1.本发明涉及异常检测电路以及异常检测方法。
背景技术:2.在专利文献1中公开了一种继电器触点异常检测电路,配置一个光耦合器,基于从该光耦合器检测到的电流能够检测触点的焊接。
3.专利文献1:日本特开平7-296695号公报
4.但是,在电气电路中连接有以噪声降低为目的的电容器的情况较多。在这样的情况下,即使是触点打开的状态,从电容器向光耦合器施加电压,光耦合器中流过的电流与继电器的开闭变得无法对应。因此,担心无法高精度地检测触点的焊接。
技术实现要素:5.本发明的异常检测电路具有:
6.交流电源,经由第一布线以及第二布线与负载连接;
7.第一继电器触点,配置于所述第一布线的中途;
8.第二继电器触点,配置于所述第二布线的中途;
9.比较电压检测电路,不论所述第一继电器触点以及所述第二继电器触点的开闭状态都从所述交流电源施加电压;
10.第一电压检测电路,所述第一继电器触点是闭状态时从所述交流电源施加电压;
11.第二电压检测电路,所述第二继电器触点是闭状态时从所述交流电源施加电压;以及
12.异常检测部,通过将向所述比较电压检测电路施加的电压与向所述第一电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第一继电器触点的异常,通过将向所述比较电压检测电路施加的电压与向所述第二电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第二继电器触点的异常。
13.本发明的异常检测电路具有:
14.交流电源,经由第一布线以及第二布线与负载连接;
15.第一继电器触点,配置于所述第一布线的中途;
16.第二继电器触点,配置于所述第二布线的中途;
17.比较电压检测电路,连接于比所述第一继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第二布线之间,不论所述第一继电器触点以及所述第二继电器触点的开闭状态都从所述交流电源施加电压;
18.第一电压检测电路,连接于比所述第一继电器触点更靠所述负载侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第二布线之间,并在所述第一继电器触点是闭状态时施加与所述比较电压检测电路相同的电压;
19.第二电压检测电路,连接于比所述第一继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第
一布线与比所述第二继电器触点更靠所述负载侧的所述第二布线之间,并在所述第二继电器触点是闭状态时施加与所述比较电压检测电路相同的电压;
20.异常检测部,通过将向所述比较电压检测电路施加的电压与向所述第一电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第一继电器触点的异常,通过将向所述比较电压检测电路施加的电压与向所述第二电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第二继电器触点的异常。
21.本发明的异常检测电路具有:
22.交流电源,经由第一布线以及第二布线与负载连接;
23.第一继电器触点,配置于所述第一布线的中途;
24.第二继电器触点,配置于所述第二布线的中途;
25.第一比较电压检测电路,连接于比所述第一继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第二布线之间,不论所述第一继电器触点以及所述第二继电器触点的开闭状态都从所述交流电源施加电压;
26.第二比较电压检测电路,以与所述第一比较电压检测电路反向的方式连接于比所述第一继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第二布线之间,不论所述第一继电器触点以及所述第二继电器触点的开闭状态都从所述交流电源施加电压;
27.第一电压检测电路,连接于比所述第一继电器触点更靠所述负载侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第二布线之间,并在所述第一继电器触点是闭状态时施加与所述第一比较电压检测电路相同的电压;
28.第二电压检测电路,连接于比所述第一继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述负载侧的所述第二布线之间,并在所述第二继电器触点是闭状态时施加与所述第二比较电压检测电路相同的电压;以及
29.异常检测部,通过将向所述第一比较电压检测电路施加的电压与向所述第一电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第一继电器触点的异常,通过将向所述第二比较电压检测电路施加的电压与向所述第二电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第二继电器触点的异常。
30.本发明的异常检测电路具有:
31.交流电源,经由第一布线以及第二布线与负载连接;
32.第一继电器触点,配置于所述第一布线的中途;
33.第二继电器触点,配置于所述第二布线的中途;
34.比较电压检测电路,连接于比所述第一继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第二布线之间,不论所述第一继电器触点以及所述第二继电器触点的开闭状态都从所述交流电源施加电压;
35.第一电压检测电路,连接于比所述第一继电器触点更靠所述负载侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述负载侧的所述第二布线之间,并在所述第一继电器触点以及所述第二继电器触点是闭状态时施加与所述比较电压检测电路相同的电压;
36.第二电压检测电路,连接于比所述第一继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述负载侧的所述第二布线之间,并在所述第二继电
器触点是闭状态时施加与所述比较电压检测电路相同的电压;
37.异常检测部,通过将向所述比较电压检测电路施加的电压与向所述第一电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第一继电器触点的异常,通过将向所述比较电压检测电路施加的电压与向所述第二电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第二继电器触点的异常。
38.在本发明的异常检测方法中,对电路配置比较电压检测电路、第一电压检测电路和第二电压检测电路,所述电路具有:
39.交流电源,经由第一布线以及第二布线与负载连接;
40.第一继电器触点,配置于所述第一布线的中途;以及
