诊断能力要求也越来越高,这就要求此类装备具备先进的机内测试(built-intest,简称bit)系统。然而,目前的bit系统多数针对的是数字信号系统设计的,对于诸如模拟信号的放大、滤波、调理整形、信号变换、功率放大或电源等故障高发的模拟电路,由于缺乏先进的故障诊断方法支撑,没有有效的bit设计技术。



技术实现要素:

本申请实施例提供了一种针对容差电路的机内测试方法、系统及计算机可读介质,可以实现在容差模拟电路系统快速定位故障区域。

第一方面,本申请实施例提供了一种针对容差电路的机内测试设计方法,包括:

对待测的容差模拟电路系统进行划分,得到一个或多个子电路组合,其中,每个子电路组合中包括至少两个相连的子电路;针对待测的容差模拟电路系统中的每一个子电路组合,确定每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点和每个子电路内的诊断用测试节点,并通过电路仿真,获取所述撕裂节点的电压仿真计算值和所述诊断用测试节点的电压仿真计算值区间;

在bit过程中,给每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点施加激励电压,采集每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值,并分别根据每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定该子电路是否存在故障;其中,所述撕裂节点上施加的激励电压的电压值为所述撕裂节点的电压仿真计算值。

第二方面,本申请实施例提供了一种针对容差电路的机内测试系统,包括:

划分模块,用于对待测的容差模拟电路系统进行划分,得到一个或多个子电路组合,其中,每个子电路组合中包括至少两个子电路;针对待测的容差模拟电路系统中的每一个子电路组合,确定每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点和每个子电路内的诊断用测试节点;

仿真模块,用于对于每一个子电路组合,通过电路仿真,获取每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点的电压仿真计算值和每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间;

bit模块,用于针对每一个子电路组合,在bit过程中,给每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点施加激励电压,采集每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值,并分别根据每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定该子电路是否存在故障;其中,所述撕裂节点上施加的激励电压的电压值为所述撕裂节点的电压仿真计算值。

第三方面,本申请实施例提供了一种计算机可读介质,存储有针对容差电路的机内测试程序,所述机内测试程序被执行时实现如第一方面实施例所述的针对容差电路的机内测试方法的步骤。

本申请提供的针对容差电路的机内测试方法、系统及计算机可读介质,针对容差模拟电路系统,可以通过对容差模拟电路系统分块,并进行简单的仿真分析,在bit过程中,依据仿真分析的分析结果对容差模拟电路系统施加电压激励信号,再采集容差模拟电路系统的测试数据,依据测试数据来实现定位容差模拟电路系统中的故障区域。

本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本申请而了解。本申请的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本申请技术方案的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案,并不构成对本申请技术方案的限制。

图1为本发明实施例一提供的针对容差电路的机内测试方法的流程图;

图2为本发明实施例提供的针对容差电路的机内测试方法的原理示意图;

图3为本发明实施例二提供的针对容差电路的机内测试方法的流程图;

图4为本发明实施例三提供的针对容差电路的机内测试方法的流程图;

图5为发明实施例提供的针对容差电路的机内测试系统的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本申请的实施例进行详细说明。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且,虽然在流程图中示出了逻辑顺序,但是在某些情况下,可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

图1为本发明实施例一提供的针对容差电路的机内测试方法的流程图,如图1所示,本实施例提供的针对容差电路的机内测试方法,可以包括:

s101:对待测的容差模拟电路系统进行划分,得到一个或多个子电路组合,其中,每个子电路组合中包括至少两个相连的子电路。

本实施例中,待测的容差模拟电路系统的划分方式可以根据用户对故障区域的定位需求来确定,其可以包括以下两种实现方式:

第一种实现方式:可以根据用户对故障区域的定位需求,将整个容差模拟电路系统划分为至少两个子电路(即得到一个子电路组合)。

具体的,图2为本发明实施例提供的针对容差电路的机内测试方法的原理示意图,如图2所示,假设待测的容差模拟电路系统为n,根据用户给出的故障区域定位需求,容差模拟电路系统n可以被划分为两个子电路(也可以称为电路块或子网络)n1和n2。换言之,子电路n1和n2连接可以组成容差模拟电路系统n。

