一种自动标记坏点的芯片测试机的制作方法

1.本实用新型涉及芯片测试机技术领域，具体为一种自动标记坏点的芯片测试机。


背景技术：

2.芯片是一种把电路小型化后固定在在半导体晶圆表面上的集成电路，芯片测试机主要用于集成电路方面芯片测试，芯片生产完成后需要使用芯片测试机对芯片进行检测，检测芯片是否存在坏点，以保证芯片的质量，但传统的芯片测试机使用效果不好，不便于对芯片坏点进行标记，为此，我们提出一种自动标记坏点的芯片测试机。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的在于提供一种自动标记坏点的芯片测试机，具备使用效果好，便于对芯片坏点进行标记的优点，解决了传统的芯片测试机使用效果不好，不便于对芯片坏点进行标记的问题。
4.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种自动标记坏点的芯片测试机，包括测试箱，所述测试箱内腔的底部固定安装有第一电机，所述第一电机的输出端传动连接有第一螺杆，所述第一螺杆的表面螺纹连接有第一螺块，所述第一螺块的顶部通过支架固定安装有检测板，所述检测板的顶部开设有检测槽，所述测试箱内腔的左侧通过支架固定安装有第一电动推杆，所述第一电动推杆的输出端通过支架固定安装有负极探针，所述测试箱内腔的右侧通过安装板固定安装有第二电机，所述第二电机的输出端传动连接有第二螺杆，所述第二螺杆的表面螺纹连接有第二螺块，所述第二螺块的底部固定安装有第二电动推杆，所述第二电动推杆的输出端固定安装有稳定框，所述稳定框的背面通过安装座固定安装有第三电机，所述第三电机的输出端传动连接有第三螺杆，所述第三螺杆的表面螺纹连接有第三螺块，所述第三螺块的底部固定安装有正极探针，所述正极探针的内腔固定安装有第三电动推杆，所述第三电动推杆的输出端固定安装有墨针，所述测试箱左侧的顶部设置有指示灯。
5.优选的，所述第一螺块的底部通过支架固定安装有第一滑块，所述测试箱内腔的底部开设有第一滑槽。
6.优选的，所述第二螺块的顶部通过支架固定安装有第二滑块，所述测试箱内腔的顶部开设有第二滑槽。
7.优选的，所述第三螺块的顶部通过支架固定安装有第三滑块，所述稳定框内腔的顶部开设有第三滑槽。
8.优选的，所述测试箱的左侧设置有控制面板，且控制面板的表面设置有防护膜。
9.优选的，所述测试箱右侧的底部固定安装有电池箱，且电池箱的内腔设置有蓄电池。
10.与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：
11.1、本实用新型打开第一电机，第一电机带动第一螺杆转动，第一螺杆带动第一螺
块向左移动，第一螺块带动检测板向左移动，使检测板伸出测试箱，将芯片放在检测板顶部的检测槽内，反转第一电机，使检测板回到原位，打开第一电动推杆，第一电动推杆推动负极探针触碰在芯片上，打开第二电机，第二电机带动第二螺块向左移动，第二螺块带动第二电动推杆向左移动，第二电动推杆带动稳定框向左移动，从而可改变正极探针的横向位置，打开第三电机,第三电机带动第三螺杆转动，第三螺杆带动第三螺块向前移动，第三螺块带动正极探针向前移动，从而可改变正极探针的纵向位置，打开第二电动推杆，第二电动推杆推动稳定框向下移动，从而可带动正极探针接触到芯片，便于对芯片的各个点进行检测，利用负极探针和正极探针可对芯片的电路进行检测，当电路正常时，指示灯为绿灯，当电路不正常时，指示灯为红灯，人们可打开第三电动推杆，第三电动推杆推动墨针向下移动，对芯片进行标记，解决了传统的芯片测试机使用效果不好，不便于对芯片坏点进行标记的问题。
12.2、本实用新型第三滑块和第三滑槽使第三螺块移动时稳固，第二滑槽和第二滑块使第二螺块移动时稳固，控制面板用来控制各个电器的开关，电池箱内的蓄电池为装置提供电能，第一滑块和第一滑槽使第一螺块移动时稳固。
附图说明
13.图1为本实用新型结构示意图；
14.图2为本实用新型稳定框左视放大结构示意图；
15.图3为本实用新型图2中a处放大结构示意图。
16.图中：1、测试箱；2、第一电机；3、第一滑块；4、第一螺块；5、第一螺杆；6、检测板；7、检测槽；8、第一滑槽；9、负极探针；10、第一电动推杆；11、控制面板；12、指示灯；13、第二螺杆；14、第二滑槽；15、第二滑块；16、第二螺块；17、第二电机；18、第二电动推杆；19、稳定框；20、正极探针；21、第三滑块；22、第三电机；23、第三螺块；24、第三螺杆；25、第三滑槽；26、第三电动推杆；27、墨针；28、电池箱。
具体实施方式
17.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
18.在实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
19.在实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