41.第二继电器触点,配置于所述第二布线的中途,
42.所述比较电压检测电路不论所述第一继电器触点以及所述第二继电器触点的开闭状态都从所述交流电源施加电压,
43.所述第一电压检测电路在所述第一继电器触点是闭状态时从所述交流电源施加电压;
44.所述第二电压检测电路在所述第二继电器触点是闭状态时从所述交流电源施加电压,
45.通过将向所述比较电压检测电路施加的电压与向所述第一电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第一继电器触点的异常,
46.通过将向所述比较电压检测电路施加的电压与向所述第二电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第二继电器触点的异常。
47.在本发明的异常检测方法中,对电路配置比较电压检测电路、第一电压检测电路和第二电压检测电路,所述电路具有:
48.交流电源,经由第一布线以及第二布线与负载连接;
49.第一继电器触点,配置于所述第一布线的中途;以及
50.第二继电器触点,配置于所述第二布线的中途,
51.所述比较电压检测电路连接于比所述第一继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第二布线之间,不论所述第一继电器触点以及所述第二继电器触点的开闭状态都从所述交流电源施加电压,
52.所述第一电压检测电路连接于比所述第一继电器触点更靠所述负载侧的所述第一布线和比所述第二继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第二布线之间,并在所述第一继电器触点是闭状态时施加与所述比较电压检测电路相同的电压,
53.所述第二电压检测电路连接于比所述第一继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述负载侧的所述第二布线之间,并在所述第二继电器触点是闭状态时施加与所述比较电压检测电路相同的电压,
54.通过将向所述比较电压检测电路施加的电压与向所述第一电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第一继电器触点的异常,
55.通过将向所述比较电压检测电路施加的电压与向所述第二电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第二继电器触点的异常。
56.在本发明的异常检测方法中,对电路配置第一比较电压检测电路、第二比较电压
检测电路、第一电压检测电路和第二电压检测电路,所述电路具有:
57.交流电源,经由第一布线以及第二布线与负载连接;
58.第一继电器触点,配置于所述第一布线的中途;以及
59.第二继电器触点,配置于所述第二布线的中途,
60.所述第一比较电压检测电路连接于比所述第一继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第二布线之间,不论所述第一继电器触点以及所述第二继电器触点的开闭状态都从所述交流电源施加电压,
61.所述第二比较电压检测电路以与所述第一比较电压检测电路反向的方式连接于比所述第一继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第二布线之间,不论所述第一继电器触点以及所述第二继电器触点的开闭状态都从所述交流电源施加电压,
62.所述第一电压检测电路连接于比所述第一继电器触点更靠所述负载侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第二布线之间,并在所述第一继电器触点是闭状态时施加与所述第一比较电压检测电路相同的电压,
63.所述第二电压检测电路连接于比所述第一继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述负载侧的所述第二布线之间,并在所述第二继电器触点是闭状态时施加与所述第二比较电压检测电路相同的电压,
64.通过将向所述第一比较电压检测电路施加的电压与向所述第一电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第一继电器触点的异常,
65.通过将向所述第二比较电压检测电路施加的电压与向所述第二电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第二继电器触点的异常。
66.在本发明的异常检测方法中,对电路配置比较电压检测电路、第一电压检测电路和第二电压检测电路,所述电路具有:
67.交流电源,经由第一布线以及第二布线与负载连接;
68.第一继电器触点,配置于所述第一布线的中途;以及
69.第二继电器触点,配置于所述第二布线的中途,
70.所述比较电压检测电路连接于比所述第一继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第二布线之间,不论所述第一继电器触点以及所述第二继电器触点的开闭状态都从所述交流电源施加电压,
71.所述第一电压检测电路连接于比所述第一继电器触点更靠所述负载侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述负载侧的所述第二布线之间,并在所述第一继电器触点以及所述第二继电器触点是闭状态时施加与所述比较电压检测电路相同的电压,
72.所述第二电压检测电路连接于比所述第一继电器触点更靠所述交流电源侧的所述第一布线与比所述第二继电器触点更靠所述负载侧的所述第二布线之间,并在所述第二继电器触点是闭状态时施加与所述比较电压检测电路相同的电压,
73.通过将向所述比较电压检测电路施加的电压与向所述第一电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第一继电器触点的异常,
74.通过将向所述比较电压检测电路施加的电压与向所述第二电压检测电路施加的电压进行比较而检测所述第二继电器触点的异常。
附图说明
75.图1是示出第一实施方式的异常检测电路的电路图。
76.图2是示出第一继电器的异常检测方法的表。
77.图3是示出第一继电器的异常检测方法的表。
78.图4是示出第二继电器的异常检测方法的表。
79.图5是示出第二继电器的异常检测方法的表。
80.图6是示出第一实施方式所涉及的异常检测电路的问题点的电路图。
81.图7是示出第二实施方式所涉及的异常检测电路的电路图。
82.图8是示出第一继电器的异常检测方法的表。
83.图9是示出第二继电器的异常检测方法的表。
84.图10是示出第三实施方式所涉及的异常检测电路的电路图。
85.图11是示出第一继电器的异常检测方法的表。
86.图12是示出第二继电器的异常检测方法的表。