第二种实现方式:可以根据用户对故障区域的定位需求(比如,需要定位到故障元器件),将整个容差模拟电路系统划分为多级子电路组合,且每一级子电路组合都是对前一级子电路组合中的子电路进行划分得到的,第一级子电路组合是通过划分待测的容差模拟电路系统得到的。

具体的,多个子电路组合可以包括第一级子电路组合至第i级子电路组合,第一级子电路组合可以包括对待测的容差模拟电路系统划分得到的至少两个子电路,第i级子电路组合可以包括对第i-1级子电路组合内的任一子电路划分得到的至少两个子电路;其中,i为大于1的整数。

举例来说,以i=3为例,可以对待测的容差模拟电路系统n进行划分得到一个第一级子电路组合、两个第二级子电路组合以及四个第三级子电路组合。其中,可以将容差模拟电路系统划分为两部分得到子电路n1和n2(即第一级子电路组合),将子电路n1划分为两部分得到子电路n11和n12(即一个第二级子电路组合),将子电路n2划分为两部分得到子电路n21和n22(即一个第二级子电路组合);可以将子电路n11划分为两部分得到子电路n111和n112(即一个第三级子电路组合),将子电路n12划分为两部分得到子电路n121和n122(即一个第三级子电路组合),将子电路n21划分为两部分得到子电路n211和n212(即一个第三级子电路组合),将子电路n22划分为两部分得到子电路n221和n222(即一个第三级子电路组合)。

其中,本实施例以每个子电路组合中包括两个相连的子电路为例进行阐述,每个子电路组合中包括至少两个相连的子电路的实现原理与之相同,本实施例在此不进行赘述。

s102:针对待测的容差模拟电路系统中的每一个子电路组合,确定每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点和每个子电路内的诊断用测试节点。

本实施例中,可以按照以下原则,将模拟电路系统进行子电路的划分:每一个子电路组合中包括的每两个子电路之间除了相互连接的撕裂节点之外没有耦合,且每两个子电路之间没有分离的控制源和受控对象,撕裂节点为可及节点;每一个子电路组合中的每一个子电路含有满足以下条件的可及节点:节点电压值相对于该子电路内所有元器件参数的灵敏度不为零。

其中,每一个子电路组合中包括的每两个子电路之间除了相互连接的撕裂节点之外没有耦合是指:子电路之间除了撕裂节点外,不存在其他公共节点和支路。

其中,每两个子电路之间没有分离的控制源和受控对象是指:对于含有控制源的网络,控制源和受控对象应划分在同一个子电路中。

其中,划分后的子电路中含有以下类型的可及节点:节点电压值相对于该子电路内所有元器件参数的灵敏度不为零。上述类型的可及节点的节点电压值对元器件参数的灵敏度可以通过电路仿真分析得到,其仿真方法和原理与现有技术相同,本实施例在此不进行赘述。

本实施例中,按照上述原则对容差模拟电路系统进行划分时,可以得到多种划分方式,在实际应用中,可以根据用户需求挑选一种划分方式,本发明实施例在此不进行限定和赘述。其中,上述电路划分过程只是一个理论上的划分概念,并不对原容差模拟电路系统进行任何实际的物理分割。

举例来说,如图2所示,子电路n1和n2之间的撕裂节点可以包括节点n1、n2、…、ni。在容差模拟电路系统n被划分为子电路n1和n2后,可以选择出子电路n1和n2中的诊断用测试节点。本实施例中,每一个子电路内的诊断用测试节点可以为该子电路内满足以下条件的可及节点:节点电压值相对于该子电路内所有元器件参数的灵敏度不为零。如图2所示,可以在子电路n1中可以选择出三个诊断用测试节点t11、t12和t13;在子电路n2中可以选择出两个诊断用测试节点t21和t22。其中,在子电路中的诊断用测试节点为多个时,可以根据需求给每个子电路选择一个诊断用测试节点。

