一种针式打印头24路电磁线圈阻值测量设备的制作方法

本发明涉及一种针式打印头电磁线圈阻值测量设备。

背景技术：

目前针式打印机打印头在生产时使用的电阻测试设备通道较少，不能同时测试24路线圈阻值，效率很低且精度不高；专用定制化的设备存在价格高的问题。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种高效率，高可靠性并且价格低廉的生产测量设备。

为解决上述的技术问题，本发明采用的一个技术方案是：一种针式打印头24路电磁线圈阻值测量设备，包括万用表模组、测量电磁线圈阻值控制系统、阻值温差补偿系统和上位机系统。所述测量电磁线圈阻值控制系统是用继电器通过逻辑控制将24路电磁线圈分为四组顺序通过万用表将阻值数据统计传送至上位机系统；所述阻值温差补偿系统通过针式打印头内部热敏电阻测得的实时电阻转换为实际温度，通过金属电阻率计算得到实际温度下的电阻真值；所述上位机系统得到测量电磁线圈阻值控制系统返回的24路电磁线圈阻值数据，然后经过数据处理通过上位机系统的界面显示出来。

在本发明中，所述四位半数字万用表模组是用六台数字万用表组成测量系统。

在本发明中，所述万用表使用四位半数字万用表。

附图说明

为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：

图1为本发明装置的结构示意图；

图2为本发明装置的整体示意图；

图3为阻值温差补偿系统；

图4为上位机界面显示系统。

具体实施方式

下面将对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例：

参阅图1-4，一种针式打印头24路电磁线圈阻值测量设备，其包括：四位半数字万用表模组1、测量电磁线圈阻值控制系统2、阻值温差补偿系统10、上位机系统。所述四位半数字万用表模组1是用六台数字万用表组成测量系统；所述测量电磁线圈阻值控制系统2是用继电器5通过逻辑控制将24路电磁线圈分为四组顺序通过六台数字万用表将阻值数据统计传送至上位机系统；所述阻值温差补偿系统10通过针式打印头内部热敏电阻测得的实时电阻转换为实际温度8，通过金属电阻率计算得到实际温度下的实际电阻真值7；所述上位机系统得到测量电磁线圈阻值控制系统2返回的24路电磁线圈阻值9数据，然后经过数据处理通过上位机系统的界面6显示出来。

在本发明中，四位半数字万用表模组1由六台数字万用表组成，通过串口线缆4连接测量电磁线圈阻值控制系统2上的串口插座3。

如图3所示，阻值温差补偿系统10，下表1为铜在不同温度下计算电阻值的调整系数：

表1

电阻换算公式：

取一米长度的铜线，在当前温度t下实测电阻值rt，对应的调整系数t，换算为默认温度的电阻ro，ro=rt*t。

以上所述仅为本发明的一种实施例，并非因此限制本发明的保护范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

技术特征：

1.一种针式打印头24路电磁线圈阻值测量设备，其特征在于，包括：万用表模组、测量电磁线圈阻值控制系统、阻值温差补偿系统和上位机系统；所述测量电磁线圈阻值控制系统是用继电器通过逻辑控制将24路电磁线圈分为四组顺序通过万用表将阻值数据统计传送至上位机系统；所述阻值温差补偿系统通过针式打印头内部热敏电阻测得的实时电阻转换为实际温度，通过金属电阻率计算得到实际温度下的电阻真值；所述上位机系统得到测量电磁线圈阻值控制系统返回的24路电磁线圈阻值数据，然后经过数据处理通过上位机系统的界面显示出来。

2.根据权利要求1所述的针式打印头24路电磁线圈阻值测量设备，其特征在于：所述四位半数字万用表模组是用六台数字万用表组成测量系统。

3.根据权利要求1所述的针式打印头24路电磁线圈阻值测量设备，其特征在于：所述万用表使用四位半数字万用表。

技术总结
本发明涉及一种针式打印头24路电磁线圈阻值测量设备，包括：万用表模组、测量电磁线圈阻值控制系统、阻值温差补偿系统、上位机系统。所述测量电磁线圈阻值控制系统是用继电器通过逻辑控制将24路电磁线圈分为四组顺序通过万用表将阻值数据统计传送至上位机系统；所述阻值温差补偿系统通过针式打印头内部热敏电阻测得的实时电阻转换为实际温度，通过金属电阻率计算得到实际温度下的电阻真值；所述上位机系统得到测量电磁线圈阻值控制系统返回的24路电磁线圈阻值数据，然后经过数据处理通过软件界面显示出来。本发明使得针式打印机打印头生产过程中测量阻值工作更高效、更可靠、更精准、提高了工作效率与产品可靠性。

技术研发人员：孙池;黄治;刘家强
受保护的技术使用者：南京宁致电子科技有限公司
技术研发日：2021.07.09
技术公布日：2021.08.27