87.附图标记说明
[0088]1…
异常检测电路,10
…
负载,10a
…
电机驱动电路,2
…
交流电源,31
…
第一布线,32
…
第二布线,33
…
连接布线,33a
…
连接布线,33b
…
连接布线,34
…
连接布线,35
…
连接布线,41
…
第一继电器,411
…
第一继电器触点,412
…
第一继电器线圈,42
…
第二继电器,421
…
第二继电器触点,422
…
第二继电器线圈,5
…
控制装置,51
…
异常检测部,6
…
比较电压检测电路,6a
…
第一比较电压检测电路,6b
…
第二比较电压检测电路,60
…
光耦合器,60a
…
光耦合器,60b
…
光耦合器,61
…
发光二极管,61a
…
发光二极管,61b
…
发光二极管,62
…
光电晶体管,62a
…
光电晶体管,62b
…
光电晶体管,7
…
第一电压检测电路,70
…
光耦合器,71
…
发光二极管,72
…
光电晶体管,8
…
第二电压检测电路,80
…
光耦合器,81
…
发光二极管,82
…
光电晶体管,9
…
桥式二极管,c
…
电容器,c1
…
电容器,c2
…
电容器,m
…
电机,p
…
总线,v0
…
电压,v0a
…
电压,v0b
…
电压,v1
…
电压,v2
…
电压。
具体实施方式
[0089]
以下,参照附图来说明实施方式。
[0090]
第一实施方式
[0091]
图1是示出第一实施方式的异常检测电路的电路图。图2以及图3是示出第一继电器的异常检测方法的表。图4以及图5是示出第二继电器的异常检测方法的表。
[0092]
图1所示的异常检测电路1是能够检测控制向负载10的电压施加的第一继电器41以及第二继电器42的异常的电路。作为负载10,没有特别限定,但本实施方式中是用于控制电机m的驱动的电机驱动电路10a。
[0093]
异常检测电路1具有:输出单层交流的交流电源2;桥式二极管9;作为连接交流电源2和桥式二极管9的一对布线的第一布线31以及第二布线32;配置于第一布线31的中途的第一继电器41;配置于第二布线32的中途的第二继电器42;以及控制异常检测电路1的各部的驱动的控制装置5。从交流电源2输出的单层交流在由桥式二极管9整流为大致平滑的直流后供给到电机驱动电路10a。作为电机m的用途,没有特别限定,但本实施方式中,假定用于例如scara机器人、6轴多关节机器人、双臂机器人等工业用机器人的关节驱动。
[0094]
第一继电器41具有:配置于第一布线31的中途的第一继电器触点411;以及配置于第一继电器触点411的附近的第一继电器线圈412。向第一继电器线圈412供电时通过产生磁作用而使第一继电器触点411关闭而成为“闭状态”。相反地,停止向第一继电器线圈412的供电时,磁作用消失而使第一继电器触点411打开从而成为“开状态”。其中,作为第一继电器41的构成,如果能够进行第一继电器触点411的开闭,则没有特别限定。例如第一继电器41也可以向第一继电器线圈412供电时成为闭状态,停止供电时成为开状态。另外,也可以以磁以外的力开闭第一继电器触点411。
[0095]
第二继电器42是与第一继电器41同样的构成。第二继电器42具有:配置于第二布线32的中途的第二继电器触点421;以及配置于第二继电器触点421的附近的第二继电器线圈422。向第二继电器线圈422供电时通过磁作用而使第二继电器触点421关闭从而成为“闭状态”。相反地,停止向第二继电器线圈422的供电时磁作用消失而使第二继电器触点421打开从而成为“开状态”。其中,作为第二继电器42的构成,如果能够进行第二继电器触点421的开闭,则没有特别限定。例如第二继电器42也可以向第二继电器线圈422供电时成为闭状态,停止供电时成为开状态。另外,也可以以磁以外的力开闭第二继电器触点421。
[0096]
在异常检测电路1中,在第一继电器41以及第二继电器42均成为闭状态时,从交流电源2向电机驱动电路10a供给电力,在第一继电器41以及第二继电器42的至少一方成为开状态时不从交流电源2向电机驱动电路10a供给电力。
[0097]
桥式二极管9是将四个二极管桥式连接而成的,将输入电压的负电压量转换整流为正电压而设为直流(脉动电流)。之后,桥式二极管9利用电容器的蓄放电而进行波形的平滑化,转换为大致平坦的直流。
[0098]
异常检测电路1还具有:将比第一继电器触点411靠交流电源2侧的第一布线31和比第二继电器触点421靠交流电源2侧的第二布线32连接的连接布线33;以及配置于连接布线33的中途的比较电压检测电路6。
[0099]
比较电压检测电路6具有光耦合器60,该光耦合器60具备:在第一布线31与第二布线32之间连接的发光二极管61;以及接收发光二极管61的光的光电晶体管62。在比较电压检测电路6中,在发光二极管61发光时光电晶体管62成为导通(on)而输出电压v0。由此,能够检测施加到发光二极管61的电压。此外,发光二极管61中,第一布线31侧是阳极,第二布线32侧是阴极。因此,在第一布线31侧相比第二布线32侧成为高电位时向发光二极管61施加电压,发光二极管61发光。
[0100]
异常检测电路1还具有:将比第一继电器触点411靠桥式二极管9侧的第一布线31和比第二继电器触点421靠交流电源2侧的第二布线32连接的连接布线34;以及配置于连接布线34的中途的第一电压检测电路7。
[0101]
第一电压检测电路7是与比较电压检测电路6同样的构成。即,第一电压检测电路7具有光耦合器70,该光耦合器70具有:在第一布线31与第二布线32之间连接的发光二极管71;以及接收发光二极管71的光的光电晶体管72。在第一电压检测电路7中,在发光二极管71发光时光电晶体管72成为导通而输出电压v1。由此,能够检测施加到发光二极管71的电压。此外,发光二极管71中,第一布线31侧是阳极,第二布线32侧是阴极。因此,第一布线31侧相比第二布线32侧成为高电位时向发光二极管71施加电压,发光二极管71发光。
[0102]
异常检测电路1还具有:将比第一继电器触点411靠交流电源2侧的第一布线31和
比第二继电器触点421靠桥式二极管9侧的第二布线32连接的连接布线35;以及配置于连接布线35的中途的第二电压检测电路8。
[0103]
第二电压检测电路8是与比较电压检测电路6同样的构成。即,第二电压检测电路8具有光耦合器80,该光耦合器80具有:在第一布线31与第二布线32之间连接的发光二极管81;以及接收发光二极管81的光的光电晶体管82。在第二电压检测电路8中,在发光二极管81发光时光电晶体管82成为导通而输出电压v2。由此,能够检测施加到发光二极管81的电压。此外,发光二极管81中,第一布线31侧是阳极,第二布线32侧是阴极。因此,第一布线31侧相比第二布线32侧成为高电位时向发光二极管81施加电压,发光二极管81发光。
[0104]