s103:通过电路仿真,获取撕裂节点的电压仿真计算值和诊断用测试节点的电压仿真计算值区间。

本实施例中,在确定子电路n1和n2之间的撕裂节点、子电路n1内的诊断用测试节点以及子电路n2内的诊断用测试节点之后,可以根据容差模拟电路系统n的原理图和元器件参数的标称值(理论预设值),利用电路仿真分析软件分别计算求出两个子电路n1和n2之间的撕裂节点(如图2中的节点n1,n2,…,ni)处的电压仿真计算值以及子电路n1和n2内部的诊断用测试节点(如图2中的节点t11、t12、t13和t21、t22)的电压仿真计算值区间。

本实施例中,考虑到元器件参数的容差影响,此时子电路内部诊断用测试节点的电压理论值是一个区间值,而并非是点值。

本实施例中,通过电路仿真获取撕裂节点的电压仿真计算值与现有技术相同,通过电路仿真获取诊断用测试节点的电压仿真计算值区间详见下述实施例的描述,本实施例在此不进行赘述。

s104:在bit过程中,给每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点施加激励电压,采集每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值,并分别根据每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定该子电路是否存在故障。

其中,撕裂节点上施加的激励电压的电压值为撕裂节点的电压仿真计算值。

本实施例中,在bit诊断测试过程中,根据上述仿真计算求得的每两个子电路之间撕裂节点(如图2中n1和n2之间的节点n1,n2,…,ni)处的电压仿真计算值,在相应撕裂节点处施加相应大小的激励电压。在电路正常工作时,各激励电压源均处于开路状态,不影响原电路系统的正常工作。当需要进行机内测试诊断故障时,各激励电压源接通,与电路原有激励信号一起作为激励信号激励电路,同时自动采集每一个子电路(如图2中的n1和n2)内部的诊断用测试节点测试电压值。对于每一个子电路,通过比较该子电路内诊断用测试节点测试电压值是否落在[vmin,vmax]之内,即可确定该子电路的故障情况。

本实施例中,在bit诊断测试过程中,可以通过程序控制实现在撕裂节点施加激励电压以及采集诊断用测试节点的测试电压值,其实现原理与现有技术相同,本实施例在此不进行限定。

本发明实施例提供的针对容差电路的机内测试方法,针对容差模拟电路系统,可以通过对容差模拟电路系统分块,并进行简单的仿真分析,在bit过程中,依据仿真分析的分析结果对容差模拟电路系统施加电压激励信号,再采集容差模拟电路系统的测试数据,依据测试数据来实现定位容差模拟电路系统中的故障区域。

进一步地,在上述实施例中,通过电路仿真,获取诊断用测试节点的电压仿真计算值区间,可以包括:

对待测的容差模拟电路系统中的每一个元器件参数分别进行容差范围内的随机赋值,各自得到n个赋值参数;对于每一个诊断用测试节点,从待测的容差模拟电路系统中每一个元器件参数的n个赋值参数中随机选取一个赋值参数,形成m个赋值元器件参数;分别对每一个赋值元器件参数进行仿真分析,得到每一个诊断用测试节点的m个电压值;从m个电压值中确定出最小值vmin和最大值vmax,将区间[vmin,vmax]确定为每一个诊断用测试节点的电压仿真计算值区间。

其中,n和m分别为正整数,n和m的取值根据实际测试情况而定,m可以等于或小于待测的容差模拟电路系统中所有元器件参数的数量,本实施例在此不进行限定和赘述。

本实施例中,给待测的容差模拟电路系统中所有元器件参数在其容差范围内随机赋值:对于每一个元器件参数,得到n个随机赋值参数。在bit测试过程中,对于每一个元器件参数,从n个赋值参数中任选一个,并把所有元器件参数选出的一个赋值参数进行任意组合,形成m个元器件参数的组合。对每一个元器件参数进行仿真分析,分别得到容差模拟电路系统内部可诊断用测试节点的电压值,找出最小和最大值,分别记为vmin和vmax,则电路无故障但元器件参数有容差时,其内部诊断用测试节点的电压仿真计算值区间为[vmin,vmax]。

