本实用新型涉及电子元器件拉力测试装置,具体是一种用于电子元器件试验的拉力测试装置。
背景技术:
电子元器件拉力机是用来针对各种电子元件进行静载、拉伸、压缩、弯曲、剪切、撕裂、剥离等力学性能试验用的机械加力的试验机,但是,现有的拉力机只能同时对单个方向进行测试。因此,本领域技术人员提供了一种用于电子元器件试验的拉力测试装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
技术实现要素:
本实用新型的目的在于提供一种用于电子元器件试验的拉力测试装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种用于电子元器件试验的拉力测试装置,包括测试台,所述测试台上端面的一角处设有立架,且在立架的上端设有固定板,所述固定板的下端面固定安装有电缸ii,且电缸ii上的活塞杆与压力传感器ii固定连接,所述立架的相邻两侧面上均设有挡板,所述挡板上固定连接有电缸i,且电缸i上的活塞杆与压板固定连接,所述测试台上端面固定连接有电缸iii,且两个电缸iii上的活塞杆与压力传感器i固定连接,所述测试台的另一侧设有控制面板,且述控制面板分别与压力传感器i、压力传感器ii相电性连接。
作为本实用新型进一步的方案:所述电缸iii与测试台固定连接,且电缸iii的位置与压板的位置相对应。
作为本实用新型进一步的方案:所述挡板与测试台垂直固定连接,且挡板为l型弯板结构。
作为本实用新型进一步的方案:所述立架形状为l型,在立架的直角处设有斜撑。
作为本实用新型进一步的方案:所述压力传感器i的一端固定连接有绳子i,且绳子i一端固定连接有钩子ii。
作为本实用新型进一步的方案:所述压力传感器ii的一端固定连接有绳子ii,且绳子ii的数量有四个,所述绳子子ii的下端均固定连接有钩子i。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1、通过x、y和z三个方向的电缸设计,可以同时对三个方向进行测试,解决了只能对单个方向测试的问题;
2、通过控制面板来控制电缸i、电缸ii与电缸iii的伸缩长度与伸缩速度,同时通过压力传感器i、压力传感器ii来实时观察测试拉力的大小,进而对整个测试过程实现智能化控制。
附图说明
图1为一种用于电子元器件试验的拉力测试装置的结构示意图;
图2为一种用于电子元器件试验的拉力测试装置中a处的局部放大图。
图中:1、测试台;2、立架;3、固定板;4、挡板;5、电缸i;6、电缸ii;7、压板;8、电缸iii;9、压力传感器i;10、绳子i;11、压力传感器ii;12、绳子ii;13、控制面板;14、钩子i;15、钩子ii。
具体实施方式
请参阅图1~2,本实用新型实施例中,一种用于电子元器件试验的拉力测试装置,包括测试台1,所述测试台1上端面的一角处设有立架2,且在立架2的上端设有固定板3,所述固定板3的下端面固定安装有电缸ii6,且电缸ii6上的活塞杆与压力传感器ii11固定连接,所述立架2的相邻两侧面上均设有挡板4,所述挡板4上固定连接有电缸i5,且电缸i5上的活塞杆与压板7固定连接,所述测试台1上端面固定连接有电缸iii8,且两个电缸iii8上的活塞杆与压力传感器i9固定连接,所述测试台1的另一侧设有控制面板13,且述控制面板13分别与压力传感器i9、压力传感器ii11相电性连接。
在图1中:所述电缸iii8与测试台1固定连接,且电缸iii8的位置与压板7的位置相对应。
在图1中:所述挡板4与测试台1垂直固定连接,且挡板4为l型弯板结构,便于安装电杆i5。
在图1中:所述立架2形状为l型,在立架2的直角处设有斜撑,这种结构增加了立架2的整体强度。
在图1中:所述压力传感器i9的一端固定连接有绳子i10,且绳子i10一端固定连接有钩子ii15,容易操作,便于试验。
在图1中:所述压力传感器ii11的一端固定连接有绳子ii12,且绳子ii的数量有四个,所述绳子ii12的下端均固定连接有钩子i14。
本实用新型的工作原理是:将电子元件放在测试台1上,通过控制面板13控制电缸i5驱动压板7下压,进而使电子板被压劳在测试台1的上端面上,将钩子ii15勾住电子元件的针脚,通过控制面板13控制电缸8启动并将绳子i10拉紧,通过压力传感器i9向控制面板13反馈x轴与y轴方向上实时的测试拉力数值;将钩子i14钩住电子元件的下端面,通过控制面板13控制电缸ii6启动并将绳子ii12拉紧,通过压力传感器ii11向控制面板13反馈z轴方向上实时的测试拉力数值;整个过程实现智能化控制,极大的提高了测试拉力的精度、测试拉力的测量方向与测试拉力的测量范围。
以上所述的,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
1.一种用于电子元器件试验的拉力测试装置,包括测试台(1),其特征在于,所述测试台(1)上端面的一角处设有立架(2),且在立架(2)的上端设有固定板(3),所述固定板(3)的下端面固定安装有电缸ii(6),且电缸ii(6)上的活塞杆与压力传感器ii(11)固定连接,所述立架(2)的相邻两侧面上均设有挡板(4),所述挡板(4)上固定连接有电缸i(5),且电缸i(5)上的活塞杆与压板(7)固定连接,所述测试台(1)上端面固定连接有电缸iii(8),且两个电缸iii(8)上的活塞杆与压力传感器i(9)固定连接,所述测试台(1)的另一侧设有控制面板(13),且述控制面板(13)分别与压力传感器i(9)、压力传感器ii(11)相电性连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件试验的拉力测试装置,其特征在于,所述电缸iii(8)与测试台(1)固定连接,且电缸iii(8)的位置与压板(7)的位置相对应。
3.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件试验的拉力测试装置,其特征在于,所述挡板(4)与测试台(1)垂直固定连接,且挡板(4)为l型弯板结构。
4.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件试验的拉力测试装置,其特征在于,所述立架(2)形状为l型,在立架(2)的直角处设有斜撑。
5.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件试验的拉力测试装置,其特征在于,所述压力传感器i(9)的一端固定连接有绳子i(10),且绳子i(10)一端固定连接有钩子ii(15)。
6.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件试验的拉力测试装置,其特征在于,所述压力传感器ii(11)的一端固定连接有绳子ii(12),且绳子ii的数量有四个,所述绳子ii(12)的下端均固定连接有钩子i(14)。