一种微针测试设备构架的制作方法

本发明涉及电子技术领域，具体涉及电子产品中软排线的测试设备。

背景技术：

电子产品的摄像头模组，其内设有电路模块，电路模块设有柱形导电体，柱形导电体上下贯穿电路模块，能够将电路模块下方的电流导向上方。

在摄像头模组组装过程中，电路模块的上方需要装配软排线，软排线与导电体接触，将来自导电体的电流导向电路模块上的其他元器件。软排线上设有若干触点，电路模块上的元器件通过与软排线上的触点接触或连接而得电。

软排线一般通过粘接件安装在电路模块上，或者，利用固定在电路模块上的片状零件将其压紧在电路模块上。软排线一旦完成安装，拆卸困难，而且可能损伤摄像头模组。因此，在软排线安装在电路模块之前，需要对其与电路模块的电连接关系进行检测，在达到要求后，再将软排线安装在摄像头模组的电路模块上。

技术实现要素：

本发明所解决的技术问题：在软排线安装在摄像头模组之前，利用机械设备辅助完成软排线与摄像头模组之间电连接关系的预检测。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：一种微针测试设备构架，包括能够定位摄像头模组的定位座、位于定位座旁侧的第一探针驱动模组和第二探针驱动模组，定位座的旁侧设有翻转式的吸附模组，吸附模组能够吸附软排线；向定位座方向翻转所述吸附模组，吸附模组上的软排线能够与摄像头模组的电路模块的导电体接触。

按上述技术方案，摄像头模组首先定位在载具上，再将载具定位在定位座上。软排线首先被吸附在吸附模组上，再向定位座方向翻转吸附模组，吸附模组上的软排线与摄像头模组的电路模块的导电体接触。之后，第一探针驱动模组驱动第一探针与软排线上的触点接触，第二探针驱动模组驱动第二探针与摄像头模组的电路模块上的导电体接触。之后，对软排线上的触点和导电体之间的内阻，以及软排线上触点与触点是否短路进行测试。

本发明涉及微针测试设备的机械构架，为摄像头模组的软排线与电路模块之间的电连接关系的预检测提供硬件条件，以保证预检测的顺利进行，为提高预检测的效果提供保证。

附图说明

下面结合附图对本发明做进一步的说明：

图1为一种微针测试设备构架的示意图；

图2为图1中壳体63和电气控制柜62隐藏后的示意图；

图3为第一探针驱动模组20的示意图；

图4为扫码枪支架70的示意图；

图5为定位座10的示意图；

图6为图5的爆炸图；

图7为吸附模组30的示意图；

图8为抵压模组40的示意图；

图9为纵向滑行模组52的示意图。

图中符号说明：

10、定位座；11、定位结构；12、导电模组；121、弹簧；122、绝缘基座；123、正极环；124、负极环；125、正极泡棉；126、负极泡棉；

20、第一探针驱动模组；21、第一探针；22、第三气缸；

30、吸附模组；31、铰接座；32、翻转杆件；33、吸附头；330、仿形槽；331、吸气孔；

40、抵压模组；41、压头；42、第一气缸；

50、纵向滑行模块；51、纵向导轨；52、纵向滑行模组；

60、机架板；61、条形槽；62、电气控制柜；63、壳体；630、工作口；

70、扫码枪支架；71、扫码枪。

具体实施方式

如图2，一种微针测试设备构架，包括能够定位摄像头模组的定位座10、位于定位座旁侧的第一探针驱动模组20和第二探针驱动模组，定位座的旁侧设有翻转式的吸附模组30，吸附模组能够吸附软排线；向定位座方向翻转所述吸附模组，吸附模组上的软排线能够与摄像头模组的电路模块的导电体接触。

实际操作中，操作者将摄像头模组首先定位在载具上，再将载具定位在定位座10上。操作者将软排线放置在吸附模组20上，软排线被吸附在吸附模组上，之后，操作者再向定位座10方向翻转吸附模组20，吸附模组上的软排线与摄像头模组的电路模块的导电体接触。之后，操作者驱动第一探针驱动模组20，第一探针驱动模组驱动第一探针21与软排线上的触点接触。操作者驱动第二探针驱动模组，第二探针驱动模组驱动第二探针与摄像头模组的电路模块上的导电体接触。其中，第一探针21的数量为三个，三个探针同步位移，与软排线上的三个触点以一对一的方式接触；第二探针的数量为两个，一个与导电体中的正极导电体接触，另一个与导电体中的负极导电体接触，正极导电体与电源的正极连接，负极导电体与电源的负极接触或接地处理。