其中,上述计算过程可由仿真软件中的“蒙特卡洛仿真”命令直接计算求出。

可选的,对待测的容差模拟电路系统中的每一个元器件参数进行容差范围内的随机赋值,可以包括:对于每一个元器件参数,以该元器件参数标称值为对称中心,按正态分布规律进行赋值。

本发明实施例提供的针对容差电路的机内测试方法,通过给待测的容差模拟电路系统中所有元器件参数在其容差范围内随机赋值,可确定出待测的容差模拟电路系统内诊断用测试节点的电压仿真计算值区间,从而依据测试数据是否落在诊断用测试节点的电压仿真计算值区间内就能快速定位容差电路的故障区域。

进一步地,在上述实施例中,分别根据每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定该子电路是否存在故障,可以包括:

对于每一个子电路分别进行如下操作:将该子电路内每个诊断用测试节点的电压仿真计算值区间分别与对应的测试电压值相比较;当该子电路内每个诊断用测试节点的测试电压值均落在仿真计算值区间之内时,则确定该子电路没有故障;当该子电路内存在任一诊断用测试节点的测试电压值未落在电压仿真计算值区间之内时,则确定该子电路存在故障。

本实施例中,当子电路内的诊断用测试节点的数目为一个时,只要该诊断用测试节点的测试电压值均落在仿真计算值区间之内时,即可确定该子电路没有故障。当子电路内的诊断用测试节点的数目为至少两个时,仅当该子电路内的全部诊断用测试节点的测试电压值均落在对应仿真计算值区间之内时,确定该子电路没有故障;若存在一个诊断用测试节点的测试电压值未落在对应仿真计算值区间之内时,则可以确定该子电路存在故障。

图3为本发明实施例二提供的针对容差电路的机内测试方法的流程图,在本实施例中,以待测的容差模拟电路系统被划分为两个子电路(即待测的容差模拟电路系统划分得到一个子电路组合)为例进行说明。如图3所示,本实施例提供的针对容差电路的机内测试方法可以包括以下过程:

s301:将待测的容差模拟电路系统n划分为子电路n1和n2,并选择每个子电路内的诊断用测试节点。

本实施例中,如图2所示,假设待测的容差模拟电路系统为n,根据用户给出的故障区域定位需求,容差模拟电路系统n可以被划分为两个子电路n1和n2。

具体的,如图2所示,子电路n1和n2之间的撕裂节点可以包括节点n1、n2、…、ni。在子电路n1中可以选择出三个诊断用测试节点t11、t12和t13;在子电路n2中可以选择出两个诊断用测试节点t21和t22。其中,可以根据需求给每个子电路选择一个诊断用测试节点。

s302:通过电路仿真,获取并存储撕裂节点和诊断用测试节点的电压仿真计算值及仿真计算电压区间值。

本实施例中,在确定子电路n1和n2之间的撕裂节点、子电路n1内的诊断用测试节点以及子电路n2内的诊断用测试节点之后,可以根据容差模拟电路系统n的原理图和元器件参数的标称值,利用电路仿真分析软件分别计算求出两个子电路n1和n2之间的撕裂节点n1,n2,…,ni处的电压仿真计算值(如记为vni0),以及利用电路仿真分析软件分别计算求出子电路n1和n2内部的诊断用测试节点t11、t12、t13和t21、t22的电压仿真计算值区间。其中,子电路n1内的诊断用测试节点的电压仿真计算值记为vt1i0,该仿真计算电压区间值记为[vt1i0min,vt1i0max]。子电路n2内的诊断用测试节点的电压仿真计算值记为vt2i0,该仿真计算电压区间值记为[vt2i0min,vt2i0max],上述两个仿真计算电压区间值的获取方法参照前面相应部分内容描述获得。

其中,两个子电路n1和n2之间的撕裂节点处的电压仿真计算值,以及n1和n2内部的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间可以自动存储起来,供后续进行机内测试时使用。

s303:在bit诊断测试过程中,对两个子电路之间的撕裂节点施加激励电压,并采集每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值。