20.本实用新型的测试箱1、第一电机2、第一滑块3、第一螺块4、第一螺杆5、检测板6、检测槽7、第一滑槽8、负极探针9、第一电动推杆10、控制面板11、指示灯12、第二螺杆13、第二滑槽14、第二滑块15、第二螺块16、第二电机17、第二电动推杆18、稳定框19、正极探针20、第三滑块21、第三电机22、第三螺块23、第三螺杆24、第三滑槽25、第三电动推杆26、墨针27和电池箱28部件均为通用标准件或本领域技术人员知晓的部件，其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知。
21.请参阅图1
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3，一种自动标记坏点的芯片测试机，包括测试箱1，测试箱1的左侧设置有控制面板11，且控制面板11的表面设置有防护膜，控制面板11用来控制各个电器的开关，测试箱1右侧的底部固定安装有电池箱28，且电池箱28的内腔设置有蓄电池，电池箱28内的蓄电池为装置提供电能，测试箱1内腔的底部固定安装有第一电机2，第一电机2的输出端传动连接有第一螺杆5，第一螺杆5的表面螺纹连接有第一螺块4，第一螺块4的底部通过支架固定安装有第一滑块3，测试箱1内腔的底部开设有第一滑槽8，第一滑块3和第一滑槽8使第一螺块4移动时稳固，第一螺块4的顶部通过支架固定安装有检测板6，检测板6的顶部开设有检测槽7，测试箱1内腔的左侧通过支架固定安装有第一电动推杆10，第一电动推杆10的输出端通过支架固定安装有负极探针9，测试箱1内腔的右侧通过安装板固定安装有第二电机17，第二电机17的输出端传动连接有第二螺杆13，第二螺杆13的表面螺纹连接有第二螺块16，第二螺块16的顶部通过支架固定安装有第二滑块15，测试箱1内腔的顶部开设有第二滑槽14，第二滑槽14和第二滑块15使第二螺块16移动时稳固，第二螺块16的底部固定安装有第二电动推杆18，第二电动推杆18的输出端固定安装有稳定框19，稳定框19的背面通过安装座固定安装有第三电机22，第三电机22的输出端传动连接有第三螺杆24，第三螺杆24的表面螺纹连接有第三螺块23，第三螺块23的顶部通过支架固定安装有第三滑块21，稳定框19内腔的顶部开设有第三滑槽25，第三滑块21和第三滑槽25使第三螺块23移动时稳固，第三螺块23的底部固定安装有正极探针20，正极探针20的内腔固定安装有第三电动推杆26，第三电动推杆26的输出端固定安装有墨针27，测试箱1左侧的顶部设置有指示灯12，打开第一电机2，第一电机2带动第一螺杆5转动，第一螺杆5带动第一螺块4向左移动，第一螺块4带动检测板6向左移动，使检测板6伸出测试箱1，将芯片放在检测板6顶部的检测槽7内，反转第一电机2，使检测板6回到原位，打开第一电动推杆10，第一电动推杆10推动负极探针9触碰在芯片上，打开第二电机17，第二电机17带动第二螺块16向左移动，第二螺块16带动第二电动推杆18向左移动，第二电动推杆18带动稳定框19向左移动，从而可改变正极探针20的横向位置，打开第三电机22,第三电机22带动第三螺杆24转动，第三螺杆24带动第三螺块23向前移动，第三螺块23带动正极探针20向前移动，从而可改变正极探针20的纵向位置，打开第二电动推杆18，第二电动推杆18推动稳定框19向下移动，从而可带动正极探针20接触到芯片，便于对芯片的各个点进行检测，利用负极探针9和正极探针20可对芯片的电路进行检测，当电路正常时，指示灯12为绿灯，当电路不正常时，指示灯12为红灯，人们可打开第三电动推杆26，第三电动推杆26推动墨针27向下移动，对芯片进行标记，解决了传统的芯片测试机使用效果不好，不便于对芯片坏点进行标记的问题。
22.使用时，打开第一电机2，第一电机2带动第一螺杆5转动，第一螺杆5带动第一螺块4向左移动，第一螺块4带动检测板6向左移动，使检测板6伸出测试箱1，将芯片放在检测板6顶部的检测槽7内，反转第一电机2，使检测板6回到原位，打开第一电动推杆10，第一电动推
杆10推动负极探针9触碰在芯片上，打开第二电机17，第二电机17带动第二螺块16向左移动，第二螺块16带动第二电动推杆18向左移动，第二电动推杆18带动稳定框19向左移动，从而可改变正极探针20的横向位置，打开第三电机22,第三电机22带动第三螺杆24转动，第三螺杆24带动第三螺块23向前移动，第三螺块23带动正极探针20向前移动，从而可改变正极探针20的纵向位置，打开第二电动推杆18，第二电动推杆18推动稳定框19向下移动，从而可带动正极探针20接触到芯片，便于对芯片的各个点进行检测，利用负极探针9和正极探针20可对芯片的电路进行检测，当电路正常时，指示灯12为绿灯，当电路不正常时，指示灯12为红灯，人们可打开第三电动推杆26，第三电动推杆26推动墨针27向下移动，对芯片进行标记，解决了传统的芯片测试机使用效果不好，不便于对芯片坏点进行标记的问题。
23.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。