一种通用型测试夹具的制作方法

1.本实用新型涉及电力电子生产辅助设备技术领域，具体涉及一种通用型测试夹具。


背景技术：

2.在电力电子芯片生产过程中，需要对其进行人工取样，此时就需要对芯片的各端进行电气连接，然后进行电气性能检测。但是在取样检测的过程中，存在着芯片型号各异，尺寸不同的情况，如果简单的通过夹子进行检测，存在着接触不可靠等问题。
3.综上所述：设计一种通用型测试夹具。


技术实现要素：

4.本实用新型为了克服上述的不足，提供一种通用型测试夹具。
5.本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的：
6.一种通用型测试夹具，包括基座，基座的内部设有放置槽，放置槽的一端设有固定块，固定块上设有第一导电触片，放置槽的另一端设有移动块，移动块上设有第二导电触片，基座的侧面设有移动组件，移动组件与移动块传动连接且移动组件控制移动块在放置槽中移动，基座上还设有接线端子，接线端子的数量与第一导电触片和第二导电触片的数量之和一致，且接线端子与各第一导电触片和第二导电触片一一电连接。
7.优选的，所述移动组件包括螺杆、转盘、移动槽和滑块，移动槽位于基座上且与放置槽平行，滑块位于移动槽中，且滑块穿过移动槽的槽壁上的开槽与移动块连接，螺杆穿过移动槽，且螺杆与滑块螺纹连接，转盘位于基座的外部且固定在螺杆的端部。
8.优选的，所述基座的侧面设有一个展示板，滑块上设有一个指针，指针的端部位于展示板的上方。
9.优选的，所述第一导电触片位于固定块的内侧以及下方，第二导电触片位于移动块的内侧以及下方。
10.优选的，所述固定块与基座螺纹连接，固定块上的第一导电触片的数量大于或等于1，移动块上的第二导电触片的数量大于或等于1。
11.本实用新型的有益效果是：该通用型测试夹具中，放置槽中放置芯片，移动组件控制移动块移动，来对不同尺寸的芯片进行固定夹持，再由第一导电触片和第二导电触片对不同芯片进行电连接，由接线端子连接外部检测设备进行检测测试，提高了测试夹具的通用性。
附图说明
12.本实用新型将通过例子并参照附图的方式说明，其中：
13.图1是本实用新型的结构示意图。
14.图中：1.基座，2.固定块，3.第一导电触片，4.移动块，5.第二导电触片，6.接线端
子，7.螺杆，8.转盘，9.滑块，10.指针，11.展示板，12.移动槽。
具体实施方式
15.现在结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。
16.如图1所示，一种通用型测试夹具，包括基座1，基座1的内部设有放置槽，放置槽的一端设有固定块2，固定块2上设有第一导电触片3，放置槽的另一端设有移动块4，移动块4上设有第二导电触片5，基座1的侧面设有移动组件，移动组件与移动块4传动连接且移动组件控制移动块4在放置槽中移动，基座1上还设有接线端子6，接线端子6的数量与第一导电触片3和第二导电触片5的数量之和一致，且接线端子6与各第一导电触片3和第二导电触片5一一电连接。
17.该通用型测试夹具中，放置槽中放置芯片，移动组件控制移动块4移动，来对不同尺寸的芯片进行固定夹持，再由第一导电触片3和第二导电触片5对不同芯片进行电连接，由接线端子6连接外部检测设备进行检测测试。该装置能够大大提高检测芯片的种类，提高了测试夹具的实用性。
18.具体的，所述移动组件包括螺杆7、转盘8、移动槽12和滑块9，移动槽12位于基座1上且与放置槽平行，滑块9位于移动槽12中，且滑块9穿过移动槽12的槽壁上的开槽与移动块4连接，螺杆7穿过移动槽12，且螺杆7与滑块9螺纹连接，转盘8位于基座1的外部且固定在螺杆7的端部。转动转盘8，转盘8就能够通过螺杆7控制滑块9在移动槽12中移动，滑块9就可以控制移动块4在放置槽中移动，来控制固定块2和移动块4之间的距离，来对芯片进行夹持固定，随后进行检测。
19.具体的，所述基座1的侧面设有一个展示板11，滑块9上设有一个指针10，指针10的端部位于展示板11的上方，展示板11上写有各个型号，指针10位于对应型号处，则移动块4就移动至指定位置。
20.具体的，所述第一导电触片3位于固定块2的内侧以及下方，第二导电触片5位于移动块4的内侧以及下方，不管芯片的接触点是位于底部还是侧面，都可以满足与第一导电触片3以及第二导电触片5电连接。
21.具体的，所述固定块2与基座1螺纹连接，固定块2上的第一导电触片3的数量大于或等于1，移动块4上的第二导电触片5的数量大于或等于1，根据芯片的管脚，来控制固定块2上第一导电触片3以及移动块4上的第二导电触片5数量。
22.上述依据本实用新型为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项实用新型技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项实用新型的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。


技术特征：
1.一种通用型测试夹具，其特征在于：包括基座，基座的内部设有放置槽，放置槽的一端设有固定块，固定块上设有第一导电触片，放置槽的另一端设有移动块，移动块上设有第二导电触片，基座的侧面设有移动组件，移动组件与移动块传动连接且移动组件控制移动块在放置槽中移动，基座上还设有接线端子，接线端子的数量与第一导电触片和第二导电触片的数量之和一致，且接线端子与各第一导电触片和第二导电触片一一电连接。2.根据权利要求1所述的通用型测试夹具，其特征在于：所述移动组件包括螺杆、转盘、移动槽和滑块，移动槽位于基座上且与放置槽平行，滑块位于移动槽中，且滑块穿过移动槽的槽壁上的开槽与移动块连接，螺杆穿过移动槽，且螺杆与滑块螺纹连接，转盘位于基座的外部且固定在螺杆的端部。3.根据权利要求2所述的通用型测试夹具，其特征在于：所述基座的侧面设有一个展示板，滑块上设有一个指针，指针的端部位于展示板的上方。4.根据权利要求1所述的通用型测试夹具，其特征在于：所述第一导电触片位于固定块的内侧以及下方，第二导电触片位于移动块的内侧以及下方。5.根据权利要求1所述的通用型测试夹具，其特征在于：所述固定块与基座螺纹连接，固定块上的第一导电触片的数量大于或等于1，移动块上的第二导电触片的数量大于或等于1。

技术总结
本实用新型公开了一种通用型测试夹具，包括基座，基座的内部设有放置槽，放置槽的一端设有固定块，固定块上设有第一导电触片，放置槽的另一端设有移动块，移动块上设有第二导电触片，基座的侧面设有移动组件，移动组件与移动块传动连接且移动组件控制移动块在放置槽中移动，基座上还设有接线端子，接线端子的数量与第一导电触片和第二导电触片的数量之和一致，且接线端子与各第一导电触片和第二导电触片一一电连接，该通用型测试夹具中，放置槽中放置芯片，移动组件控制移动块移动，来对不同尺寸的芯片进行固定夹持，再由第一导电触片和第二导电触片对不同芯片进行电连接，由接线端子连接外部检测设备进行检测测试，提高了测试夹具的通用性。试夹具的通用性。试夹具的通用性。


技术研发人员：徐海军 杨吉明 匡华强 范宇 张正贵 芮聪
受保护的技术使用者：江苏海德半导体有限公司
技术研发日：2020.12.18
技术公布日：2021/9/24