射频集成电路测试系统的制作方法

本实用新型涉及电路测试技术领域，尤其涉及射频集成电路测试系统。

背景技术：

随着集成电路的发展，越来越倾向于数模混合单片集成电路。电路内部通过数字功能模块对模拟部分进行控制，因此对于集成电路的测试分析。

现有的射频集成电路的测试分析装置结构较为简单，在对射频集成电路测试时，需要人工逐个测试，劳动强度非常大，而且测试的结果不便于工作人员观察。为此，本实用新型提出了射频集成电路测试系统。

技术实现要素：

本实用新型的目的是为了解决现有技术中射频集成电路的测试分析装置结构较为简单，在对射频集成电路测试时，需要人工逐个测试，劳动强度非常大，而且测试的结果不便于工作人员观察的问题，而提出的射频集成电路测试系统。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

射频集成电路测试系统，包括底座、测试仪、测试探针和显示器，所述底座的上表面固定设有l型支撑板，所述l型支撑板的顶部固定设有气缸，所述气缸的活塞杆末端固定设有固定板，所述固定板的上表面左右两侧均开设有插孔，所述测试探针通过插孔插入在固定板上，所述测试仪固定设置于所述l型支撑板的顶部，所述测试探针的上端通过导线与所述测试仪电性连接，所述测试探针的外壁与所述固定板之间设有弹性机构，所述显示器固定设置于所述l型支撑板的侧壁上；

所述底座的上方水平设有旋转板，所述旋转板的下表面中心处固定设有转轴，所述转轴的下端通过滚动轴承与所述底座的上表面中心处转动连接，所述旋转板的上表面边缘处环绕开设有多个均匀分布的放置槽，且放置槽的内部设有夹持机构。

优选的，所述弹性机构包括固定环和第一弹簧，所述固定环固定设置于所述测试探针的外壁上，所述第一弹簧活动套设有于所述测试探针的外壁上，且第一弹簧的两端分别与所述固定板的上表面和固定环的下表面固定连接。

优选的，所述夹持机构包括夹板和第二弹簧，所述夹板位于所述放置槽的内部，所述第二弹簧呈对称固定设置于所述夹板的侧面上，且第二弹簧的另一端与所述放置槽的侧壁固定连接。

优选的，所述放置槽的侧壁开设有手指槽。

优选的，所述底座的表面固定设有多个均匀分布的万向滚珠，所述旋转板的下表面滚动设置于所述万向滚珠的顶部。

优选的，所述测试探针与所述放置槽呈位置对应设置。

与现有技术相比，本实用新型提供了射频集成电路测试系统，具备以下有益效果：

1、该射频集成电路测试系统，通过设有的底座、测试仪、测试探针、显示器、l型支撑板、气缸、导线、旋转板和放置槽，能够完成对射频集成电路的测试并通过显示器显示测试结果，通过设有的固定环和第一弹簧，能够避免测试探针与射频集成电路接触力过大造成损坏的现象。

2、该射频集成电路测试系统，通过设有的转轴，能够实现旋转板围绕转轴旋转功能，从而能够将不同放置槽内部的射频集成电路移动至测试探针的下方完成测试，通过设有的夹板和第二弹簧，便于工作人员将射频集成电路进行拆装。

该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本实用新型对射频集成电路的测试效率高，且便于工作人员观察测试结果，提高了射频集成电路的生产效率。

附图说明

图1为本实用新型提出的射频集成电路测试系统的结构示意图；

图2为图1中旋转板的俯视结构示意图；

图3为图1中局部a部分的结构放大图。

图中：1底座、2测试仪、3测试探针、4显示器、5l型支撑板、6气缸、7固定板、8导线、9旋转板、10转轴、11放置槽、12固定环、13第一弹簧、14夹板、15第二弹簧、16手指槽、17万向滚珠。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

参照图1-3，射频集成电路测试系统，包括底座1、测试仪2、测试探针3和显示器4，底座1的上表面固定设有l型支撑板5，l型支撑板5的顶部固定设有气缸6，气缸6的活塞杆末端固定设有固定板7，固定板7的上表面左右两侧均开设有插孔，测试探针3通过插孔插入在固定板7上，测试仪2固定设置于l型支撑板5的顶部，测试探针3的上端通过导线8与测试仪2电性连接，测试探针3的外壁与固定板7之间设有弹性机构，显示器4固定设置于l型支撑板5的侧壁上；

底座1的上方水平设有旋转板9，旋转板9的下表面中心处固定设有转轴10，转轴10的下端通过滚动轴承与底座1的上表面中心处转动连接，旋转板9的上表面边缘处环绕开设有多个均匀分布的放置槽11，且放置槽11的内部设有夹持机构，测试探针3与放置槽11呈位置对应设置。