异常检测电路1还具有主要以噪声降低为目的而配置的多个电容器c。此外,作为电容器c的数量或配置,没有特别限定,根据目的而适当设定。在图1中,作为电容器c,配置有与第一布线31和连接布线34的触点连接的电容器c1、和与第二布线32和连接布线35的触点连接的电容器c2。
[0105]
异常检测电路1的各部的驱动通过控制装置5控制。具体而言,控制装置5控制交流电源2的驱动。另外,控制装置5通过控制向第一继电器线圈412的供电/非供电而控制第一继电器41的开闭。另外,控制装置5通过控制向第二继电器线圈422的供电/非供电而控制第二继电器42的开闭。另外,控制装置5具有检测第一继电器41以及第二继电器42的异常的异常检测部51。
[0106]
控制装置5例如由计算机构成,并具有处理信息的处理器;与处理器能够通信地连接的存储器;以及进行与未图示的外部装置的通信的外部接口。在存储器中保存有由处理器能够执行的各种程序,处理器读入并执行存储器中所存储的各种程序等。
[0107]
接着,说明基于异常检测部51的第一继电器41以及第二继电器42的异常检测。此外,第一继电器41的异常是指:例如因第一继电器触点411的接触不良等而即使向第一继电器线圈412供电也不能成为闭状态的状态;因第一继电器触点411的焊接等而即使停止向第一继电器线圈412的供电也不能成为开状态的状态等。对于第二继电器42的异常也是同样的。
[0108]
首先,说明第一继电器41的异常检测。通过向第一继电器线圈412的供电而使第一继电器41设为闭状态时,从交流电源2向发光二极管71施加电压,根据发光二极管71的发光而从第一电压检测电路7输出电压v1。相反地,即使停止向第一继电器线圈412的供电而使第一继电器41设为开状态,由电容器c的充放电向发光二极管71施加电压,根据发光二极管71的发光从第一电压检测电路7输出电压v1。即,在异常检测电路1中,不论第一继电器41的开闭状态,都从第一电压检测电路7输出电压v1。因此,不能以如图2所示那样的向第一继电器线圈412的供电/非供电和电压v1的输出有/输出无的组合来判定第一继电器41的异常。
[0109]
因此,在异常检测电路1中,设置比较电压检测电路6,通过将从比较电压检测电路6输出的电压v0和从第一电压检测电路7输出的电压v1进行比较,检测第一继电器41的异常。在异常检测电路1中,不论第一继电器41的开闭状态,都从交流电源2向发光二极管61施加电压,从比较电压检测电路6输出与其对应的电压v0。另外,在异常检测电路1中,不论第一继电器41的开闭状态,都向发光二极管71施加电压,从第一电压检测电路7输出与其对应的电压v1。由此,比较电压检测电路6以及第一电压检测电路7均不论第一继电器41的开闭状态,都输出与施加的电压对应的电压v0、v1。
[0110]
但是,根据第一继电器41的开闭状态,对电压v0、v1的占空比差或相位差产生变化。如图3所示,在第一继电器41是闭状态时,从交流电源2向发光二极管61、71分别施加电压。即,在发光二极管61、71中施加相同电压。因此,在电压v0、v1之间未产生占空比差或相位差。此外,上述“相同电压”是指,除了相同电压以外,还包括在电路构成上可能产生的若干的差的情况。同样地,上述“未产生占空比差或相位差”是指,除了差是零的情况以外还包括在电路构成上可能产生的若干的差的情况。相对于此,在第一继电器41的开状态时,从交流电源2向发光二极管61施加电压,由电容器c的充放电向发光二极管71施加电压。因此,在发光二极管71中施加相对于向发光二极管61施加的电压而衰减且相位偏差的电压。由此,在电压v0、v1之间产生占空比差以及相位差。
[0111]
因此,异常检测部51基于电压v0、v1的占空比差以及相位差的至少一方,检测第一继电器41的异常。
[0112]
在基于电压v0、v1的相位差检测第一继电器41的异常的情况下,异常检测部51在以向第一继电器线圈412供电的状态下电压v0、v1是相同相位(包括相位差小于阈值的情况。)的情况、或者以不向第一继电器线圈412供电的状态下在电压v0、v1产生阈值以上的相位差的情况下,判断为“第一继电器41是正常”。相反地,在异常检测部51以向第一继电器线圈412供电的状态下在电压v0、v1产生阈值以上的相位差的情况、或者以不向第一继电器线圈412供电的状态下电压v0、v1是相同相位的情况下,判断为“第一继电器41是异常”。
[0113]
在基于电压v0、v1的占空比差检测第一继电器41的异常的情况下,异常检测部51在以向第一继电器线圈412供电的状态下电压v0、v1的占空比是相同(包括占空比差小于阈值的情况。)的情况、或者以不向第一继电器线圈412供电的状态下在电压v0、v1产生阈值以上的占空比差的情况下,判断为“第一继电器41是正常”。相反地,异常检测部51在以向第一继电器线圈412供电的状态下在电压v0、v1产生阈值以上的占空比差的情况、或者以不向第一继电器线圈412供电的状态下电压v0、v1的占空比是相同的情况下,判断为“第一继电器41是异常”。
[0114]
由此,根据基于电压v0、v1的占空比差或相位差的异常检测方法,不论第一继电器41的开闭状态,在向第一电压检测电路7施加电压的电路中,都能够高精度地检测第一继电器41的异常。
[0115]
接着,说明第二继电器42的异常检测。第二继电器42的异常检测方法与上述的第一继电器41的异常检测方法同样。通过向第二继电器线圈422的供电而使第二继电器42设为闭状态时,从交流电源2向发光二极管81施加电压,根据发光二极管81的发光从第二电压检测电路8输出电压v2。相反地,停止向第二继电器线圈422的供电而使第二继电器42设为开状态,由电容器c的充放电向发光二极管81施加电压,根据发光二极管81的发光从第二电压检测电路8输出电压v2。即,在异常检测电路1中,不论第二继电器42的开闭状态,都从第二电压检测电路8输出电压v2。因此,不能以图4所示那样的向第二继电器线圈422的供电/非供电和电压v2的输出有/输出无的组合来判定第二继电器42的异常。
[0116]
因此,在异常检测电路1中,设置比较电压检测电路6,通过将从比较电压检测电路6输出的电压v0和从第二电压检测电路8输出的电压v2进行比较,检测第二继电器42的异常。在异常检测电路1中,不论第二继电器42的开闭状态,都从交流电源2向发光二极管61施加电压,从比较电压检测电路6输出与其对应的电压v0。另外,在异常检测电路1中,不论第
二继电器42的开闭状态,都向发光二极管81施加电压,从第二电压检测电路8输出与其对应的电压v2。由此,比较电压检测电路6以及第二电压检测电路8均不论第二继电器42的开闭状态,都输出电压v0、v2。
[0117]