本实施例中,在bit诊断测试过程中,可以通过程序控制实现在撕裂节点施加激励电压以及采集诊断用测试节点的测试电压值。

其中,撕裂节点上施加的激励电压的电压值即为该撕裂节点的电压仿真计算值。

可选的,给每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点施加激励电压,采集每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值,可以包括:通过控制激励电压施加电路给每两个子电路之间的撕裂节点施加激励电压,通过控制电压自动采集电路采集每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值。

具体的,如图2所示,对子电路n1和n2之间的每一个撕裂节点要施加的电压源,都利用微电子芯片设计一个电子开关(如图2中kp)与电压源相串联,形成回路。其中,撕裂节点n1与电压源u1串联,撕裂节点ni与电压源ui串联。在容差模拟电路系统正常工作时,可以控制各个激励电压源均处在开路状态,不影响原模拟电路系统的正常工作。当进行机内测试时,可以通过程序控制各个电子开关接通激励电压源,激励电压源与模拟电路系统的原有激励信号一起作为激励信号激励电路,同时可以通过程序控制自动采集电路系统自动采集子电路n1和n2内部的诊断用测试节点的电压响应信号(即测试电压值),比如记为vt1im和vt2im

其中,诊断用测试节点的电压信号的自动采集,可以设计专用的自动采集电路系统,比如,该自动采集电路系统可以包括电子开关、模数(a/d)转换电路以及相应的数字电路,本发明实施例在此不进行限定和赘述。

s304:基于诊断用测试节点的电压仿真计算值区间和测试电压值,进行子电路的故障诊断。

本实施例中,通过比较vt1im是否落在[vt1i0min,vt1i0max]之内,比较vt2im是否落在[vt2i0min,vt2i0max]之内,即可确定子电路n1和n2的故障情况。

具体的,若vt1im落在[vt1i0min,vt1i0max]之内,即vt1i0min<vt1im<vt1i0max,则子电路n1无故障,否则有故障。同理,若vt2i0min<vt2im<vt2i0max,则子电路n2无故障,否则有故障。在本实施例中,由于子电路n1内的诊断用测试节点的数目为三个,则当三个诊断用测试节点的测试电压值都落在对应电压仿真计算值区间之内时,则确定子电路n1无故障,当任一个诊断用测试节点的电压测试值未落在电压仿真计算值区间之内时,则确定子电路n1存在故障。同样地,当子电路n2内的两个诊断用测试节点的电压测试值均落在电压仿真计算值区间之内时,则确定子电路n2无故障,当任一诊断用测试节点的电压测试值未落在电压仿真计算值区间之内时,则确定子电路n2存在故障。

本发明实施例提供的针对容差电路的机内测试方法,针对容差模拟电路系统,可以通过对容差模拟电路系统分块,并进行简单的仿真分析,在bit过程中,依据仿真分析的分析结果对容差模拟电路系统施加电压激励信号,再采集容差模拟电路系统的测试数据,依据测试数据来实现定位容差模拟电路系统中的故障区域。

进一步地,在上述实施例中,在根据用户对故障区域的定位需求,将整个容差模拟电路系统划分为多级子电路组合时,本发明实施例提供的针对容差电路的机内测试方法,在bit过程中,给每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点施加激励电压,采集每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值,并分别根据每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定该子电路是否存在故障,可以包括:

在bit过程中,当第i-1级子电路组合内的任一子电路被检测到存在故障,则给对存在故障的子电路划分得到的第i级子电路组合中的每两个子电路的撕裂节点施加激励电压,采集第i级子电路组合中每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值,并分别根据第i级子电路组合中每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定第i级子电路组合中的每一个子电路是否存在故障。

具体的,图4为本发明实施例三提供的针对容差电路的机内测试方法的流程图,在本实施例中,以待测的容差模拟电路系统n划分为两个子电路n1和n2,且子电路n1又划分为两个子电路n11和n12,子电路n2又划分为两个子电路n21和n22(即待测的容差模拟电路系统划分得到三个子电路组合)为例进行说明。如图4所示,本实施例提供的针对容差电路的机内测试方法可以包括以下过程:

s401:将待测的容差模拟电路系统n划分为子电路n1和n2,将子电路n1划分为子电路n11和n12,将子电路n2划分为子电路n21和n22,并选择每个子电路内的诊断用测试节点。