弹性机构包括固定环12和第一弹簧13，固定环12固定设置于测试探针3的外壁上，第一弹簧13活动套设有于测试探针3的外壁上，且第一弹簧13的两端分别与固定板7的上表面和固定环12的下表面固定连接。

夹持机构包括夹板14和第二弹簧15，夹板14位于放置槽11的内部，第二弹簧15呈对称固定设置于夹板14的侧面上，且第二弹簧15的另一端与放置槽11的侧壁固定连接，放置槽11的侧壁开设有手指槽16，便于工作人员将手部伸入取出射频集成电路板。

底座1的表面固定设有多个均匀分布的万向滚珠17，旋转板9的下表面滚动设置于万向滚珠17的顶部，能够增加旋转板9转动的稳定性。

本实用新型中，使用时，工作人员将射频集成电路板放入在放置槽11的内部，然后通过夹板14和第二弹簧15的作用将射频集成电路板稳定的夹持，再将固定的射频集成电路板旋转并移动至测试探针3的下方，此时打开气缸6工作，气缸6伸出带动固定板7上的测试探针3向下移动并使之与射频集成电路板接触，从而完成对射频集成电路板的电路测试，测试仪2将测试结果发送至显示器4展示给工作人员，由于测试探针3上设置有固定环12和第一弹簧13，能够给测试探针3提供一个缓冲的作用，从而能够避免测试探针3由于外力过大造成损坏的现象，待射频集成电路板测试完成之后，工作人员在转动旋转板9将放置槽11内部的射频集成电路板取出再更换待测试的射频集成电路板，提高了射频集成电路板的测试效率。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

技术特征：

1.射频集成电路测试系统，包括底座(1)、测试仪(2)、测试探针(3)和显示器(4)，其特征在于，所述底座(1)的上表面固定设有l型支撑板(5)，所述l型支撑板(5)的顶部固定设有气缸(6)，所述气缸(6)的活塞杆末端固定设有固定板(7)，所述固定板(7)的上表面左右两侧均开设有插孔，所述测试探针(3)通过插孔插入在固定板(7)上，所述测试仪(2)固定设置于所述l型支撑板(5)的顶部，所述测试探针(3)的上端通过导线(8)与所述测试仪(2)电性连接，所述测试探针(3)的外壁与所述固定板(7)之间设有弹性机构，所述显示器(4)固定设置于所述l型支撑板(5)的侧壁上；

所述底座(1)的上方水平设有旋转板(9)，所述旋转板(9)的下表面中心处固定设有转轴(10)，所述转轴(10)的下端通过滚动轴承与所述底座(1)的上表面中心处转动连接，所述旋转板(9)的上表面边缘处环绕开设有多个均匀分布的放置槽(11)，且放置槽(11)的内部设有夹持机构。

2.根据权利要求1所述的射频集成电路测试系统，其特征在于，所述弹性机构包括固定环(12)和第一弹簧(13)，所述固定环(12)固定设置于所述测试探针(3)的外壁上，所述第一弹簧(13)活动套设有于所述测试探针(3)的外壁上，且第一弹簧(13)的两端分别与所述固定板(7)的上表面和固定环(12)的下表面固定连接。

3.根据权利要求1所述的射频集成电路测试系统，其特征在于，所述夹持机构包括夹板(14)和第二弹簧(15)，所述夹板(14)位于所述放置槽(11)的内部，所述第二弹簧(15)呈对称固定设置于所述夹板(14)的侧面上，且第二弹簧(15)的另一端与所述放置槽(11)的侧壁固定连接。

4.根据权利要求1所述的射频集成电路测试系统，其特征在于，所述放置槽(11)的侧壁开设有手指槽(16)。

5.根据权利要求1所述的射频集成电路测试系统，其特征在于，所述底座(1)的表面固定设有多个均匀分布的万向滚珠(17)，所述旋转板(9)的下表面滚动设置于所述万向滚珠(17)的顶部。

6.根据权利要求1所述的射频集成电路测试系统，其特征在于，所述测试探针(3)与所述放置槽(11)呈位置对应设置。

技术总结
本实用新型涉及电路测试技术领域，且公开了射频集成电路测试系统，包括底座、测试仪、测试探针和显示器，所述底座的上表面固定设有L型支撑板，所述L型支撑板的顶部固定设有气缸，所述气缸的活塞杆末端固定设有固定板，所述固定板的上表面左右两侧均开设有插孔，所述测试探针通过插孔插入在固定板上，所述测试仪固定设置于所述L型支撑板的顶部，所述测试探针的上端通过导线与所述测试仪电性连接，所述测试探针的外壁与所述固定板之间设有弹性机构，所述显示器固定设置于所述L型支撑板的侧壁上。本实用新型对射频集成电路的测试效率高，且便于工作人员观察测试结果，提高了射频集成电路的生产效率。

技术研发人员：袁练
受保护的技术使用者：深圳市格安电子有限公司
技术研发日：2020.09.01
技术公布日：2021.04.09