但是,根据第二继电器42的开闭状态,在电压v0、v2的占空比差以及相位差产生变化。如图5所示,第二继电器42是闭状态时,从交流电源2向发光二极管61、81分别施加电压。即,在发光二极管61、81中施加相同电压。因此,在电压v0、v2之间没有产生占空比差或相位差。相对于此,第二继电器42是闭状态时,从交流电源2向发光二极管61施加电压,由电容器c的充放电向发光二极管81施加电压。因此,在发光二极管81中施加相对于向发光二极管61施加的电压衰减且相位偏差的电压。由此,在电压v0、v2之间产生占空比差以及相位差。
[0118]
因此,异常检测部51基于电压v0、v2的占空比差以及相位差的至少一方检测第二继电器42的异常。
[0119]
在基于电压v0、v2的相位差检测第二继电器42的异常情况,在以异常检测部51向第二继电器线圈422供电的状态下电压v0、v2是相同相位的情况(包括相位差小于阈值的情况。)、或者在以不向第二继电器线圈422供电的状态下在电压v0、v2产生阈值以上的相位差的情况下,判断为“第二继电器42是正常”。相反地,异常检测部51在以向第二继电器线圈422供电的状态下在电压v0、v2产生阈值以上的相位差的情况、或者以不向第二继电器线圈422供电的状态下电压v0、v2是相同相位的情况下,判断为“第二继电器42是异常”。
[0120]
在基于电压v0、v2的占空比差检测第二继电器42的异常情况下,异常检测部51在以向第二继电器线圈422供电的状态下电压v0、v2的占空比是相同(包括占空比差小于阈值的情况。)的情况、或者以不向第二继电器线圈422供电的状态下在电压v0、v2产生阈值以上的占空比差的情况下,判断为“第二继电器42是正常”。相反地,异常检测部51在以向第二继电器线圈422供电的状态下在电压v0、v2产生阈值以上的占空比差的情况、或者以不向第二继电器线圈422供电的状态下电压v0、v2的占空比相同的情况下,判断为“第二继电器42是异常”。
[0121]
由此,根据基于电压v0、v2的占空比差或相位差的异常检测方法,不论第二继电器42的开闭状态,在向第二电压检测电路8施加电压的电路中,能够高精度地检测第二继电器42的异常。
[0122]
以上,说明了异常检测电路1以及异常检测方法。如上述那样,这样的异常检测电路1具有:交流电源2,经由第一布线31以及第二布线32与负载10连接;第一继电器触点411,配置于第一布线31的中途;第二继电器触点421,配置于第二布线32的中途;比较电压检测电路6,不论第一继电器触点411以及第二继电器触点421的开闭状态都从交流电源2施加电压;第一电压检测电路7,第一继电器触点411是闭状态时从交流电源2施加电压;第二电压检测电路8,第二继电器触点421是闭状态时从交流电源2施加电压;异常检测部51,通过将向比较电压检测电路6施加的电压与向第一电压检测电路7施加的电压进行比较而检测第一继电器触点411的异常,通过将向比较电压检测电路6施加的电压与向第二电压检测电路8施加的电压进行比较而检测第二继电器触点421的异常。
[0123]
根据这样的构成,不论第一继电器41的开闭状态,在向第一电压检测电路7施加电压的电路中,都能够高精度地检测第一继电器触点411的异常。另外,不论第二继电器42的开闭状态,在向第二电压检测电路8施加电压的电路中,都能够高精度地检测第二继电器触
点421的异常。
[0124]
另外,如上述那样,异常检测电路1具有:交流电源2,经由第一布线31以及第二布线32与负载10连接;第一继电器触点411,配置于第一布线31的中途;第二继电器触点421,配置于第二布线32的中途;比较电压检测电路6,连接于比第一继电器触点411更靠交流电源2侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠交流电源2侧的第二布线32之间,不论第一继电器触点411以及第二继电器触点421的开闭状态都从交流电源2施加电压;第一电压检测电路7,连接于比第一继电器触点411更靠负载10侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠交流电源2侧的第二布线32之间,第一继电器触点411是闭状态时施加与比较电压检测电路6相同的电压;第二电压检测电路8,连接于比第一继电器触点411更靠交流电源2侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠负载10侧的第二布线32之间,第二继电器触点421是闭状态时施加与比较电压检测电路6相同的电压;异常检测部51,通过将向比较电压检测电路6施加的电压与向第一电压检测电路7施加的电压进行比较而检测第一继电器触点411的异常,通过将向比较电压检测电路6施加的电压与向第二电压检测电路8施加的电压进行比较而检测第二继电器触点421的异常。
[0125]
根据这样的构成,不论第一继电器41的开闭状态,在向第一电压检测电路7施加电压的电路中,都能够高精度地检测第一继电器触点411的异常。另外,不论第二继电器42的开闭状态,在向第二电压检测电路8施加电压的电路中,都能够高精度地检测第二继电器触点421的异常。
[0126]
另外,在异常检测方法中,对电路配置比较电压检测电路6、第一电压检测电路7和第二电压检测电路8,所述电路具有:交流电源2,经由第一布线31以及第二布线32与负载10连接;第一继电器触点411,配置于第一布线31的中途;以及第二继电器触点421,配置于第二布线32的中途,该比较电压检测电路6不论第一继电器触点411以及第二继电器触点421的开闭状态都从交流电源2施加电压,该第一电压检测电路7在第一继电器触点411是闭状态时从交流电源2施加电压,该第二电压检测电路8在第二继电器触点421是闭状态时从交流电源2施加电压,通过将向比较电压检测电路6施加的电压与向第一电压检测电路7施加的电压进行比较而检测第一继电器触点411的异常,通过将向比较电压检测电路6施加的电压与向第二电压检测电路8施加的电压进行比较而检测第二继电器触点421的异常。
[0127]
根据这样的方法,不论第一继电器41的开闭状态,在向第一电压检测电路7施加电压的电路中,都能够高精度地检测第一继电器触点411的异常。另外,不论第二继电器42的开闭状态,在向第二电压检测电路8施加电压的电路中,都能够高精度地检测第二继电器触点421的异常。
[0128]
另外,在异常检测方法中,对电路配置比较电压检测电路6、第一电压检测电路7和第二电压检测电路8,所述电路具有:交流电源2,经由第一布线31以及第二布线32与负载10连接;第一继电器触点411,配置于第一布线31的中途;以及第二继电器触点421,配置于第二布线32的中途,该比较电压检测电路6连接于比第一继电器触点411更靠交流电源2侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠交流电源2侧的第二布线32之间,不论第一继电器触点411以及第二继电器触点421的开闭状态都从交流电源2施加电压,该第一电压检测电路7连接于比第一继电器触点411更靠负载10侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠交流电源2侧的第二布线32之间,第一继电器触点411是闭状态时施加与比较电压检测电路