本实施例中,容差模拟电路系统n以及子电路n1和n2的划分原则可以参照图1所示实施例的描述,本实施例在此不进行赘述。

举例来说,如图2所示,在子电路n1中可以选择出三个诊断用测试节点t11、t12和t13,在子电路n2中可以选择出两个诊断用测试节点t21和t22。在子电路n11和n12、n21和n22中分别选择出一个诊断用测试节点(图2未示出)。

s402:通过电路仿真,获取并存储撕裂节点和诊断用测试节点的电压仿真计算值。

其中,关于撕裂节点和诊断用测试节点的电压仿真计算值的获取方式可以参照上述步骤s102或s302的说明,本实施例在此不进行赘述。

s403:在bit诊断测试过程中,先对子电路n1和n2进行故障诊断,再对子电路n11和n12进行故障诊断,或者对子电路n21或n22进行故障诊断。

本实施例中,在bit诊断测试过程中,可以通过程序控制先对子电路n1和n2的撕裂节点施加激励电压,并采集子电路n1和n2内的诊断用测试节点的测试电压值。然后,根据子电路n1内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间和测试电压值之间的比较结果,来确定子电路n1是否存在故障;根据子电路n2内的诊断用测试节点的电压仿真计算值和测试电压值之间的比较结果,来确定子电路n2是否存在故障。其中,子电路n1和n2的撕裂节点上施加的激励电压的电压值为该撕裂节点的电压仿真计算值。

本实施例中,当确定子电路n1存在故障,则可以通过程序控制对子电路n11和n12的撕裂节点施加激励电压,并采集子电路n11和n12内的诊断用测试节点的测试电压值。然后,根据子电路n11内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间和测试电压值之间的比较结果,来确定子电路n11是否存在故障;根据子电路n12内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间和测试电压值之间的比较结果,来确定子电路n12是否存在故障。

同样地,当确定子电路n2存在故障,则可以通过程序控制对子电路n21和n22的撕裂节点施加激励电压,并采集子电路n21和n22内的诊断用测试节点的测试电压值。然后,根据子电路n21内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间和测试电压值之间的比较结果,来确定子电路n21是否存在故障;根据子电路n22内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间和测试电压值之间的比较结果,来确定子电路n22是否存在故障。

其中,关于故障诊断的具体实现方式可以参照图1或图3所示实施例的说明,故于此不再赘述。

可选的,在bit诊断测试过程中,可以根据需求配置,直接对子电路n11和n12进行故障诊断,或者直接对子电路n21或n22进行故障诊断,本实施例在此不进行限定。

本发明实施例提供的针对容差电路的机内测试方法,针对容差模拟信号电路系统,通过对电路进行简单的仿真分析后,依据分析结果对电路施加一组电压激励信号,然后再对电路进行一定的测试,依据测试数据快速定位电路中的故障区域或故障元器件。通过本实施例提供的设计方法设计的bit可以实现故障快速定位,且实施简便。

图5为发明实施例提供的针对容差电路的机内测试系统的结构示意图,如图5所示,本实施例提供的针对容差电路的机内测试系统,包括:划分模块51、仿真模块52以及bit模块53。

划分模块51,用于对待测的容差模拟电路系统进行划分,得到一个或多个子电路组合,其中,每个子电路组合中包括至少两个子电路;针对待测的容差模拟电路系统中的每一个子电路组合,确定每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点和每个子电路内的诊断用测试节点;

仿真模块52,用于对于每一个子电路组合,通过电路仿真,获取每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点的电压仿真计算值和每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间;

bit模块53,用于针对每一个子电路组合,在bit过程中,给每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点施加激励电压,采集每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值,并分别根据每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定该子电路是否存在故障;其中,所述撕裂节点上施加的激励电压的电压值为所述撕裂节点的电压仿真计算值。