之后，对软排线上的触点和导电体之间的内阻，以及软排线上触点与触点是否短路进行测试。具体地，设软排线上的三个触点分别为第一触点、第二触点和第三触点，首先，检测装置对正极导电体与第一触点之间的内阻进行测量，再通过plc程序切换测量第二触点与负极导电体之间的内阻，内阻测试完成后，再进行短路测试；测试第一触点与第二触点之间的短路情况，再通过plc程序切换测试第二触点与第三触点之间的短路情况。根据测试结果，可以预知软排线在将来与电路模块装配后是否会达标。

需要说明的是，上述检测装置和检测方法并不属本发明保护范围，本发明所要保护的是微针测试设备的构架。

如图7，吸附模组30包括设置在定位座10旁侧的铰接座31、铰接在铰接座上的翻转杆件32、设置在翻转杆件端部的吸附头33，吸附头设有仿形槽330，仿形槽的底部设有吸气孔331；所述仿形槽至少能够定位软排线的一部分，即软排线至少一部分能够被吸附头33吸附。翻转杆件32上设有把手，操作者握持把手，手动翻转所述翻转杆件32，翻转的角度为180度，使软排线位于摄像头模组的电路模块上，与正极导电体和负极导电体接触，为下一步内阻和短路的检测作好准备。

结合图6、图7，定位座10上设有定位结构11和导电模组12，定位座上设有安装孔位，导电模组配合在安装孔位中；导电模组包括抵压在安装孔位底部的弹簧121、抵压在弹簧上的绝缘基座122、安装在绝缘基座上的导电环、设置在导电环上的导电泡棉，导电泡棉向上突出定位座；摄像头模组装载在载具上，当载具定位在所述定位结构中时，导电泡棉与摄像头模组的电路模块底部的柱形导电体接触。

其中，导电环包括正极环123和负极环124，正极环与电源的正极连接，负极环与电源的负极连接，正极环和负极环均为半个环形。导电泡棉包括与正极环上下重合的正极泡棉125、与负极环上下重合的负极泡棉126。载具定位在定位结构中，正极泡棉与电路模块的正极导电体相抵，负极泡棉与负极导电体相抵。

作为一种改进，结合图2、图8，定位座10的旁侧设有抵压模组40，抵压模组的压头41能够抵压在定位座上的摄像头模组上。所述压头41安装在抵压模组的第一气缸42上，第一气缸安装在下述纵向滑行模块50上。在载具定位在定位座10上后，第一气缸驱动压头41斜下行，抵压在摄像头模组的电路模块上，以定位电路模块，为其上导电体与软排线的接触提供条件。

如图2，抵压模组40、定位座10和吸附模组30安装在纵向滑行模块50上，纵向滑行模块滑动配合在纵向导轨51上，纵向导轨安装在机架板60上，机架板上设有与纵向滑行模块连接的纵向滑行模组52；第一探针驱动模组20和第二探针驱动模组安装在机架板上。作为一种选择，纵向滑行模组52为第二气缸，机架板60上开设条形槽61，第二气缸安装在机架板的底部，通过连接件与纵向滑行模块50连接，在第二气缸的驱动下，位于机架板60上方的纵向滑行模块50沿条形槽61滑行。

如图1，机架板60的下方设有电气控制柜62，机架板的上方设有壳体63，定位座10、第一探针驱动模组20、第二探针驱动模组、抵压模组40、吸附模组30以及下述的扫码枪支架70均位于壳体63内。壳体设有一工作口630，面向操作者。操作者在所述工作口处，完成：放置载具在定位座10上，将软排线放置在吸附模组30上，抵压模组40的压头41抵压在电路模块上，翻转吸附模组。这些动作完成后，驱动纵向滑行模组52，使纵向滑行模块50沿纵向导轨51位移至第一探针驱动模组20和第二探针驱动模组处，第一探针与软排线的触点接触，第二探针与电路模块上的导电体接触。在壳体的深处完成第一探针与软排线的触点接触、第二探针与电路模块上的导电体接触，能够避免壳体外的灰尘对检测结果的干扰。另外，第一探针与软排线的触点接触、第二探针与电路模块上的导电体接触的工位，与装载摄像头模组、软排线的工位，两者前后设置，能够方便操作者装载摄像头模组、软排线，为操作者提供更大的操作空间，不受第一探针驱动模组20和第二探针驱动模组的干扰。

如图3，所述第一探针21通过连接组件安装第一探针驱动模组20的第三气缸22上，第三气缸通过支架结构安装在机架板60上。所述第二探针通过连接组件安装第二探针驱动模组的第四气缸上，第四气缸通过支撑结构安装在机架板60上。

作为一种改进，结合图2、图4，机架板60上设有扫码枪支架70，扫码枪支架上能够安装扫码枪71，扫码枪能够对位于其下方的摄像头模组上的条码进行扫描，将扫描结果输送到主控单元，操作者就能够知晓上述内阻和短路测试的结果具体是哪个摄像头模组。

以上内容仅为本发明的较佳实施方式，对于本领域的普通技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。