6相同的电压,该第二电压检测电路8连接于比第一继电器触点411更靠交流电源2侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠负载10侧的第二布线32之间,第二继电器触点421是闭状态时施加与比较电压检测电路6相同的电压,通过将向比较电压检测电路6施加的电压与向第一电压检测电路7施加的电压进行比较而检测第一继电器触点411的异常,通过将向比较电压检测电路6施加的电压与向第二电压检测电路8施加的电压进行比较而检测第二继电器触点421的异常。
[0129]
根据这样的方法,不论第一继电器41的开闭状态,在向第一电压检测电路7施加电压的电路中,都能够高精度地检测第一继电器触点411的异常。另外,不论第二继电器42的开闭状态,在向第二电压检测电路8施加电压的电路中,都能够高精度地检测第二继电器触点421的异常。
[0130]
第二实施方式
[0131]
图6是示出第一实施方式所涉及的异常检测电路的问题点的电路图。图7是示出第二实施方式所涉及的异常检测电路的电路图。图8是示出第一继电器的异常检测方法的表。图9是示出第二继电器的异常检测方法的表。
[0132]
本实施方式除了比较电压检测电路6以及第一电压检测电路7的构成不同以外,与上述的第一实施方式同样。在以下的说明中,关于本实施方式,以与上述的实施方式的不同点为中心说明,关于同样的事项省略其说明。另外,在图6至图9中,关于与上述的实施方式同样的构成,标注相同的附图标记。
[0133]
如图6所示,在上述的第一实施方式的在异常检测电路1中,在第一继电器41以及第二继电器42是开状态时形成总线p。总线p中,光电流电平极其微小,因此难以导致较大的问题,但优选不形成。因此,在本实施方式中,如图7所示,将第一电压检测电路7配置为与上述的第一实施方式是反向的。即,发光二极管71中,第二布线32侧是阳极,第一布线31侧是阴极。由此,能够以简单的构成阻止总线p的形成。
[0134]
在本实施方式中,第一电压检测电路7的发光二极管71与第二电压检测电路8的发光二极管81的方向相反。因此,比较电压检测电路6具有:用于与第一电压检测电路7的比较的第一比较电压检测电路6a;以及用于与第二电压检测电路8的比较的第二比较电压检测电路6b。
[0135]
第一比较电压检测电路6a具有光耦合器60a,该光耦合器60a具有:发光二极管61a,配置于将第一布线31与第二布线32连接的连接布线33a的中途;以及光电晶体管62a,接收发光二极管61a的光。在这样的第一比较电压检测电路6a中,发光二极管61a发光时光电晶体管62a成为导通而输出电压v0a。由此,能够检测向发光二极管61a施加的电压。此外,发光二极管61a中,第二布线32侧是阳极,第一布线31侧是阴极。因此,第二布线32侧相比第一布线31侧成为高电位时向发光二极管61a施加电压,发光二极管61a发光。
[0136]
第二比较电压检测电路6b是与第一比较电压检测电路6a同样的构成,其方向相反。即,第二比较电压检测电路6b具有光耦合器60b,该光耦合器60b具有:发光二极管61b,配置于将第一布线31与第二布线32连接的连接布线33b的中途;以及光电晶体管62b,接收发光二极管61b的光。在这样的第二比较电压检测电路6b中,发光二极管61b发光时光电晶体管62b成为导通而输出电压v0b。由此,能够检测向发光二极管61b施加的电压。此外,发光二极管61b中,第一布线31侧是阳极,第二布线32侧是阴极。因此,第一布线31侧相比第二布
线32侧成为高电位时向发光二极管61b施加电压,发光二极管61b发光。
[0137]
接着,说明基于异常检测部51的第一继电器41以及第二继电器42的异常检测。
[0138]
首先,说明第一继电器41的异常检测。如图8所示,异常检测部51通过将从第一比较电压检测电路6a输出的电压v0a和从第一电压检测电路7输出的电压v1进行比较而检测第一继电器41的异常。
[0139]
具体而言,与上述的第一实施方式同样地,异常检测部51基于电压v0a、v1的占空比差以及相位差的至少一方,检测第一继电器41的异常。
[0140]
在基于电压v0a、v1的相位差检测第一继电器41的异常的情况下,异常检测部51在以向第一继电器线圈412供电的状态下电压v0a、v1是相同相位(包括相位差小于阈值的情况。)的情况、或者以不向第一继电器线圈412供电的状态下在电压v0a、v1产生阈值以上的相位差的情况下,判断为“第一继电器41是正常”。相反地,异常检测部51在以向第一继电器线圈412供电的状态下在电压v0a、v1产生阈值以上的相位差的情况、或者以不向第一继电器线圈412供电的状态下电压v0a、v1是相同相位的情况下,判断为“第一继电器41是异常”。
[0141]
在基于电压v0a、v1的占空比差检测第一继电器41的异常的情况下,异常检测部51在以向第一继电器线圈412供电的状态下电压v0a、v1的占空比是相同(包括占空比差小于阈值的情况。)的情况、或者以不向第一继电器线圈412供电的状态下在电压v0a、v1产生阈值以上的占空比差的情况下,判断为“第一继电器41是正常”。相反地,异常检测部51在以向第一继电器线圈412供电的状态下在电压v0a、v1产生阈值以上的占空比差的情况、或者以不向第一继电器线圈412供电的状态下电压v0a、v1的占空比是相同的情况下,判断为“第一继电器41是异常”。
[0142]
由此,根据基于电压v0a、v1的占空比差或相位差的异常检测方法,不论第一继电器41的开闭状态,在向第一电压检测电路7施加电压的电路中,都能够高精度地检测第一继电器41的异常。
[0143]
接着,说明第二继电器42的异常检测。如图9所示,异常检测部51基于电压v0b、v2的占空比差以及相位差的至少一方检测第二继电器42的异常。
[0144]
在基于电压v0b、v2的相位差检测第二继电器42的异常的情况下,异常检测部51在以向第二继电器线圈422供电的状态下电压v0b、v2是相同相位(包括相位差小于阈值的情况。)的情况、或者以不向第一继电器线圈422供电的状态下在电压v0b、v2产生阈值以上的相位差的情况下,判断为“第二继电器42是正常”。相反地,异常检测部51在以向第二继电器线圈422供电的状态下在电压v0b、v2产生阈值以上的相位差的情况、或者以不向第二继电器线圈422供电的状态下电压v0b、v2是相同相位的情况下,判断为“第二继电器42是异常”。
[0145]