本发明实施例提供的针对容差电路的机内测试bit系统用于执行图1所示方法实施例的技术方案,其实现原理和实现效果类似,此处不再赘述。

在一示例性实施例中,仿真模块52通过电路仿真,获取所述诊断用测试节点的电压仿真计算值区间,可以包括:

对待测的容差模拟电路系统中的每一个元器件参数分别进行容差范围内的随机赋值,各自得到n个赋值参数,n为正整数;对于每一个诊断用测试节点,从待测的容差模拟电路系统中每一个元器件参数的n个赋值参数中随机选取一个赋值参数,形成m个赋值元器件参数,m为正整数;分别对每一个赋值元器件参数进行仿真分析,得到每一个诊断用测试节点的m个电压值;从m个电压值中确定出最小值vmin和最大值vmax,将区间[vmin,vmax]确定为每一个诊断用测试节点的电压仿真计算值区间。

在一示例性实施例中,仿真模块52对待测的容差模拟电路系统中的每一个元器件参数进行容差范围内的随机赋值,可以包括:

对于每一个元器件参数,以该元器件参数标称值为对称中心,按正态分布规律进行赋值。

在一示例性实施例中,bit模块53分别根据每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定该子电路是否存在故障,可以包括:

对于每一个子电路分别进行如下操作:将该子电路内每个诊断用测试节点的电压仿真计算值区间分别与对应的测试电压值相比较;当该子电路内每个诊断用测试节点的测试电压值均落在仿真计算值区间之内时,则确定该子电路没有故障;当该子电路内存在任一诊断用测试节点的测试电压值未落在电压仿真计算值区间之内时,则确定该子电路存在故障。

在一示例性实施例中,多个子电路组合包括第一级子电路组合至第i级子电路组合,所述第一级子电路组合包括对所述待测的容差模拟电路系统划分得到的至少两个子电路,所述第i级子电路组合包括对第i-1级子电路组合内的任一子电路划分得到的至少两个子电路;其中,i为大于1的整数;

相应地,bit模块53在bit过程中,给每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点施加激励电压,采集每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值,并分别根据每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定该子电路是否存在故障,可以包括:

在bit过程中,当所述第i-1级子电路组合内的任一子电路被检测到存在故障,则给对存在故障的子电路划分得到的第i级子电路组合中的每两个子电路的撕裂节点施加激励电压,采集所述第i级子电路组合中每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值,并分别根据所述第i级子电路组合中每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定所述第i级子电路组合中的每一个子电路是否存在故障;其中,任一撕裂节点上施加的激励电压的电压值为该撕裂节点的电压仿真计算值。

在一示例性实施例中,每一个子电路组合中包括的每两个子电路之间除了撕裂节点之外没有耦合,且没有分离的控制源和受控对象,所述撕裂节点为可及节点;每一个子电路组合中的每一个子电路内含有满足以下条件的可及节点:节点电压值相对于该子电路内所有元器件参数的灵敏度不为零。

在一示例性实施例中,每一个子电路内的诊断用测试节点为该子电路内满足以下条件的可及节点:节点电压值相对于该子电路内所有元器件参数的灵敏度不为零。

在一示例性实施例中,bit模块53可以包括:bit控制单元、激励电压施加电路以及电压自动采集电路;其中,bit控制单元可以用于控制激励电压施加电路给子电路组合中每两个子电路之间的撕裂节点施加激励电压,以及控制电压自动采集电路采集每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值。

此外,本发明实施例还提供一种计算机可读介质,其存储有针对容差电路的机内测试程序,该针对容差电路的机内测试程序被执行时实现如上述任一实施例所示的针对容差电路的机内测试方法步骤,比如图1、图3或图4所示的步骤。

本领域普通技术人员可以理解,上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中,在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分;例如,一个物理组件可以具有多个功能,或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器,如数字信号处理器或微处理器执行的软件,或者被实施为硬件,或者被实施为集成电路,如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上,计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的,术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于ram、rom、eeprom、闪存或其他存储器技术、cd-rom、数字多功能盘(dvd)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外,本领域普通技术人员公知的是,通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据,并且可包括任何信息递送介质。

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