在基于电压v0b、v2的占空比差检测第二继电器42的异常的情况下,异常检测部51在以向第二继电器线圈422供电的状态下电压v0b、v2的占空比是相同(包括占空比差小于阈值的情况。)的情况、或者以不向第二继电器线圈422供电的状态下在电压v0b、v2产生阈值以上的占空比差的情况下,判断为“第二继电器42是正常”。相反地,异常检测部51在以向第二继电器线圈422供电的状态下在电压v0b、v2产生阈值以上的占空比差的情况、或者以不向第二继电器线圈422供电的状态下电压v0b、v2的占空比是相同的情况下,判断为“第二继电器42是异常”。
[0146]
由此,根据基于电压v0b、v2的占空比差或相位差的异常检测方法,不论第二继电
器42的开闭状态,在向第二电压检测电路8施加电压的电路中,都能够高精度地检测第二继电器42的异常。
[0147]
以上,说明了异常检测电路1以及异常检测方法。如上述那样,这样的异常检测电路1具有:交流电源2,经由第一布线31以及第二布线32与负载10连接;第一继电器触点411,配置于第一布线31的中途;第二继电器触点421,配置于第二布线32的中途;第一比较电压检测电路6a,连接于比第一继电器触点411更靠交流电源2侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠交流电源2侧的第二布线32之间,不论第一继电器触点411以及第二继电器触点421的开闭状态都从交流电源2施加电压;第二比较电压检测电路6b,以与第一比较电压检测电路6a反向的方式连接于比第一继电器触点411更靠交流电源2侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠交流电源2侧的第二布线32之间,不论第一继电器触点411以及第二继电器触点421的开闭状态都从交流电源2施加电压;第一电压检测电路7,连接于比第一继电器触点411更靠负载10侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠交流电源2侧的第二布线32之间,第一继电器触点411闭状态时施加与第一比较电压检测电路6a相同的电压;第二电压检测电路8,连接于比第一继电器触点411更靠交流电源2侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠负载10侧的第二布线32之间,第二继电器触点421闭状态时施加与第二比较电压检测电路6b相同的电压;以及异常检测部51,通过将向第一比较电压检测电路6a施加的电压与向第一电压检测电路7施加的电压进行比较而检测第一继电器触点411的异常,通过将向第二比较电压检测电路6b施加的电压与向第二电压检测电路8施加的电压进行比较而检测第二继电器触点421的异常。
[0148]
根据这样的构成,不论第一继电器41的开闭状态,在向第一电压检测电路7施加电压的电路中,都能够高精度地检测第一继电器触点411的异常。另外,不论第二继电器42的开闭状态,在向第二电压检测电路8施加电压的电路中,都能够高精度地检测第二继电器触点421的异常。
[0149]
另外,在异常检测方法中,对电路配置第一比较电压检测电路6a、第二比较电压检测电路6b、第一电压检测电路7和第二电压检测电路8,所述电路具有:交流电源2,经由第一布线31以及第二布线32与负载10连接;第一继电器触点411,配置于第一布线31的中途;第二继电器触点421,配置于第二布线32的中途,该第一比较电压检测电路6a连接于比第一继电器触点411更靠交流电源2侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠交流电源2侧的第二布线32之间,不论第一继电器触点411以及第二继电器触点421的开闭状态都从交流电源2施加电压,该第二比较电压检测电路6b以与第一比较电压检测电路6a反向的方式连接于比第一继电器触点411更靠交流电源2侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠交流电源2侧的第二布线32之间,不论第一继电器触点411以及第二继电器触点421的开闭状态都从交流电源2施加电压,该第一电压检测电路7连接于比第一继电器触点411更靠负载10侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠交流电源2侧的第二布线32之间,第一继电器触点411闭状态时施加与第一比较电压检测电路6a相同的电压,该第二电压检测电路8连接于比第一继电器触点411更靠交流电源2侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠负载10侧的第二布线32之间,第二继电器触点421闭状态时施加与第二比较电压检测电路6b相同的电压,通过将向第一比较电压检测电路6a施加的电压与向第一电压检测电路7施加的电压进行比较而检测第一继电器触点411的异常,通过将向第二比较电压检测电路6b施加
的电压与向第二电压检测电路8施加的电压进行比较而检测第二继电器触点421的异常。
[0150]
根据这样的方法,不论第一继电器41的开闭状态,在向第一电压检测电路7施加电压的电路中,都能够高精度地检测第一继电器触点411的异常。另外,不论第二继电器42的开闭状态,在向第二电压检测电路8施加电压的电路中,都能够高精度地检测第二继电器触点421的异常。
[0151]
通过以上那样的第二实施方式,也能够发挥与上述的第一实施方式同样的效果。
[0152]
第三实施方式
[0153]
图10是示出第三实施方式所涉及的异常检测电路的电路图。图11是示出第一继电器的异常检测方法的表。图12是示出第二继电器的异常检测方法的表。
[0154]
本实施方式除了第一电压检测电路7的配置不同以外,与上述的第一实施方式同样。在以下的说明中,关于本实施方式,以与上述的实施方式的不同点为中心说明,对于同样的事项省略其说明。另外,在图10至图12中,对于与上述的实施方式同样的构成,标注相同的附图标记。
[0155]
在图10所示的在异常检测电路1中,第一电压检测电路7连接于比第一继电器触点411更靠下游侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠下游侧的第二布线32之间。在这样的构成的在异常检测电路1中,如以下那样检测第一继电器41以及第二继电器42的异常。
[0156]
首先,说明第二继电器42的异常检测。如图11所示,异常检测部51基于电压v0、v2的占空比差以及相位差的至少一方检测第二继电器42的异常。
[0157]
在基于电压v0、v2的相位差检测第二继电器42的异常情况下,异常检测部51在以向第二继电器线圈422供电的状态下电压v0、v2是相同相位的情况(包括相位差小于阈值的情况。)、或者在以不向第二继电器线圈422供电的状态下在电压v0、v2产生阈值以上的相位差的情况下,判断为“第二继电器42是正常”。相反地,异常检测部51在以向第二继电器线圈422供电的状态下在电压v0、v2产生阈值以上的相位差的情况、或者以不向第二继电器线圈422供电的状态下电压v0、v2是相同相位的情况下,判断为“第二继电器42是异常”。
[0158]
在基于电压v0、v2的占空比差检测第二继电器42的异常情况下,异常检测部51在以向第二继电器线圈422供电的状态下电压v0、v2的占空比是相同(包括占空比差小于阈值的情况。)的情况、或者以不向第二继电器线圈422供电的状态下在电压v0、v2产生阈值以上的占空比差的情况下,判断为“第二继电器42是正常”。相反地,异常检测部51在以向第二继电器线圈422供电的状态下在电压v0、v2产生阈值以上的占空比差的情况、或者以不向第二继电器线圈422供电的状态下电压v0、v2的占空比相同情况下,判断为“第二继电器42是异常”。
[0159]
由此,根据基于电压v0、v2的占空比差或相位差的异常检测方法,不论第二继电器42的开闭状态,在向第二电压检测电路8施加电压的电路中,能够高精度地检测第二继电器42的异常。
[0160]
接着,说明第一继电器41的异常检测。此外,第一继电器41的异常检测在确认了第二继电器42是正常之后,以将第二继电器42设为闭状态的状态来进行。如图12所示,异常检测部51基于电压v0、v1的占空比差以及相位差的至少一方检测第一继电器41的异常。
[0161]
在基于电压v0、v1的相位差检测第一继电器41的异常的情况下,异常检测部51在以向第一继电器线圈412供电的状态下电压v0、v1是相同相位(包括相位差小于阈值的情
况。)的情况、或者以不向第一继电器线圈412供电的状态下在电压v0、v1产生阈值以上的相位差的情况下,判断为“第一继电器41是正常”。相反地,异常检测部51在以向第一继电器线圈412供电的状态下在电压v0、v1产生阈值以上的相位差的情况、或者以不向第一继电器线圈412供电的状态下电压v0、v1是相同相位的情况下,判断为“第一继电器41是异常”。
[0162]
在基于电压v0、v1的占空比差检测第一继电器41的异常的情况下,异常检测部51在以向第一继电器线圈412供电的状态下电压v0、v1的占空比是相同(包括占空比差小于阈值的情况。)的情况、或者以不向第一继电器线圈412供电的状态下在电压v0、v1产生阈值以上的占空比差的情况下,判断为“第一继电器41是正常”。相反地,异常检测部51在以向第一继电器线圈412供电的状态下在电压v0、v1产生阈值以上的占空比差的情况、或者以不向第一继电器线圈412供电的状态下电压v0、v1的占空比是相同的情况下,判断为“第一继电器41是异常”。
[0163]
由此,根据基于电压v0、v1的占空比差或相位差的异常检测方法,不论第一继电器41的开闭状态,在向第一电压检测电路7施加电压的电路中,都高精度地检测第一继电器41的异常。
[0164]
以上,说明了异常检测电路1以及异常检测方法。如上述那样,这样的异常检测电路1具有:交流电源2,经由第一布线31以及第二布线32与负载10连接;第一继电器触点411,配置于第一布线31的中途;第二继电器触点421,配置于第二布线32的中途;比较电压检测电路6,连接于比第一继电器触点411更靠交流电源2侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠交流电源2侧的第二布线32之间,不论第一继电器触点411以及第二继电器触点421的开闭状态都从交流电源2施加电压;第一电压检测电路7,连接于比第一继电器触点411更靠负载10侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠负载10侧的第二布线32之间,第一继电器触点411以及第二继电器触点421闭状态时施加与比较电压检测电路6相同的电压;第二电压检测电路8,连接于比第一继电器触点411更靠交流电源2侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠负载10侧的第二布线32之间,第二继电器触点421闭状态时施加与比较电压检测电路6相同的电压;以及异常检测部51,通过将向比较电压检测电路6施加的电压与向第一电压检测电路7施加的电压进行比较而检测第一继电器触点411的异常,通过将向比较电压检测电路6施加的电压与向第二电压检测电路8施加的电压进行比较而检测第二继电器触点421的异常。
[0165]
根据这样的构成,不论第一继电器41的开闭状态,在向第一电压检测电路7施加电压的电路中,都能够高精度地检测第一继电器触点411的异常。另外,不论第二继电器42的开闭状态,在向第二电压检测电路8施加电压的电路中,都能够高精度地检测第二继电器触点421的异常。
[0166]
另外,如上述那样,在异常检测方法中,对电路配置比较电压检测电路6、第一电压检测电路7和第二电压检测电路8,所述电路具有:交流电源2,经由第一布线31以及第二布线32与负载10连接;第一继电器触点411,配置于第一布线31的中途;第二继电器触点421,配置于第二布线32的中途,该比较电压检测电路6连接于比第一继电器触点411更靠交流电源2侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠交流电源2侧的第二布线32之间,不论第一继电器触点411以及第二继电器触点421的开闭状态都从交流电源2施加电压,该第一电压检测电路7连接于比第一继电器触点411更靠负载10侧的第一布线31与比第二继电器触
点421更靠负载10侧的第二布线32之间,第一继电器触点411以及第二继电器触点421闭状态时施加与比较电压检测电路6相同的电压,该第二电压检测电路8连接于比第一继电器触点411更靠交流电源2侧的第一布线31与比第二继电器触点421更靠负载10侧的第二布线32之间,第二继电器触点421闭状态时施加与比较电压检测电路6相同的电压,通过将向比较电压检测电路6施加的电压与向第一电压检测电路7施加的电压进行比较而检测第一继电器触点411的异常,通过将向比较电压检测电路6施加的电压与向第二电压检测电路8施加的电压进行比较而检测第二继电器触点421的异常。
[0167]
根据这样的方法,不论第一继电器41的开闭状态,在向第一电压检测电路7施加电压的电路中,都能够高精度地检测第一继电器触点411的异常。另外,不论第二继电器42的开闭状态,在向第二电压检测电路8施加电压的电路中,都能够高精度地检测第二继电器触点421的异常。
[0168]
通过以上那样的第三实施方式,也能够发挥与上述的第一实施方式同样的效果。
[0169]
以上,基于图示的实施方式说明了本发明的异常检测电路以及异常检测方法,但本发明并非限定于此,各部的构成能够置换为具有同样的功能的任意的构成。另外,也可以在本发明附加其它任意的构成物。